sw Leitz und Dr. 177 See ede Hppa e und Hrbeitsmethoden ö zur 0 mikroskopischen Untersuchung 0 kristallisierter Made JJ on. ES Bandbuch der mikroskopischen. Technik Band 10 a dna Verlagehandlung Suden . 0 7 |Smithsonian Institution | Libraries Gift of Oscar W. Richards 1 5 8 M „ f 8 N we fi ae AR Ber; er 2 — * * n * 1 A 7 * * * ar 1 — 8 a er 6 4 Fr 2 — — u 14 . =; . rt we 6 . N Pr 1 ER 2 +. - 2 £ v2 a „ 5 1 Nas N 4 * ** Be r e 50 g FR x . x * A . eee En en ee *. Betas i 705 5 2 2 1 f g ? re f * . 1 — 5 N s — ® 5 \ — * 5 * * f 2 DE Mer ‚ Az Hai N 2 AT e . haha 1205 * n url, Le ehe wen — x f 8 4 — * 1 m ö F f 7 N * - 5 5 f wi — * 7 “ * 1 2 * * 4 * - er 9 2 . 0 ’ ; 2 8 ER 2 a 3 * — — — \ 2 2 er 7 3 7 AR Rn 1 > 2 g * in 24 Hr: * : — 5 3 3 * * ® — 8 4 we 2 . * ir er . j “ itsmethoden zur mikroſkopiſchen Unterſuchung kriſtalliſierter Körper arate und Arbe 7 28 E * ** | Handbuch der mikroſkopiſchen Technik | S Handbuch mikroſkopiſchen Technik unter Mitwirkung von Kreisarzt Dr. E. Beintker, Vorſteher des Wedizinal-Unterſuchungsamtes in Düſſeldorf (Bakteriologiſche Technik) — Dr. J. Don au, Graz (Wikrochemiſche Technik) — Hanns Günther, Zürich (Das Wikroſkop und feine Nebenapparate) — Oskar Heimſtädt, Wien (Technik des Ultramikroſkops und der Dunkelfeldbeleuchtung) — Prof. Dr. C. Kaiſerling, Königsberg (Wikrophotographie) — C. Leiß, Berlin⸗ Steglitz (Das Polariſationsmikroſkop und ſeine Nebenapparate) — Dr. Adolf Reitz, Stuttgart (Bakteriologiſche Technif) — Dr. R. Sachſe, München (Kulturmethoden für Mikroorganismen) — Dr. H. Schneiderhöhn, Berlin (Wineralogiſche Wi⸗ kroſkopie) — Prof. Dr. F. Sigmund, Teſchen (Votaniſche Wikrotechnik) — Dr. G. Stehli, Stuttgart (Wikrotomie) — Dr. G. Steiner, Zürich (Technik der Hydrobiologie und Planktonkunde) — Oberlehrer F. P. Wimmer, München (Mifro- projektion) — Dr. E. Wychgram, Kiel (Wikroſpektroſkopie) u. A. herausgegeben von der Redaktion des „Mikrokosmos“ X. Apparate und Arbeitsmethoden zur mikroſkopiſchen Anterſuchung kriſtalliſierter Körper von C. Leiß und Dr. H. Schneiderhöhn 1914 Geſchäftsſtelle des „Mikrokosmos“: Franckh'ſche Verlagshandlung, Stuttgart 2 5 — — 1 25 8 Apparate und Arbeitsmethoden zur mikroſkopiſchen Anterſuchung kriſtalliſierter Körper, Von C. Leiß und Dr. H. Schneiderhöhn Wit 115 Abbildungen 1911 Geſchäftsſtelle des „Mikrokosmos“: Franckh'ſche Verlagshandlung, Stuttgart LIBRARIES | Alle Rechte, insbeſondere die der Überſetzung, vorbehalten. f eppes ;;; | N. | ei, buy Franckh’sche Verlagshandlung . | | f e Seite W. . es. 8 Erſter Teil: Bau und Behandlung der mineralogiſchen Wikroſkope und deren F/ d -,, 9 r d y ee. 9 Die Polariſierende Vorrichtungen. 9 Drittes Kapitel: Orthoſkopiſche und konoſkopiſche Anordnung - as 11 Viertes Kapitel: Mineralogiſche Mikroſkope verſchiedener Konſtruktion und Größe. .. 14 iaches mineralogiſches Mifroffſoodßd‚ddz»u 8 14 Fe enteo minteraloaniches rr” 8 15 nr , N 16 ee, e 19 5. Großes petrographiſches Mikroſkop für das Arbeiten nach der Theodolit-Methode 21 dapitel; Prüfung und Juſtierung des Mikroſ kes 28 23 Saar ner. Dhjelttiicy-Drehungr ea en 8 23 ii der Zentrieroprrichtiing für die Objekte 23 r ee al leere en a Te we 23 ider Dlınlar-sadenteenze =. 200 ur ee ae ee aan ee ae 24 nenne Lage der Nieolſchen Brismen. ul... m... em ae nn. 24 ß an ne a en bee nee ee 25 eee lar und Dbjeltive u ee an 25 Siebentes Kapitel: Beſtimmung der Vergrößerung und der Sehfeldgrößßfe .. 26 Achtes Kapitel: Apparate zur Erzeugung einfarbigen LichtTttts 27 i eogene Licht nach Laspehree Ss 27 r y d y ⁊ 27 . Nee,, ß wre Dan ea Ne 27 Neuntes Kapitel: Hilfsapparate zum mineralogiſchen Mikroſkoc˖dssssss 29 . e t SER RE TERN 29 o MNſung von MNengenverhältniſſee n une. 29 ebe rome 88 29 . eee , Re ER le ns 30 hdg ich Ipparate e 88 31 &, Bean C%/00/ç / ⁰ʒ y 32 Zweiter Teil: Die Herſtellung von Geſteins-Präparaten u. Dünnſchliffen. Von C. Leiß 34 di das ze ſchneiden der Geſte ine 88 34 FP Cc%%0%//// ᷣͤ ⁰ ³»vuu.w.,.. ß N 34 2. Präparieren der Schneideſcheiben mit San A Er ee a re Nr 34 Elftes Kapitel: Das Schleifen der Gefteine . -. » - 2... 2 .. . 35 Die einfachſten Hilfsmittel zum freihändigen Schleifen . ..»... 2m... ... 35 nf,, en ee een a ee 35 /// c 36 nnn over Präparieroſe n ee. 36 3. ne ee d SD ER On 36 2 e , ß N RE ee aeree ie 36 FF mirs. De en 37 nnen -Dinnjcgiiien.. oe. een e Dritter Teil: Apparate zur Beſtimmung opt. Konſtanten kriſtall. Körper. Von C. Leiß 39 en pere nenne 39 P emetf e 8 41 Vierter Teil: Beſtimmung phyſikaliſcher Konſtanten kriſtalliſierter Körper mit Hilfe des Polariſationsmikroſkops. Von H. Schneiderhönhnnnnnn 45 eff ehe ee 45 Durchſichtige Körper. Seite Vierzehntes Kapitel: Unterſuchungen in gewöhnlichem Li chert 46 I. Außere Kennzeichemꝝñdusnmns Ne a 46 1. Form, Haitis? a a 33 46 2. Längenmeſſunn gg 46 3. Dickenmeſſun gs Fe re a N 46 4. Winkelmeſſün ggg Me a 47 5. Spaltbarkeit a a N 47 6, Mengenverhaltniiie: =. 2.0.0. se ann a a a I 48 7. Einſchlüſſ-0“uuuuuuu De 48 II. Angenäherte Beſtimmung der Lichtbrechung unter dem Mitroffop . . : : 2... 48 8. Allgemeines 88: 48 9, Licht linen ee 48 10. Einbettungsme thode a 49 11. Relief und Chagr inn A 51 12. Optiſche Erſcheinungen an Einſchlüſſef n ĩ ĩi 51 Fünfzehntes Kapitel: Die optiſchen Verhältniſſe in kriſtalliſierten Körpern 52 1. Gewöhnliches Li ct.. 52 2. Polariſiertes Lichhhhtttññ 52 3% Doppelbrechung e 52 4. Art der Lichtbewegung in einfachbrechenden Körpern x. 53 5. Art der Lichtbewegung in Doppelbrechendem Körpern 53 6. Polariſation durch Doppelbrehung g a 53 7. Eharakteriſierung des linegr polariſterten Lichtes 5 53 8. Inder flächhehhhete a a 54 9. Iſotrope und aniſotrope Kör pen ne 54 10. Einteilung der kriſtall. Körper nach der Symmetrie ihrer optiſchen Eigenſchaften 54 a) Kriſtalle ohne Drehungsvermögen oder optifch inaktive Kriſtaldttt lla 55 11. (A. I.) Optiſch iſotrope Körpe nnr!!! a 55 12. Optiſch aniſotrope Körperuõůͥu ʃ2ͥ!8 55 13. (B. III.) Opt. aniſot. Kriſtalle mit einer Achſe! der Iſotropie oder einachſ. Kriſtalle 55 14. (C. V. VII. IX.) Opt. aniſot. Körper ohne Achſe der Iſotropie oder zweiachſ. Kriſtalle 56 15. (V.) Rhombiſche Kriſtalle 58 16. (VIE) eee eee, 2 C 58 17. (IX) Trikline Kriſt alle 58 b) Kriſtalle mit Drehungsvermögen oder optiſch aktive Kriſt altre. 58 18. Allgemeines 58 19. (II.) Optiſch iſotrope Kriſtalle mit Drehungsveemgenn re 58 20. (IV.) Optiſch einachſige Kriſtalle mit Drehungsvermöb gen 58 21. (VI. VIII. X.) Optiſch zweiachſige Kriſtalle mit Drehungs vermögen 59 Sechzehntes Kapitel: Die Beſtimmungsmethod kriſtall. Körper mit Hilfe linear polar. Lichtes 59 1. Herſtellung linear polariſierten Lichtes. Das Nicolſche Doppelprisma .... 59 I. Unterſuchungen mit einem Nie!ln, De re 59 2. Abſorption. Pleochroim us ee 2 Sr 59 IL Unterſuchungen mit zwei Nieoess‚s‚s‚ 2 60 3. Interferenzerſcheinungen in doppelbrechenden Kriſt allen. 60 4. Polariſationseinrichtungen am Polariſations-Mikroſkop. Gekreuzte Nicols . . 60 5. Parallelſtrahliges und konvergentes polariſiertes Licht; orthoſkopiſche und konoſkopiſche Beobachtungsmethonnne une 61 a) Die Beobachtungen im parallelſtrahligen polariſierten Lichhckht tk. 61 6. Iſotrope Medien im parallelſtrahligen polariſierten Lichte. 61 7. Aniſotrope Medien im parallelſtrahligen polariſierten Lichchchchhhe 61 8. Lage der Schwingungsrichtungen zu kriſtallographiſch beſtimmten eee in den verſchiedenen Kriſtalſoſtereee n 8 „ 2 10. 1 12. 13. 14. 15. 16. 87. 18. 7 Seite Prakt. Beſtimmung der Lage der Schwingungsrichtungen (der Auslöſchungslagen) , / EN Se Ne AR b brechunn ns auan Piel RE Höhe der Interferenzfarben bei verſchieden orientierten Schliffen - -. . . . . ede der Dppnelbzehung =. 2 21: „nun... ELITE GR RR Re Re a xy Die Erkennung ſchwacher Doppelbrehung - -» - » ».. San... Genauere Beſtimmung und Meſſung von Interferenzfarben und Hpppel⸗ f eden, ¶¶ꝑʒ = 7. . ee neo Die Beſtimmung des opt. Charakters der Schwingungsrichtungen (der Hauptzone) Interferenzerſcheinungen opt. akt. Kriſtalle im parallelſtrahl. polariſierten Licht b) Die Beobachtungen im konvergenten polariſierten LichheeehetrWůů kk. 19. 20. 21. 22. 23. 24. 25. 26. 27. 28. 29. 30. 31. 32. 33. 34. 35. 36. 37. 38. ee e een... Sahlengang im Fnuergenter n nen Herrichtung d. Polariſations-Mikroſkops zur Beobachtung im konverg. polar. Licht Methoden der Beobachtung im konvergenten polariſierten Licht. .. Notrope Körper im konvergenten polariſierten Licht: Interferenzerſcheinungen einachſiger inaktiver ſenkrecht zur optiſchen Achſe ge— ſchnittener Platten im konvergenten polariſierten Lichtt. Beſtimmung des optiſchen Charakters einachſiger Kriſtalle im konverg. polar. Licht Interferenzerſcheinungen einachſiger aktiver ſenkrecht zur optiſchen Achſe ge— ſchnittener Platten im konvergenten polariſierten Lichetttetete Interferenzerſcheinungen zweiachſiger inaktiver Kriſtalle im konverg. polar. Licht Interferenzerſcheinungen zweiachſiger aktiver Kriſtalle im konverg. polar. Licht Diſperſion der Brechungsexponenten und der optiſchen Symmetrieachſen .. Diſperſion der optiſchen Achſen bei rhomb. Kriſtallen oder rhomb. Diſperſion CCCCJJJCCJJCV%%V%000 dd y izr iind gekreuzte Diſper ia: 3 nnn ee el ienaale. N er RE Seri der Diſperſion im Mikrofon Einachſigkeit zweiachſiger Kriſtalle für eine beſtimmte Farbe oder Temperatur Scheinbarer und wahrer Winkel der optiſchen Achſenn Meſſung des Winkels der optiſchen Achſen unter dem Mikroſlxo - .»- . - Beſtimmung des Charakters der Doppelbrechung zweiachſiger Mineralien im eee hkk ee % e) Die Univerjal- oder Theodolitmethode von E. von Fedorow e 39. 40. der bhode ind Appara e hn emungnͤünumuüunsmn ass d) Opt. Schlüſſel zur Beſtimmung d. Kriſtallſyſtems inakt. Kriſtalle unter dem Mikroſkop 41. 42. em m SHE EIKE EIER TEEN ON le as N N I RR are De e, RE NR a En ee ae nee: Undurchſichtige Körper. CCC Vertikalilluminator zur Unterſuchung undurchſichtiger Körper - » n Erkennung der optiſchen Aniſotropie undurchſichtiger Körpen - . Meffung der optiſchen Aniſotropie undurchſichtiger Körper » » - 0... 52 DE an Le . RE Siebzehntes Kapitel: Anwendungsbereich der Beſtimmungsmethoden mit Hilfe des Pola— riſationsmikroſkops auf die verſchiedenen Objekte PJ ae e nn N ee 63 Vorwort. In der vorliegenden Arbeit haben die Verfaſſer verſucht, die wichtigſten inſtrumen⸗ tellen Hilfsmittel und Methoden zur mikro⸗ ſkopiſchen Unterſuchung kriſtalliſierter Körper in kurzer, möglichſt leicht faßlicher Form zu erläutern. Daraus geht bereits hervor, daß unſer Buch nicht für Fachgelehrte ge— ſchrieben iſt, für die ſchon zahlreiche Lehr- bücher des in Frage kommenden Gebiets exi⸗ ſtieren. Dagegen fehlt in der vorhandenen Literatur ein Werk, das auch dem ernſt ar⸗ beitenden Liebhaber⸗Mikroſkopiker, dem Leh⸗ rer und dem Sammler von Mineralien als Leitfaden beim Studium mineralogiſcher Fra⸗ gen mit Hilfe des Polariſations⸗Mikroſkops dienen könnte. Dieſem Mangel ſoll unſere Arbeit nach Möglichkeit abhelfen. Sie iſt in erſter Linie für die zahlreichen Leſer des „ Mikrokosmos“) geſchrieben, deſſen Redaktion die Anregung zu ihrer Abfaſſung gab. Die Verfaſſer würden ſich jedoch ſehr freuen, wenn ihr Buch auch im mineralogiſchen Unterricht 1) „Mikrokosmos“, Zeitſchrift für praktiſche Arbeit auf dem Gebiet der Naturwiſſenſchaften mit beſonderer Berückſichtigung der mikroſkopi⸗ ſchen Technik, vereinigt mit der „Zeitſchrift für angewandte Mikroſkopie und kliniſche Chemie“; Stuttgart, Franckhſche Verlagshandlung, jähr⸗ lich 12 Hefte und 2 Buchbeilagen nach Art des vorliegenden Werkes für M 5.60. Steglitz, Berlin, im Frühjahr 1914. an höheren Lehranſtalten oder gar in den Praktika der Univerſitäten und Hochſchulen, ſowie bei der Vorbereitung zu Prüfungen in der Mineralogie einige Dienſte leiſten könnte, da die auf möglichſte Verſtändlichkeit abge⸗ ſtellte Behandlung des Stoffes die Arbeit dafür beſonders geeignet erſcheinen läßt. Das behandelte Stoffgebiet iſt in fünf Teile gegliedert worden, von denen die drei erſten die wichtigſten Inſtrumente zur mikroſkopi⸗ ſchen Unterſuchung kriſtalliſierter Körper be⸗ ſprechen und die Herſtellung von Mineral⸗ und Geſteinspräparaten, wie ſie zur mikro⸗ ſkopiſchen Unterſuchung erforderlich ſind, er⸗ läutern. Im vierten und fünften Teil ſind die Unterſuchungsmethoden in ſyſtematiſcher Folge aufgeführt. Wenn es unſerer Arbeit gelingen ſollte, für das in ihr behandelte Stoffgebiet neue Anhänger und Mitarbeiter zu werben, ſo hat ſie ihren Zweck vollauf erfüllt. Wer ſich ſodann über ein beſtimmtes Teilgebiet eingehender unterrichten will, wird in den Literaturangaben entſprechende Werke fin⸗ den. Er jei auch auf das gf; gebene Literatur -Verzeichnis aufmerkſam ge⸗ macht, in dem die wichtigſten Lehrbücher aus dem Gebiet der phyſikaliſchen Kriſtallogra⸗ phie und der mitkroſkopiſchen Phyſiographie der Mineralien zuſammengeſtellt ſind. C. Leiß. H. Schneiderhöhn. Die Apparate zur mikrofkopifchen Unterſuchung kriſtalliniſcher Körper von C. Leiß. Erſter Teil: Bau und Behandlung der mineralogiſchen Mikroſkope und deren Nebenapparate. Erſtes Kapitel. Ein zum Studium von Mineralien die- nendes Mikroſkop muß außer den allgemein üblichen Einrichtungen, die hier als bekannt vorausgeſetzt werden, noch Vorrichtungen be— ſitzen, mit deren Hilfe man aus der Meſ— ſung der Kantenwinkel, der Beſtimmung der Hauptſchwingungsebenen, der Größe und des Charakters der Doppelbrechung, der Beobach— tung der optiſchen Achſen ein- und zwei⸗ achſiger Mineralien und der Meſſung des Ach— ſenwinkels auf die Zugehörigkeit des zu uns terſuchenden kriſtalliſierten Stoffes zu einem beſtimmten Kriſtallſyſtem ſchließen kann. Zur Ausführung dieſer Unterſuchungen muß 1. das Mikroſkop mit einer Polariſa⸗ tions⸗Einrichtung, beſtehend aus zwei Pola— riſations-Prismen (S. 10), dem Polari⸗ ſator und dem Analyſator, ausgerüſtet ſein; 2. muß ſich das zu unterſuchende Ob- jekt zwiſchen den beiden Polariſations-Pris⸗ men befinden und ſich entweder in ſeiner Ebene um die feſtſtehenden zueinander ge= kreuzten Polariſations⸗Prismen zentriſch dre⸗ hen laſſen, oder die beiden polariſierenden Allgemeines. Vorrichtungen müſſen in gegenſeitig unver— änderlicher Stellung (gekreuzt) um das feſt liegende Objekt gemeinſam gedreht werden können. In beiden Fällen muß ſich der Win— kel, um den das Objekt bzw. die polariſie— renden Prismen gedreht wurden, an einem Teilkreis ableſen laſſen. Entweder muß alſo der drehbare Objekttiſch oder die Dreh-Vor⸗ richtung für die beiden Polariſations-Pris⸗ men eine Teilung beſitzen; 3. müſſen die Okulare mit Kreuzfäden ausgerüſtet ſein, deren Richtungen mit den Hauptſchwingungsebenen der beiden Nicols genau zuſammenfallen; 4. muß, wenn der Objekttiſch des Mi- kroſkops, wie dies in den meiſten Fällen zutrifft, drehbar iſt, dieſer oder beſſer das Objektiv zentrierbar fein, da ſonſt eine zen— trale Drehung irgend eines Punktes im Ob— jekt, beſonders unter Anwendung ſtärkerer Vergrößerungen kaum erreichbar iſt. Das Zentrieren fällt dagegen fort, wenn beide Nicols gemeinſam und mit dem die Schwin- gungsrichtungen angebenden Fadenkreuz-Oku⸗ lar gedreht werden können. Zweites Kapitel. Polariſierende Vorrichtungen. Neben den Polariſations⸗Vorrichtungen, die auf der Polariſation durch Reflektion an einer ebenen Glasplatte oder auf der An- wendung von Turmalin-Platten beruhen, wer⸗ den bei Polariſations⸗Mikroſkopen nur ſolche benützt, die mit Hilfe von Kalkſpat kon⸗ ſtruiert ſind. Alle Polariſations-Vorrichtun⸗ gen bewirken eine völlige Trennung der ordentlichen (o) und außerordentlichen (e) Strahlen, ſo daß nur eine der beiden Strah— len⸗Gattungen auszutreten vermag oder di— rekt beobachtet werden kann. Die Wahl einer polariſierenden Vorrichtung iſt ganz von dem beſondern Zweck, dem ſie dienen ſoll, ab— hängig. Als polariſierende Prismen, die in Apparaten, bei denen konvergierendes oder divergierendes Licht zur Anwendung gelangt, benützt werden ſollen, kommen im allgemeinen nur die von Nicol (Abb. 1), Hartnack⸗ Prazmowski und Glan-Thomſon an— 10 gegebenen Konſtruktionen in Betracht. Das Geſichtsfeld ſchwankt bei dieſen zum Teil in⸗ zwiſchen modifizierten Konſtruktionen je nach der Lage des Schnittes zur Hauptachſe zwi⸗ ſchen 20 bis z Je geringer Die Je gung des Schnittes gegen die Längsachſe iſt, deſto größer iſt der Offnungswinkel. Mit der Größe des Geſichtswinkels wächſt dem— nach auch die Länge des Prismas; das iſt in vielen Fällen von nachteiliger Wirkung. Die von Foucault und P. Glan ars gegebenen Konſtruktionen, bei denen die bei⸗ den Prismen-Hälften nicht miteinander ver⸗ fittet, ſondern durch eine Luftſchicht vonein⸗ ander getrennt ſind, eignen ſich nur zum Ge⸗ brauch bei Beobachtungen im parallelen Licht. Beide Prismen beſitzen einen Offnungswinkel von nur etwa 80. Die Ahrensſche Prismen-Kombination beſteht im Grunde genommen aus nichts an⸗ derem als aus zwei mit ſenkrechten Endflächen verſehenen und nebeneinander gekitteten Pris⸗ men- Kombinationen Glan⸗ Thom ſonſcher Konſtruktion nur mit dem Unterſchied, daß man die Vorrichtung nicht aus 4, ſondern aus 3 Tei⸗ S len herſtellt. Abgeſehen von der Schwierigkeit der Herſtel⸗ lung einer derartigen Kon- ſtruktion wird dazu verhält— nismäßig viel Kalkſpat ver- braucht, und eine polariſie⸗ rende Vorrichtung dieſer Art, die z. B. die vollſtändige Ausnützung eines großen Ab beſchen Beleuchtungs-Ap⸗ parats gewährleiſtet (S. 19), ſtellt einen ſehr beträchtlichen L Wert dar. Die Anwendung Abb. 1. der Ahrens ſchen 1 Schnitt durch eine Kombination empfiehlt ſi eee beſonders dort, wo eine mög— lichſt große Offnung bei nicht Te a a ra a a JE e ss — verkittete Trennungsfläche 0 ) e großer Länge des Polari— Strahl, Te durch⸗ ſations⸗Prismas gewünſcht ordentlicher Strahl, wird, wie dies z. B. bei eini⸗ ee auf ©. 19— 20 beſchriebe⸗ ordentlicher Strahl. nen Mikroſkopen der Fall iſt. Wirkungsweiſe des Nicolſchen Pris⸗ mas.) Jeder Lichtſtrahl, der in einen doppelt— brechenden Kriſtall nicht parallel zu ſeiner 2) Man bezeichnet im allgemeinen die Ni- colſche Prismen-Kombination kurzweg als „Ni— col“ oder als „Nicolſches Prisma“. optiſchen Achſe eintritt, wird in zwei gerad— linig polariſierte Strahlen zerlegt, die ſich mit verſchiedener Geſchwindigkeit fortpflanzen. Die Ebenen, in denen die Schwingungen er⸗ folgen, ſtehen dabei ſtets ſenkrecht aufein⸗ ander. Gelingt es, den einen dieſer beiden Strahlen zu entfernen, ſo wird das aus der doppeltbrechenden Kriſtallplatte ausgetretene Licht nur in einer Ebene polariſiert ſein. Nicol hat dies bei der nach ihm benannten Prismen-Kombination dadurch erreicht, daß er ein längliches Kalkſpat-Spaltungsſtück in der Richtung der kürzeren Diagonale durch— ſchnitt und die beiden Hälften wieder in richtiger Lage durch Kanada-Balſam anein⸗ ander kittete. Abb. 1 zeigt den Verlauf der beiden Strahlen-Gattungen in einem ſolchen Nicolſchen Prisma. Der eintretende Strahl (L) zerfällt in die beiden ſenkrecht zu ein⸗ ander polariſierten Strahlen e und o, von denen der letztere an der aus Kanada Bal⸗ ſam hergeſtellten Grenzſchicht (ss) total re⸗ flektiert und an den matt geſchliffenen und geſchwärzten Seitenflächen des Prismas ab⸗ ſorbiert wirds). Der andere Strahl (e), der ein dem Kanada-Balſam näher liegendes Licht⸗ brechungs Vermögen np = 14865 beſitzt und auch unter größerem Winkel auf die Grenz⸗ fläche (ss) auftrifft, tritt in die zweite Pris⸗ menhälfte ohne Ablenkung ein und verläßt dieſe zweite Hälfte in der Richtung des ein⸗ tretenden Strahles L. Das Nicol ſche Prisma liefert alſo in einer Ebene polariſiertes Licht, deſſen Schwingungsebene die des Strahles e) iſt. Sieht man durch zwei hintereinander ge⸗ haltene Nicols, deren Schwingungsebenen par⸗ allel zueinander verlaufen, gegen eine Licht- quelle, ſo erſcheint das Geſichtsfeld hell, denn die geradlinig polariſierten Strahlen, die aus dem der Lichtquelle am nächſten ſtehenden 3) Nach dem Vorgang von W. v. Igna⸗ towsky empfiehlt es ſich bei Nicols, die ftarker Erwärmung ausgeſetzt ſind, die Fläche des einen Prismas, auf die die zu beſeitigenden, im vor= liegenden Falle alſo die ordentlichen Strahlen (o) fallen, zu polieren, ſodaß ſie nicht mehr wie gewöhnlich von einer matten und geſchwärzten Fläche abſorbiert werden, ſondern durch ein an die polierte Fläche angekittetes Prisma austreten können. Bei dieſer Modifikation kann eine ſchnelle und heftige Erwärmung des Prismas, worun⸗ ter häufig die Kittſchicht zu leiden hat, nicht ein⸗ treten. F. Lippich, der ſchon früher ein der— artiges Polariſationsprisma vorgeſchlagen und angewendet hat, verfolgte damit einen anderen Zweck, nämlich die Vermeidung ſtörender Re— flexe durch die auf die ſonſt mattierte Seitenfläche fallenden Strahlen. Nicol — dem Polariſator — austreten, gehen bei Parallelſtellung ohne eine weitere Veränderung durch den zweiten Nicol — den Analyſator — hindurch. Wird letzterer aber gedreht, ſo erfährt jeder Strahl eine Spaltung in zwei ſenkrecht zueinander po— lariſierte Strahlen, von denen nur der eine durch den Analyſator hindurch gelaſſen, der andere aber durch totale Reflektion ſeitlich abgelenkt wird. Erreicht die Drehung den Drittes Kapitel. Orthoſkopiſche Bei'der mikroſkopiſchen Unterſuchung kri— ſtalliſierter Stoffe iſt man genötigt, ſich fort— geſetzt und in wechſelnder Folge zweier recht 10 4 Abb. 2. Strahlengang in einem mineralogiſchen Mikroſkop (ortho⸗ ſkopiſche Beobachtung. Sp = Spiegel, N. Polariſator⸗Nicol, K = Kondenſorlinſe, D = Dünnſchliff (Objekt), Ob = Objektiv, N, = Ana⸗ lyſator (ausgeſchaltet), Oe = Okular, N; = Analyſator, A = Auge. verſchiedener Beobachtungsmethoden zu be⸗ dienen, der orthoſkopiſchen und der kono— ſkopiſchen. Bei der orthoſkopiſchen Me- Abb. 3a. Laſaulrſche Methode: Man betrachtet das Interferenzbild direkt mit dem Auge A. 11 Winkel von 90°, jo ſind die Polariſations- ebenen rechtwinkelig gekreuzt; die Strahlen er— fahren dann beim Eintreten in den Analy- ſator überhaupt keine Spaltung, ſondern wer— den ſämtlich abgelenkt und gelangen nicht mehr in das Auge des Beobachters. Bei einer Drehung des Analyſators um 360° tritt alſo zweimal Parallelſtellung und zweimal recht— winklige Kreuzung der Polariſationsebe— nen ein. und konoſkopiſche Anordnung. thode betrachtet man das Objekt, wie bei den gewöhnlichen mikroſkopiſchen Arbeiten, ver— größert; man bezeichnet dieſes Verfahren auch — * a b Abb. 3. Strahlengang bei der Beobachtung von Interferenzbildern in konver⸗ gentem Licht (konoſkopiſche Beobachtung). Sp = Spiegel, N, = Polariſator, K — 2⸗ oder Z3gliedriger Kondenſor für kon⸗ vergentes Licht dicht unter dem Präparat, D = Dünnſchliff (Objekt), Ob = Ob⸗ jektiv, Interferenzbild, N, = Analyſator. Abb. 3b. Amici⸗Bertrandſche Methode: Zwiſchen dem Auge A und dem Objektiv Ob bzw. dem Analyſator N, iſt noch ein ſchwach ver⸗ größerndes Hilfsobjektiv, beſtehend aus der Amici⸗ Bertrandlinſe Ob, u. dem Otular Oc eingeſchaltet. als Beobachtung in parallelem polari⸗ ſierten Licht. Bei der konoſkopiſchen Methode hingegen iſt das Mikroſkop in eine 12 Art Polariſations-Inſtrument für Unterſuchun⸗ gen in konvergentem, poet Licht zur Beobachtung von Interferenzfiguren umgeſtaltet. Der Verlauf der Lichtſtrahlen bei dieſen beiden Methoden) wird durch die Abb. 2 und 3 erläutert. Im erſten Fall (Abb. 2) haben wir den normalen Strahlengang im Bildmikroſkop; im zweiten Fall (Abb. 3) beob- achtet man im polariſierten Licht ein in der hinte⸗ ren Brennweite des Objektivs Ob (Abb. 3) ent- ſtehendes Interferenzbild (Achſenbild). Dieſe Beobachtung kann entweder direkt (Laſaulx⸗ ide Methode; Abb. 3a) bei herausgezoge— nem Okular mit bloßem Auge oder mit Hilfe einer zwiſchen der Brennebene des Objektivs und dem Beobachtungsokular aus- und ein- ſchaltbar angeordneten Linſe, der ſogenannten Amici⸗Bertrandſchen Linſe geſchehen (Amici-Bertrandſche Methode; Abb. 3b). Dieſe Linſe bildet mit dem zugehörigen Okular ein zuſammengeſetztes Mikroſkop von ſchwacher Vergrößerung, mit dem man das in der hinteren Brennebene des Objektivs ent- ſtehende Interferenzbild beobachtet. Die nach der einfacheren und bei vielen Petrographen beſonders beliebten Laſaulxſchen Methode beobachteten Interferenzbilder ſind zwar ſehr Heim, aber don großer Helligkeit und Schärfe. Bei den von ſehr kleinen oder licht⸗ ſchwachen Mineral-Einſchlüſſen herrührenden Interferenzfiguren wird man ſich deshalb ſelbſt bei einem Mikroſkop, das mit der vor— erwähnten Bertrand ſchen Hilfslinſe ver⸗ ſehen iſt, häufig der Laſaulyſchen Methode bei der Beobachtung der Interferenzfiguren bedienen. Sowohl bei der orthoſkopiſchen als auch bei der konoſkopiſchen Beobachtung ſind einige Hinweiſe hinſichtlich derjenigen Vorrichtun⸗ gen, die zur Beleuchtung des Präpa— rats dienen, von Wichtigkeit. Der Kalkſpat, aus dem die Nicols hergeſtellt werden, iſt ein ſehr wertvolles Material. Man verwendet deshalb bei Polariſations-Mikroſkopen Ni⸗ colſche Prismen einer Größe, die noch zu er— ſchwinglichen Preiſen hergeſtellt werden kön- nen und mit dem Zweck des Inſtruments ohne ſonderliche Nachteile vereinbar ſind. Die als Polariſator dienenden Prismen haben in der Regel eine freie Offnung von etwa 10 bis 12 mm. Es wäre deshalb zwecklos, über dem 4) Vgl. auch den Abſchnitt über „Kono— ſkopiſche Beobachtungsmethoden“ im IV. Teil, i e eee e Polariſator ein Kondenſor-Syſtem von der gleichen Größe anzubringen, die man bei den zu hiſtologiſchen Zwecken beſtimmten Mikro⸗ ſkopen allgemein findet, denn das darunter⸗ liegende Nicolſche Prisma würde die Eintritts- Offnung des großen Kondenſor-Syſtems doch bedeutend verringern und dadurch nie die vollwertige Ausnutzung eines ſolchen Konden⸗ ſors geſtatten. Von dieſem Gedanken aus⸗ gehend, hat man die Größe der Kondenſoren bei Mikroſkopen, die ſpeziell für mineralo⸗ giſche Studien beſtimmt ſind, der jeweiligen Offnung des Polariſator-Nicols angepaßt. Demgemäß find die Kondenſoren der gebräuch⸗ lichen Polariſations-Mikroſkope weſentlich klei⸗ ner als die der gewöhnlichen Mikroſkope, bei denen der Offnungswinkel des Kondenſors den zur Verwendung gelangenden Objektiven entſprechen muß. Der einzige, in der Praxis aber nicht all⸗ zuſehr fühlbare Nachteil dieſer kleinen Kon- denſoren beſteht darin, daß ſie einen ent⸗ ſprechend geringeren Objektabſtand beſitzen. Dieſem Nachteil kann man aber, beſonders bei Beobachtungen in parallelem, polariſiertem Lichte unter Verwendung ſchwächerer und mittlerer Objektive, bis zu einem gewiſſen Grade durch eine zweckdienliche Einrichtung oder Umgeſtaltung des Kondenſorſyſtems be⸗ gegnen. Man benutzt in ſolchen Fällen am einfachſten nur die unterſte größte Linſe des Kondenſors zur Beleuchtung des Präparats, wie es in Abb. 4 ſchematiſch dargeſtellt iſt. Der Kondenſor ſetzt ſich bei kleineren Inſtru⸗ menten häufig aus nur zwei Linſen zuſam⸗ men, ſo daß es genügt, die obere abzuſchrau⸗ ben. Beſteht das Kondenſorſyſtem jedoch aus drei Linſen, ſo entfernt man die beiden oberen. Dieſer Methode gebührt bei kleinen Kondenſoren zweifellos der Vorzug, weil ſie die ſtärkſte und auch gleichmäßigſte Beleuch⸗ tung des Präparats, beſonders bei den ge— bräuchlichſten ſchwachen und mittleren Objek⸗ tiven, geſtattet. Man hat deshalb auch, wie ſpäter bei der Beſchreibung moderner mine⸗ ralogiſcher Mikroſkope noch näher zu beſpre⸗ chen ſein wird, die obere Linſe oder beide obern Linſen des Kondenſors mit einer beſon⸗ deren Einrichtung zum raſchen Ein- und Aus⸗ ſchalten verſehen, jo daß man das Präpa⸗ rat im Augenblick und je nach Bedarf mit einem ſchwach- oder einem ſtarkkonvergenten Lichtbündel beleuchten kann. Zwei andere, ebenfalls gebräuchliche Me— thoden der Präparatbeleuchtung bei Beobach— tungen in parallelem polariſiertem Lichte wer— den durch die Abb. 5 und 6 veranſchaulicht. Bei der in Abb. 5 dargeſtellten Methode wird der Polariſator-Nicol mit dem vollſtändigen Kondenſor-Syſtem jo tief geſenkt, daß die Ver— einigung der aus dem Kondenſor austretenden Lichtſtrahlen nicht in, ſondern unter dem Präparat erfolgt und die Beleuchtung daher mit einem divergenten Strahlenbündel ge— ſchieht. Wie aus den in Abb. 5 eingezeichne— ten Strahlen zu erſehen iſt, kann bei dieſer Methode ein großer Teil der aus dem Kon⸗ denſor⸗Syſtem austretenden Lichtſtrahlen nicht mehr in das Objektiv gelangen; es wird viel- mehr immer nur ein Teil der zentralen Strah- 13 tive iſt es deshalb zur Erzielung günſtiger Be— leuchtung nötig, die Irisblende ſoweit einzu— ſchnüren, daß man von einem einigermaßen parallelen Strahlenbündel ſprechen kann. Den gleichen Vorteil wie bei den großen Abbe— ſchen Beleuchtungsapparaten bietet alſo die Irisblende bei den kleinen Kondenſoren nicht. Deshalb wird auch bei mineralogiſchen Mikro— ſkopen faſt allgemein den Kondenſor Vorrich- tungen der Vorzug gegeben, die geſtatten, die oberen Linſen auf irgend eine Weiſe raſch und bequem zu entfernen und ebenſo raſch wieder in ihre urſprüngliche Stelle, alſo in den Gang der Lichtſtrahlen, zu bringen. Am günſtigſten iſt ſtets die Beleuchtung des Präparats, bei der die Apertur Offnungswin— len vom Objektiv aufgenommen. In ſehr Ob Ob D D K K Ni Ni Sp Sp Abb. 4. Beleuchtung des Präparats bei orthoſkopiſcher h ( = paralleles Sp Spiegel, N, = Polari⸗ jator - Nicol, K = ſchwache Kondenſorlinſe, D = Dünn⸗ ſchliff, Ob = Objektiv. Abb. 5. Beleuchtung des Präparats bei orthoſkopiſcher eng (in. paralleles icht). Sp = Spiegel, N, = Polari⸗ ſator⸗Nicol, K 2 gliedriger Kondenſor vom Präparat entfernt, D = Dünnſchliff, Ob = Objektiv. Sp Abb. 6. Beleuchtung des Präparats bei orthoſkopiſcher . ( 108. paralleles Sp = Spiegel, N, = Polari⸗ ſator⸗Nicol, I eingeſchnürte Srisblende, K— 2gliedriger Kondenſor, D = Dünnſchliff, Ob = Objektiv. Abb. 7. Beleuchtung des Präparats bei konoſkopiſcher Beobachtung (ſog. konver⸗ gentes Licht.) Sp = Spiegel, N, = Polari⸗ jator = Nicol, K = 2 oder 3gliedriger Kondenſor dicht unter dem Präparat, D — Dünnſchliff, Ob = kurzbrenn⸗ tiefer Stellung wirkt der Kondenſor ſo, als ſei er überhaupt nicht vorhanden; man kann deshalb bei tiefgeſtelltem Kondenſor ſogar un— ter Benützung der allerſchwächſten Objekte ar⸗ beiten. Ahnlich verhält es ſich bei der in Abb. 6 veranſchaulichten Anordnung, bei der unter dem Kondenſor-Syſtem eine Iris⸗ blende angebracht iſt. Bei voll geöffneter Irisblende und bei der in Abb. 6 angenomme- nen Kondenſorlage unmittelbar unter dem Präparat, würde die Beleuchtung des Prä— parats mit einem ſtark konvergenten Strahlen- bündel, ſo wie es Abb. 7 andeutet, erfolgen, alſo auch bei der Benützung von ſchwachen und mittelſtarken Objektiven eine weniger günſtige Beleuchtung ergeben, weil das von ſolchen Ob— jektiven überblickte Sehfeld bei dieſer Anord- nung nicht voll beleuchtet werden kann. Beim Gebrauch ſchwacher und mittelſtarker Objek— weitiges Objektiv, num. a Apertur mindeſtens 0,7. kel des Kondenſors mit der des benützten Objek— tivs übereinſtimmt. In gleich bequemer und exakter Weiſe wie bei einem gewöhnlichen Mi- kroſkop läßt ſich das allerdings bei den ge— bräuchlichen mineralogiſchen Mikroſkopen nicht durchführen; dennoch beſitzen alle vollkom— menen und größeren mineralogiſchen Mikro— ſkope ebenfalls die in der Abb. 6 angedeutete Irisblende. Bei der konoſkopiſchen Beobach— tung, alſo bei der Beobachtung von Inter- ferenzfiguren in konvergentem polariſiertem Lichte (Abb. 7), kommt das Kondenſor-Syſtem mit voller Offnung in Verbindung mit einem ſtärker vergrößernden Objektiv, deſſen num. Apertur wenigſtens 0,75 —0,8 betragen muß, zur Verwendung. Die Apertur des Kon— denſors muß jedenfalls, ſoll die des je— weilig benützten Objektivs voll ausgenützt 14 werden, mindeſtens der Apertur des betrej- fenden Objektivs entſprechen. Wenn 3. B. ein Objektiv mit der beſonders hohen Aper⸗ tur 1,2 zur Beobachtung des Achſenaustritts Viertes ſehr weitachſiger Mineralien gebraucht werden ſoll, dann muß das zugehörige Kondenſor— Syſtem mindeſtens die gleiche Apertur, alſo 1,2, beſitzen. Kapitel. mineralogiſche Mikroſkope verſchiedener Konſtruktion und Größe. 1. Einfaches mineralogiſches Mikroſkop. Bei beſcheidenen Anſprüchen und für Unterrichts⸗ zwecke genügt in den weitaus meiſten Fällen m Abb. 8. Einfaches mineralogiſches Mikroſkop. ein kleines Polariſations- Mikroſkop der in Abb. 8 abgebildeten Art. Das Polariſator- Nicol iſt in eine Hülſe P gefaßt, die oben ein kleines zwei⸗ teiliges Kondenſorſyſtem trägt. Nicol und Kon- denſor laſſen ſich in der Hülſe aus freier Hand heben und ſenken. Für die Einhaltung einer genauen Orientierung des Nicols befindet ſich in P ein Schlitz, der als Führung für die eine mit dem Polariſator-Rohr verbundene Schraube o dient. Außer dieſem ſind noch zwei weitere gleichartige Schlitze in die Hülſe P eingeſchnitten, die von dem erſtgenannten um 45 und 90° entfernt lie⸗ gen, ſo daß man das Polariſator-Nicol im Be⸗ darfsfall auch diagonal oder parallel zum oberen analyſierenden Nicol ſtellen kann. Die obere halbkugelförmige Linſe des Konden⸗ ſors iſt abſchraubbar, ſo daß man bei Beobachtun⸗ gen in parallelem Licht (S. 11, Abb. 4— 6) entweder nur mit der unteren ſchwächeren Linſe allein oder mit beiden Linſen unter entſprechender Senkung des Polariſators (Abb. 5) zu arbeiten vermag. Bei Beobachtungen im konvergenten polariſierten Licht iſt die obere Linſe ſtets mit der unteren ber- bunden. Der runde Objekttiſch hat etwa 7 em Durch- meſſer, iſt drehbar und mit einer Teilung in 1/1 Grade verſehen. Von der Anbringung einer Fein⸗Einſtellvor⸗ richtung am Tubus wurde abgeſehen, da die An⸗ wendung ſtarker Vergrößerungen bei dieſem In⸗ ſtrument nicht beabſichtigt iſt, und auch nicht in Frage kommen kann, weil ſie eine ſehr exakte Dre⸗ hung des Objekttiſchs bedingen und zuweilen auch die auf S. 17 erwähnte Zentrier⸗Einrichtung für die Objektive am unteren Tubus⸗Ende nötig ma⸗ chen würde. Die äußerſte Grenze bilden Objektive von etwa 5 mm Brennweite. Zur Erreichung einer möglichſt guten Ob⸗ jektiv⸗Zentrierung wird das Inſtrument mit der jetzt auch bei allen größeren mineralogiſchen Mikroſkopen allgemein gebräuchlichen Objek⸗ tiv⸗Klammer (Objektiv⸗Zangenwechſler; Ab- bildung 9) verſehen, die zugleich ſchnelles und be⸗ quemes Auswechſeln der Objektive geſtattet. Die Verwendung der Zangenwechfler bietet außerdem den Vorteil, daß ſie die bei den größeren Mikroſko⸗ pen vorhandene, etwas zarte Zentrier-Einrichtung nicht fo ſehr anſtrengt, wie ein häufiges An- und Abſchrauben der Objektive. Über die Objektiv-Klammer ſelbſt folgendes: Der obere Teil C der Klammer wird an die Zen⸗ trier-Borrichtung (ſ. S. 17) da angeſetzt, wo jonjt die Objektive angeſchraubt werden. An jedem Db- jektiv wird eine tellerförmige Scheibe V mit flacher koniſcher Ausdrehung befeſtigt, die genau auf den koniſchen Anſatz G von C paßt. Der untere Teil 2 der Klammer iſt gabelförmig geſtaltet und mit dem oberen durch ein Gelenk S verbunden. Das Einſetzen eines Objektivs geſchieht dadurch, daß man die beiden am Tubus vorſpringenden Yand- haben der Klammer, zwiſchen denen ſich die Spi⸗ ralfeder F befindet, mit Daumen und Zeigefinger der linken Hand zuſammendrückt. Die Klammer öffnet ſich dann, ſo daß man das Objektiv in den Gabelteil Z einführen kann. Das Objektiv iſt jo weit in die Gabel hineinzuſchieben, bis man durch Anſchlag fühlt, daß ſich der halbkreisförmige Aus- ſchnitt der Gabel überall eng an die Objektivfaſ— ſung gelegt hat. Läßt man darauf die Klammer los, ſo bringt der Federdruck das Objektiv von ſelbſt in die richtige Lage. Platten (S. 70) und Keile aus Gips, Glimmer und Quarz zur Erkennung ſchwacher Doppelbrechung und zur Beſtimmung des Charakters der Doppel— brechung (S. 72) laſſen ſich bei dieſem kleinen, auch zum Herumreichen beſtimmten Inſtrument in einen, am unteren Tubus⸗Ende dicht über dem Objektiv befindlichen Schlitz K einſchieben und wer— den durch ſchwachen Federdruck in jeder Lage feſt— gehalten. Der Schlitz liegt unter einem Winkel von 450 zum Hauptſchnitt des Mikroſkops und verläuft von rechts hinten nach links vorn (Abb. 8). Außerdem befindet ſich am unteren Ende des Tubus noch ein zweiter quer durchſetzender Aus— ſchnitt, in dem ſich die Faſſung des aus- und ein⸗ ſchaltbaren Analyſator-Nicols N bewegt. Die Aus— und Einſchaltung wird durch leichten Druck gegen die beiden auf die Führungsleiſte der Analyſator— Faſſung aufgeſetzten Knöpfchen bewerkſtelligt. Die richtige Lage des Analyſators wird durch Anſchlag der beiden Knöpfchen gegen die Tubuswand herbei— geführt. Schraubt man das eine, in Abb. 8 nicht Abb. 9. Objektiv⸗Zangenwechſler. ſichtbare Knöpfchen ab, fo kann man den Analy⸗ ſator herausnehmen und reinigen. Als Analy⸗ ſator dient ein Nicol mit ſenkrechten Endflächen nach dem von P. Glan und S. P. Thomſon angegebenen Schnitt, der gegenüber der gewöhn— lichen Nicolſchen Konſtruktion den Vorzug eines größeren Geſichtsfeldes bei geringerer Länge hat und den austretenden Strahlen keine ſeitliche Ab- lenkung erteilt. Ein am oberen Ende des Tubus angebrachter tellerartiger Anſatz ermöglicht die Anwendung eines aufſetzbaren Analyſators (N, in Abb. 2), ſo⸗ wie die Benützung der auf S. 31 beſchriebenen kleinen mikrophotographiſchen Kamera. 2. Kleines mineralogiſches Mikroſkop. Bei dem in Abb. 10 dargeſtellten, für die üb⸗ lichen Geſteinsunterſuchungen beſtimmten kleinen mineralogiſchen Mikroſkop ſind alle für petro— graphiſche Arbeiten entbehrlichen Behelfe fortge- laſſen. Dagegen beſitzt das Inſtrument natürlich alle für ein raſches und genaues Arbeiten erfor- derlichen Einrichtungen. Der runde drehbare Objekttiſch hat einen Durchmeſſer von 85 mm und iſt mit ½¼ö0⸗Teilung verſehen, die zum bequemeren Ableſen auf ab- geſchrägter Fläche angebracht iſt. — Der Bola- 15 riſator P kann durch die ſehr raſch wirkende und bequem zu handhabende Schraube h gehoben und geſenkt werden, wodurch ſich jede beliebige Ab— ſtufung in der Beleuchtung (ſ. S. 13) erzielen läßt. Beim Senken ſchaltet ſich der Polariſator ſelbſttätig nach der Seite hin aus. In dieſer Lage kann die Linſe e für konvergentes Licht auf die mit dem Polariſator verbundene Linſe aufge— legt werden. Der Übergang vom parallelen zum konvergenten Licht (ſ. S. 17) und umgekehrt kann alſo bei dieſem Mikroſkop nach dem auf S. 13 erläuterten Verfahren geſchehen. Ne || N * 1 * Ih! I lm Abb. 10. Kleines mineralogiſches Mikroſkop. Eine über dem gleichfalls aus- und einſchalt- baren Analyſator Naufgeſetzte ſchwach konvexe Linſe bewirkt die Korrektion der durch den Kalk— jpat veränderten Bildweite für mittlere und jchär- fere Objektive, ſo daß ein Präparat mit unver⸗ änderter Deutlichkeit erſcheint, gleichviel ob es mit oder ohne Analyjator geſehen wird. Das Inſtrument beſitzt außerdem die bereits beſprochene Objektivklammer (ſ. S. 14), den Schlitz über dem Objektiv zum Einſchieben ver— zögernder Platten und Keile (. S. 70), die feine 16 Objektivzentrierung (ſ. S. 17), am oberen Tubus⸗Ende und den tellerartigen Anſatz für einen zweiten drehbaren Analyſator (N, in Abb. 2), auf Wunſch wird es auch umlegbar eingerichtet. Für die orientieste Der |) veparıg des Präparate kann das Mikroſkop mit einem Kreuztiſch ausgerüſtet werden, wie ihn Abb. 11 zeigt. Der Kreuztiſch wird mit Hilfe zweier Stifte auf den vorhandenen Objekttiſch aufgeſteckt und durch eine Klemmſchraube mit deſſen Platte feſt verbunden. Das Präparat, bzw. die untere Fläche des Objektträgers bleibt während der Ver— ſchiebung durch die beiden Triebknöpfe ſtets in Be⸗ rührung mit der Oberfläche des Tiſches. Jede der beiden ſenkrecht zueinander ſtehenden Bewegun— gen geſtattet eine Verſchiebung des Präparats um 30 mm. Die beiden Nonien, die die beiden in Millimeter geteilten Skalen beſtreichen, geben 0,1 mm an. Eingerichtet iſt dieſer Kreuztiſch für das Gießener Objektträger-Format; er kann auch für das Heidelberger Format (30:30 mm), aber Abb. 11. Kreuztiſch zum Aufſetzen auf den gewöhnlichen Tiſch des Mikroſkops. nicht für das engliſche (70: 26) eingerichtet werden. (über einen größeren Kreuztiſch ſ. S. 18, Abb. 15). 3. Mikroſkop mittlerer Größe. Ein den weitaus meiſten Anforderungen entſprechendes mineralogiſches Mikroſkop mittlerer Größe zeigt Abbildung 12. mit einfarbigem Lichte unter nochromators (S. 28) arbeiten zu können, kann dieſes Mikroſkop bis zur Horizontalen umgelegt werden. Das Scharniergelenk iſt mit Arretier⸗ Hebel verſehen. Der drehbare Objekttiſch iſt in 1/,° geteilt und beſtreicht 2 Nonien, die 5° an⸗ geben. Die Oberfläche des eigentlichen Drehtiſches T (Abb. 13) iſt durch eine aufgeſetzte Kappe etwas erhöht, die mit der Oberfläche einen hohlen Raum bildet. In dieſen Raum treten bei der Aus- und Einſchaltung des fog. konvergenten Lichtes die Kon— denſorlinſen (Abb. 13, S. 17) ein. Auf der Ebene der Kappe befinden ſich zwei kreuzweiſe liegende Strichteilungen zur Markierung der Lage des Objektträgers. Ein in Abb. 13 angedeuteter, aus dem Zylindermantel der Tiſchkappe herausragen— der kleiner Hebel h dient zur Ein- und Ausjchal- Um auch bei der Unterjuchung : | Verwendung homogener Leuchtflammen (S. 27) oder des Mo- tung der Kondenſorlinſen. Die Tiſchkappe iſt vom Drehtiſch abnehmbar eingerichtet, falls das In- ſtrument durch einen Kreuztiſch nach Art des in Abb. 15 abgebildeten vervollſtändigt werden ſoll. Dieſer Tiſch tritt dann an Stelle der Tiſchkappe. Unter dem drehbaren Objekttiſch befindet ſich an deſſen feſter Platte die durch Zahn und Trieb Abb. 12. Mineralogiſches Mikroſkop mittlerer Größe. t auf- und niederſtellbare Hülſe p, die zur Auf- nahme des in eine zweite Röhre gefaßten Polari- ſators Ni, eines Nicolſchen Prismas, dient. Ein unter dem Rande der Polariſator-Faſſung vor⸗ ſtehender koniſcher Zahn greift in drei je 450 von⸗ einander entfernte, dem Zahn entſprechende Ker— ben der Einſchiebe-Hülſe für die Polariſator-Röhre ein und ſichert damit dem Polariſator-Nicol be— ſtimmt orientierte Lagen. Über dem Polariſator iſt eine Kondenſor-Linſe Kl eingeſchraubt, in deren Faſſung ſich von oben her vier auf Wunſch beigegebene Zylinder- Blenden verſchiedener Größe einſtecken laſſen; außerdem kann das zum Schutz gegen Staub von unten in das Polariſator-Rohr eingeſchraubte Glas gegen eine Irisblende umgetauſcht werden. Die mit dem Polariſator verbundene Konden— ſor⸗Linſe bildet das untere Glied des mehrglied— f Ka =} = — Ni Abb. 13. Ausſchaltbarer Kondenſor: p —= Polariſator⸗Rohr mit Nicol Ni, t = Triebbewegung für p, Ki = ſchwache, mit p verbundene Kondenſorlinſe, K. — 2gliedriger Kondenſor in wegflappbarem Halter, T = Til. rigen Kondenſorſyſtems. Dieſes beſteht aus drei Linſen, von denen die untere (Ki) ſtets mit dem Polariſator verbun⸗ den bleibt, während die beiden oberen (Kz) in einer beſondern Faſſung ſitzen, die von dem Polariſator⸗Tubus ge⸗ trennt iſt. In die Platte des drehbaren Db- jekttiſches T (Abb. 13) iſt eine drehbare Scheibe s eingelagert, von der ein Arm b ausgeht, deſſen Ende ringförmig geſtaltet iſt. Dieſer Ring trägt die gemeinſchaftliche Faſſung der beiden oberen Linſen des Kondenſor-Syſtems Kz und iſt in Abb. 13 in zentraler Lage zum drehbaren Objekt- tiſch dargeſtellt. Das Linſenpaar K, iſt jedoch mit dem Ringhalter nicht feſt verbunden, ſondern in der Richtung der optiſchen Achſe des Mikroſkops etwas beweglich. Bewegt man den Polariſator N, mit ſeinem Triebknopf et in die Höhe, jo tritt der Faſſungsrand der unteren mit dem Polariſator feſt verbundenen Linſe K, unter die Faſſung der obe—⸗ ren Linſen und hebt dieſe bis zur Ebene des Ob— jekttiſchs. Beim Senken des Kondenſor-Syſtems folgt die Faſſung des Linſenpaares durch den Druck einer in den Ringhalter eingelegten ſchwachen Spi— ralfeder der Bewegung des Polariſator-Tubus p. Man kann demnach ſowohl in ſenkrechter, als auch in geneigter und in wagrechter Lage des Mikro— ſkops den Lichtkegel des Kondenſor-Syſtems mit dem Polariſator⸗Trieb genau jo einſtellen, wie dies bei einem feſt verbundenen Kondenſor der Fall iſt. Die vom Polariſator getrennte Faſſung des oberen Linſenpaars, das den ſtark konvergen— ten Lichtkegel erzeugt, ermöglicht aber auch eine Ausſchaltung dieſer Linſen, ohne den Po— lariſator in ſeiner Null⸗Lage verändern zu müſſen. Von der drehbaren Scheibe des Linſen-Halters geht nämlich noch ein zweiter Arm h aus, der als Handhabe dient. In ausgeſchaltetem Zuſtand tritt alſo das Linſenpaar für konvergentes Licht in den ſeitlichen Hohlraum der Tiſchkappe. Der Beob- achter kann die Aus⸗ und Einſchaltung des Kon—⸗ denſor⸗Syſtems, alſo den Übergang vom konver— genten zum parallelen Licht und umgekehrt, ge— wiſſermaßen augenblicklich vollziehen, ohne ſich in der Betrachtung eines Präparats ſtören zu laſſen. Leiß⸗Schneiderhöhn, Unterſuchung kriſtalliſierter Körper. 17 Die grobe Einſtellung des Tubus geſchieht in der üblichen Weiſe durch Zahn und Trieb. Die Bewegung iſt ſehr ausgiebig, ſo daß die Anwen— dung ſehr ſchwacher Orientierungs-Objektive von etwa 50 mm Aquivalent-Brennweite noch möglich iſt. Zur Fein⸗Einſtellung des Tubus dient die von Berger vorgeſchlagene Mikrometer-Einrichtung. Der Drehknopf k der Feinbewegung iſt mit einer Teilung verſehen, deren einzelne Teilſtriche direkt 0,005 mm angeben. — Wenn bei dieſer Fein-Ein⸗ ſtell⸗Vorrichtung auch ein ſog. „toter Gang“ aus— geſchloſſen iſt, jo empfiehlt es ſich doch, Diden- meſſungen (S. 46) ſtets nur in einem Dre— hungsſinne vorzunehmen. Mit Hilfe der beiden am unteren Tubusende angebrachten, um 90 voneinander abſtehenden feingängigen Schrauben c und c, wird die Zen— trierung der Objektive vorgenommen. Den Zen— trier⸗ Mechanismus (nach R. Fueß) erläutert Abb. 14, die einen Blick von oben in die geöffnete Vorrichtung und einen Hauptſchnitt durch dieſelbe zeigt. Die Objektive werden auch bei dieſem Mi— kroſkop nicht angeſchraubt, ſondern durch die auf S. 15 bereits beſchriebene Objektivklammer (Abb. 9) feſtgehalten. Unmittelbar über der Objektivklammer k be- findet ſich unter einem Winkel von 450 zum Haupt⸗ ſchnitt der bereits erwähnte, durch einen drehbaren Ring lichtdicht abzuſchließende Schlitz s zur Ein— Abb. 14. Zentrier⸗Mechanismus für Objektive (nach R. Fueß). Oberanſicht unten und Schnitt oben. c und ci find die beiden Zentrierſchrauben, s iſt der unter 45° zum Hauptſchnitt des Mikroſkops und der Schrauben c und c, liegende Schlitz zum Einſchieben verzögernder Platten. führung verzögernder Platten und Keile zur Er⸗ kennung ſchwacher Doppelbrechung und zur Be— ſtimmung des Charakters der Doppelbrechung (S. 72). x 18 Der im Tubus untergebrachte Analhſator⸗ Nicol Ne iſt ebenſo wie bei den vorbeſchriebenen Mikroſkopen aus⸗ und einſchaltbar und mit der auf S. 15 beſprochenen Korrektionslinſe kombiniert. Zwiſchen dem ausſchaltbaren Analyſator Na und dem Okular befindet ſich in der linksſeitigen Tubuswand noch ein Durchbruch für die Einfüh- rung der Amiei⸗Bertrandſchen Hilfs⸗ linſe (S. 12), die zur Scharf-Einſtellung mit Hilfe des Auszugsrohrs R durch Zahn und Trieb verſchoben werden kann. Die Hilfslinſe iſt in den Schieber b gefaßt, deſſen Stellung beim Heraus⸗ ziehen, alſo bei ausgeſchalteter Linſe, durch den federnden Anſchlag g begrenzt wird, während beim Einſchieben die richtige Lage in der Achſe des Tu⸗ bus durch den Anſchlag des Schiebers b gegen die Wand des Auszugsrohrs kenntlich wird. Iſt ein gänzliches Herausnehmen (z. B. zur Reinigung oder zur Umwechslung gegen eine andere Linſe) erforderlich, jo wird der federnde Anſchlag g mit einem Knöpfchen ein wenig angehoben. 2 5 4 22 hy, Ahr Nn L a U — N N ade Di tee Abb. 15. Großer Kreuztiſch. Das Auszugsrohr R trägt eine Milli⸗ meter⸗Teilung, deren Zahlen den Abſtand des Okulars vom Objektiv, alſo die jeweilige Tubuslänge, angeben. Aus dieſen Zahlen kann man auf bekannte Weiſe die verſchiedenen Vergrößerungen für jede Tubus⸗Länge berechnen; ferner kann man die Einteilung als Markiertafel benutzen, um diejenige Tubus⸗Stellung wieder auf- zufinden, bei der man irgendein Objekt am vorteil- hafteſten geſehen hat. Beide Anwendungen ſind indes nur nebenſächlicher Art. Vor allem kommt es darauf an, diejenige Stellung des Auszugs⸗ rohrs ein für allemal zu kennen, bei der man bei den verſchiedenen Objekten die Achſenbilder ohne Parallaxe ſieht, denn nur in dieſer Stellung kann das lineare Maß der ſcheinbaren Entfernung der Achſen zur Berechnung des ſchein⸗ baren Winkels der optiſchen Achſen benützt werden (S. 83). | Dem Mikroſkop wird eine gebrauchsfertige Ta⸗ belle beigelegt, die darüber Aufſchluß gibt, welche Stellung der Tubus haben muß, wenn das Inte⸗ ferenzbild für ein normales Auge deutlich ſichtbar ſein ſoll. Um die Berechnung des ſcheinbaren Winkels der optiſchen Achſen, die aus den mikrometriſchen Meſſungen erfolgt, zu erſparen, kann jedem Mikroſkop eine von M. Schwarz— mann angegebene, nach dem Prinzip des loga— rithmiſchen Rechenſchiebers hergeſtellte Skala bei— durch die Schraube s- gegeben werden, deren Einrichtung und Handha— bung im vierten Teil (S. 84) erläutert iſt. Auf das Ende des Okular-Rohrs R kann ein Analyſator aufgeſteckt werden, deſſen Teilkreis in ½⁰1 geteilt iſt. Dieſer Analyſator dient vor⸗ wiegend zur Beſtimmung von Auslöſchungslagen (S. 63) und zur Meſſung des optiſchen Drehungs⸗ vermögens (S. 58). Die Faſſung iſt geſchlitzt, da- mit verzögernde Platten und Keile (S. 70) einge führt werden können. Ein ſcheibenförmiger An⸗ ſatz des Auszugsrohrs dient dem Teilkreis als Stützpunkt und trägt die Index-Marke. Die mit dem drehbaren Objekttiſch verbun- dene hohle Tiſchkappe des Mikroſkops (Abb. 12) kann auch durch den in Abb. 15 dargeſtellten Kreuztiſch erſetzt werden. Die eine mit der Schraube s zu bewirkende Bewegungsrichtung iſt mi⸗ krometiſcher Art und meß⸗ bar, während die zweite mit ſtark ſteigendem Gewinde auszuführende Bewegung zur ſchnellen Abſuchung des Prä- parats beſtimmt if. Die / Schraube s hat eine Gang- höhe von 0,5 mm, der Kopf eine Einteilung von 50 Stri⸗ chen, jo daß ſich für die Meſ—⸗ ſung eine Ableſung von 0,1 mm ergibt. An zwei zu⸗ einander ſenkrecht ſtehenden Längsſkalen kann die Größe der Schlitten-Verſchiebungen gemeſſen werden; außerdem dienen dieſe beiden Skalen als ſog. Finderteilung. In dieſem Fall bedient man ſich zum Anlegen des Präparats der mittels zweier Stifte ein⸗ ſteckbaren Winkelleiſte w. Den gebräuchlichen Objektträger⸗ Größen Rechnung tragend, ſind zwei Anſchlagleiſten, paj- 5 5 Abb. 16. Tubus mit ſend für das engliſche und drehbarem Innen⸗Nicol das eie Vereins⸗For⸗ unter der a mat, beigegeben. Wie bei den inte, gewöhnlichen Tiſchen wird trance das Objekt durch die bekannten einſteckbaren zwei Federklemmen feſtgehalten. b“ iſt der Hebel für die Aus⸗ und Einſchaltevorrichtung des Kondenſors (S. 17, Abb. 13), der in eingeſchaltetem Zuſtand unter die Tiſchplatte des Kreuzſchlittens tritt und die freie Bewegung der Schlitten in keiner der bei- den Stellungen behindert. Statt dieſes ſehr vollkommenen Kreuztiſches kann auch der auf S. 16 beſprochene einfachere Kreuztiſch (Abb. 11) verwendet werden, der direkt auf die runde Tiſchkappe aufgeſteckt wird. Dieſer Kreuztiſch eignet ſich jedoch nur zur Verſchie— bung von Geſteinsdünnſchliffen und ſonſtigen auf Objektträgern Gießener Formats befeſtigten Präparaten. Die Verwendung größerer Hilfs— apparate (beiſpielsweiſe von Drehapparaten, Er⸗ hitzungsvorrichtungen uſw.), wie fie häufig in Ver⸗ bindung mit mineralogiſchen Mikroſkopen ge= und einer Jrisblende braucht werden, iſt auf einem derartigen einfachen Kreuztiſch nicht möglich. Der mit dem vorbeſchriebenen Mikroſkop (Abb. 12) verbundene Tubus kann auch durch einen Tu⸗ bus mit drehbarem Innen⸗Nicol und einer Iris⸗ blende unter der Amici-Bertrandſchen Hilfslinſe (Abb. 16) erſetzt werden, bei dem das analyſierende Prisma nicht bloß aus⸗ und einſchaltbar, ſondern auch noch drehbar eingerichtet iſt. Die Drehung dieſes Innen-Nicols, das in jeder Drehungslage aus⸗ und einſchaltbar iſt, wird mit dem Knopf d ausgeführt; an dem am Mantel des Tubus angeſchraubten, in / Grade ge— teilten Quadranten T kann man den Winkel, um den der Analyhſator gedreht wurde, ableſen. Die beiden Hauptlagen des Nicols 0° und 90 werden durch beſondere Anſchläge markiert. Die Möglichkeit der Drehung des Innen⸗Analyſators erweiſt ſich beſon— ders bei der Meſſung der optiſchen Ach— ſen, für die man den Nicol bequem, ohne das Okular zu verſetzen, in die 45 Grad-Stellung drehen kann, als An— nehmlichkeit; ebenſo bei Beobachtungen zwiſchen parallel geſtellten Nicols. Die unter dem Amici⸗Ber⸗ trandſchen Hilfsobjektiv eingeſetzte Irisblende zeigt ſowohl bei der Be- obachtung des Achſen-Austritts von ſehr kleinen, als auch bei größeren Mineral- Schnitten gute Dienſte, da ſie den Beob— achter beſonders bei kleineren Mineral- Durchſchnitten bis zu einem gewiſſen Grade in die Lage ſetzt, die Umgebung des zu unterſuchenden Präparats durch Einſchnürung des Geſichtsfeldes von der Beobachtung auszuſchließen und ſo ein möglichſt klares Achſenbild, das frei von den ſtörenden Einflüſſen der danebenlie— genden Teile iſt, zu erhalten. Bei grö⸗ ßern Mineral⸗Durchſchnitten erhält man in vielen Fällen durch entſprechende Ein- ſchnürung der Irisblende ein ſchärferes und klareres Interferenzbild. 4. Größere Mikroſtope. Außer den vorbeſchriebenen Mikroſkopen werden von den verſchiedenen Firmen, die ſich mit der Herſtellung mineralogiſcher Mi- kroſkope befaſſen, auch noch größere Mo— delle angefertigt, die hier jedoch aus Raumgründen nicht ausführlich bejchrie- ben werden können. Wir beſchränken uns deshalb darauf, die wichtigſten Unter- ſchiede einiger größern Inſtrumente, die übrigens faſt alle ſpeziellen Zwecken die- nen, gegenüber dem vorbeſchriebenen meiſt benutzten mittleren Stativ, hervor- zuheben. Ein neueres, von der Firma R. Fueß ver⸗ fertigtes, großes mineralogiſches Mikroſkop (Abb. 17) beſitzt als Polariſator⸗Nicol ein großes Ah⸗ rens ſches Prisma (S. 10), das wirklich eine voll— wertige Ausnützung des bei hiſtologiſchen Mifro- ſkopen gebräuchlichen Abbeſchen Beleuchtungsap⸗ parats geſtattet. Ein voll ausnutzbarer Abbe⸗ ſcher Beleuchtungsapparat iſt auch bei einem mine⸗ ralogiſchen Mikroſkop von Wert, beſonders dann, 19 wenn das Inſtrument gleichzeitig zu andern als mineralogiſchen Unterſuchungen dienen ſoll. Die beſonderen Vorteile des großen Ab beſchen Be— leuchtungsapparates in Verbindung mit einem ent- ſprechend großen Polariſator ſind bei mineralo— giſchen Studien: Abb. 17. Großes mineralogiſches Mikroſkop. a) Fortfall der Kondenſor⸗-Ausſchal⸗ tung (ſ. S. 17) für konvergentes Licht. b) Günſtigere Abſtands-⸗Verhältniſſe zwiſchen Objekt und Kondenſor. Die übliche Aus- und Einſchaltung des Linſenſatzes für konvergentes Licht iſt bei einer derartigen Anordnung alſo völlig ent- behrlich, denn man kann vom ſchwächſten zum 20 ſtärkſten (3. B. zur Ol-Immerſion) Objektiv über- gehen, ohne in den meiſten Fällen überhaupt an der Kondenſor-Stellung etwas ändern zu müſſen. Weniger konvergentes, praktiſch genommen „par— alleles Licht“ für die Beobachtung mit ſchwachen Ob— jektiven erhält man in ſehr bequemer Weiſe, wenn man die mit dem Ab beſchen Beleuchtungsapparat verbundene große Irisblende entſprechend ein— ſchnürt oder den ganzen Beleuchtungsapparat mit ſeinem Triebwerk ſenkt (S. 13). Jedenfalls läßt ſich die Beleuchtung des Objekts bei dieſem Be— leuchtungsapparat in viel vollkommenerem und weitgehenderem Maße bewerkſtelligen, als bei den meiſt gebräuchlichen kleineren Beleuchtungs-Vor⸗ richtungen. — Der drehbare Objekttiſch dieſes Mikroſkops iſt beſonders groß; ſein Durchmeſſer beträgt 13 cm. Mit dem Objekttiſch iſt ein Kreuz⸗ tijch verbunden, deſſen Bewegungs-Mechanismus verdeckt in der drehbaren Tiſchſcheibe gelagert iſt, ſo daß eine große ebene Fläche zum Auflegen der Präparate und kleinerer Hilfsapparate entſteht. Beide Bewegungen des Kreuztiſches können an Millimeter⸗Skalen abgeleſen werden; die Trom—⸗ meln der beiden Mikrometerſchrauben geben direkt 0.01 Millimeter an. — Entfernt man das große Polariſator-Prisma und ſchaltet man den Innen⸗Nicol aus, ſo kann das Mikroſkop wie jedes andere zu hiſtologiſchen Unterſuchungen benutzt werden. 3 Beſonderer Erwähnung bedarf ſodann noch eine Gruppe mineralogiſcher Mikroſkope, bei denen das Präparat unbeweglich bleibt, wäh— rend die Nicolſchen Prismen um das feſtlie⸗ gende Präparat gedreht werden. Die dazu nötige gemeinſame Drehung der Nicolſchen Prismen erfordert eine mehr oder minder komplizierte Einrich- tung. Ein Vorteil der gemeinſamen Nicol-Drehung um das feſtliegende Präparat beſteht darin, daß man bei dieſer Anordnung keiner Zentrierung der Ob— jektive bedarf. Praktiſch iſt die gemeinſame Nicol⸗ drehung auch bei der Unterſuchung von Kriſtallen, die unter möglichſt allſeitiger Bewegung in ſtark brechenden Flüſſigkeiten unterſucht werden ſollen; dieſe Bedingung kann man in ausgiebiger Weiſe nur durch Drehen der Nicols an Stelle des Tiſches erfüllen. Weiter kann bei Erhitzungsverſuchen der Erhitzungsapparat, der gewöhnlich ſeiner Größe und der Zuleitungen (für Gas oder Elektrizität) wegen mit dem Objekttiſch nur in ſehr beſchränk— tem Maße und unter erſchwerenden Umſtänden ge— dreht werden kann, bei drehbaren Nicols an ſeinem Orte auf dem feſten oder feſtgeſtellten Tiſche des Mikroſkops verbleiben. Das gleiche gilt für Un- terſuchungen im Vakuum oder unter Druck. Für die gemeinſame Nicol-Drehung ſind zwei verſchiedene Übertragungsmechanismen gebräuch— lich. Bei der einen gelangen Zahnräder zur Anwendung; und bei der andern, einfachern, die meines Wiſſens zuerſt von E. Sommerfeld) vorgeſchlagen worden iſt, beſitzen die beiden Nicol- ſchen Prismen Drehhebel, die durch eine Stange mit- einander verbunden ſind. Während die mit Zahnrad— übertragung arbeitende Einrichtung eine volle Um— drehung (3600) der Nicolſchen Prismen geſtatten, iſt es bei der einfachen Übertragungs-Einrichtung nicht gut möglich, eine über 180 mejentlich hin— 5) Zeitſchr. f. wiſſenſchaftl. Mikroſkopie, Jahrg. 22, 1905, S. 376. ausgehende Drehung zu erzielen; damit reicht man aber im allgemeinen vollkommen aus. Eine der vereinfachten Vorrichtungen zur ge- meinſamen Nicoldrehung iſt z. B. angewendet bei dem auf S. 21 beſchriebenen neuen petrographi- ſchen Mikroſkop für das Arbeiten nach der Thev- dolit⸗Methode, ferner bei einem gleichfalls neuen Mikroſkop nach F. E. Wright, bei dem auch ein großes Ahrens ſches Prisma als Polariſator und ein großer Abbeſcher Beleuchtungsapparat zur Anwendung gelangen. Das Wrightſche Mi⸗ kroſkop unterſcheidet ſich von den übrigen Mikro⸗ ſkopen außerdem noch dadurch, daß das obere Ende des Tubus mit einer Einrichtung verſehen iſt, die es geſtattet, die verſchiedenſten, in Me⸗ tallſchlitten einmontierten Hilfsapparate in die Bildebene des Okulars einzuſchieben. Hierfür kommen Vorrichtungen in Frage, die zur Mei- ſung der Doppelbrechung (S. 70), des optiſchen Achſenwinkels (S. 83) der Auslöſchungslagen (S. 63) von Mineralplatten und der Beſtim⸗ mung der Mengenverhältniſſe (S. 29 u. 48) dienen. Ein beſonders wichtiger Hilfsapparat dieſes Mi⸗ kroſkops iſt der von Wright angegebene Kom- binations⸗Quarzkeil zur Beſtimmung der Doppelbrechung, der aus einer etwa 35 mm lan⸗ gen, mit Teilung verſehenen Quarzplatte und einem Quarzkeil beſteht, die übereinander ge— lagert ſind und deren Hauptachſen rechtwink— lig zueinander ſtehen. Am Nullpunkt haben Platte und Keil gleiche Dicke, woraus ſich die ge— naue Kompenſation ergibt. Der Keilwinkel iſt ſo berechnet, daß die einzelnen Teilſtriche der Skala direkt einer Verzögerung von 10 uu ent⸗ ſprechen. Für Natriumlicht würde alſo die Ent⸗ fernung zwiſchen 2 aufeinander folgenden Inter⸗ ferenz-Streifen gleich 58,9 Abteilungen (589 un) auf der Keil⸗Skala ſein. Bei dieſem Keil iſt der Wegunterſchied von Wellen, die in einer be- ſtimmten Platte entſtehen, leicht feſtzuſtellen. Wenn die ſcheinbare Plattendicke nach der Me- thode von Due de Chaulnes (S. 46) mit⸗ tels des Brechungsindex auf ihre wirkliche Dicke reduziert wird oder mit Hilfe eines genauen Dickenmeſſers (Sphärometer) beſtimmt wurde, iſt es möglich, die Doppelbrechung der Platte mit einer Genauigkeit von etwa 10 Minuten zu beſtimmen. Ein allgemein bekannt gewordenes Mifro- ſkop, bei dem die gemeinſame Nicoldrehung durch eine Zahnrad-üÜbertragung unter Vermeidung des „toten“ Ganges in den Zahn— rädern erfolgt, ſchlug Verf. 60) im Jahre 1905 vor. Auf Anregung von J. Hirſchwald?) hat dieſes Mikroſkop im Jahre 1910 einige Ande— rungen und Verbeſſerungen erfahren, wodurch die polariſierenden Vorrichtungen für die ver— ſchiedenen Unterſuchungszwecke folgende Kombi- nationen geſtatten: 1. Der Polariſator und der im Tubus ein⸗ geſchloſſene und ausſchaltbare Innen-Analyſator und das Fadenkreuz-Okular drehen ſich gleich— zeitig. 6) C. Leiß, Neues Jahrb. f. Mineralogie Uſw., Beil,, Bd. 10, 1895, S. 180 7) ſ. J. Hirſchwald, Handbuch der bau— techniſchen Geſteinskunde, Berlin. 2. Der Polariſator bleibt ſtehen. Der Innen— Analyſator und das Fadenkreuz-Okular drehen ſich gleichzeitig. 3. Polariſator und Analyſator drehen ſich gleichzeitig, während das Okular ſtehen bleibt. 4. Der Polariſator und das Okular ſtehen feſt, nur der Analyhſator iſt drehbar. Endlich gibt es noch ein größeres mineralogi— ſches Stativ⸗Mikroſkop, das gewiſſermaßen eine Vereinigung des vorerwähnten und des auf S. 19 (Abb. 17) beſprochenen großen Mikro— ſkops bildet. In ſeinem Geſamt-Ausſehen ſchließt ſich dieſes Inſtrument vorwiegend an das nach J. Hirſchwalds Vorſchlägen modifizierte Mi— kroſkop an, nur beſitzt das neuere Modell eine vollkommenere Beleuchtungs-Einrichtung durch Anwendung eines großen Abbeſchen Kondenſors und eines dieſem Kondenſor entſprechenden großen Ahrensſchen Polariſator-Nicols (S. 10), ſo— wie den beſonders großen drehbaren Tiſch mit verdeckt liegendem Kreuztiſch des auf S. 19 erwähnten Mikroſkops. 5. Großes petrographiſches Mikroſkop für das Arbeiten nach der Theodolit-Methode. Bei der früher allgemein gebräuchlichen Unterſu— chungs⸗Methode, auf der auch die Konſtruktion der beſchriebenen Mikroſkope baſiert, wird das Präparat ſtets um eine mit der Sehlinie zu— ſammenfallende Achſe gedreht, oder das Prä— parat liegt feſt, und man dreht die beiden Nicol- ſchen Prismen um eine ebenfalls mit der Seh— linie zuſammenfallende Achſe, die gleichzeitig nor— mal auf der Ebene des Präparats ſteht. E. v. Fedorow hat eine andere Methode, deren er ſich zuerſt zur Beſtimmung der kriſtallographi— ſchen Elemente mit Hilfe eines beſonderen Re— flexionsgoniometers bediente, auch für die Petro— graphie nutzbringend ausgebildet. Bei dieſer Me— thode wird der Dünnſchliff um verſchiedene ſenk— recht zueinander gelagerte Achſen gedreht. Zur Beſtimmung von Geſteins-Dünnſchliffen (insbe- ſondere der vielen Feldſpat-Varietäten) nach der Theodolit⸗Methode benützt man den von E. v. Fedorow zuerſt vorgeſchlagenen, von der Firma R. Fueß konſtruierten und eingeführten Univerſaltiſch, der einen auf dem Mikroſkop⸗ tiſch zu befeſtigenden Hilfsapparat der minera— logiſchen Mikroſkope bildet. Dieſem ſpäter von W. Nikitin und E. F. Wright verbeſſerten Univerſaltiſch haften aber noch einige Mängel an, da es z. B. nicht möglich iſt, auf einem ſolchen Tiſch Dünnſchliffe, die auf normale Objektträger— Formate (3. B. 28x 48 mm) aufgekittet ſind, zu verwenden. Der Univerſaltiſch bedingt viel— mehr beſondere kleine und runde Objektträger von höchſtens 20 mm Durchmeſſer; obendrein dürfen die Schliffe nicht mit einem Deckglas ver- ſehen ſein. Schließlich erfordert das Arbeiten mit dem Univerſaltiſch infolge der geringeren Ab— meſſungen des ganzen Apparats ziemlich große Geſchicklichkeit und Übung. Aus dieſen Gründen erſchien es dem Verfaſſer angezeigts), für das 8) C. Leiß, Zeitſchr. f. Inſtrumentenkunde, 1. Jahrgang, 1912, S. 377-379, ſowie Zen⸗ tralblatt f. Mineralogie uſw., Jahrg. 1912, S. 733 - 736. 21 Arbeiten nach der Theodlit-Methode ein eige— nes Mikroſkop zu bauen, das wir in Abb. 18 ſehen. Da das Arbeiten nach der Theodolit-Me— thode immer mehr an Bedeutung gewinnt, ſei hier eine kurze Beſchreibung dieſes Spezial— Inſtruments gegeben. ?) Die dem eigentlichen Univerſaltiſch nachgebil- dete, aber weſentlich größere Tiſch-Einrichtung iſt für das Gießener Vereins-Format 28x 48 mm eingerichtet. Die Verwendung unbedeckter oder 2 Abb. 18. Großes Mikroſkop zum Arbeiten nach der Theodolit-Methode. mit der Schliffſeite nach oben gelegter Dünn— ſchliffe iſt bei der neuen Einrichtung nicht nötig, das Präparat wird vielmehr in gewohnter Weiſe auf den Objekttiſch aufgelegt und durch Feder— klemmen feſtgehalten. Im obern Kernſtück des mit Umlege⸗Einrichtung verſehenen Trägers t 9) Sehr ausführlich iſt das Arbeiten nach der Theodolit⸗Methode behandelt in: W. W. Niki⸗ tin: La methode univers. de Fedoroff. Descript. system. de la marche des op£erations à effectuer pour la deter minat. d. constantes optiques d. mineraux. Traduct. frang. p. L. Duparc et V. de Dervies. Genf 1913. 22 iſt die ſogenannte immobile Achſe des ſenkrech— ten Teilkreiſes I mit Hilfe des Speichenrades r drehbar gelagert; ſie kann durch eine in der Abb. 18 nicht ſichtbare Schraube feſtgeklemmt werden. Feſt mit I verbunden, iſt das Lager- ſtück 1 für das geſamte übrige aus dem Kreis II, dem Hilfskreis III und den beiden wegklappbaren geteilten Bogenſtücken IV beſtehende Kreisſyſtem. Der Kreis II beſitzt eine (jog. mobile) Drehungs⸗ achſe im Lagerſtück 1; er kann durch die Schrauben s feſtgeklemmt werden. Die Drehung oder Neigung des das Präparat tragenden Hilfs- kreiſes III erfolgt um die beiden Zapfenlager 2 und 21, die nicht feſtklemmbar ſind. Damit die Schliffebene des auf dem Hilfskreis III liegen- den Präparats genau in die verlängert gedachte Achſe der Kreiſe J und III gebracht werden kann, läßt ſich die geränderte Auflageplatte für das Präparat innerhalb der erforderlichen Grenzen hoch und tief ſchrauben und durch eine unter der Auflageplatte befindliche Klemmſchraube fixieren. Dies geſchieht derart, daß man mit der einen Hand den Kreis III an ſeinem geränderten Rand feſthält und die Auflageplatte entſprechend dreht. Das Mutter⸗Gewinde für die Präparat-Auflage befindet ſich alſo im Kreis III. Eingeteilt ſind alle 3 Kreiſe und die beiden Bogenſtücke in 1/, Grade. Bei den beiden Haupt⸗ kreiſen I und II gibt je ein Nonius 5“ an, wäh⸗ rend beim Hilfskreis Ul und den zwei Bogen- ſtücken IV je ein Index zur Ableſung dient. Die bei dem bisherigen Univerſaltiſch durch den gewöhnlichen Drehtiſch des Mikroſkopes be— wirkte Umdrehung des ganzen Tiſches um eine ſenkrechte Achſe fällt bei dem neuen Inſtrument fort: ſie iſt durch eine bequemere Vorrichtung zur Drehung der beiden Nicolſchen Prismen (Po⸗ lariſator P und Analyſator A) erſetzt. Zur Ableſung der Drehungswerte dient der Teilkreis N mit Grad⸗Teilung und Ableſung durch zwei Nonien 5“. Die gemeinſame Nicol- drehung wird durch die Verbindungs-Stange n bewirkt. Für gewiſſe Zwecke kann das aus⸗ und einſchaltbare analyſierende Prisma A auch allein gedreht, und die Drehung an dem kleinen Halb— kreis Al abgeleſen werden. In dieſem Fall trennt man die Verbindung zwiſchen der Stange n und dem Mitnehmer-⸗Arm a dadurch, daß man den Tubus mit Hilfe ſeiner Triebbewegung ſo weit hochhebt, bis der Arm a über der Stangen ſteht. Dreht man nun die Stange n zur Seite, ſo kann die Drehung des analyſierenden Nicols allein erfolgen. Zur beſſeren Beobachtung des Achſenaustritts bei ſtarken Neigungswinkeln werden jedem Mikro— ſkop zwei Halbkugel-Linſen beigegeben, von denen die eine, und zwar die größere, unter dem glä— ſernen Tiſch des Hilfskreiſes III mit Hilfe einer beſonderen Faſſung zentriſch angekittet (mit dickem Zedernholz-Ol oder dgl.) werden kann. Die obere kleinere Halbkugel-Linſe von 12 bis 14 mm Durchmeſſer iſt in eine ſchmale, auf dem Tiſch mit zwei Schrauben leicht abnehmbar zu befeſtigende Faſſung eingeſetzt und ruht unter Vermittlung von Zedernholz-Ol federnd auf der Oberfläche des Präparats bezw. des Deckglaſes. Um die Drehbarkeit des Objekttiſches mit dem darauf liegenden Präparat bei der Verwendung ſtärkerer Objektive zu erhöhen, empfiehlt es ſich, das obere Halbfugel-Segment nach einem Vorſchlag von W. Sokolow (Petersburg) nicht mehr wie bisher feſt in eine Metallplatte zu faj- ſen, ſondern unter Verwendung von Immerſions⸗ öl (Zedernholz-Ol) zentriſch in die Offnung einer 0,5 mm ſtarken Metallplatte einzulegen. Man kann bei der v. Fedorowſchen Theo- dolit-⸗Methode auch ohne Anwendung eines Lin⸗ ſenſatzes für konvergentes Licht (S. 13) Inter⸗ ferenz-Figuren in konvergentem Lichte beobachten. Dabei benutzt man die dem Theodolit-Mikroſkop beigegebenen Halbkugel⸗Segmente. Man hebt bei dieſer Beobachtungs-Methode den Tubus mit dem betreffenden Beobachtungs-Objektiv ſo weit, bis man das in der oberen Bildebene des oberen Halb- kugel⸗Segments entſtehende Interferenz-Bild di⸗ rekt beobachten kann. Bei Anwendung des Ob⸗ jektivs Nr. 4 (Aquivalent⸗Brennweite 14 mm) iſt der Tubus z. B. jo weit zu heben, daß der Ab⸗ ſtand zwiſchen Objekt und Objektiv etwa 25 mm beträgt. Der Polariſator-Nicol kann mit Hilfe einer Zahn⸗ und Triebbewegung in der üblichen Weiſe gehoben und geſenkt werden. Zur Beleuchtung des Präparats dient eine über dem Polarijator- Nicol aufgeſchraubte, ſchwach konvexe Linſe, über die gewünſchten Falles noch ein Linſenſatz für konvergentes Licht geſtülpt werden kann. Der Tubus hat die bekannte Einrichtung der modernen mineralogiſchen Mikroſkope. Statt des über dem Objektiv befindlichen, unter 450 zum Hauptſchnitt liegenden Schlitzes (S. 15) hat W. Nikitin vorgeſchlagen, zwei im rechten Winkel zueinander ſtehende und in den beiden Haupt⸗ ſchnitten des Mikroſkopes liegende Schlitze zur Einführung verzögernder Platten und des dreh- baren Nikitin⸗Kompenſators anzubringen. Von der Anbringung einer Fein-⸗Einſtell⸗Einrichtung am Tubus wurde abgeſehen, da bei der Theodo— lit⸗Methode nur ſchwache oder allenfalls mittel- ſtarke Vergrößerungen in Frage kommen, bei denen eine gutgehende Zahn- und Trieb-Bewe⸗ gung zur Scharf-Einſtellung vollkommen aus⸗ reicht. Das Okular-Ende des Tubus iſt nach dem Vorſchlag von Wright mit einer Einrich⸗ tung zum Einſchieben von Schlitten verſehen, die je nach Bedarf mit Mikrometer, Koordina⸗ ten⸗Netz, verzögernden Plättchen aus Gips und Glimmer ſowie Kompenſatoren verſchiedener Art ausgerüſtet werden. Nach dem Vorſchlag von W. Nikitin kann das Dfular-Ende auch jo eingerichtet werden, daß man den Okularanſatz um 90° drehen und feſtklemmen kann, jo daß man die in den Okulardurchbruch einzuſchieben— den Präparate und Objekte ſenkrecht und par⸗ allel zum Hauptſchnitt des Mikroſkopes einzu⸗ führen vermag. Neuerdings hat G. Friedel vorgeſchlagen, den Wrightſchen Okularteil um 180 drehbar einzurichten, zur genauen Beſtimmung ge⸗ ringſter Doppelbrechung unter Verwen⸗ dung einer ½ Und. Glimmerplatte, die in die Offnung des Wrightſchen Okulars eingejchoben und darin nach Bedarf gedreht werden kann. Die Friedelſche, ſehr genaue Werte Tie- fernde Methode zur Beſtimmung der Doppel- brechung bedingt die Anwendung eines über dem Okular befindlichen drehbaren Analyſators, deſ— ſen Faſſung eine Gradteilung beſitzt, ſodaß man noch halbe Grade ſicher ableſen kann. Bei der Friedelſchen Methode wird folgendermaßen verfahren: Man bringt die zu meſſende Platte zwiſchen gekreuzte Nicols und dieſe durch Drehen des Objekttiſches in jene Stellung, in der völlige Auslöſchung eintritt; dann wird die zu unter- ſuchende Platte um genau 450 gedreht. Man führt zunächſt die / Und. Glimmerplatte in den Schlitz des Wrig htſchen Okulars ein, kreuzt die beiden Nicols (Polariſator und oberen Ana— Fünftes 23 lyſator) genau zueinander, entfernt die ½ Und. Glimmerplatte wieder und ſtellt nunmehr durch Drehen des Kreiſes [[ am v. Fedorowſchen Tiſch die zuvor auf die Tiſchplatte III aufgelegte Kriſtallplatte in die Auslöſchungsſtellung, worauf man die Kriſtallplatte mit Hilfe des Kreiſes II um genau 45° dreht. Nunmehr ſchiebt man die 14 Und. Glimmerplatte wieder ein und dreht den oberen Analyſator um den erforderlichen Betrag. Die Drehung am oberen Analyjator gibt dann ſofort die Verzögerung (n—n‘) der Kriſtall— platte an. Kapitel. Prüfung und Juſtierung des Mikroſkops. Bei einem fehlerfreien mineralogiſchen Mikroſkop müſſen alle Drehungen, Bewegun— gen, Triebführungen und Ausſchaltvorrichtun⸗ gen am Tubus und Kondenſor bei der Prü— fung gut und ſicher arbeiten. I. Prüfung der Gbjekttiſch⸗Drehung. Wichtig iſt, daß der drehbare Objekttiſch ſich gut und ſanft drehen läßt, ohne dabei eine ſeitliche Verſchiebung (Dezentrierung) zu er⸗ leiden. Die Prüfung des drehbaren Tiſches geſchieht derart, daß man zunächſt irgend ein Objekt unter Verwendung eines ſtärkeren Objektivs von etwa 3—5 mm Brennweite gut zentriert; dies geſchieht dadurch, daß man eine beſtimmte Stelle im Präparate unter Drehung des Objekttiſchs mit Hilfe der Ob— jektiv⸗Zentriervorrichtung (C u. Ci in Abb. 14) möglichſt genau zentriſch zum Fadenkreuz des Okulars zu bringen ſucht. Iſt die Zentrierung erfolgt, und erleidet das Objekt während man den Objekttiſch dreht, keine plötzlichen Verän⸗ derungen, ſo iſt die Lagerung des Drehzap— fens (Konus) am Objekttiſch exakt. Macht das anviſierte Objekt dagegen während der Dre— hung des Tiſches ſprungartige Bewegungen oder verläßt es ſeine an eine Kreislinie ge⸗ bundene Bahn, ſo läßt die Tiſchdrehung zu wünſchen übrig und bedarf entſprechender Kor— rektur. Ob der Drehzapfen des drehbaren Tiſches genau in ſein Lager eingepaßt iſt, läßt ſich bei der Benützung eines ſtark ver⸗ größernden Objektivs auch dadurch erkennen, daß man in verſchiedenen Tiſch Stellungen mit je einem Finger der beiden Hände einen ge— ringen zentralen Druck gegen den Rand des Drehtiſches ausübt und dabei beobachtet, ob ſich irgend ein in nächſter Nähe vom Kreu⸗ zungspunkt der Okular⸗-Fäden befindliches Ob— jekt hin und her bewegt. Der mit den Fin⸗ gern auszuübende Druck muß natürlich ſanft ſein, denn bei ſtarker Vergrößerung und ſtar— kem Druck wird ſich immer eine geringe Ortsveränderung des anviſierten Objekts zei— gen. Dieſe Orts-Veränderung darf aber auf alle Fälle nur gering ſein, wenigſtens bei einem koſtſpieligen, auch zu Meßzwecken die— nenden Mikroſkop. Vollkommen feſtſtehen kann bei ſeitlichem Druck gegen den Objekttiſch der anviſierte Punkt im Präparat niemals, weil die Drehung des Objekttiſches nur dadurch möglich iſt, daß, wenn der gefettete Drehzapfen des Tiſches mit etwas „Luft“ oder Zwiſchenraum in ſeinem Lager ſitzt. 2. Prüfung der Zentriervorrichtung für die Objektive (Abb. 14). Man zentriert unter Verwendung des ſchwächſten, dem be— treffenden Mikroſkop beigegebenen Objektivs irgend eine beliebige kleine aber hervor— ſtechende Stelle in einem Präparat. Die Zen⸗ triervorrichtung iſt in Ordnung, wenn nach erfolgter Zentrierung die Bewegung beider Zentrierſchrauben geſtattet, das zentrierte Ob- jekt noch um einen mäßigen Betrag nach bei— den Seiten hin über den Kreuzungspunkt des Okular-Fadenkreuzes hinaus zu bewegen. Die Bewegungsrichtung beider Zentrier— Schrauben ſoll auch einigermaßen mit den bei⸗ den Hauptſchnitten des Mikroſkops oder den beiden Armen des Okular-Fadenkreuzes zus ſammenfallen, bezw. damit parallel ver— laufen. 3. Prüfung des Kondenfors. Mit Rückſicht auf die geringe Größe der Konden- ſoren bei den meiſten mineralogiſchen Mifro- ſkopen iſt eine möglichſt genaue Zentrie— rung ſehr erwünſcht, beſonders bei Beobach— tungen in konvergentem polariſiertem Licht (S. 13). Um die Zentrierung des Konden— 24 ſors zu prüfen, ſchaltet man den oberen, für konvergentes Licht beſtimmten Kondenſorteil ein und überzeugt ſich mit Hilfe eines zu⸗ vor genau zentrierten, möglichſt ſchwach ver— größernden Objektivs, ob die obere Linſe zen⸗ triſch zur optiſchen Achſe des Mikroſkops ſteht. Iſt das ein- und ausſchaltbare Linſenſyſtem mit dem drehbaren Objekttiſch, wie das ſehr häufig der Fall iſt, feſt verbunden, ſo braucht man nur den Tiſch zu drehen und das durch den Beleuchtungsſpiegel in der Tiſch- oder der Objektebene entworfene Bild irgend eines ent- fernten Gegenſtandes zu beobachten. Wenn dieſes Bild während der Drehung des Ob— jekttiſches auf ſeinem Ort verbleibt, ſo iſt der Kondenſor ſehr gut zentriert. Schwankt das Bild dagegen im Sehfeld des Okulars, jo iſt eine Dezentrierung des Kondenſors vor- handen, die unbedingt (vom Mechaniker) be- ſeitigt werden muß. Steht das geſamte Kon⸗ denſor⸗Syſtem feſt, iſt alſo auch das obere Glied nicht mit dem Tiſch drehbar verbunden, ſo ſtört eine geringe Exzentrizität weniger. Um zu prüfen, ob in dieſem Falle die Zen⸗ trierung des Kondenſors in ausreichendem Maße durchgeführt iſt, genügt es, ein Blech⸗ oder Pappſcheibchen mit einem Loch von 1 bis 2 mm Weite zentriſch über die obere Kondenſorlinſe zu legen, und mit Hilfe eines zuvor zentrierten ſchwachen Objektivs zu prü- fen, ob dieſes Loch einigermaßen ſymmetriſch zum Okular⸗Fadenkreuz liegt. | 4. Prüfung der OGkular⸗Fadenkreuze. Die Kreuzfäden der Okulare follen wenigſtens annähernd parallel, bezw. ſenkrecht zur Sym— metrie⸗Ebene des Mikroſkops ſtehen. Man prüft die richtige Lage der Fäden, indem man die Okulare nacheinander auf ein geeignetes Objekt, etwa einen gerade verlaufenen Spal⸗ tungsriß eines Minerals (3. B. Anhydrit) oder auf einen in einen Objektträger geritzten ge⸗ raden, feinen Strich richtet, der durch Dre— hen des Tiſches einem der Okularfäden par⸗ allel geſtellt iſt. Bei einer Drehung des Tiſches um 90° muß das Objekt den zweiten Faden decken. Abweichungen können mit einem Rohrſchlüſſel, deſſen Zacken in die Kerben der die Fadenkreuze tragenden Diaphragmen eingreifen, durch Drehung der ee korri⸗ giert werden. 5. Prüfung der Base der Nicolſchen Prismen. Zur Orientierung der Polariſa⸗ toren (Nicolſchen Prismen), deren Polariſa— tionsebenen mit den Kreuzfäden der Okulare zuſammenfallen müſſen, kann man ſich ver- ſchiedener Methoden bedienen. Die erſte Methode beruht auf der An- wendung gewöhnlicher Kriſtalle oder Spalt— plättchen von ſolchen, die ein zuverläſſiges Mittel zur genauen Juſtierung der Nicol- Hauptſchnitte bieten, wenn man in folgender Weiſe verfährt: Man ſtellt die Kante des auf ein Objektglas gekitteten Anhydrit-Spaltplätt⸗ chens zwiſchen die gekreuzten Nicols genau parallel zu einem Arm des Fadenkreuzes und dreht den Polariſator, bis der Kriſtall von dem übrigen verdunkelten Teil des Sehfeldes nicht mehr zu unterſcheiden iſt. Dann prüft man durch Drehen des über dem Okular be⸗ findlichen Analyſators, ob nicht in irgend einer Stellung der Kriſtall wieder ſichtbar wird. Wenn dies der Fall iſt, ſo muß der gleichmäßige Farbenton des Sehfeldes durch eine geringe Drehung des Polariſators wie⸗ der hergeſtellt werden. Dieſe Korrektur muß ſolange fortgeſetzt werden, bis der Kriſtall bei einer vollen Umdrehung des Analyſators völlig unſichtbar bleibt und ſomit die Schwingungs⸗ richtungen im Kriſtall und im Polariſator zu⸗ ſammenfallen. — Iſt das zu prüfende Mikro⸗ ſkop mit zwei Analyſatoren (einem im Tubus eingeſchloſſenen und einem über dem Okular befindlichen) ausgerüſtet, ſo erfolgt die Prü⸗ fung und Berichtigung des im Tubus ein⸗ geſchloſſenen Analyſators in ähnlicher Weiſe wie zuvor, nur mit dem Unterſchied, daß die erforderlichen Korrekturen nur am Tubus⸗ Analyſator ausgeführt werden, da der Polari⸗ ſator ja bereits vorher berichtigt worden iſt. Statt eines Anhydrit-Spaltplättchens läßt ſich auch ein fadenförmiger Kriſtall, z. B. Quarz aus dem Rieſengrund an der Schnee— koppe, anwenden. Die zweite Methode zur Nicol-Juſtie⸗ rung beruht auf der Anwendung künſtlicher, in ein Okular eingeſetzter Platten, der ſog. Calderonſchen Kalkſpat-Doppelplatte oder der 4 fachen Bertrandſchen Quarzplatte. Wenn die Faſſungen des Polariſators und Analyſators mit ihren Teilungen oder Orien- tierungsmarken auf Null eingeſtellt ſind, jol- len die beiden Hälften der Calderon ſchen Platte in gleichem Halbſchattenton beleuchtet und bei Anwendung des Bertrandſchen Okulares die vier Sektoren der Quarzplatte in gleichem Farbenton erſcheinen. Trifft dies nicht zu, ſo ſteht die Polariſationsebene des einen oder des anderen Nicols oder beide nicht richtig zu der Platte; die Nicols müſ— fen dann in ihren Faſſungen gedreht werden. Die Drehung bewirkt man durch paſſende Rohrſchlüſſel. Mittels des Calderon ſchen Okulars führt man die Juſtierung zweckmäßig in fol— gender Weiſe aus: Nachdem die Schnittfuge der Calderon ſchen Platte in der oben an— gegebenen Weiſe mit dem einen von vorn nach hinten verlaufenden Faden der übrigen Oku— lare parallel geſtellt iſt, prüft man unter kur⸗ zen raſchen Drehungen des über dem Oku— lar befindlichen Analyſators, ob beide Schat— tenhälften gleich ſtark beleuchtet ſind. Trifft dies nicht zu, jo muß man den Polariſator— Nicol ſo lange in ſeiner Faſſung drehen, bis die während der Analyſatordrehung beobach— tenden Beleuchtungs-Maxima gleich groß ſind. Sobald dies erreicht iſt, hat man nur noch den Analyſator in ſeiner Hülſe zu drehen, bis die Calderonſche Platte in gleichmäßi⸗ gem Halbſchattenton erſcheint, wenn der Null- ſtrich auf der Teilung der Analyſatorhülſe mit dem feſten Indexſtrich zuſammenfällt. Die Juſtierung des Analyſators läßt ſich ſehr raſch vollziehen, wenn man, nachdem die Staub— glasfaſſung oben abgeſchraubt iſt, den Null- punkt der Analyjatorteilung mit dem feſten Index zur Deckung bringt, den Analyſator in dieſer Stellung mit der linken Hand gut feſt⸗ hält und nun den Nicol mittels des ziemlich kurzen Rohrſchlüſſels unter gleichzeitiger Be⸗ obachtung ſolange dreht, bis in der Calde— ron ſchen Platte eee eingetre⸗ ten iſt. Es bleibt dann noch übrig, auch den im Tubus befindlichen Analyſator zu drientie— ren. Zu dieſem Zweck entfernt man den Pola⸗ riſator und betrachtet gewiſſermaßen den Tu⸗ bus⸗Nicol als Polariſator. Da aber deſſen Schwingungsebene parallel zum Aufſatz-Ana⸗ lyſator ſteht, bringt man den letzteren aus ſeiner 0 Stellung in die 90%-Stellung und dreht dann den Tubus⸗Nicol, bis wieder gleich- mäßiger Halbſchatten über der . ſchen a lagert. Sechſtes 1 Dr Die Orientierung der Nicol-Hauptſchnitte unter Anwendung des Bertrandſchen Oku— lars erfolgt ganz in der vorſtehend erläuter— ten Art und Weiſe, nur tut man in dieſem Falle gut, zur Nachprüfung ein auf dem Ob— jekttiſch befeſtigtes Anhydrit-Spaltplättchen heranzuziehen, deſſen Kante genau parallel zur Schnittfuge der Platte geſtellt iſt. Die Orientierung der Nicols iſt richtig, wenn in der genannten Stellung des Anhydrit-Plätt⸗ chens gleiche Färbung der vier Quadranten der Bertrand ſchen Platte eintritt. Viele Beobachter reagieren auf den zwiſchen parallel geſtellten Nicols entſtehenden (rötlich-gelben) Farbenton beſſer als auf den blauen (teinte de passage) zwiſchen gekreuzten Nicols. 6. Prüfung der Vertrandͤſchen Cinſe. (Hilfsobjektiv). Die Prüfung der richtigen Lage der Bertrandſchen Linſe geſchieht da— durch, daß man unter Benützung des zuge— hörigen Okulars und eines ſtärker ver- größernden Objektivs (3. B. eines Objektivs von 3—5 mm Aquivalent-Brennweite) auf das Achſenbild einer genau ſenkrecht zur op— tiſchen Achſe geſchnittenen Kriſtallplatte (am geeignetſten iſt eine Kalkſpat⸗Platte) einſtellt. Bei richtiger Lage der Bertrand-Linſe muß das Achſenkreuz die Mitte des Geſichtsfeldes ſchneiden. Vor der Prüfung iſt dafür zu ſor⸗ gen, daß das benutzte Beobachtungsobjektiv einigermaßen gut zentriert iſt (mittels der beiden Schrauben am unteren Tubusrand). Wegen der weniger ſicheren Lage der Ber⸗ trand ſchen Linſe in ihrem ausziehbaren Schieber werden die theoretiſch an die Zen- trierung zu ſtellenden Anforderungen nicht ſtreng erfüllt werden können. Geringe Ab- weichungen beeinträchtigen aber die mit dieſer Vorrichtung auszuführenden Beobachtungen und Meſſungen auch durchaus nicht. Für Mej- ſungen iſt es von viel größerer Wichtigkeit, daß die Bertrandſche Linſe ſtets gleich weit von dem Meßokular, mit dem ſie ver- bunden iſt, entfernt bleibt. Kapitel. Okulare und Objektive. Die gewöhnliche Okularausrüſtung der mineralogiſchen Mikroſkope ſetzt ſich in der Regel aus einigen Okularen mit Kreuzfäden, einem zu Meßzwecken dienenden Mikrometer⸗ Okular und einem zur genaueren Beſtimmung von Auslöſchungsſchiefen dienenden ſog. Stau- roſkop⸗Okular nach Calderon oder Ber⸗ trand (S. 24) zuſammen. An jedem dieſer 26 Okulare befindet ſich ein vorſpringender Schraubenkopf, der, in einen Schlitz des Tubus einfallend, die Orientierung der Fäden, bezw. der Calderon ſchen oder Bertrandſchen Mikroſkopen der Firma R. Fueß beigegeben werden, zuſammengeſtellt. Dfular-Bezeichnung Brennweit Eigen⸗ Platte herſtellt. Nr. in mm vergrößerung Die zu mineralogiſchen Studien benutzten Kies ’ / 15 1 Objektive unterſcheiden ſich von der gebräuch⸗ Guygens) 2 we lichen Konſtruktion in keiner Weiſe. Am mine⸗ 2 „ 45 5,6 ralogiſchen Stativ kann alſo jedes beliebige 3 E 30 83 gute Objektiv verwendet werden, das frei n von Spannung (Doppelbrechung) iſt. 4 „ 21 12 In den nachfolgenden beiden Tabellen 5 (Ramsden) 31 8,1 ſind die wichtigſten Daten der Okulare und 6 98 89 Objektive, wie ſie z. B. den mineralogiſchen .... Mn: f ; 5 Objektives Objektiv⸗Bezeich⸗ n N Vergrößerung bei 200 mm Tubuslänge | = nung, zugleich Numeriſcheſ Offnungs⸗ und ausgeſchaltetem Tubusnicol mit n Een. Millimeter 5] Abſtand 1 | 2 | 3 4 5 6 lars Nr. 2 „ 0,09 | 10° E 26 29 66 52 mm 32 1 0,1 11 20 27 38 60 46 50 3,75 21 22 5 0,21 240 e 100 a ae 139% 17 1 0,21 24° 45 61 86 135 100 108 1,65 10 14 55 0,26 30 58 76 108 170 128 135 1,3 8 10 1 0,32 38° 80 108 150 235 176 190 0,92 A 5 5 0,82 110° 170 225 320 500 370 400 0,45 0,5, 3 0 0,82 110° 300 405 560 900 660 700 0,26 03% 2,5 (Ol⸗Immerſ.) 1,25 110° 0355 480 680 1070 780 840 021 0,24, 1,8 5 1,30 118° 470 620 880 1400 1020 | 1100 160 | 0,18, Siebentes Kapitel. Beſtimmung der Vergrößerung und der Sehfeldgröße. Das im Mikroſkop beobachtete Bild wirkt auf das Auge wie ein in normaler Seh⸗ weite (250 mm) deutlich wahrgenommener Gegenſtand. Um ein Maß für die Vergröße— rung jeweiliger Objektiv-Okular-Zuſammen⸗ ſtellung zu erhalten, bringt man auf dem Tiſch des Mikroſkops einen in Hundertſtel— Millimeter geteilten Maßſtab, ein ſog. Ob⸗ jekt⸗Mikrometer (1 mm in 100 Teile ge⸗ teilt) und neben dem Mikroſkop einen gewöhn⸗ lichen in Millimeter geteilten Maßſtab an, der ſich 250 mm von der Augenlinſe des Dfu- lares entfernt befinden ſoll. Betrachtet man dann mit dem einen Auge das mikroſkopiſche Bild des Objekt-Mikrometers, mit dem ande— ren gleichzeitig den Vergleichsmaßſtab und bringt beide zur Deckung, ſo erhält man die Vergrößerung, wenn man die Länge des Bil⸗ des durch die wirkliche Größe des abgebildeten Objekt⸗Mikrometers dividiert. Fallen z. B. 110 mm des Vergleichsmaßſtabes mit 50 Tei⸗ len des Objektmikrometers, alſo mit 1 mm, 110 zuſammen, ſo beträgt die Vergrößerung 05 55. Die Vergrößerungszahlen der vor— ſtehend gegebenen Tabelle ſind auf dieſe Weiſe ermittelt worden. Die Sehfeldgröße für eine beſtimmte Okular-Objektiv-Zuſammenſtellung ermittelt man gleichfalls unter Anwendung des ſog. Objekt⸗Mikrometers. Man ſtellt darauf ein und zählt die Anzahl der Teile, die man im Geſichtsfeld des Okulars überblickt. Die Zahl dieſer Teile gibt das Maß für die Größe des Geſichtsfeldes. Erblickt man z. B. von dem /- Na, Le, . 72. BB be. Adıtes Kapitel. Cambruige Ser 1 =] Geſichtsfeldes bis zum andern bei einer beſtimmten Okular-Ob⸗ jektiv-Zuſammenſtellung 67 Intervalle des Objekt-Mikrometers, ſo iſt das objektive Sehfeld dieſer Kombination 0,67 mm groß. METHODS 2 einen Rande des Tesart Are TE 7 fc Fer Wes Ou seen Apparate zur Erzeugung einfarbigen Lichtes. 97 od Kriſtalloptiſche Unterſuchungen, wie fie mit jedem beſſeren mineralogiſchen Mikroſkop aus⸗ geführt werden können, bedingen die Anwen— dung einfarbigen oder homogenen Lichtes. Man erhält dieſes Licht auf verſchiedene Art. Die älteſte und noch viel gebräuchliche Methode iſt die Anwendung homogener Leuchtflammen. Für viele Zwecke genügen auch die neuerdings her— geſtellten farbigen Filter, während für genaue Unterſuchungen ausſchließlich die ſog. Monochro— matoren in Frage kommen. Cleese d E, frers- deer Mehroseoßes „uf, hee, 0 ZUHCE Auf; Irchron, Bezeichnung der Filter Durchläſſig für Licht von: 650 um aufwärts 610—660 uu u. ein ſchwaches Band über 590—620 [690 uw 555—595 520—550 465—520 410—470 Cine, C, En Abb. 19. Lampe für g ee Licht nach Laspeyres. 1. Lampe für homogenes Licht nach Las⸗ peyres (Abb. 19). Dieſe Lampe dient zur Er⸗ zeugung von rotem, gelbem und grünem Licht. Die zu verbrennenden Salze (Lithium, Natrium und Thalium) werden in die drei drehbar an⸗ geordneten, aus dünnem Platindraht hergeſtell— ten Röhrchen gebracht, ſo daß man im Augenblick von einer homogenen Lichtart zur anderen über— gehen kann. Mit Hilfe dieſer Lampe können Unterſuchungen mit Licht von folgender Wellen— länge ausgeführt werden: Lithium = 670 um, Natrium = 589 un, Thalium = 534,5 un. 2. Monochromatiſche Filter. Wo es ſich nicht um die Erzielung höchſter Homogenität handelt, leiſtet die in Abb. 20 dargeſtellte Zuſammenſtel⸗ lung von 7 monochromatiſchen Filtern (Größe 5 * 5 em) recht gute Dienſte, zumal die Verwen⸗ dung ſolcher Filker außerordentlich bequem iſt. Die eigentlichen Farbfilter ſind zwiſchen zwei Spiegelgläſern eingeſchloſſen. Über die Homo— genität oder Monochromaſie dieſer Filter gibt nachſtehende Tabelle Aufſchluß: Abb. 20. Monochromatiſche Filter. Man rechnet bei der Benützung dieſer Fil- ter im allgemeinen mit der mittleren Durch- läſſigkeit, derart, daß man z. B. bei Filter e den „optiſchen Schwerpunkt“ als bei 605 uu liegend annimmt. 3. Monochromatoren. Als Monochromatoren bezeichnet man Spektralapparate, die zur Be— leuchtung mit Licht beſtimmter Wellenlänge die— nen. Ein in weiteren Kreiſen, insbeſondere unter den Mineralogen, ſehr bekannt geworde— ner und viel benützter, lichtſtarker Monochro— mator wurde im Jahre 1896 von E. A. Wül⸗ fing angegeben; ein einfacherer, mehr für das Praktikum beſtimmter und weniger lichtſtarker Monochromator wurde ſpäter von W. Voigt vorgeſchlagen. Eine abgeänderte Form des Wül— fing ſchen Monochromators in Verbindung mit einem mineralogiſchen Mikroſkop zeigt Abb. 21, während Abb. 22 einen Horizontalſchnitt durch das optiſche Syſtem der Geſamt-Anordnung mit eingezeichnetem Strahlengang darſtellt. Dieſer Monochromator gehört zur Gattung der ſeſtarmi— Flex Da? 28 gen Spektralapparate. Die Fernrohre ſind alſo unverrückbar angeordnet; ſie ſtehen unter einem Winkel von 90% zueinander. Das Offnungsver— hältnis des Kollimator-Objektivs 01 iſt = f/ 4 und das des Austrittsrohrs 02 — f/6. Als Di- ſperſionsſyſtem gelangt ein von Pellin und Broca angegebenes Prisma mit konſtanter Ab- lenkung von 90 und etwa 3 Diſperſion zwi⸗ ſchen C—F zur Anwendung. Der Vorteil dieſer Prismenform beſteht darin, daß jeder in den Austrittsſpalt geführte Teil des Spektrums ſtets im Minimum der Ablenkung ſteht. Die Bewe— gung oder Drehung des Diſperſionsſyſtems ge— ſchieht durch eine Schraube, deren Teiltrommel direkt nach Wellenlängen geteilt iſt, ſodaß eine Eichung des Apparats oder die Herſtellung einer beſonderen Wellenlängen-Kurve entbehrlich und gleichzeitig das Arbeiten weſentlich erleichtert iſt. zeugt ein einigermaßen paralleles Lichtbündel. — In ſtark konvergentem Lichte, oder wenn es ſich um die gleichmäßige Beleuchtung einer großen Fläche handelt, empfiehlt ſich die Ein— ſchaltung einer mattgeſchliffenen Glasſcheibe, die in die verſchiebbare Rohrfaſſung der Projektions⸗ linſe 03 eingeſteckt wird. Bei Beobachtungen und Meſſungen in konvergentem Licht am Mikroſkop leiſtet dieſe Mattſcheibe beſonders gute Dienſte. An der Klemmvorrichtung für das Prisma befinden ſich zwei kleine Juſtierſchrauben, mit denen die Stellung des Prismas jederzeit leicht berichtigt werden kann. Vor Beginn einer Ar⸗ beit überzeugt man ſich von der richtigen Juſtie⸗ rung des Apparats dadurch, daß man das Licht einer homogenen Leuchtflamme, z. B. der Na⸗ triumflamme (S. 27), in den Eintrittsſpalt fal⸗ len läßt und nachprüft, ob die Natriumlinie bei Abb. 21. Großer Monochromator in bequemer Verbindung mit Lichtquelle, Kondenſor und Unterſuchungsapparat. Spi (Abb. 22) iſt der mit Vergleichsprisma verſehene Eintrittsſpalt, Spz der Austrittsſpalt. Beide ſind ſymmetriſch. Vor dem Austritts⸗ ſpalt befindet ſich ein einſchlagbares Mikroſkop (Abb. 21) zur Kontrolle der Einſtellung ſowie zur Beobachtung der Spaltweite. In einer hinter dem Austrittsſpalt Spa befeſtigten Anſchlußröhre für den Unterſuchungs-Apparat befindet ſich die achromatiſche Linſe O,, die dazu dient, entweder ein paralleles () Lichtbündel in den Unter— ſuchungsapparat zu ſenden oder ein Bild (1:1) des Austrittsſpaltes auf den Spalt eines Spek— trometers uſw. zu projizieren. Die Linſe Oz iſt in ihrer Röhre verſchiebbar; zwei mit © und 1: 1 bezeichnete Marken zeigen die für die Linſen jeweils in Frage kommenden Stellungen an. In der erſten Stellung, die bei der Ver— wendung des Monochromators in Verbindung mit dem Mikroſkop allein gebraucht wird, ſtellt man die Projektionslinſe 03 auf das Zeichen & ein. Die Linſe befindet ſich im Abſtand ihrer Brennweite vor dem Austrittsſpalt Sps und er— der zugehörigen Trommelſtellung, alſo bei 589,3 un, genau in der Mitte des Austrittsſpal⸗ tes ſteht. Iſt dies nicht der Fall, ſo führt man die richtige Stellung mit Hilfe der oben genann⸗ ten kleinen Schrauben herbei. i Zur Beleuchtung des Monochromators eignet ſich neben Sonnenlicht am beſten eine elektriſche Lampe. In den weitaus meiſten Fällen ge= nügt eine der bekannten kleinen Bogenlampen mit Handregulierung und wagrecht liegender Po— ſitivkohle, eingerichtet für eine Stromſtärke von etwa 4 Amp., wie ſie von den meiſten optiſchen Werkſtätten, beiſpielsweiſe von Fueß (Steglitz bei Berlin), Leitz (Wetzlar), Reichert (Wien), Winkel (Göttingen) und Zeiß (Jena) geliefert werden. In Abb. 21 iſt eine derartige Lampe mit dargeſtellt. Zur Erhöhung der Lichtſtärke iſt zwiſchen Lichtquelle und Eintrittsſpalt Sp, ein jog. achromatiſcher Kondenſor eingeſchaltet, der ein Bild der Lichtquelle — im vorliegenden Falle des poſitiven Kraters — auf den Austrittsſpalt projiziert. DD de) Neuntes Kapitel. Bilfsapparate zum mineralogiſchen Mikroſkop. 1. Mikrometer⸗Okular. Als Mikrometer— oder Meß-Okular bezeichnet man ein gewöhn— liches Huygens⸗ oder Ramsden-Okular, in deſſen Bildebene ſich an Stelle der gewöhnlichen Blende, bezw. des Fadenkreuzes eine auf Glas aufgetragene, in Zehntel Millimeter geteilte . 84 (N Achſenwinkel-Skala ijt die Darſtellung auf nachzulejen. 2. Okular zur Meſſung von Mengenverhält⸗ niſſen. Während das vorgenannte Meß-Okular nur zu linearen Ausmeſſungen dient, benützt man zur Beſtimmung der Mengen-Verhältniſſe Skala (ſ. z. B. Abb. 107) befindet. Dieſes Oku⸗ Dder verſchiedenen Mineralien in einem Dünn⸗ lar kann in Verbindung mit jedem beliebigen ſchliff an Stelle der gewöhnlichen Skala des Objektiv gebraucht werden. E93 Abb. 22. Horizontalſchnitt durch den in Abb. 21 gezeigten Monochromator und des damit verbundenen Mifrojfops. D Wee B = Fonbentor. Sp, 2. Monochromator: Sp, = Eintrittsipalt, O, = Kollimatorobjeftiv, P — diſpergierender Körper O2 Objektiv des Austrittsrohres, Spe 2 Austrittsſpalt, O, — Projettionslinſe. ER 3. Mikroſkop: N, — Polariſator-⸗Nicol, K Kondenſorlinſe, Ob — Objektiv, N, — Analyiator-Nicol, Oc = Okular. ö / Conde nen Skalenteils bei ver⸗ ſchiedenen Vergrößerungen zu kennen, iſt es nötig, das Mikro— meter⸗Okular bezw. deſſen Mi⸗ „ krometerſkala in Verbindung it denjenigen Objektiven, mit Ln a“ denen es benützt werden ſoll, auszuwerten. Dies geſchieht mit Hilfe eines Objekt⸗Mikrometers, eines auf den Objekttiſch aufzulegenden Glas⸗ plättchens mit einer in Hundertſtel⸗Millimeter geteilten Skala (ſ. S. 83). Nehmen wir ein gewöhnliches Huygens ſches Okular mittlerer Vergrößerung, z. B. No. 2 als Meßokular und dazu ein Objektiv von etwa 14 mm Slquivalent- Brennweite, jo werden wir bei Scharfeinitellung auf das Objekt⸗Mikrometer finden, daß die 100 Teile der Okular⸗Skala beiſpielsweiſe rund 105 Teile des Objekt⸗Mikrometers decken. Da der wahre Wert eines Teiles des durch das Mikro— ſkop beobachteten Objekt-Mikrometers gleich 0,01 mm iſt, iſt der Wert eines Teiles im Oku⸗ lar⸗Mikrometer bei der betr. Objektiv-Okular⸗ Zuſammenſtellung gleich 0,0105 mm. Hätten wir hingegen ein Objektiv von etwa 5 mm Aquivalent⸗Brennweite mit demſelben Mikro— meter⸗Okular kombiniert, jo würden, da die Ver- größerung ſtärker iſt (0. S. 26), die 100 Teile der Okular⸗Skala vielleicht nur 35 Teilen des Objekt⸗Mikrometers entſprechen; der Wert eines Skalen⸗Teiles des Okular-Mikrometers wäre 0,35 10 0,0035 mm. Über die Verwendung eines ſolchen Mikro— meter⸗Okulars zur Ausmeſſung der Interferenz⸗ Bilder zweiachſiger Mineralien unter Zuhilfe- nahme einer ſogenannten Schwarzmannſchen alſo = Mikrometer oder Koordinaten⸗Netz (Abb. 23). In der Regel ſind die Maſchen eines ſolchen, gleich- falls auf Glas geteilten Netzes 0,5 amm groß; für beſonders feine Meſſungen verwendet man aber auch Koordinaten-Netze mit 0,1 qmm großen Maſchen. Bei beiden Netzen ſind die Striche der Abb. 23. Geſichtsfeld des Okulars zur Meſſung der Mengenverhältniſſe. 1/, Millimeter, um einen ſchnelleren Überblick zu gewinnen, etwas kräftiger gezogen, bei 0,1 mm- Netzen auch die Ya mm-Striche. 3. Okular⸗Schraubenmikrometer. Für ſehr genaue Längenmeſſungen im Sehfeld benützt man das Okular⸗Schrauben-Mikrometer (Abb. 24). Beim mineralogiſchen Mikroſkop wird es bejon- ders in Verbindung mit der Bertrandſchen Linſe zur Meſſung der ſcheinbaren Entfernungen der optiſchen Achſen behufs Berechnung des Ach— ſenwinkels (j. S. 83) benützt. In einem rechteckigen Metallgehäuſe (Abb. 24) iſt mittels Mikrometerſchraube und Gegenfeder 30 ein Schlitten verſchiebbar, in deſſen zentraler Bohrung eine Blende eingeſetzt iſt, die ein von 2 Spinnfäden gebildetes ſogenanntes Andreas— Kreuz trägt, deſſen Arme vorn und hinten einen Winkel von 30 mit einander bilden; ein dritter Faden verläuft parallel zur Bewegungsrichtung des Schlittens. Die Größe der Schlittenbewe— gung beträgt in der Regel 12 mm; an einer in 0,5 mm geteilten Längs-Skala können die vol— len Umdrehungen der Meß-Schraube, deren Stei- gung alſo 0,5 mm beträgt, abgeleſen werden. Ein Intervall der in 100 Teile geteilten Trom- mel entſpricht 0,005 mm im Objektiv-Bild. Da- mit die Ausmeſſung ſtets in der Mitte des Seh— feldes vorgenommen werden kann, iſt das Oku— lar mit dem Schlittenſchieber gemeinſam beweg— lich. Die Einſchiebehülſe des Okulars trägt einen Teller zum Aufſetzen eines Analyhſators, falls ein ſolcher bei dem betreffenden Mikroſkop nicht im Tubus aus⸗ und einſchaltbar angebracht it. Am Boden des Schieber-Kaſtens iſt ein Rohrſtutzen mit vorſpringender Leiſte zum Ein⸗ ſtecken in den Tubus vorhanden; zur ſicheren Abb. 24. Okularſchraubenmikrometer. Feſtklemmung des Apparats dient eine Alemm- ſchraube. Das Auswerten der Meßſchraube, bezw. deren Teiltrommel bei Anwendung verſchiede— ner Vergrößerungen geſchieht ähnlich wie bei dem auf S. 29 beſchriebenen gewöhnlichen Mikrometer⸗Okular. Man legt das auf S. 29 erwähnte Objekt⸗Mikrometer auf den Objekt- tiſch, ſtellt darauf ſcharf ein, bringt den Kreu— zungspunkt des Fadenkreuzes im Okular-Schrau— benmikrometer mit einem Teilſtrich des Objekt- Mikrometers zur Deckung, dreht die Schraube, bis der Kreuzungspunkt mit dem folgenden Teil- ſtrich des Objekt⸗-Mikrometers zuſammenfällt und lieſt nunmehr die Trommelſtellung am Schrau— benmikrometer ab. Benützen wir ein Objektiv von etwa 5 mm Aquivalent-Brennweite und er- fordert ein Teil des vergrößerten Objektmikro⸗ meters eine Drehung des Schraubenmikrometers um 115 Teilſtriche, ſo beträgt der Wert eines einzelnen Intervalls am Schraubenmikrometer 15 — O0, 000087 mm. Handelt es ſich um ein Objektiv von 14 mm Brennweite und erfordern bei dieſer ſchwächeren Vergrößerung 3 Teile des Objektmikrometers eine volle Umdrehung der Trommel, alſo 100 Intervalle, ſo beträgt der Wert des einzelnen Intervalls an der Trom— mel des Schraubenmikrometers für dieſe Ber- 0,03 man 0,0003. Abb. 24 zeigt das Okular-Schraubenmikro⸗ meter mit einem zweiten zum erſten ſenkrecht ſtehenden Schlitten, wie es neuerdings von F. E. Wright für die genaue Ausmeſſung von In⸗ terferenz-Figuren vorgeſchlagen worden iſt. Von den meiſten optiſchen Werkſtätten wird jedem mit einem Okular-Schraubenmikrometer ausgerüſteten Mikroſkop eine Tabelle beigegeben, in der die abſoluten Werte der Trommel-Inter⸗ valle für die bei einer beſtimmten Tubuslänge erhaltenen Vergrößerungen eingetragen ſind. 4. Zeichenapparate. Zu den wichtigſten und am häufigſten benützten Hilfsapparaten gehören die Zeichenapparate, die in vielerlei Formen her⸗ geſtellt werden. Die vollkommenſte Konſtruk⸗ tion iſt jedoch zweifellos der von Abbe ange= gebene und von C. Zeiß in Jena zuerſt einge⸗ führte Abbeſche Zeichenapparat (Abb. 25), der heute von allen optiſchen Werkſtätten geliefert wird. Sein Hauptvorzug gegenüber andern Kon⸗ ſtruktionen iſt, daß bei ihm eine volle kreisför⸗ mige Austrittspupille zur Geltung kommt, ſo daß ſeine Benützung die Helligkeit des mikro- ſkopiſchen Bildes nicht beeinträchtigt. Der Apparat beſteht im weſentlichen aus einem Glaswürfel, dem ſog. Abbeſchen Wür⸗ fel W und einem an einem längeren Arm dreh⸗ bar befeſtigten Spiegel Sp. Der Glaswürfel be⸗ ſteht aus zwei miteinander verkitteten recht- winkligen Glas-Prismen, von denen das eine auf der Hypotenuſenfläche verſilbert iſt. Von dieſem Silberbelag bleibt in der Mitte der Hypotenuſenfläche eine elliptiſche Offnung frei, deren kleinſter Durchmeſſer 1,5— 2 mm beträgt. Die auf das Okular aufzuklemmende Faſſung des Würfels W ijt jo eingerichtet, daß das kleine Loch im Würfel W in die Ebene der Austritts⸗ Pupille eines mittleren Okulars fällt, ſodaß man das in keiner Weiſe geſtörte mikroſkopiſche Bild über das ganze Sehfeld erblickt, während die von der Zeichenfläche, bezw. dem Zeichenſtift durch den Spiegel Sp zurückgeworfenen, auf den Würfel treffenden und an der verſilberten Hypotenuſenfläche abermals reflektierten Strah⸗ len in gleicher Richtung in das Auge (A) ge- langen. Beim Gebrauch des Apparates hat man eigentlich weiter nichts zu tun, als den Spie⸗ gel Sp ſo zu drehen, daß der Kreis des Sehfelds dicht neben den Fuß des Mikroſkopes projiziert wird. Steht die verſilberte Hypotenuſenfläche des Würfels W parallel zur Fläche des Spiegels, fo kann man auf einer zur Achſe des Mikroſkopes ſenkrechten Ebene zeichnen, bei vertikal ſtehendem Mikroſkop alſo z. B. auf der Fläche des Arbeits⸗ Tiſches. Will man aber auf einer zur Mikro⸗ ſkop⸗Achſe ſchief ſtehenden Fläche zeichnen, ſo muß man den Spiegel entſprechend drehen, da- mit das gezeichnete Bild keine Verzerrung er⸗ hält. Wäre z. B. beim vertikal ſtehenden Mikro⸗ jfop die Zeichenfläche um 30° gegen die Tiſch⸗ fläche geneigt, ſo müßte der Spiegel um den halben Betrag, alſo um 15° gegen jeine durch einen Anſchlag markierte normale Stellung (450) gedreht werden. größerung Will man feinere Einzelheiten genau nach— zeichnen, ſo empfiehlt es ſich, das mikroſkopiſche Sehfeld und die Zeichenfläche möglich gleich— mäßig zu beleuchten. Dies wird durch die jedem Zeichenapparat beigegebenen verſchiedenen getön— ten „Rauchgläſer“ erleichtert, die in kleine Rah- men, die zwiſchen dem Spiegel Sp und dem Würfel W (und zwar möglichſt nahe beim Würfel W) angebracht ſind, eingeſteckt werden Einzelne können. Firmen erſetzen die loſen Rauchgläſer durch eine über die Faſſung des Prismenwürfels geſchobene, drehbare Kappe, die fünf verſchieden gefärbte Rauchgläschen und eine freie Offnung enthält, dazu an der Unterſeite eine drehbare Scheibe mit Rauchgläschen der⸗ ſelben Farbe. Mit dieſer Einrichtung läßt ſich die Helligfeits-Übereinjtimmung von Bild- und Zeichenfläche äußerſt genau herſtellen. 5. Mikrophotographiſche Apparate. 10) Für die weitaus meiſten Zwecke der mineralogiſchen Mi- kroſkopie reicht die in den Abb. 26 a und b in zwei Ausführungsformen dargeſtellte, vom Verf. Abb. 26 a. Aufſetzbare mitrophotographiſche Kamera. vorgeſchlagene und zuerſt von der Firma R. Fueß in Steglitz eingeführte einfache mikro— 10) Eine ausführlichere Darſtellung der „Ap— parate und Arbeitsmethoden der Mikrophoto— graphie“ enthält der im Frühjahr 1915 er- ſcheinende, von Prof. Dr. C. Kaiſerling bear⸗ beitete mikrophotographiſche Teil des „Handbuchs der mikroſkopiſchen Technik“. Anm. d. Verl. Abb. 25. Schema und Strahlengang des Abbeſchen Zeichenapparats. Oc— Obere Okularlinſe, W — Abbeſcher Würfel, Sp = nei barer Spiege mit W durch einen Arm verbunden, A= Auge. ne 31 photographiſche Kamera aus, deren Hauptvor— zug darin beſteht, daß man damit beim Mikro— ſkopieren Aufnahmen ohne beſondere Vorberei— tungen und unter den gewöhnlichen Verhält- niſſen (bei Tages⸗ oder Lampenlicht) machen kann. Die Kamera wird in 2 Größen her— geſtellt; die eine iſt für Platten 7X 7 cm, die andere für Platten 9 x 12 cm eingerichtet. Bei Verwendung von Einlegerahmen laſſen ſich auch kleinere Platten benützen. Mit Ausnahme der Kaſſette und ihres Ein— ſchieberahmens iſt die Kamera ganz aus Alu⸗ minium gefertigt. Das Gewicht des für 7X 7 cm-⸗Platten eingerichteten Apparates beträgt etwa 250 Gramm bei gefüllter Doppelfaj- ſette; dasjenige der Kamera 9x 12 cm etwa 400 Gramm. Zum Gebrauch wird die Kamera auf das Tubusende des Mikroſkops geſetzt und mit dieſem durch die gegen eine federnde Zunge wirkende Schraube S (Abb 26a) verbunden. Der ſcheiben⸗ förmige Anſatz ruht dabei auf dem gleichartigen IM U Pa in Im a 12 4/) a Abb. 26 b. Aufſetzbare mitrophotographiſche Kamera mit Anſchlußſtück nach W. Scheffer. mit dem Tubus verbundenen Anſatz (ſ. z. B. Abb. 8 u. 10), der ſonſt zum Aufſetzen des oberen Analyſators dient. Auf dem oberen Ende der trichterförmigen Röhre T iſt der aus leichtem Holz verfertigte Einſchieberahmen R der Doppel- Kaſſette C befeſtigt. Auf die Viſierſcheibe, die mattiert oder klar ſein kann, ſind diagonal zwei 32 Linien aufgezogen, deren Kreuzungspunkt die Mitte des Sehfeldes angibt. Die Länge der Kamera von der unteren Anſatzfläche bis zur Einſtellebene beträgt 18 em. Links von der Kamera iſt an Abb. 26a ein Schie— ber Sch abgebildet, mit welchem die Belichtung geregelt wird. Beim Gebrauch wird er nach Löſen eines der beiden geränderten Schrauben- Knöpfe k oder k, in den über dem Objektiv⸗ Gewinde unter 450 zum Hauptſchnitt des Mikro⸗ ſkops befindlichen Schlitz (j. Abb. 12), der ge⸗ wöhnlich zur Aufnahme von Gips- und Glim⸗ mer-Plättchen uſw. dient, eingeſchoben. Während der Beobachtung und Einſtellung fällt die Schie— ber⸗Offnung in die Achſe des Mikroſkops; der Knopf k markiert dieſe Stellung durch Anſchlag gegen den Tubus. Sit die Viſierſcheibe nach vor— genommener Einſtellung durch die Kaſſette er- ſetzt, ſo wird dem Licht durch leichten Druck gegen den Knopf ki der Zutritt verſchloſſen. Objektive 32 22 17 (Brennweite in mm) Vergrößerung ohne Okular 10 15 20 Vergrößerung mit mittel⸗ | ſtarkem Okular 14 25 30 Über die Belichtungszeit laſſen ſich bin⸗ dende Angaben nicht machen, da die Dauer der Belichtung von der Art und der Entfernung der Lichtquelle, von der Empfindlichkeit der benützten Plattenſorte, ſowie von der Beſchaffenheit des Okular Nr. 1 in Verbindung mit Objekkig 48 32 22 Vergrößerung 4 9215 Belichtungszeit bei diffuſem 223 4 7 Tageslicht Sek. Sek. Sek Belichtungszeit bei Gas⸗ nlühliht. Entfernung der 10 20 20 Lichtquelle vom Beleuchtungs- Sek. Sek. Sek. ſpiegel etwa 30 cm. | Bei allen mit mineralogiſchen Mikroſkopen zu machenden Aufnahmen empfiehlt es ſich, Oku— lare zu benützen, da ſonſt die infolge der ver— ſchiedenen Einengungen im Tubus auftretenden Reflexe ſchädliche Wirkungen ausüben können. Ferner iſt es ratſam, bei Aufnahmen im nicht po- lariſierten Licht den Polariſator-Nicol heraus— zuziehen. Die Abb. 27 und 28 zeigen mit der be⸗ ſchriebenen Kamera hergeſtellte Aufnahmen eines Feldſpatbaſalt-Dünnſchliffs in gewöhnlichem und in polariſiertem Lichte. Die Feinheiten, die die Negative und die auf Auskopier-Papier herge— ſtellten Kopien zeigen, ſind bei der Reproduk⸗ tion allerdings zum Teil verloren gegangen. 17 14 o Hierauf wird der Kaſſetten-Schieber geöffnet und nun die Schieber-Offnung zur Belichtung der Platte durch Druck gegen k wieder in die ur— ſprüngliche Stellung gebracht. 5 Soll die Kamera an einem Mikroſkop be- feſtigt werden, bei dem der erwähnte tellerför- mige Anſatz nicht vorhanden iſt, ſo wird ſie, wie Abb. 26 b zeigt, mit einem beſondern, von W. Scheffer vorgeſchlagenen Anſchluß-Stück ver⸗ ſehen. Die Befeſtigung erfolgt dabei mittels 5 Schrauben, von denen 2 Paar übereinander ſitzen und gewiſſermaßen zum Ausrichten der Kamera dienen, während die dritte die eigentliche Klemmſchraube iſt. Dieſe Befeſtigungs⸗Art hat den Vorteil, daß ſie die Verwendung der Kamera an jedem beliebigen Mikroſkop geſtattet. Über die ungefähren Vergrößerungen, die ſich mit dieſer Kamera bei normaler Tubus⸗ länge von etwa 160 mm erreichen laſſen, gibt folgende Tabelle Aufſchluß: 14110 „ 3. ya 8 | (Ol⸗Imm.) (Ol-Imm.) 25 33 68 125 1es 175 38 52 105 205 270 375 betr. Objektes und der jeweiligen Vergrößerung abhängt. Immerhin mag die nachſtehende Ta⸗ belle einige Anhaltspunkte geben, die beſonders Anfängern erwünſcht ſein werden. 2,5 1,8 (Ol⸗Imm.) (Ol⸗Imm.) 20 25 33 68 125 165 175 10 14 18 22 2325 26 22 Sek Sek. Sekt See 8 Sek. Sek. 40 65 90-100 120 130 ek. Sek. Sek. Sek. Sek. Sek. Ser. | | | | | 6. Vertikal⸗Illuminatoren. Nicht alle mi⸗ neralogiſchen Objekte laſſen ſich in durchfallen⸗ dem Lichte unterſuchen, weil es bei manchen, ſo z. B. bei Erzen und Metallen, nicht möglich iſt, Dünnſchliffe anzufertigen. Man iſt deshalb bei der Unterſuchung von Erzen, Metallen, Ab- Figuren auf Kriſtallen uſw. genötigt, auffallendes Licht anzuwenden. Die Beleuchtung erfolgt in dieſem Falle mit einer unter der Bezeichnung „Vertikal-Illuminator“ bekannten Vorrichtung. Die gebräuchlichſte Form des Vertikal-Illumina⸗ tors zeigt Abb. 29. Der Illuminator wird an Stelle des Objektivs entweder direkt an den Tubus angeſchraubt oder in der im 4. Kapitel, (S. 15) erläuterten Art mittels des Zangen⸗ wechſlers und des Anſchluß-Stückes Z am unte- ren Tubus⸗Ende befeſtigt. In der Hülſe H ſitzt ein total-reflektierendes Prisma P, das die eine Hälfte der Offnung des bei a aufgejchraubten Objektivs bedeckt, während die andere für die ab— bildenden Strahlen frei bleibt. Die von einer 33 annähernd richtig geſtellt iſt) die Strahlen in der wirkſamſten Richtung eingeführt werden kön— nen, iſt das Prisma mit Hilfe des Griffknopfes g um eine waagrechte und die ganze Vorrichtung vermittels des Anſchlußſtückes 2 der Objektiv— Zange um die optiſche Achſe drehbar. Abb. 27. Feldſpat⸗Baſalt. Aufnahme in gewöhnlichem Lichte mit Objektiv von 17 mm Aquivalent⸗Brennweite und Otular Nr. 3 (vgl. Tabelle S. 32); Vergrößerung 43 mal; zerſtreutes Tageslicht; Belichtungs⸗ zeit 30 Sekunden. vor dem Mikroſkop aufgeſtellten Lichtquelle kom⸗ menden Lichtſtrahlen gelangen durch die Offnung o in die Hülſe H auf das Prisma P und werden Abb. 29. Vertikal⸗Illuminator mit total reflektierendem Prisma. S —— S 8 Abb. 30. Vertikal⸗Illuminator mit einem unter 45° geneigten planparallelem Glas und elektriſchem Lämpchen. von dieſem auf das Objektiv reflektiert, das die diffus eingetretenen Strahlen in ſeinem Brenn⸗ punkt vereinigt. Damit (nachdem die Lichtquelle zum Mikroſkop oder das letztere zur Lichtquelle Leiß⸗Schneiderhöhn, Unterſuchung kriſtalliſierter Körper. Abb. 28. Feldipat-Bajalt. Aufnahme in polariſiertem Licht mit Objektiv von 17 mm Aquivalent⸗Brennweite und Otular Nr. 3 (vgl. Tabelle S. 32); Vergrößerung 43 mal, zerſtreutes Tageslicht; Belichtungs⸗ dauer 90 Sekunden. Beim Gebrauch eines Vertikal-Illuminators empfiehlt ſich die Verwendung von Objektiven, die möglichſt kurz gefaßt ſind, bei denen alſo die obere Linſe tunlichſt nahe beim Anſchraube-Ge—⸗ winde liegt. Bei der Verwendung ſehr ſchwacher Objektive iſt man häufig genötigt, eine matte Glasſcheibe zwiſchen Lichtquelle und Illuminator einzuſchalten, damit das Präparat nicht zu ſtark beleuchtet wird. Eine andere Ausführungsform eines Verti⸗ kal⸗Illuminators zeigt Abb. 30. Hier iſt das — =! SS Abb. 31. Vertikal⸗Illuminator mit einem in einem ausſchaltbaren Schieber eingeſetzten, unter 45° geneigten planparallelen Glas. total⸗reflektierende Prisma durch eine unter 45° zur optiſchen Achſe geneigte, tunlichſt dünne, planparallele Glasplatte c erſetzt. Im allgemei- nen iſt dieſer Anordnung der Vorzug 35 geben, 34 beſonders bei Verwendung ſtärkerer Objektive. Als Lichtquelle kann ebenſo wie bei dem in Abb. 29 dargeſtellten Vertikal-Illuminator jede beliebige vor dem Mikroſkop aufgeſtellte oder auf- gehängte, ſtark leuchtende Lampe dienen. Man kann den Vertikal-Illuminator aber auch direkt mit einem elektriſchen Glühlämpchen vereinigen, wie es die Abb. 30 zeigt. In dieſem Falle iſt es nicht nötig, beim Heben und Senken des Tubus die Lichtquelle jedesmal neu auf die ver⸗ hältnismäßig kleine Lichteintritts-Offnung ein⸗ zuſtellen. Das von dem kleinen Metallfaden— Lämpchen a (2 oder 4 Volt; Stromquelle: Ak⸗ kumulator) ausgeſtrahlte Licht fällt nach ſeinem Durchtritt durch die Linſe b angenähert parallel auf die unter 45 geneigte planparallele Glas⸗ platte e und wird von dieſer nach unten in das Objektiv 0 reflektiert, das die Lichtſtrahlen auf dem undurchſichtigen Objekt P vereinigt. Schließlich ſei noch eine etwas abgeänderte Ausführungsform des vorgenannten Vertikal- Illuminators erwähnt, die ſich beſonders gut für mineralogiſche Mikroſkope eignet; ſie iſt meines Wiſſens bisher nur von R. Fueß in Steglitz ausgeführt worden. Bei dieſer Form iſt das unter 45% zur optiſchen Achſe geneigte planpar⸗ allele Glas c wie Abb. 31 zeigt, in einen ganz ähnlichen Schieber eingeſetzt, wie er zur Auf⸗ nahme des im Tubus der mineralogiſchen Mikro⸗ ſkope aus⸗ und einſchaltbar angeordneten Ana⸗ lyſators (. S. 15) dient. Will man in auffal⸗ lendem Licht beobachten, ſo hat man lediglich den den Analyſator⸗Nicol tragenden Schlitten⸗ ſchieber herauszuziehen und ihn durch den Schlit⸗ ten zu erſetzen, der das unter 45° geneigte, als Reflektor oder Illuminator dienende Glasplätt⸗ chen trägt. Neben ihrer Einfachheit und Billig⸗ keit hat dieſe Anordnung noch den Vorteil, daß der Tubus keinerlei Verlängerung erfährt und daß die Objektive in gewohnter Weiſe mittels Zangenwechſler angebracht und ausgewechſelt werden können. Zweiter Teil: Die Herſtellung von Geſteins⸗Präparaten und Dünnſchliffen. Sehntes Kapitel. Das Serſchneiden der Geſteine. 1. Die Schneidemaſchine. Wenn auch zur Herſtellung einzelner Geſteins-Präparate eine be⸗ ſondere Einrichtung zum Zerſchneiden der Ge— ſteine nicht unbedingt erforderlich iſt, ſo wird die Anfertigung der Präparate durch eine ſolche Vorrichtung doch weſentlich erleichtert. Entbehr— lich iſt die Schneidevorrichtung beiſpielsweiſe, wenn man die Schliffe aus abgeſchlagenen Ge— ſteinsſplittern anfertigt, ein Verfahren, das aller⸗ dings meiſt nur bei weniger wertvollem Mate— rial anwendbar iſt. Eine kleinere Maſchine zur Herſtellung dünner Schnitte aus Steinen und Mineralien, die in den weitaus meiſten Fällen völlig genügt, iſt in Abb. 32 dargeſtellt. Der Antrieb dieſer Maſchine erfolgt mit Hilfe eines Schwungrads von Hand; die Maſchine wird aber auch in ganz ähnlicher Ausführung zum An⸗ trieb durch einen kleinen Elektro-Motor von / PS angefertigt. In letzterem Falle iſt die wagrechte Achſe der Schneideſcheibe s in einem gabelförmigen Bock gelagert und am linken Ende der Achſe eine Schnurlaufſcheibe w angebracht. Dieſe kleine Maſchine geſtattet auch eine qualitative Orientierung von Schnitten aus Mineralien. Die Befeſtigungsvorrichtung b für das zu zerſchneidende Material, das mit einer Miſchung von Wachs und Kolophonium (Wachs— kitt) oder Siegellack auf die verſtellbare Scheibe c gefittet wird, kann durch die Schraube d par⸗ allel zur Schneide-Achſe verſchoben werden, ſodaß man im Bedarfsfall auch mehrere Par— allel-Schnitte hintereinander machen kann, wie das z. B. häufiger bei der Herſtellung von Mine⸗ ralſchnitten erforderlich iſt. Außerdem kann die Befeſtigungseinrichtung d um ein in / Grade ge⸗ teiltes Bogenſtück e gedreht werden. Weiterhin iſt die geſamte Halte⸗Vorrichtung b um eine hori⸗ zontale Achſe k, die genau parallel zur Achſe der Schneideſcheibe s gelagert iſt, drehbar und wird durch ein verſtellbares, am Stab g be— findliches Gegengewicht gegen die Schneideſcheibe gedrückt. Die Schneideſcheibe hat einen Durch⸗ meſſer von etwa 7 cm bei 0,3 mm Dicke. Wenn die Schneideſcheibe gut in Ordnung iſt, leiſtet die Maſchine nach einiger Übung im Schneiden mit Diamant ungefähr 3 gem Schnittfläche in Quarz oder Granit in etwa 5 Minuten. Man kann alſo in 10 Minuten Scheiben in der üb- lichen Präparatgröße von 2 mm Dicke und weni⸗ ger abſchneiden. Mit Schmirgel dauert das Schneiden beträchtlich länger; auch verurſacht die Verwendung von Schmirgel weit mehr Schmutz als das Arbeiten mit Diamant. Bei richtiger Beſetzung der Schneideſcheibe mit Dia- mant überſteigt die Schnittbreite kaum 0,4 bis 0,5 mm. 2. Präparieren der Schneideſcheiben mit Dia⸗ mant. Der Erfolg beim Schneiden hängt faſt allein von einer ſachgemäß hergerichteten Schneide— ſcheibe ab, denn auch dem Geübteſten gelingt mit einer mangelhaft hergerichteten Schneideſcheibe kein guter Schnitt. Die Hauptſache iſt, daß die Schneideſcheibe ſtets genau eben („plan“) gerichtet oder geſpannt und genau „laufend“, d. h. zentriſch abgedreht iſt. Das Richten und Ab⸗ drehen der Scheibe, die leicht von der Majchine abgenommen werden kann, geſchieht am beiten durch einen geſchickten Mechaniker. Dann ver— ſieht man den Rand der Scheibe mit Hilfe eines Meſſers mit kleinen flachen Einkerbungen, die unter ſich einen Abſtand von etwa 1 cm haben und ähnlich wie die Zähne einer Kreisſäge dem Umdrehungsſinn der Scheibe entgegenliegen. Darauf bringt man den zu⸗ vor in einem Mörſer zu kleinen Splitterchen geſtoßenen Diamant (Diamantſtaub ſchnei— det nicht ſo gut), den man in einer kleinen Schale mit etwas Ol vermiſcht hat, gegen den Rand der Scheibe. Um die Diamant- ſplitterchen feſt in den Rand der Scheibe einzudrücken, und daraus eine Art Kreis ſäge mit mikroſkopiſch kleinen Zähnen zu machen, nimmt man ein beliebig großes Stück Quarz oder Feuerſtein zu Hilfe, in das mittels einer mit Schmirgel oder Dia— mant präparierten Scheibe ein etwa 5 bis 10 mm tiefer Einſchnitt gemacht iſt, den man mit dem Diamant⸗Ol⸗Gemiſch füllt. Dieſes harte Geſteinsſtück kann entweder an der Spannvorrichtung der Maſchine befeſtigt oder auch in der rechten Hand gehalten werden. Man drückt den Einſchnitt feſt über den Rand der Schneideſcheibe und dreht dieſe durch Anfaſſen der Schwungradkurbel mi der linken Hand, bis der ganze Scheibenran den Einſchnitt durchlaufen hat. Den erſten Probeſchnitt von etwa 3— 4 qem Größe macht man zweckmäßig in ein hartes ho— mogenes Geſtein, z. B. in Quarz. Während des Schneidens muß der Rand der Scheibe fortgeſetzt mit Petroleum befeuchtet wer⸗ den. Man läßt die Scheibe deshalb am beſten etwa 1 em tief in Petroleum eintauchen, das man in das unter der Scheibe befindliche Ab— laufgefäß gießt. Will man die Scheibe nicht 35 direkt in Petroleum laufen laſſen, ſo kann man auch (wie Abb. 32 zeigt) ein kleines Tropf— gefäß zum Anfeuchten benützen; ein ſolches Tropf— gefäß läßt ſich nötigenfalls leicht ſelbſt herſtel— len, indem man an der Ausfluß-Offnung eines Abb. 32. Kleine Schneidemaſchine für Handbetrieb. Olkännchens einen Pinſel ſo anbringt, daß die beim Drücken austretenden Oltropfen von ihm aufgenommen und an den Rand der umlaufen⸗ den Scheibe weiter gegeben werden. Elftes Kapitel. Das Schleifen der Geſteine. 1. Die einfachſten Hilfsmittel zum freihän⸗ digen Schleifen von Geſteins⸗ und Kriſtall⸗Prä⸗ paraten ſind glattgehobelte Gußeiſenplatten und Platten aus dickem matt geſchliffenen Spiegel- glas, die zum Schutz gegen Zerbrechen in einen Holzrahmen eingelegt werden. Während die Eiſenplatten ſich hauptſächlich zum Vorſchleifen eignen, verwendet man die Glasplatten bejon- ders zum Feinſchleifen. Beide Platten ſollten etwa 30 gem groß ſein. Zum Vorſchleifen ab- geſchlagener Geſteinsſplitter kann man ſich übri⸗ gens auch eines horizontal liegenden Schleif— ſteines oder einer maſſiven, dicken Schmirgel— platte bedienen. 2. Die Schleifmaſchine. Bequemer als ein⸗ fache, feſtliegende Schleifplatten ſind rotierende Schleifſcheiben oder Schleifmaſchinen, deren ein⸗ fachſte Form (mit Handantrieb) wir in Abb. 33 ſehen. Natürlich gibt es auch größere Maſchinen mit Fuß⸗ und Motorantrieb, die aber mehr für Inſtitute uſw. beſtimmt ſind, da die kleine Hand— maſchine den Anſprüchen des Einzelforſchers völ— lig genügt. Zur gleichzeitigen Herſtellung meh— rerer Geſteinsdünnſchliffe oder Kriſtall-Präparate werden dieſer kleinen Maſchine zwei Eiſenplatten E, eine auf eine Eiſenplatte gekittete Spiegel- glasſcheibe G ſowie zwei Glasplatten P und PI beigegeben. Die als Schleifplatten dienenden Scheiben E und & laſſen ſich mit ihren koniſchen Zapfen in die vertikale rotierende Spindel ein⸗ ſtecken, während die zum Aufkitten der Schliffe beſtimmten Platten P und PI beim Schleifen in der Hand gehalten werden. Durch die Beigabe von 3 Schleifſcheiben iſt die Möglichkeit gegeben, die Scheiben durch gegenſeitiges Abſchleifen genau plan zu erhalten. Mit zwei Scheiben wäre das zwar auch, aber weniger leicht ausführbar. Man hat übrigens auch kleinere Maſchinen konſtruiert, die eine Vereinigung von 36 Schneide- und Schleifmaſchine darſtellen; bei dieſen Typen erfolgt der Antrieb zweck⸗ mäßigerweiſe durch einen kleinen Motor. Beide Vorrichtungen ſind auf einem gemeinſamen Grundbrett montiert, links die Schneide-, rechts die Schleifeinrichtung. Die Konſtruktion beider Vorrichtungen iſt den in Abb. 32 und 33 dar- geſtellten Maſchinen angepaßt, nur fällt bei der Schleifeinrichtung das beſondere Schwungrad 1 | 7 e | f I Hang U kann der Mikrometertaſter in ein mit einem Spannbackenpaar verſehenes kleines Stativ St eingeklemmt werden. 4. Der Erwärmungs⸗ oder Präparierofen (Abb. 35) dient zum Aufkitten der Geſteinsprä⸗ parate auf Objektträger und dgl. Er beſteht aus einem von vier Füßen getragenen Eiſen⸗ kaſten, deſſen Oberfläche von einem Holzrahmen umgeben iſt, der als Stütze für die Hand beim Abb. 33. Schleifmaſchine für Handbetrieb. fort. Zum Antrieb reicht ein Motor von ½16 PS aus, der 30 cm hinter der Schneide- bezw. Schleifvorrichtung aufgeſtellt wird. Beim Antrieb der Schleifſcheibe iſt darauf zu achten, daß die Motor⸗Achſe einigermaßen in gleicher Höhe mit der Antriebſcheibe der Schleifvorrichtung liegt, damit die gekreuzt laufende Schnur nicht von einer der beiden Antriebsſcheiben abgleitet. 3. Der Mikrometertaſter. Bei der Herſtellung von Dünnſchliffen und Mineral-Platten ſind häu⸗ Abb. 34. Mikrometertaſter mit Stativ. fig Dickenmeſſungen vorzunehmen. Dazu benützt man einen Mikrometertaſter nach Abb. 34, der für die meiſten Zwecke ausreicht. Die Schraube 8 beſitzt eine Steigung von 0,5 mm; an ihrer Teil- trommel T können Hundertſtel- Millimeter direkt abgeleſen werden. Zur bequemen Handhabung Abb. 35. Präparierofen zum Kitten. Auflegen und Abnehmen der Präparate (mittels Pinzette) dient. In eine Seitenwand des Er⸗ wärmungskaſtens läßt ſich ein vor den Flammen⸗ gaſen geſchütztes Thermometer einführen, mit dem man die Schmelztemperatur des benützten Kittes (Kanadabalſam, verdicktes Leinöl uſw.) er⸗ mitteln kann. Zum Erwärmen des Ofens dient ein darunter geſtellter Spiritus⸗ oder Bunſen⸗ brenner. 5. Die Kittkanne (Abb. 36) iſt eine Vorrich⸗ tung, mit der man den flüſſigen Kitt um die zur Bearbeitung auf Objektträger geklebten Schliffe gießt. Die Kanne beſteht aus einem trich⸗ terförmigen, mit einem Holzgriff verſehenen Meſſinggefäß, an deſſen weiterem Ende eine Off⸗ nung zum Einfüllen der harten Kittmaſſe an⸗ gebracht iſt. Die Ausflußöffnung läuft in eine Spitze aus. Zur Verflüſſigung des Kittes wird die Kanne über eine Gas- oder Spiritusflamme gehalten. 6. Kitte. Bei der Bearbeitung von Ge— ſteinsſchliffen und Mineralplatten ſind verſchie⸗ dene Kittſorten erforderlich, je nach der Art des zu bearbeitenden Materials. Zum Befeſtigen von harten Geſteinen oder Mineralien während des Schneidens und Anſchleifens der erſten Fläche genügt gewöhnlicher Siegellack. — Ein an⸗ derer, zum gleichen Zweck allgemein verwendeter Kitt iſt der ſogenannte Wachskitt, den man mit der in der Abb. 36 dargeſtellten Kittkanne bequem um die Arbeitsſtücke gießen kann. Der Wachskitt beſteht aus einer Miſchung von 2 Tei⸗ len Kolophonium und 1 Teil Wachs. Da das Kolophonium ſchwerflüſſig iſt, muß es zuerſt ge- ſchmolzen werden; dann wirft man das Wachs in die flüſſige Maſſe, in der es ſich ohne Nach- wärmen auflöſt; die Miſchung wird gut um⸗ gerührt. Die Verwendung des reinen gelben Bie— nenwachſes iſt da beſonders zu empfehlen; ge⸗ bleichtes Wachs iſt nicht ſo gut. Zum Auflöſen der am Objekt hängengebliebenen Kittreſte be— nutzt man Terpentinöl. Zum Aufkitten der Präparate (auf die Ob— jektträger und zur Befeſtigung der Deckgläſer) verwendet man Kanadabalſam, und zwar iſt es zweckmäßig, zwei Kanadabalſam-Sorten von verſchiedener Zähigkeit zu benutzen. Zum Aufkleben des Schliffes auf den Objektträger iſt ein dickflüſſiger Balſam von 80-909 Schmelz- temperatur am beſten geeignet; zur Verbindung des Deckglaſes mit dem Schliff dient eine weniger zähe Sorte mit einer Schmelztemperatur von etwa 50° Hält man ſich an dieſe Angaben, ſo iſt man ziemlich ſicher davor, daß ſich der Schliff beim Auflegen des Deckglaſes verſchiebt. Abb. 36. Kittkanne zum Auftragen flüſſigen Wachstitts bei der Herſtellung von Geſteinspräparaten. Einen zähflüſſigen oder harten Kanadabalſam erhält man durch Kochen des Balſams in einem Porzellantiegel, oder beſſer in einem von einem Waſſerbad umgebenen Gefäß. Zur Aufbewahrung des Kanadabalſams benützt man eine kleine, mit eingeſchliffenem Stöpſel und Glasklappe ver- ſehene Flaſche, die man zur Vermeidung des „ Eintrocknens möglichſt immer gefüllt ält. 7. Das Schlämmen des Schmirgels. Die im Handel befindlichen feineren Schmirgelſorten enthalten zuweilen gröbere Körnchen, die einen nahezu fertigen Schliff bei den letzten Fein⸗ ſchleifarbeiten leicht beſchädigen oder völlig zer— ſtören können. Man tut deshalb gut daran, den Schmirgel vor Gebrauch zu ſchlämmen. Dazu bringt man ihn in ein hohes Becher- oder Stand— glas, und zwar nimmt man eine ſolche Menge, daß etwa / des Glaſes gefüllt iſt. Dann füllt man das Glas bis nahezu zum Rande mit Waſſer und rührt den Schmirgel tüchtig auf. Durch längeres Rühren werden auch die letzten am Boden lagernden Körner nach oben befördert. Häufig bildet ſich nach dem Rühren oben auf der Waſſerfläche ein Schaum, den man durch Zu— gießen von Waſſer und Abſtreichen mit einem Löffel oder dgl. entfernt. Iſt dies geſchehen, und der Schmirgel im Gefäß gleichmäßig verteilt, jo gießt man ihn in ein zweites, ähnliches Standglas, wobei aber darauf zu achten iſt, daß der von den inzwiſchen zu Boden geſunkenen grö— beren Körnern gebildete Bodenſatz nicht mit in das zweite Glas hinüber kommt. Gut ge— ſchlämmte Schmirgelſorten laſſen nur verhält— nismäßig wenige Körner zurück. Iſt man genötigt, hintereinander mehrere Schmirgelſorten zu ſchlämmen, ſo empfiehlt es ſich, mit der feinſten Sorte zu beginnen; bei um⸗ gekehrter Reihenfolge könnte es leicht vorkommen, daß bei nicht genügend gründlicher Reinigung der Schlämmgefäße einzelne Körner des gröberen Schmirgels zurückbleiben und die feinere Sorte verderben. Zur Aufbewahrung des Schmirgels benützt man am beſten weithalſige Glasgefäße mit übergreifenden Stöpſeln. 37 8. Die Herſtellung von Dünnſchliffen. Dünn⸗ ſchliffe aus hartem Material. Bei genü⸗ gend hartem Geſteinsmaterial ſchneidet oder ſchleift man das zu einem Dünnſchliff zu bear— beitende Geſteinsſtück am beſten ſo weit ab, daß man eine Platte von ungefähr 1 mm Dicke erhält, mit annähernd parallelen Flächen. Die eine Seite dieſer kleinen Platte wird mit feinſtem Schmirgel möglichſt eben geſchliffen und dann nach vorhergegangener gründlicher Reinigung mit Waſſer und Alkohol unter Zuhilfenahme des Präparierofens (Abb. 35), mit zähflüſſigem Ka- nadabalſam auf einen Objektträger gekittet. Zum Auftragen des Kanadabalſams benützt man am beſten einen vorn abgerundeten Glasſtab von etwa 5 mm Dicke. Der Kanadabalſam muß ſo— wohl auf das zuvor erwärmte Geſteinsſtückchen, als auch auf den erwärmten Objektträger auf- getragen werden. Beim Aufkitten des Geſteins⸗ ſtücks auf den Objektträger iſt beſonders darauf zu achten, daß ſich zwiſchen Glas und Geſteins— ſtückchen keine Luftblaſen bilden. Zeigen ſich nach dem Erkalten doch Luftbläschen unter der Schliff— fläche, die auch bei längerem Nachwärmen nicht verſchwinden, ſo bewegt man den Objektträger mit dem darauf befindlichen fertigen oder un— fertigen Schliff mit der Kittſeite nach unten ſchnell einige Male durch die Spiritusflamme. Die verwendete Kittmenge muß immer ſo groß ſein, daß auf allen Seiten des aufgekitteten Geſteinsſtückchens ein Überfluß an Kanadabalſam vorhanden iſt. Iſt der Kitt erkaltet und von etwa vorhandenen Luftbläschen befreit, ſo ſchleift man das Präparat ſo weit ab, daß es unter dem Mikroſkop in durchfallendem Licht unterſucht wer— den kann. Während des Schleifens bedient man ſich zur Kontrolle der Dickenabnahme und des Parallelismus bei den Flächen des in Abb. 34 dargeſtellten Mikrometertaſters. Ein Polieren der Schliff-Oberfläche iſt vor dem Auflegen des Deckglaſes keinesfalls nötig. Es genügt vollauf, wenn der Schliff zuletzt mit feingeſchlemmtem Schmirgel behandelt wird, denn nach dem Auf— kitten des Deckglaſes wird die Durchſichtigkeit des Schliffes beträchtlich erhöht. Daß beim Auf— legen des Deckglaſes nach vorhergegangener Rei— nigung mit Waſſer oder Spiritus zwiſchen Deck— glas und Schliff keine Luftbläschen auftreten, die bei der Beobachtung recht ſtörend wirken können, erfordert einige Übung. Am beſten ge— lingt das Auflegen des Deckglaſes im allge— meinen, wenn man an einem Ende des Schliffes einen Streifen dünnflüſſigen Kanadabalſam von etwa der Länge des Deckglaſes aufträgt leben- falls mit einem Glasſtab), darauf das mit der Pinzette gehaltene Deckglas mit der einen Kante an den Anfang des Balſamſtreifens anlegt und es nunmehr langſam jo auf den Schliff niederſin— ken läßt, daß ſich der Balſam wallartig unter dem Deckglaſe fortbewegt. Den um die Ränder des Deckglaſes angeſammelten überflüſſigen Ka⸗ nada⸗Balſam entfernt man am beiten mit einer heißen Meſſerſpitze; den verbleibenden Rückſtand wäſcht man mit einem in Alkohol getauchten Lederläppchen vorſichtig ab. Manchmal iſt es nötig, den noch nicht be— feſtigten Schliff auf einem andern Objektglas zu übertragen; man erwärmt dann das alte Ob— 38 jeftglas auf dem Präparierofen (Abb. 35) bis zum Flüſſigwerden der Balſamſchicht, hält es über das gleichfalls auf dem Präparierofen lie⸗ gende neue, mit Balſam beſtrichene Glas und ſchiebt das Präparat mit einem feinen Meſſer⸗ chen vom alten auf den neuen Objektträger hin⸗ über. Handelt es ſich um weiches oder leicht bröckelndes Material (ſ. weiter unten), ſo verzichte man lieber von vornherein auf das Übertragen des Schliffes, da es in den meiſten Fällen doch mißlingt. | Wie man gleichzeitig mehrere Dünnſchliffe herſtellt, geht aus Abb. 33 (P und PI) hervor. Um das gleichzeitige Schleifen der zweiten Schlifffläche (Schliffe bereits auf Objektträgern) zu ermöglichen, müſſen gleich dicke Objektträger mit einem Mikrometer-Taſter ausgewählt wer— den. Dieſe Objektträger werden dann mit Hilfe der Kittkanne (Abb. 36) auf der Glasplatte P aufgekittet. Ein letztes feines Nachſchleifen des einzelnen Schliffes iſt aber auch bei dieſer Me— thode erforderlich, weil die käuflichen Objekt⸗ träger nie ſo eben und parallelflächig ſind, wie es zur Herſtellung eines guten Schliffes erfor— derlich iſt. Dünnſchliffe aus poröſen Geſteinen. Die Herſtellung von Schliffen aus ſehr pord- ſen Geſteinen (Schlacken, Bimsſtein, Lava u. dgl.) erfordert eine etwas andere DBe- handlung wie ſie für maſſive oder homogene Geſteine gebräuchlich iſt. Um einen feſteren Zu⸗ ſammenhang der einzelnen Hohlräume unterein- ander herzuſtellen, werden ſie vor der Heritel- lung des Schliffes durch Kochen des Schnittes im Kanadabalſam ausgefüllt. Damit das Geſtein von dem Kanadabalſam völlig durchtränkt wird, empfiehlt es ſich, die Schnitte oder Splitter von vornherein möglichſt dünn zu machen. Zum Ein- kochen verwendet man einen genügend großen und tiefen Löffel oder noch beſſer ein genügend weites, durch einen Korken verſchließbares Rea— genzglas, in das man das poröſe Geſteinsſtück und ſo viel zähflüſſigen Kanadabalſam bringt, daß der Schliff völlig davon bedeckt iſt. Die Er- wärmung erfolgt am beſten in einem Waſſerbad; ſie kann je nach der Art des Geſteins bis zu 24 Stunden dauern. Bei genügend hoher Tempera— tur tritt eine derartige Druckerhöhung im Glaſe ein, daß der Kanadabalſam in die feinſten Poren des Geſteinsſtückes eindringt. Nach beendetem Kochen wird der überflüſſige Balſam abgegoſſen; darauf läßt man den Splitter erkalten und be— handelt ihn dann in der bereits geſchilderten Weiſe weiter. Dünnſchliffe aus Mineralpulvern. Wilk manu di fcheiff ere Dion Mineralpulvern (Sanden uſw.) herſtellen, ſo empfiehlt es ſich, ſich eines von F. Stöber angegebenen Verfahrens zu bedienen, nach dem die kleinen Körner in Kanadabalſam eingebettet werden. Man läßt einen Tropfen Kanadabalſam auf einem dünnen Deckglas, das auf einem Ob— jektträger liegt, zerfließen und ſtreut die zu ſchleifenden Körner darauf. Dann bedeckt man den noch nicht erhärteten Kanadabalſam mit einem Stückchen Pauspapier, das mit einem glatt geſchnittenen Stück Radiergummi angedrückt wird, bis der Balſam erhärtet iſt. Hierauf entfernt man das Papier, ſchleift die Körner mit feinem Schmirgel an, kittet die angejchlif- fene Fläche mit leichtflüſſigem Kanadabalſam auf einen neuen Objektträger, ſprengt nach dem Er⸗ kalten das Deckglas ab, ſchleift die zweite Seite in der üblichen Weiſe und legt ſchließlich wieder ein Deckglas auf, womit das Präparat fertig iſt. Dünnſchliffe aus Salz und ſalzhal⸗ tigen Stoffen. Nach den von E. Korreng im Mineralogiſchen Inſtitut zu Berlin geſam⸗ melten und im „Zentralblatt für Mineralogie“ (Jahrg. 1913, S. 408— 412) veröffentlichten Erfahrungen verfährt man bei der Anferti⸗ gung derartiger Schliffe folgendermaßen: Als Schleifmittel verwendet man an Stelle des ſonſt gebräuchlichen Schmirgelbreies ([. S. 37) Schmirgel-Papier (hauptſächlich die Sorten No. 1, O und 00), das auf eine ebene Unter⸗ lage, z. B. eine plane Eiſen⸗ oder Glasplatte (ſ. S. 35) gelegt oder geklebt wird. Bei ſtark hygroſkopiſchen (waſſerziehenden) Salzen muß man den Schleif-Prozeß möglichſt ſchnell voll- ziehen und des öfteren auf unbenützte Stellen des Schmirgelpapiers übergehen, um nicht in abgeſchliffenem Pulver zu reiben, das inzwiſchen Waſſer aus der Luft aufgenommen hat. Ein ſchnelles Schleifen hat im vorliegenden Falle auch den Vorteil, daß ſich die geriebene Fläche auf dem ſchlecht leitenden Schmirgelpapier ſo ſehr erwärmt, daß in den meiſten Fällen eine Hydratiſierung des Schliffes nicht erfolgt. Taucht man ſodann die Schlifffläche ſchnell in einen auf eine Glasplatte gebrachten, hinreichend großen Tropfen Rizinius⸗Ol, und poliert ſie darin, in⸗ dem man ſchnell rotierende Bewegungen aus⸗ führt, ſo iſt auch die ſchädigende Wirkung des Waſſerdampfes der Luft ausgeſchaltet. Bei Stof- fen, die nicht hygroſkopiſch ſind, wendet man zum Polieren möglichſt wenig oder gar kein Ol an. Das Reinigen der mit Ol benetzten Glasplatte erfolgt am beſten mit abſolutem Alkohol. Sobald die Schlifffläche in allen Teilen, namentlich an den Rändern, genügend Glanz oder Politur zeigt, wird das Präparat mit der Schlifffläche auf einen Objektträger gekittet. Darf das Objekt der Einwirkung der feuchten Luft nicht ausgeſetzt werden, ſo iſt ein präpa⸗ rierter Objektträger vor Beendigung des Po— lierprozeſſes ſo weit zu erwärmen, daß der Kanadabalſam fließt, und auf eine wagrechte, die Wärme ſchlecht leitende Unterlage zu legen. Man bringt dann das Objekt in den noch flüſſigen Kanadabalſam und drückt den Schliff an das Glas an; dabei achtet man darauf, daß zwiſchen Glas und Präparat keine Luftblaſen ſtehen bleiben (ſ. S. 37). Iſt der Schliff in Ol poliert, ſo muß das anhaftende Ol vor dem Aufkitten mit einem nichtfaſernden Tuche ab- gewiſcht werden. Sobald der Kanadabalſam er- kaltet iſt, kann man mit dem Dünnſchleifen beginnen, wobei man die Schleif-Geſchwindigkeit tunlichſt verringert, damit nicht Stücke aus dem Objekt herausgeriſſen und tiefgehende Schram— men erzeugt werden. Gut iſt es, den überflüfji- gen Kanadabalſam auf dem Objektträger vor dem Dünnſchleifen nicht vollſtändig zu entfernen; das Salzplättchen liegt dann in einem Ring von Kanadabalſam, der ſeine Ränder ſchützt und mit abgejchliffen werden muß, wenn das Präparat dün— ner werden ſoll. Sobald der Schliff genügend dünn geſchliffen iſt, folgt das Nachſchleifen und Polieren auf der Glasplatte. Für Dünnſchliffe aus hygroſkopiſchen Salzen iſt auch hier die erſte Be— dingung die, daß ſie nicht der direkten Einwirkung der feuchten Luft ausgeſetzt werden. Kanadabalſam-Teilchen, die ſich beim Schlei— fen zuweilen auf der matten Glasſcheibe feſt— ſetzen, werden zweckmäßig immer ſofort mit Alko— hol oder Xylol entfernt. Die Entfernung des den Schliff umgebenden Kanadabalſams, der meiſt durch Schleifpulver und dergl. verunreinigt iſt, 39 geſchieht am beſten mit einem erwärmten Meſ— ſer oder dergl., während die dem Dünnſchliff ſelbſt anhaftenden Teilchen durch Reiben auf der Glasplatte in öfters erneuertem Ol entfernt werden. Das Auflegen des Deckglaſes erfolgt in der bereits früher (S. 37) erläuterten Weiſe unter Anwendung von nicht zu hartem Kanadabalſam. Sollen ſich Schliffe ſtark hygroſkopiſcher Salze lange Zeit unverändert halten, ſo empfiehlt es ſich, die Ränder des Präparats einige Tage nach dem Auflegen des Deckglaſes mit einem Aſphalt— lackſtreifen zu umziehen. Dritter Teil: Andere Apparate zur genaueren Beſtimmung optiſcher Konſtanten kriſtalliſierter Körper. Swölftes Kapitel. Achſenwinkelapparate. Zur Meſſung des Winkels, den die optiſchen Achſen eines zweiachſigen Minerals miteinander bilden, bedient man ſich der Achſenwinkel-Appa⸗ rate. Eine den meiſten Zwecken genügende Form eines ſolchen Apparats zeigt Abb. 37. Das Kreisſyſtem und der optiſche Teil des Apparats werden von einem aus einem einzigen Gußkörper hergeſtellten Stativ mit Dreifuß getra- gen. In dem oberen Kernſtück des Trägers für das Kreisſyſtem iſt die Achſe des in halbe Grade geteilten Kreiſes K gelagert. Zur bequemen Ab— leſung iſt die Teilung auf die Zylinder-Fläche des Kreiſes aufgetragen. Ein Nonius, auf den die Lupe L eingejtellt iſt, gibt direkt Minuten an. Die Drehung des Teilkreiſes erfolgt an ſeinem geränderten Rand. Zur Fixierung des Kreiſes dient die Schraube g, zur Fein⸗Cinſtellung die Mikrometerſchraube k. In der zylindriſchen Boh— rung der Kreisachſe läßt ſich eine Stange h jenf- recht verſchieben, die durch die Schraube hi feſt⸗ geklemmt wird. Am unteren Ende der Stange h ſitzt die Zentrier⸗ und Juſtiervorrichtung für den Kriſtall, die aus den Teilen C und ] beſteht. O ijt im weſentlichen eine aus freier Hand in der Wagrechten verſchiebbare Platte; J iſt eine Kugel- ſchale, deren Mittelpunkt annähernd im Kriſtall liegt. Die Verſchiebung dieſer Kugelſchale erfolgt gleichfalls aus freier Hand. Am untern Ende der Kugelſchale befindet ſich eine Pinzette Pi zum direkten Einklemmen der Kriſtallplatte Kr. Die Pinzette läßt ſich auch gegen kleine, an der Stirn- fläche aufgerauhte Zäpfchen austauſchen, an denen man den Kriſtall mit Klebwachs befeſtigen kann. Der optiſche Teil 11) (Abb. 38) des Apparats beſteht aus dem Polariſator-Rohr P und dem Be— obachtungs⸗Rohr B. Die Linſe a vereinigt die auf 11) Der optiſche Teil dieſes Achſenwinkel—⸗ Apparats iſt ſo beſchaffen, daß er gleichzeitig an einem jog. ſenkrechten Polariſations-Inſtrument zu. Beobachtungen in parallelem und konvergentem polariſierten Licht verwendet werden kann. ſie fallenden Strahlen im Polariſator-Nicol N., aus dem ſie divergierend in die Linſe at, die ſie als annähernd paralleles Bündel verlaſſen, um durch die Linſe c in der Kriſtallplatte Kr vereinigt Abb. 37. Achienmwinfel-Apparat. 40 zu werden. Die Linſe o des Beobachtungs-Rohres vereinigt die Strahlen in ihrer hinteren Bild- ebene k; hier entſteht das Interferenz- oder Ach⸗ ſenbild des zu meſſenden Kriſtalls. Als Einſtel⸗ lungsmarke befindet ſich in der Ebene k ein Glas mit einem aufgeritzten Kreuz. Zur gleichzeitigen Beobachtung des Achſenbildes und der Einjtel- lungsmarke (Fadenkreuz) dient die Lupe !, die zur leichten Fokuſierung in ein Auszugsrohr eingeſetzt iſt; im äußeren Ende dieſes Rohres befindet ſich der drehbare Analyſator-Nicol Ni. Die beiden Nicolſchen Prismen find bei einem, Achſenwinkel⸗Apparat jo juſtiert, daß ihre Polari- ſations⸗Ebenen unter 450 geneigt zur verlängert gedachten Drehungs⸗Achſe des Teilkreiſes liegen. Die Meſſung eines Achſenwinkels erfolgt derart, daß man den einen Achſenbarren durch Drehen des Teilkreiſes mit der zuvor gut ausgerichteten Kriſtallplatte auf die Einſtellmarke einrichtet, den Teilkreis ablieſt und ihn nun abermals dreht, bis ſich der zweite Achſenbarren des Achſenbildes mit der Einſtellmarke im Beobachtungs-Fernrohr deckt. Der Unterſchied zwiſchen der erſten und der zweiten Kr auf elektriſchem Wege durch Heizſpira⸗ len erfolgt, iſt zuerſt von F. Rinne vorgeſchlagen worden. Während bei den gewöhnlichen Erhit— zungs⸗Vorrichtungen die Temperatur-Beſtimmung durch entſprechend geformte Thermometer erfolgt, geſchieht ſie bei elektriſcher Erhitzung durch ein Thermo⸗Element (Pyrometer). Einen dritten Erhitzungs-Apparat, bei dem die Meſſung der optiſchen Achſenwinkel bei höheren Temperaturen auch in Flüſſigkeit, alſo nicht nur in Luft, erfolgen kann, hat neuerdings E. H. Kraus in Vorſchlag gebracht. Bei dieſem Apparat, mit dem man Temperaturen bis ＋ 3000 erzielen kann, geſchieht die Erwärmung gleichfalls durch elektriſche Heizſpiralen. Für ſolche hohe Tempe⸗ raturen können natürlich nur ſchwer ſiedende Flüſ⸗ ſigkeiten in Frage kommen; in Luft aber können die Temperaturen noch weiter geſteigert werden. Meſſung im einfarbigen Licht. Da die Meſſung der Achſenwinkel nur bei Beleuchtung mit einfar⸗ bigem Licht erfolgen kann, muß man ſich entweder der auf S. 27 erläuterten Hilfsmittel zur Er⸗ zeugung homogenen Lichtes oder eines Monochro— N N Abb. 38. Vertikalſchnitt durch den optiſchen Teil des in Abb. 37 dargeſtellten Achſenwinkel⸗Apparats. Dieſer optiſche Teil findet auch bei fog. ſenkrechten Polariſations⸗Inſtrumenten Verwendung. Ableſung gibt dann den geſuchten ſcheinbaren Ach— ſenwinkel (2E) für Luft an. Überſchreitet der Winkel der optiſchen Achſen eine gewiſſe Größe, ſo vermögen die den Achſen parallelen Strahlen nicht mehr in Luft auszu⸗ treten, ſondern werden total reflektiert. In ſol⸗ chen Fällen umgibt man den Kriſtall mit einer Flüſſigkeit, z. B. einem ungefärbten und gut durch- ſichtigen Ol, deſſen Brechungs-Index bekannt iſt. Dieſe Flüſſigkeit wird in ein mit planparallelen Durchblickswänden verſehenes Glasgefäß, das auf das hoch- und tiefſtellbare Tiſchchen J geſetzt wird, gegoſſen. Die Meſſung des ſcheinbaren Achſen⸗ winkels für das den Kriſtall umgebende dichtere Medium erfolgt auf genau die gleiche Weiſe, wie die Meſſung des ſcheinbaren Achſenwinkels in Luft. Zur Beſtimmung der Anderung der Achſenwinkel bei hohen und tieferen Tempera- turen können die Achſenwinkel-Apparate mit Er⸗ hitzungs- oder Abkühlungs⸗Apparaten verbunden werden. Die einfachſte Erhitzungs⸗Vorrich— tung beſteht aus einem ein Luftbad bildenden Metallkaſten von etwa 2 cm Tiefe, 4— 5 cm Breite und 15— 20 em Länge. Die Erwärmung dieſes Kaſtens erfolgt entweder von außen durch die Flammen zweier an den Kaſten-Enden aufge— ſtellten Bunſen-Brenner oder durch eine im Kaſten⸗ innern untergebrachte Flamme. Im letzteren Falle muß der Kriſtall ſelbſt in ein beſonderes Luftbad gebracht werden, damit er vor den Flammengaſen geſchützt iſt. In der Richtung der Sehlinie ſind in dem Erwärmungskaſten zwei Durchblicksfenſter angebracht. Eine Heizvorrichtung, bei der die Erwärmung mators (S. 27, Abb. 21 u. 22) bedienen. Verwen⸗ det man z. B. die Lampe nach Laspeyres (Abb. 19), ſo kann man den Achſenwinkel für 3 ver⸗ ſchiedene Lichtarten beſtimmen; bei der Anwendung eines Monochromators aber hat man die Möglich- keit, den Achſenwinkel für beliebige Lichtarten, bzw. für beliebige Wellenlängen zu meſſen. Die hinter dem Austrittsſpalt des Monochromators befind- liche Projektionslinſe muß bei der Beleuchtung von Achſenwinkel-⸗Apparaten ſo eingeſtellt ſein, daß ſie ein annähernd paralleles Lichtbündel in das Po— lariſator-Rohr des Apparates ſendet. Außer dem vorbeſchriebenen Achſenwinkel⸗ Apparat exiſtieren noch andere vollſtändigere Apparate. Sehr bekannt iſt die von E. A. Wül⸗ fing vorgeſchlagene Konſtruktion, die ſich von der ſonſt gebräuchlichen Form und auch von dem vor— beſchriebenen Apparat dadurch unterſcheidet, daß die Vergrößerung des Beobachtungs-Fernrohrs während der Beobachtung in bequemer Weiſe ver⸗ ändert werden kann. Dadurch iſt man in den Stand geſetzt, die Vergrößerung bzw. Berfleine- rung des Interferenz- Bildes der Art und Größe der zu unterſuchenden Kriſtallplatte anzupaſſen. Außerdem kommen bei dem Wülfingſchen Ach⸗ ſenwinkel⸗Apparat als Objekte keine gewöhnlichen Linſen, ſondern dreifach verkittete Achromate (Steinheil-Lupen) zur Verwendung. — Auch die Hilfs-Linſe zur Variation der Vergrößerung iſt ein dreifacher Achromat. Bei den beſſern und koſtſpieligeren Achſenwinkel-Apparaten erfolgt die Zentrierung und Juſtierung des Kriſtalls, ſtatt durch freihändige Verſchiebung durch entſprechende Schraub⸗Mechanismen. Zur Juſtierung der zu unterjuchenden Kriſtallplatte dient die ſog. Gauß ſche Spie— gel⸗Einrichtung (Abb. 39), die an Stelle des herausziehbaren Analyſator-Nicols N, (Abb. 38) in die Beobachtungsröhre eingeſteckt wird. Sp iſt ein mit Hilfe einer geeigneten Faſſung an Stelle des Analyſator⸗Nicols in das Beobachtungs-Fern⸗ rohr eingeſetzter, unter 45° geneigter dünner Glas- ſpiegel, der das Tageslicht oder die Strahlen einer Abb. 39. Juſtierung der Kriſtallplatte beim Achſenwinkel— Apparat mit Hilfe des Gaußſchen Spiegels. ſeitlich aufgeſtellten Lichtquelle L in das Beobach— tungs⸗Fernrohr ſendet. Das Licht wird an der ebenen polierten Fläche der Kriſtallplatte k re= flektiert und kehrt wieder ins Fernrohr zurück, ſo— fern die Kriſtallplatte normal, alſo ſenkrecht zur Sehlinie des Fernrohres ſteht. Iſt k hingegen mehr oder weniger zur Sehlinie des Beobachtungs- le 41 rohres geneigt, jo wird das gejpiegelte Licht ent— weder garnicht oder nur zum Teil in das Fern- rohr zurückkehren. Iſt die Neigung der Kriſtall— platte k zur Achſe des Beobachtungs-Fernrohrs nur gering, ſo erſcheint das geſpiegelte Faden— kreuz F (Abb. 40) noch im Geſichtsfeld des Fernrohrs, und zwar je nach der Neigung der Kriſtallplatte entweder über oder unter dem wirk— lichen Kreuz F. Normal ſteht aber die Kriſtall— Abb. 40. Wirkliches und geſpiegeltes Fadenkreuz während der Juſtierung der Kriſtallplatte am Achjenmwinfel-Apparat n. d. Gaußſchen Methode. platte zur Sehlinie des Beobachtungs-Fernrohres erſt dann, wenn ſich das geſpiegelte und das wahre Kreuz bei der Drehung der Glasplatte um die ſenkrechte Kreisachſe decken. Iſt dies nicht der Fall, jo muß man mit Hilfe der Juſtier-Vorrich— tung J (Abb. 37) die erforderliche Korrektion vornehmen. Dreizehntes Kapitel. Kriſtall⸗ Refraktometer. : Die Beſtimmung der Brechungs⸗ Indizes kriſtalliſierter doppeltbrechender Kör— per bedingt eine andere inſtrumentelle An— ordnung als bei einfachbrechenden Körpern. Die Meſſung der Brechungs-Indizes einfach- brechender Körper (z. B. von Gläſern) er⸗ folgt am beſten nach der ſogenannten Pris- men⸗Methode (Methode von Fraunhofer und Meyerſtein) oder mit Hilfe des Kohlrauſch— ſchen Totalreflektometers. Apparate zur Meſſung der Brechungs⸗Indizes doppeltbrechender Kriſtalle wurden u. a. von Th. Liebiſch, Bertrand, Pulfrich und Abbe vorgeſchlagen. Die z. Zt. gebräuchlichſten Refraktometer dürften die nach Abbes Vorſchlägen konſtruierten Kriſtall-Refrak⸗ tometer ſein, bei denen eine Halbkugel aus ſtark brechendem Glaſe (Flintglas) verwendet wird. Der zu unterſuchende Stoff wird mittels einer Flüſſigkeit von ſtärkerer Brechbarkeit als die des zu unterſuchenden Objekts auf die nach oben ge— kehrte ebene Grundfläche der Halbkugel aufge— bracht. Die Beleuchtung (ſ. Näheres hierüber S. 43) der Halbkugel kann ſowohl von unten her durch das diffuſe Licht einer einfarbigen Leuchtflamme (S. 27), als auch durch über die Grundfläche der Halbkugel ſtreifende, in das Präparat ein⸗ fallende Strahlen erfolgen. Bei der erſten Beleuchtungsart (reflektier⸗ tes Licht) braucht das Objekt nur eine ebene polierte Auflagefläche zu beſitzen, während das Präparat bei der Benutzung ſtreifend einfal⸗ lenden Lichtes mit durchſichtigen Seitenkan— ten, die nur ſehr geringe Höhe (etwa 0,1 mm) zu beſitzen brauchen, verſehen ſein muß. Präparaten doppeltbrechender Stoffe, die bei ſtreifend einfal- lendem Licht unterſucht werden ſollen, gibt man am zweckmäßigſten die Form eines kleinen Zylin- ders, und poliert die Grundfläche und den Man⸗ tel. Streifender Einfall der Strahlen bewirkt eine viel kräftigere Hervorhebung der Grenzkurven als reflektiertes Licht, da es ſich dabei um die Grenze zwiſchen einem hellen und weniger hellen Teile des Sehfeldes handelt, wogegen das Sehfeld im erſten Falle in einen hellen und einen ganz dunk— len Teil getrennt iſt. Um die Grenzwinkel auf einem auf „Unend— lich“ eingeſtellten Fernrohr beobachten zu können, iſt vor dem Objektiv eine plan-konkave Linſe vom Radius der Halbkugel und vom gleichen Glas wie dieſe, angebracht, die die aus der ſphäriſchen Fläche der Halbkugel konvergierend austretenden Strah— len einander parallel richtet. Die durch die plan- konkave Linſe erzielte Wirkung läßt ſich nach Abbes Vorſchlag auch durch geeignete Konſtruktion des Fernrohr- Objektivs erzielen. Aus techniſchen Gründen wurde bei dem nachfolgend beſchriebenen Inſtrument von der Verwendung eines ſolchen Db- jektivs abgeſehen und der Konkavlinſe der Vorzug gegeben. Sowohl im reflektierten als auch im durchfallenden Licht iſt die Abbildung der Grenz— Kurven durchaus ſcharf. Die Ableſung an dem 42 mit dem Fernrohr drehbaren Vertikalkreis gibt den Grenzwinkel w der totalen Reflektion inner- halb der Halbkugel gegen den zu unterſuchenden Stoff unmittelbar an. Der geſuchte Brechungs⸗ Index n des letztern iſt, wenn N den Brechungs⸗ Index der Halbkugel bezeichnet, gleich N sin w. Beſchreibung des Inſtruments. Abb. 41 ſtellt ein Kriſtall-Refraktometer dar, das von W. Voigt für das mineralogiſche Praktikum vor— geſchlagen wurde und für die weitaus meiſten Zwecke vollkommen ausreicht. Der Apparat geftat- tet ſogar im Gegenſatz zu manchen größeren In— Abb. 41. Kriſtallrefaktometer. ſtrumenten ſeiner Art Meſſungen zu beiden Seiten der Halbkugel H auszuführen. Das Beobachtungs- Fernrohr F kann alſo auch in der entgegengeſetzten Stellung gebraucht werden. Hierdurch iſt eines— teils die Möglichkeit gegeben, in bequemer Weiſe Kontrollmeſſungen zu machen, andernteils läßt ſich dadurch die Juſtierung des Apparats auf einfachſte Art ausführen und nachprüfen. Das Um⸗ legen des Fernrohrs F bedingt auch ein Herum— ſchlagen des Beleuchtungsſpiegels Sp um 180°. Der mit den Scharniergelenken g, gt, g und gs verſehene Spiegelarm kann zu dieſem Zweck um die Drehſcheibe à gedreht werden. Die auf einem langen, dünnen, zylindriſchen Stab befeſtigte, gläſerne Halbkugel H ift um eine ſenkrechte Achſe drehbar. Die Größe der jeweili— gen Drehung kann an dem in 1/1 Grade geteilten Kreis h und dem zugehörigen Index i abgeleſen werden. Zur genauen Juſtierung und Zentrierung der Halbkugel dienen die Schrauben o und J. Das Beobachtungs-Fernrohr F iſt an dem Vertikal- kreis V befeſtigt, der in halbe Grade geteilt iſt; ſein Nonius n gejtattet direkt Minuten abzuleſen. Zur feinen Einſtellung des Teilkreiſes dient die Mikrometer⸗Schraube ki nach vorheriger Klem⸗ mung durch die Schraube k. Zur Unterſuchung der Polariſations⸗ Verhältniſſe und zur beſſeren Trennung der Grenzkurven bei doppeltbrechenden Stoffen be⸗ findet ſich vor dem Okular des Fernrohrs F ein drehbarer analyſierender Nicol X. Juſtierung und Gebrauch des Inſtru⸗ ments. Bei einem gebrauchsfähigen Kriſtall⸗Re⸗ fraktometer müſſen folgende Bedingungen erfüllt ſein: 1. Die Halbkugellinſe muß genau ſphäriſch ge⸗ ſtaltet ſein. Die Erfüllung dieſer Bedingung bietet für einen einigermaßen geſchickten Optiker keine Schwierigkeiten. 2. Die durch den Mittelpunkt der - Kugel gehende Normale auf der Grundfläche muß mit der ſenkrechten Umdrehungsachſe zuſammenfallen. 3. Der Mittelpunkt der Kugel muß mit der Achſe des Vertikalkreiſes zuſammenfallen. Daß die Grundfläche der Halbkugel durch den Mittelpunkt geht, iſt für die Meſſung nicht von Belang. 4. Die Achſe des Vertikalkreiſes ſoll nach Mög⸗ lichkeit normal zur Achſe des Horizontalkreiſes ſtehen; beide Achſen ſollen den Kugel- Mittelpunkt ſchneiden. Um zu prüfen, ob die Grundfläche der Halb⸗ kugel ſenkrecht zur ſenkrechten Umdrehungsachſe ſteht, verfährt man am einfachſten nach der durch Abb. 42 erläuterten Methode. Die vor dem Fern- rohr⸗Objektiv angebrachte Korrektions-Linſe wird für die Dauer der Juſtierung durch Abſchrauben entfernt. In Abb. 42 bedeutet A ein entferntes Haus, deſſen Firſt oder Dachkante mit dem Kreu⸗ zungspunkt der Fäden im Fernrohr F zur Deckung gebracht wird. Bei der Drehung der Halbkugel um ihre ſenkrechte Achſe muß die anviſierte Hauskante im Geſichtsfeld des Fernrohrs ſtill ſtehen bleiben, ſofern die Auflagefläche normal zur Drehungsachſe ſteht. Im anderen Falle muß die Stellung mit Hilfe der Korrektionsſchraube j (Abb. 41) berichtigt werden. Es empfiehlt ſich, an der Schraubenſtellung nur ganz geringfügige Anderun- gen vorzunehmen, weil man den Fehler ſonſt leicht verſchlimmern kann, ſtatt ihn zu beſeitigen. Während man an den Korrektionsſchrauben dreht, ſoll das Auge ſtets am Fernrohr blei⸗ ben, damit man die Wirkung genau verfolgen kann. Iſt auf dieſe Weiſe die Juſtierung der Grund— fläche der Halbkugel erfolgt, ſo iſt es nur noch nötig, die Halbkugel zu zentrieren). Da⸗ zu wird die dem Inſtrument beigegebene, in ihrer Faſſung verſtellbare Zentrierſpitze N (Abb. 43) an Stelle der bereits abgeſchraubten kleinen Kor— rektions⸗Linſe vor das Objektiv geſchraubt und der ſphäriſchen Fläche der Halbkugel möglichſt ſtark 12) Bis zu einem gewiſſen Grade muß die Zentrierung natürlich ſchon erfolgt ſein. Wanne . genähert. Unter Anwendung einer jtarfen Lupe läßt ſich bei langſamer Drehung des Horizontal- kreiſes h (Abb. 41) hinreichend genau beobachten, ob der Zwiſchenraum zwiſchen der Nadelſpitze und der Halbkugel an irgend einer Stelle größer oder geringer iſt als an allen andern. Eine etwa er- forderliche Zentrierung führt man mittels den Schrauben c (Abb. 41) aus. Dafür, daß der Mittelpunkt der Halbkugel mit der Achſe des Vertikalkreiſes zuſammenfällt, hat 5 2 K : D TG Abb. 42. Juſtierung der Refraktometer-Halbkugel. die liefernde Werkſtätte zu ſorgen. Die Höhe des zylindriſchen Stiftes, der die Halbkugel trägt, muß alſo entſprechend abgeſtimmt ſein. Ob dieſe Be- dingung erfüllt iſt, läßt ſich mit der bereits er- wähnten Zentriernadel leicht feſtſtellen, indem man die Nadelſpitze mit möglichſter Annäherung die Kugel⸗Oberfläche beſtreichen läßt, während man gleichzeitig den Vertikalkreis dreht. Zeigt ſich dann z. B. in der durch Abb. 43 veranſchaulich— ten Nadelſtellung ein größerer Zwiſchenraum zwi— ſchen Halbkugel und Spitze, als bei einer tiefern, dem Pol der Kugel näheren Stellung, dann liegt der Kugel⸗ Mittelpunkt zu hoch. Optiſch ſteht dem Beobachter ein noch ein- facheres und genaueres Mittel in der Meſſung #% Lichtquelle I Beleuchtungs Spiegel Halbkugel Abb. 4. Stellung der Lichtquelle bei Verwendung des Beleuchtungsſpiegels. irgend eines Stoffes mit bekanntem Brechungs— Index zu Gebote, etwa der Halbkugel ſelbſt (gegen Luft), deren Brechungsindex bei der Lieferung des Inſtruments genau angegeben wird. Liegt der Kugel⸗Mittelpunkt unterhalb der horizontalen Achſe, ſo führt die Meſſung zu einem zu kleinen Grenzwinkel und damit zu einem zu niedrigen Brechungs⸗Index; liegt der Mittelpunkt über der Achſe des Vertikalkreiſes, ſo tritt der umgekehrte Fall ein. Je nachdem der Grenzwinkel zu klein oder zu groß ausfällt, wird die erforderliche An— derung am Träger der Halbkugel, wie bei der mechaniſchen Korrektion vorgenommen. Die Methode der mechaniſchen Zentrierung der Halbkugel ermöglicht gleichzeitig die Prüfung, ob ſich die Achſen des Vertikal- und Horizontalkreiſes im Kugel⸗Mittelpunkt ſchneiden. In dieſem Fall muß die Nadelſpitze nämlich bei entgegengeſetzter Lage des Fernrohres und bei jeglicher Stellung der Halbkugel in gleichem Abſtand von der Kugel- 43 oberfläche verbleiben. Die Ausführung einer etwa nötigen Berichtigung iſt für den Beobachter ſchon ſchwieriger, da dabei der Träger des Vertikal- kreiſes zu verſetzen iſt. Die Erfüllung dieſer Be— dingung iſt daher ebenſo wie die Normierung der Horizontalachſe zur Vertikalachſe, Sache der lie— fernden Werkſtätte, die Gewähr dafür zu lei— ſten hat. Beleuchtung. Wie bereits d erwähnt, geſchieht die Beleuchtung des Präparats bei den Meſſungen N — Zentrierung der Refraktometer-Halbtugel. Abb. 43. in der Regel mittels einfarbiger Leuchtflammen (Abb. 19), deren zweckmäßigſte Stellung durch die Abb. 44 und 45 erläutert wird. Bei Abb. 44 ſteht die Lichtquelle hinter dem Inſtrument; das Licht wird durch den Beleuchtungsſpiegel Sp!?) auf das Präparat geworfen. In Abb. 45 iſt der Be⸗ leuchtungsſpiegel behufs kräftigerer Beleuchtung, die beſonders bei kleineren Präparaten nötig iſt, durch eine Beleuchtungslinſe, die jedem Inſtrument beigegeben wird, erſetzt und die Lichtquelle deshalb links vom Beobachter aufgeſtellt. Wo es die Präparate irgend ermöglichen, wird man bei der Beleuchtung die Methode des ſtreifenden Lichteinfalls (Abb. 46) anwen⸗ den, weil hierbei die Grenze, wie bereits geſagt Beleucht. Linse - | 4 . END Lich tquelle \ Hal bkugel Abb. 45. Stellung der' Lichtquelle bei Benützung der Beleuchtungslinſe. . wurde, am ſchärfſten auftritt. Das Sehfeld iſt bei der durch Abb. 46 veranſchaulichten richtigen Ein— 13) Beſtimmte Angaben darüber, in welchen Fällen dem Hohl- oder dem Planſpiegel der Vor- zug zu geben iſt, laſſen ſich nicht machen, da die Entſcheidung von der Beſchaffenheit des zu unter- ſuchenden Kriſtalls abhängt. Bei kleinen und ſtark abſorbierenden Kriſtallen leiſtet im allgemeinen der Hohlſpiegel beſſere Dienſte; bei künſtlichen, wenig homogenen und unreinen Kriſtallen emp— fiehlt ſich die Anwendung des Planſpiegels, da die meiſt ſchwachen Grenzen bei Benützung des Hohl- ſpiegels ſelbſt bei ſtreifendem Lichteinfall unter Umſtänden ſo vom Licht überflutet werden, daß ſie häufig nicht zu erkennen ſind. Manchmal iſt es ſogar empfehlenswert, das eintretende Licht da— durch diffus zu machen, daß man ein rund ge⸗ ſchnittenes Blättchen dünnen Ol- oder Seiden⸗ papiers auf den Beleuchtungsſpiegel legt. 44 ſtellung zur Hälfte hell erleuchtet, zur Hälfte vollſtändig ſchwarz. Benützt man reflektiertes Licht (Abb. 47), ſo erſcheint die eine Hälfte des Sehfeldes nicht viel dunkler als die andere, die Grenze iſt alſo weniger ſcharf als im erſten Falle. andern N Abb. 46. Beleuchtung mit ſtreifend einfallendem Licht. Während bei ſtreifendem Lichteinfall die Ver⸗ wendung des Spiegels ebenſo bequem iſt wie die Benützung der Beleuchtungslinſe oder der direkten Lichtquelle allein, iſt die Anwendung der Beleuch⸗ tungslinſe bei reflektiertem Licht mit einigen Um⸗ ſtänden verknüpft. Da die Lichtquelle in dieſem Falle beträchtlich unter der Ebene der Refrakto⸗ meter⸗Halbkugel ſtehen muß, muß man entweder die Lichtquelle oder das Refraktometer auf ein in der Höhe verſtellbares Stativ bringen, um den Lichteinfall innerhalb der erforderlichen Grenzen regeln zu können. I Abb. 47. Beleuchtung mit reflektiertem Licht. Meſſungs⸗Beiſpiele. Als Lichtquelle bei den Meſſungen diene Natriumlicht. Der Bre- chungs index N der Refraktometer-Halbkugel für Natriumlicht ſei = 1.7938. Die gemeſſenen Win⸗ kelwerte ſind das Mittel aus mehreren Meſſungen. 1. Quarz / zur optiſchen Achſe geſchnitten. a) Grenzwinkel der ordentlichen Strahlen „ b) 1 „ außerordentlichen Strahlen „„ r2lz a) log. fin. 59 597 — 9.9374 571 log. von N (1.7938) = 0.2537 740 f 1912311 — Numerus hiervon — 1.5532 bh) log. fin. 59 24° — 99348 730 | log. von N — 0'2537 740 1886 470 — Numerus hiervon 1.5441 Der Brechungsindex für Na⸗ 1 iſt alſo für die ordentlichen Strahlen VV — 1.5532 Der Brechungsindex für Nas Licht iſt en für Die außerordentlichen Strahlen Aa „% 1 5441 2. Kalkſpat // zur optiſchen Achſe geſchnitten. a) Grenzwinkel der ordentlichen Strahlen. — e e b) 5 „ außerordentlichen Strahlen — 67° 36“ a) log. ſin. 55° 59° — 99183183 log. von N — 02 537 740 1720923 — Numerus hiervon — 14863 b) log. ſin. 67° 36“ — 99659 285 a) log. von N — 0.2537 740 2197025 — Numerus hiervon == 1.6585 Der ech für Na⸗ Licht 5 95 5 die ordentlichen Strahlen Der Brechungsindex für Na⸗ außerordentlichen Strahlen . 5 0 14888 - Licht it alſo fi die N 5 . — 1.6585 Die Methoden zur mikroſkopiſchen Unterſuchung kriſtalliſierter Körper von H. Schneiderhöhn. Vierter Teil: Beſtimmmung phnſikaliſcher Konſtanten kriſtalliſierter Körper mit Hilfe des Polariſationsmikroſkops. Vorbemerkung. Die den kriſtalliſierten Körpern eigentümlichen Eigenſchaften ſind Aniſotropie und Symmetrie. Die Aniſotropie beſteht darin, daß verſchiedene Richtungen eines homogenen Kör- pers durch verſchiedenes phyſikaliſches Ver⸗ halten ausgezeichnet ſind. Sie prägt ſich am auffälligſten aus in der Verſchiedenheit des Wachstums nach verſchiedenen Richtungen, die bei unbehindertem Wachstum als die regel- mäßige äußere Kriſtallform in Erſcheinung tritt. Ebenſo prägt ſich die Aniſotropie für jede phyſikaliſche Energieart, alſo auch für das Licht dadurch aus, daß ſie ſich in der einen Richtung in anderer Art durch einen Kriſtall fortpflanzt, als in an⸗ derer Richtung. 8 Alle Kriſtallformen, ſowie alle an den Kriſtallen zu beobachtenden phyſikaliſchen Er⸗ ſcheinungen laſſen einen höheren oder geringe⸗ ren Grad von Symmetrie erkennen, d. h. „eine Wiederkehr des gleichen phyſikaliſchen Verhaltens beiderſeits einer Ebene, der Sym— metrieebene, oder mit Bezug auf eine Achſe, der Symmetrieachſe“. Alle Kriſtalle zerfallen auf Grund des verſchieden hohen Symmetriegrades in meh- rere „Klaſſen, deren Anzahl verſchieden iſt ſowohl für die verſchiedenen daraufhin uns terſuchten phyſikaliſchen Eigenſchaften, als auch für eine und dieſelbe Eigenſchaft bei verſchie— denen Stoffen.“ a 14) In Anlehnung an die Werke von Th. Lie- biſch und F. Klockmann. Unter allen phyſikaliſchen Eigenſchaften haben die optiſchen für die Praxis der Kriſtall⸗ und Mineralbeſtimmung die größte Wichtigkeit, weil ſie die auffällig- ſten und am leichteſten erkennbaren Kennzei⸗ chen darbieten. Im folgenden jollen die optiſchen Er— ſcheinungen kriſtalliſierter Körper, ihre Be— obachtung und Meſſung weſentlich mit Rück⸗ ſicht darauf behandelt werden, wie ſie ſich im Univerſalinſtrument des Kriſtalloptikers, im Polariſationsmikroſkop, darſtellen. Dazu iſt wenigſtens ein kurzer Abſchnitt über die optiſchen Verhältniſſe in kri⸗ ſtalliſierten Körpern erforderlich. Er mußte dem Zweck dieſer Arbeit ent- ſprechend elementarer und vor allem lücken— hafter ausfallen, als im Intereſſe des Gegen— ſtandes und des heutigen Standpunktes der Kriſtalloptik erwünſcht geweſen wäre. Insbeſondere konnte die Bekanntſchaft mit der ſtereographiſchen Projektion nicht vor⸗ ausgeſetzt werden, ihre Erörterung in dieſer Schrift ſelbſt hätte aber zu weit geführt, und ſomit mußte auf die eingehendere Darlegung mancher in neuerer Zeit ſehr geübter und geſchätzter Methoden, wie der Becke-Wright⸗ ſchen Achſenwinkelmeſſung, und vor allem der Fedorowſchen Theodolithmethoden, verzichtet werden. Die Darſtellung der kriſtalloptiſchen Erſcheinungen lehnt ſich an die Lehrbücher von Th. Liebiſch und E. A. Wülfing an, die Behandlung der Methodik an die Prak— tika von E. Weinſchenk und E. A. Wülfing. 46 Durchſichtige Körper. Dierzehntes Kapitel. Unterſuchungen im gewöhnlichen Licht. Die hier angeführten Beobachtungen kön⸗ nen mit jedem Mikroſkop angeſtellt werden, ohne daß eine polariſierende Vorrichtung da— zu nötig iſt. I. äußere Kennzeichen. I. Form, Babitus. Die erſten Beob- achtungen werden ſich auf Angabe der äuße- ren Form erſtrecken, ob unregelmäßige Kör⸗ ner oder als ſolche ſchon gleich erkennbare Kriſtallformen vorliegen. Dieſe ſind nach ihrem Habitus zu bezeichnen als: iſometriſch (drei-, vier⸗, ſechsſeitig), pyramidal, kurz— ſäulenförmig, langleiſtenförmig, prismatiſch, ſtenglig, nadlig, faſerig uſw. Hierbei iſt bei den eigentlichen mikroſkopiſchen Präparaten, den Dünnſchliffen, zu beachten, daß ja im⸗ mer nur ein Durchſchnitt des betreffen⸗ den Kriſtalls vorliegt, und daß z. B. ein tafelförmiger Kriſtall in den meiſten Fällen langleiſtenförmige Durchſchnitte liefert. Es iſt alſo über die räumliche Form erſt nach Beobachtung mehrerer Durchſchnitte et- was auszuſagen. — Man begnügt ſich nicht mit der qualitativen Angabe der Form, ſon— dern mißt in den meiſten Fällen die Dimen⸗ ſionen der Präparate unter dem Mikroſkop aus, nimmt alſo Längen-, Diden- und Winkel⸗ meſſungen vor. Wenn die Vergrößerung der betreffenden Objektiv-Okular⸗Kombination be- kannt iſt, iſt damit dann auch die wirkliche Größe der beobachteten Objekte gegeben. 2. Längenmeſſung. Die Länge mikro⸗ ſkopiſcher Objekte wird mittels eines Mikro⸗ meters gemeſſen. Man bringt es entweder am Objekttiſch an (Kreuzſchlittentiſch ſ. S. 18), wobei aber nicht zu vermeidende kleine Feh- ler im Schraubengewinde mit der ganzen be— nutzten Vergrößerung des Mikroſkops verviel- facht werden. Genaueren Anforderungen ent⸗ ſprechen die Okularmikrometer. Sie enthalten ein in ½⁰1j. oder ½100 mm eingeteiltes Glas- plättchen, das an der Stelle des Okulars feſt eingeſetzt iſt oder eingeſchoben wird, wo das durch Objektiv und Kollektivlinſe des Okulars entworfene reelle Bild des Objekts liegen muß, um durch die Augenlinſe deutlich ge- ſehen zu werden; die Augenlinſe des Meß⸗ okulars iſt deshalb verſchiebbar eingerichtet, damit das Okular auf verſchiedene Augen ein⸗ geſtellt werden kann. Die Größe des Bildes des zu meſſenden Objektes kann dann nach der Anzahl der Teilſtriche, die es bedecken, ab⸗ geleſen werden. Der Wert eines Mikrometer⸗ teilſtrichs iſt für die verſchiedenen Objektive und je nach der Tubuslänge verſchieden. Dieſe verſchiedenen Werte ſind auf einer den Mikro⸗ ſkopen beigegebenen Tabelle verzeichnet, woraus dann die wahre Größe des Objek— tes ermittelt wird. — Die genaueſten Werte erreicht man mit Hilfe eines Okularſchrau⸗ benmikrometers, das mit zwei parallelen Fäden, einem feſtſtehenden und einem be⸗ weglichen, ausgerüſtet iſt. Die Bewegung des letzteren kann an einer Schraube mit Trommel⸗ teilung bis auf ½/ö1000 mm genau abgeleſen werden. Der Wert der Fadenverſchiebung iſt ebenfalls erſt für die jeweilige Vergrößerung zu ermitteln (darüber ſ. S. 30). 3. Dickenmeſſung. Die Meſſung der Dicke eines Minerals im Dünnſchliff erlangt dadurch Bedeutung, daß aus ihr und der In⸗ terferenzfarbe eines doppelbrechenden Mine- rals der Wert der Doppelbrechung in der betr. Richtung direkt ermittelt werden kann. Doch ſind die Dickenmeſſungen unter dem Mikroſkop nur Annäherungsmethoden. Die ge⸗ bräuchlichſte iſt die Umkehrung der Methode des Herzogs von Chaulnes zur Beſtimmung des Brechungsindex einer planparallelen Platte unter dem Mikroſkop. Man ver⸗ wende eine ſtarke Vergrößerung, ſtelle nach- einander auf ein Staubteilchen an der oberen und an der unteren Fläche des Minerals mit Hilfe der Mikrometerſchraube des Mikroſkops ein und leſe dann die Verſchiebung des Tubus an der Trommel der Mikrometerſchraube ab. Dieſe Verſchiebung iſt aber nicht gleich der wirklichen Dicke, ſondern um eine Strecke klei— ner, die vom Brechungsindex der Platte ab— hängt. Es iſt nämlich die wirkliche Dicke D = D“ : n, wenn D“ die gemeſſene Strecke und n der Brechungsindex des Präparats iſt. Man wird n meiſt mit Hilfe der nach— ſtehend beſchriebenen Methode annähernd zu beſtimmen ſuchen; andernfalls hilft man ſich am beſten mit einer Annäherungsmethode und arbeitet mit einem Immerſionsſyſtem, wo— bei man nur die Differenz der Brechungs— indizes des Minerals und des Oles in Rech— nung zu ſtellen braucht. Es iſt dann D — D’.—, worin n“ der Brechungsindex des Oles iſt. 15 wird in den meiſten Fällen ſo nahe an 1 liegen, daß eine Vernachläſſigung ſeines Wertes ſtatthaft iſt. Wo es irgend geht, wird man aber die Beſtimmung nicht in Dünn⸗ ſchliffen ausführen, ſondern loſe Spaltplättchen benutzen und deren Dicke durch einen der vie⸗ len ſehr genau arbeitenden Dickenmeſſer meſ— ſen, z. B. durch das Sphärometer oder das Interferenzſphärometer (ſ. S. 36). 4. Winkelmeſſung. Der drehbare Ob— jekttiſch der mineralogiſchen Mikroſkope ge— ſtattet leicht eine Meſſung von ebenen Win⸗ keln 15) in der Tiſchebene. Vorausſetzung iſt die genaue Zentrierung des Tiſches (ſ. S. 25). Man ſchiebt den Scheitelpunkt des zu meſ⸗ ſenden Winkels in den Mittelpunkt des Oku⸗ larfadenkreuzes, bringt den einen Schenkel des Winkels mit einem Faden zur Deckung, lieſt an der feſtſtehenden Marke oder dem Nonius die Stellung des Tiſches ab, dreht dieſen, bis der andere Schenkel mit dem Fa⸗ den zuſammenfällt und lieſt wieder ab. Der Unterſchied der beiden Ableſungen ergibt direkt die Größe des Winkels. Vorſicht beim Drehen des Tiſches über O0 bzw. 360° hinaus! Es empfiehlt ſich, den Schenkel des Winkels nicht genau mit dem Faden zur Deckung zu bringen, ſondern einen kleinen Zwiſchenraum zwiſchen Schenkel und Faden zu laſſen; die Parallelſtellung kann ſo viel genauer aus⸗ geführt werden. Immerhin iſt bei der Art der meiſten mikroſkopiſchen Objekte eine Ab- leſung auf ganze Grade hinreichend genau. Eine größere Genauigkeit verbietet ſich mei⸗ ſtens durch die geringe Vollkommenheit der Kriſtallkanten oder Spaltriſſe, die den zu meſ— ſenden Winkel einſchließen, von ſelbſt, wenn 15) Über die Meſſung körperlicher Winkel unter dem Mikroſkop vgl. Roſenbuſch-Wülfing. 1904. I. 1. 195— 200. 47 auch der Nonius manchmal noch Minuten ab— leſen läßt. Bei Mikroſkopen mit gleichzeitig drehbaren Nicols (ſ. S. 20 ff.) braucht man bei der Winkelmeſſung das Objekt nicht zu be— wegen, weil das Fadenkreuz ſich zugleich mit dem Nicol dreht. Man lieſt dann die beiden Stellungen an der entſprechenden Gradtei— lung ab. Der Zweck der Winkelmeſſung beſteht einerſeits darin, für eine kriſtalliſierte Sub- ſtanz charakteriſtiſche Winkelgrößen zu ermit— teln, andererſeits aus der Verteilung der ent— ſprechenden Winkel in dem Polygon, als das der Durchſchnitt eines Kriſtalles ſich dar— ſtellt, die zuſammengehörigen Flächen zu fin— den und ſo Schlüſſe auf die Symmetrie der Abb. 48. Durchſchnitt eines ver⸗ zerrten Kriſtalls; aus der Gleich⸗ heit aller ſechs Innenwinkel er⸗ gibt ſich die Gleichberechtigung der ſechs Flächen. Abb. 49 Derſelbe Kriſtalldurchſchnitt, ideal ausgebildet. Kriſtalldurchſchnitte zu ziehen. Letzterer Fall tritt beſonders häufig bei verzerrten Kri— ſtallen (Abb. 48 und 49) und bei Wachstums- formen ein, die durch raſche Kriſtalliſation entſtanden ſind und in ihrem erſten Sta— dium ſogenannte Kriſtallſkelette bilden. Man beachte, daß bei Dünnſchliffen die Kriſtalldurchſchnitte jede beliebige Lage haben können und daß zur vollen Auswertung der gemeſſenen Winkel die Kenntnis der Lage des betreffendes Schnittes unbedingt erforder- lich iſt. Wie noch öfters auseinanderzuſetzen Gelegenheit ſein wird, iſt es bei der mikro ſkopiſchen Mineraldiagnoſe eben mit einer Beſtimmungsmethode nicht getan. Es müſſen verſchiedene Methoden kombiniert werden, um zum Ziel zu führen. 5. Spaltbarkeit. Außer bei Kriſtall⸗ umriſſen iſt die Winkelmeſſung auch noch von Vorteil bei der Beſtimmung der Spaltbarkeit. Alle aniſotropen Körper, alſo alle Kriſtalle, beſitzen in gewiſſen Richtungen mehr oder minder ausgeprägte Kohäſionsminima, die durch das Schleifen des Präparates ſich als Spaltriſſe kundgeben. Man redet von vollfom- 48 mener Spaltbarkeit, wie beim Glimmer, wo haarſcharfe, ſchnurgerade und lang anhaltende Riſſe das Präparat durchſetzen; von weniger vollkommener Spaltbarkeit, wie bei der Horn— blende, wo die Riſſe ausſetzen; von deut⸗ licher Spaltbarkeit, wie beim Augit, wo die Riſſe nur im großen und ganzen noch einer Richtung folgen; und endlich von man⸗ gelnder Spaltbarkeit, wie bei Olivin oder Quarz, wo nur ganz unregelmäßige Riſſe das Präparat durchſetzen. Mit den Spaltriſſen ſind nicht zu verwechſeln die Gleitflächen, gewiſſe Zwillingsbildungen, ſowie ſchmale Ein⸗ lagerungen von fremden Subſtanzen (ſ. unter Einſchlüſſe). Bei Beobachtungen der Spaltriſſe iſt nicht zu verſäumen, ſich bei ſtärkerer Vergrößerung durch Heben und Senken des Tubus zu ver⸗ gewiſſern, ob die Spaltflächen auch ſenkrecht zur Tiſchebene gelagert find. Nur in die— ſem Falle hat die Beſtimmung des Spalt⸗ winkels Zweck, da in den anderen Fällen der Winkel je nach der Lage des Schnittes, die oft nicht bekannt iſt, wechſelt. 6. Mengenverhältniſſe. Um in einem Schliff eines Gemenges aus verſchiedenen Subſtanzen die Mengenverhältniſſe der einzel- nen Komponenten zu ermitteln, kann man verſchiedene Wege einſchlagen. Sie beruhen alle auf dem Satz, daß der Flächenan⸗ teil, den ein Beſtandteil in einem Schliff ein⸗ nimmt, proportional ſeinem Volumanteil am Aufbau des Gemenges iſt 16). Nach dem Vorgang von Deleſſe und Roſiwal zieht man über die Schlifffläche eine möglichſt lange, beliebig geſtaltete Linie (eine geometriſche Indikatrix) und mißt die Strecken aus, mit denen die Indikatrix die zu beſtimmende Komponente ſchneidet. Die Summe dieſer Strecken zur Länge der ganzen Indikatrix iſt gleich dem Volumanteil der Komponente im Gemenge. Die Genauigkeit nimmt mit wachſender Länge der Indikatrix zu. Man benutzt dazu vorteilhaft das S. 29 16) Nach einer Methode von A. Deleſſe, die beſonders von K. Endell ausgebaut wurde, pho— tographiert man mehrere einen guten Durchſchnitt des Schliffes gebende Stellen, beſtimmt auf einer guten Wage das Geſamtgewicht des photographi— ſchen Poſitivs, ſchneidet vorſichtig die zu beſtimmen— den Beſtandteile aus und wiegt wieder. Das Verhältnis der Gewichte ergibt das ee hältnis. ſchon beſchriebene Okular zur Meſſung der Mengenverhältniſſe (Abb. 23). 7. Einſchlüſſe. Da die Natur der Ein⸗ ſchlüſſe in Mineralien faſt nur mit Hilfe der Verſchiedenheit der Lichtbrechung gegen- über dem Einſchlußmineral feſtgeſtellt werden kann, ſo ſollen dieſe erſt nach Beſprechung der Beſtimmung der Lichtbrechung abgehandelt werden. II. Angenäherte Beſtimmung der Cichtbrechung unter dem Mikroſkop. 8. Allgemeines. Die Methoden, nach denen unter dem Mikroſkop die relative Lichtbrechung eines Körpers gegenüber einem anderen oder mit großer Annäherung auch der abſolute Brechungsindex eines Kör⸗ pers beſtimmt wird, beruhen auf den Er⸗ ſcheinungen der Totalreflexion an der Grenze zweier Medien verſchiedener Brechbarkeit, jo- wie auf der prismatiſchen Ablenkung und Farben⸗Zerſtreuung des Lichtes durch Kör⸗ per in andersbrechender Umgebung. 9. Cichtlinie. Wir betrachten zunächſt den Fall (der bei Dünnſchliffen immer vor⸗ liegt), wo in Kanadabalſam vom Brechungs⸗ index 1,54 Mineralien mit im allgemeinen vom Kanadabalſam verſchiedenen Brechungs⸗ exponenten eingebettet liegen 7). In Abb. 50 ſtößt ein Mineral vom Brechungsindex 1,60 mit einer ſenkrechten Grenzfläche gegen Ka⸗ nadabalſam vom Brechungsindex 1,54. Das Präparat wird von unten her mit dem kon⸗ vergenten Lichtbündel 1 2 3 4 beleuchtet. Die Brechung an der Ober- und Unterfläche des Präparats ſei zunächſt außer Acht gelaſſen. Während alle Strahlen des Lichtbündels 3 4 aus dem Kanadabalſam nach links oben mit einer kleinen Ablenkung zum Einfallslot 11 in das dichtere Mineral gebrochen werden, wird vom Lichtbündel 123. nur der Teil 12 aus dem Mineral in den Kanadabalſam übertreten und zwar mit einer Ablenkung vom Lote Il, weg. Der Strahl!!! ſtreifend, längs der Grenze Mineral — Balſam, gebrochen. Die Strahlen des Lichtbündels 2 3 17) Der Brechungsindex des Kanadabalſams ändert ſich beim Altern nur wenig. Vgl. W. Schaller and F. Calkins (Amer. Journ. Sc. (4) 1910. 29. 324.) und E. A. Wülfing (Sit- zungsbericht Akad. Wiſſ. Heidelberg. Math. ⸗natur⸗ wiſſenſchaftl. Kl. 1911, 1— 26. EEE: mit größerem Brechungswinkel werden wieder in das Mineral hinein total reflektiert. Das urſprünglich zentriſch-ſymmetriſch einge— tretene Lichtbündel wird ſomit das Präparat unſymmetriſch verlaſſen. Es findet alſo eine Summierung des Lichtes von der Grenze des Minerals zum ſchwächer brechenden Medium aus nach dem ſtärker brechenden Medium ſtatt. Stellt man auf die Bildebene B (Abb. 51) ein, ſo erſcheint die Grenze beider Körper ſcharf. Senkt man die Bildebene nach B“ durch Hebung des Mikroſkoptubus, jo tritt die Licht konzentration nach der Seite des ſtärker bre⸗ chenden Mediums dadurch in Erſcheinung, daß nach dieſer Seite beim Heben eine ſchmale helle Lichtlinie ſich bewegt. Die umgekehrte Erſcheinung, das Wandern dieſer Lichtlinie nach dem ſchwächer brechenden Medium erfolgt dann beim Senken des Tubus bzw. Heben der Bildebene des Okulares nach B“. Beſon⸗ ders deutlich wird die Erſcheinung, wenn man nur ganz enge Strahlenkegel verwendet, alſo entweder die Irisblende unter dem Kondenſor eng zuzieht, oder, was denſelben Effekt hat, den Kondenſor ſtark ſenkt. Der Vorteil der Beobachtung dieſer Licht- linie liegt auf der Hand: bei einigermaßen ſenkrechter Grenze irgend eines Minerals gegen den Kanadabalſam kann aus ihr ſofort geſchloſſen werden, ob der Brechungsindex des Minerals höher oder niedriger als 1,54 iſt. Ebenſo können natürlich andere bekannte Mineralien, wie Quarz, Feldſpat uſw., als Vergleichsobjekte benutzt werden s). Man merke ſich die Gedächtnisregel: Beim Heben des Tubus oder Drehen der Mifro- meterſchraube im Sinne des Uhrzeigers wan⸗ dert die Lichtlinie in der Richtung nach dem ſtärker lichtbrechenden Medium zu. 10. Einbettungs methode. Die Erſchei⸗ nung der Lichtlinie, wie überhaupt die Total- reflexion, verſchwindet naturgemäß in dem Moment, wo ein Mineral denſelben Bre⸗ chungsindex hat, wie Kanadabalſam. Genau wie ein Tropfen Waſſer in Waſſer verſchwin⸗ 18) Dieſe Erſcheinung der Lichtlinie iſt in der mikroſkopiſchen Petrographie unter dem Namen Beckeſche Linie bekannt. Nachdem früher ſchon beſonders O. Maſchke auf ihre diagnoſtiſche Bedeu⸗ tung aufmerkſam gemacht, hat F. Becke 1893 ſie als ein bequemes und förderliches Hilfsmittel be- ſonders auch bei der Beſtimmung der Feldſpäte empfohlen. So iſt dieſe Methode jetzt eine der am häufigſten gebrauchten Methoden in der mifro- ſkopiſchen Geſteinskunde. Vergl. ihre theoretiſche Abteilung von K. Schloßmacher (Centralbl. f. Min. 1914. Heft 3). Leiß⸗Schneiderhöhn, Unterſuchung kriſtalliſierter Körper. 49 det, ſo werden auch die Grenzen des Mine— rals im Kanadabalſam nicht mehr zu ſehen ſein. Haben wir alſo ein Mineral von unbe— kanntem Brechungsindex und ſteht uns eine Reihe von Flüſſigkeiten mit verſchiedenen be— kannten Brechungsexponenten zur Verfügung, jo können wir den Index des Minerals da— durch ermitteln, daß wir es nacheinander in den verſchiedenen Flüſſigkeiten beobachten, bis ſeine Grenzen in einer derſelben ver- ſchwinden. Der Wert des Brechungsvermögens dieſer Flüſſigkeit ſtimmt dann mit dem des 4 Abb. 50. Strahlengang an der Grenze zweier Medien mit verſchiede⸗ nem Brechungsindex bei Beleuchtung mit einem konvergentem Lichtbün⸗ del zur Demonſtrierung der Entſtehung der f 0 Lichtlinie. d Ar Abb. 51. Lichtlinie an der Grenze zweier Medien bei gehobenem (8) und ge⸗ ſenktem Tubus (B“). Minerals überein. Dieſe Einbettungsmethode wurde 1898 für mineralogiſche Objekte von J. L. C. Schröder van der Kolk ausge⸗ arbeitet und wird auch wohl jetzt nach ihm be⸗ nannt. Um das Herumſuchen unter den Flüſ— ſigkeiten zu vermeiden und bei einer, die nicht denſelben Index hat wie das Mineral, ſofort angeben zu können, ob ihr Index größer oder kleiner iſt, kann man die Beckeſche Licht⸗ linie anwenden. Da es ſich aber hier ge— wöhnlich um mehr oder minder rund— liche loſe Körner handelt, bedient man ſich nach dem Vorſchlag von Schröder v. d. Kolk der ſchiefen Beleuchtung, indem man entweder mit den Fingern oder mit einer Blende zwiſchen Spiegel und Kondenſor einen Teil des eintretenden Lichtes abblendet. Der ſchematiſche Gang der Strahlen iſt in den Abb. 52— 54 dargeſtellt für ein Korn von größerem, für eins von gleichem und für eins von kleinerem Brechungsindex, wie ihn die benützte Flüſſigkeit aufweiſt. In den Fäl⸗ 4 50 len der Abb. 52 und Abb. 54 gelangt ein Teil des Lichtes nicht ins Objektiv. Je nach der rela⸗ tiven Brechbarkeit des Kornes zur Flüſſig⸗ keit wird alſo entweder der dem Schieber ab⸗ gewandte oder der dem Schieber zugewandte Rand des Kornes im Bilde verdunkelt (ſiehe Abb. 52 und Abb. 54 oben). Die Regel lautet: Bild des Schiebers und Randverdunkelung des Kornes auf ent— 05 I U & E 5 Ei Abb. 53. cen ien bung on d bei einem Körnchen in Umgebung von dem⸗ ſelben Brechungsindex bei ſchtefe r Be⸗ leuchrung. Darüber Bild im Geſichtsfeld. Abb. 52. Schematiſcher Strahlengang bei einem Körnchen in ſchwacher licht⸗ brechender Umgebung bei ſchiefer Be⸗ leuchtung. Darüber Bild im Geſichtsfeld. gegen geſetzter Seite; Brechungsindex des Kornes höher als der der Flüſſigkeit; Bild des Schiebers und Randverdunkelung des Kor- nes auf derſelben Seite; Brechungsindex des Kornes kleiner als der der Flüſſigkeit. Bei der Beobachtung in einfarbigem Licht (etwa bei Beleuchtung mit einer Natrium- flamme oder mit den auf S. 27— 28 beichriebe- nen Monochromatoren) wird im Falle der Abb. 53, wo der Brechungsindex des Kornes für die benutzte Wellenlänge des Lichtes genau gleich der der Flüſſigkeit iſt, der Rand des Kornes vollkommen verſchwinden. Im weißen Licht verſchwinden die Ränder aber nie vollſtändig; vielmehr zeigt ſich ſtets ein verſchiedenfarbiger Saum. Die dem Schieber ab gewandte Seite iſt blau, die zu gewandte Seite rötlich. Dies beruht darauf, daß die Flüſſigkeiten eine an⸗ dere und zwar faſt immer eine ſtärkere Diſperſion (Farbenzerſtreuung) des Lichtes haben, als die feſten Körper. Für dieſe Beſtimmungen ſind verſchie⸗ dene Immerſionsflüſſigkeiten vorge⸗ ſchlagen worden. Am brauchbarſten werden ſolche ſein, welche von konſtanter chemiſcher Zuſammenſetzung ſind, die Mineralien nicht angreifen und außerdem gegenüber Luft und Licht möglichſt unveränderlich ſind. Am mei⸗ ſten hat ſich folgende Zuſammenſtellung von Schröder v. d. Kolk bewährt: Abb. 54. Schematiſcher Strahlengang bei einem Körnchen in ſtarker licht⸗ brechender Umgebung. Darüber Bild im Geſichtsfeld. Waſſer 1.333 Tetrachlorkohlenſtoff 1. 466 Sue ernöl ar Xylol 1.495 Benzol 12503 Zedernholzöl 1316 Monochlorbenzol 1.522 Athylenbromid 1.536 Nelkenöl 1.544 Kanadabalſam 1.54 Nitrobenzol 1.554 Monobrombenzol 1.561 Bromoform 1.588 Zimtöl 1.605 Monojodbenzol 1.621 G⸗Monochlornaphthalin 1.639 ⸗Monobromnaphthalin 1.658 Jodmethylen 1.740 Schwefel in Jodmethylen 1.83 Schwefel, geſchmolzen bei 110° 1295 Die Brechungsexponenten beziehen ſich bis auf den letzten auf eine Zimmertempera⸗ tur von 15°. Neuerdings empfiehlt H. E. Mervin (Journ. Washingt. Acad. 1913. 3. 35— 40) als beſonders hoch lichtbrechende Flüſſigkeiten: Miſchungen von (HJ, SNJ,, SCI, und Schwefel (1,76— 1,87 für Na-Licht bei 200); Löſungen von As: Sz in Me- thylenjodid (1,76— 2,28); Miſchungen von amor— phem Schwefel mit As 8s in Alkohol zerrieben (2,1 2,6). Man verwahre die Flüſſigkeiten in klei⸗ nen Fläſchchen mit Glasſtöpſel und daran an— geſchmolzenen Glasſtäbchen in Käſten gegen das Licht geſchützt auf. Die Brechungsindizes der Flüſſigkeiten, die von Zeit zu Zeit nachzu⸗ prüfen ſind, beſtimmt man am ſchnellſten und genaueſten mit Hilfe des Totalreflektometers von Bertrand oder Abbe (ſ. S. 41 — 44). Dieſe Einbettungsmethode iſt von außer- ordentlicher Bedeutung für die Unter⸗ ſuchung kleinſter Mineralbruchſtücke aus Sanden, Tonen, vulkaniſchen Aſchen uſw. Auch bei der Unterſuchung von im Laborato— rium hergeſtellten Kriſtallen hat ſie ſich ſehr bewährt. Hierbei iſt beſonders darauf zu ach— ten, daß die zu verwendenden Flüſſigkeiten die betreffenden Körper nicht angreifen. Schröder v. d. Kolk hat in ſeinen „Tabellen zur mikroſkopiſchen Beſtimmung von Minera⸗ lien nach ihrem Brechungsindex“, 2. Aufl. Wiesbaden 1906, über 200 Mineralien ange ordnet. Dort find auch eingehende Anweiſun⸗ gen zum Gebrauche der Methode gegeben, ins⸗ beſondere auch zur Beſtimmung der Bre— chungsindizes doppelbrechender Mineralien, auf die hier nicht eingegangen werden kann. II. Relief und Chagrin. Die zuvor beſchriebenen Erſcheinungen der Lichtlinie an ſenkrechten Grenzen verſchieden brechender Medien, ſowie der dunklen und farbigen Rän⸗ der an prismatiſch geformten Körnern in einem Medium anderer Brechbarkeit bzw. Diſperſion geben uns nun die Erklärungen für eine Anzahl Erſcheinungen, die jeder Geſteins⸗ dünnſchliff unter dem Mikroſkop darbietet und die mit dem Namen Chagrin und Relief der Dünnſchliffe bezeichnet werden. Engt man den Beleuchtungskegel ein durch Zuziehen der Irisblende oder Senken des Kondenſors, ſo ſcheinen die verſchiedenen Mineralien eines Dünnſchliffes nicht mehr in einer Ebene zu liegen. Einige heben ſich aus der Fläche her⸗ aus, andere ſcheinen darunter zu liegen, wie⸗ der andere verſchwinden faſt ganz, als ob an ihrer Stelle Löcher im Präparate wären. Dieſe Erſcheinung bezeichnet man als das Relief des Schliffes. Sehen wir genauer zu, jo er⸗ kennen wir beſonders beim Heben und Senken des Tubus an allen Grenzflächen zweier Mine⸗ ralien die Beckeſche Lichtlinie und zwar wan⸗ 51 dert ſie beim Heben des Tubus ſtets zu dem Mineral hin, das ſcheinbar höher liegt und von dem Mineral weg, das ſcheinbar tiefer liegt. Erſteres hat alſo einen höheren Bre— chungsindex, als ſeine Umgebung, letzteres einen geringeren. Das Relief beruht ſomit auf einer optiſchen Täuſchung, die durch die verſchiedene Lage der Lichtlinie hervorgerufen iſt, die uns aber, wenn wir uns ihre Ent- ſtehung vor Augen halten, ſchon bei der flüch— tigen Durchmuſterung eines Schliffes gute Dienſte leiſten kann. Betrachten wir nun die herausgehobenen oder vertieften Mineralien genauer, am beſten bei eingeengtem Beleuch- tungskegel und ſtärkerer Vergrößerung, jo ge— wahren wir, daß ihre Oberfläche ein eigen— tümliches rauhes Ausſehen hat. J. Thoulet hat dieſes mit der Oberfläche des Chagrin— leders verglichen und man pflegt es direkt das Chagrin eines Minerals im Dünnſchliff zu nennen. Im Gegenſatz zu dieſen Mineralien ſind die, welche, wie oben erwähnt, gar nicht aus der Ebene des Schliffes durch ein beſon— deres Relief herausragen, ſondern wie Löcher im Präparat ausſehen, vollſtändig klar und durchſichtig. Stößt ein ſolches Mineral irgend- wo an Kanadabalſam an, und prüfen wir ſeine relative Lichtbrechung mit Hilfe der Lichtlinie, ſo macht es uns große Mühe, die Ränder überhaupt zu ſehen, und wir müſſen den Strahlengang ſchon ſehr ſtark einengen, um wenigſtens eine ganz ſchwache Lichtlinie zu ſehen. Es iſt kein Zweifel: dieſes Mine⸗ ral hat faſt genau denſelben Brechungsindex wie Kanadabalſam. Jedes Mineral und damit der ganze Dünnſchliff, erhält durch den Schleifprozeß eine bei ſolchen Vergrößerungen deutlich ſichtbare, rauhe Oberfläche, die mit Kanadabalſam ausgefüllt iſt; nur verſchwin⸗ den dieſe Rauhigkeiten vollſtändig, wenn Mi⸗ neral und Balſam dieſelbe Lichtbrechung haben, da die Lichtſtrahlen dann unabgelenkt von einem ins andere übergehen. Bei einer Verſchiedenheit des Brechungsvermögens aber wirken kleine Stückchen des Minerals infolge dieſer Rauhigkeit als prismatiſche Körper, bre⸗ chen ſtellenweiſe die Strahlen ſehr ſchief weg oder totalreflektieren ſie gar, ſodaß ſie beim Austritt des Lichtes nicht ins Objektiv ge— langen; der Effekt iſt dann der unregelmäßige Austritt des Lichtes und das „chagrinöſe“ Ausſehen. 12. Optiſche Erſcheinungen an Ein- ſchlüſſen. Auf verſchiedener Brechbarkeit be— ruht auch die Beobachtung der Inhomogenitä⸗ 52 ten und Diskontinuitäten der Kriſtallſubſtanz. Als Inhomogenitäten im engeren Sinne be⸗ zeichnet man die Erſcheinungen, die auf einem Wechſel der chemiſchen Zuſammenſetzung der eigentlichen Kriſtallſubſtanz beruhen. Ihre Beſprechung gehört nicht hierher, ebenſo nicht die Behandlung der ſtofflichen Natur der Einſchlüſſe, d. h. der Fremdkörper in der eigentlichen Kriſtallſubſtanz, der mechaniſch beigemengten Körper, die man als Einſchlüſſe oder nach einer Bezeichnungsweiſe von H. Roſenbuſch als „Gäſte“ des Kriſtalls bezeich⸗ net, der die Rolle des „Wirtes“ ſpielt (ge⸗ naueres darüber z. B. Wülfing I. 1, 372 bis 394). Dagegen ſei kurz auf die optiſchen Er⸗ ſcheinungen der Einſchlüſſe eingegangen. Es ſind meiſt Flüſſigkeiten, Mutterlauge oder wäſ⸗ ſerige Löſungen oder Gaſe, die ſich als Ein— ſchlüſſe vorfinden, die alſo einen erheblich ge— ringeren Brechungsindex beſitzen, als das be- treffende Mineral. Deshalb ſind ſie bei Ein⸗ ſtellung des Objektivs auf die Mitte des Ein⸗ ſchluſſes ſtets von einem breiten dunklen Rand begrenzt, der durch Brechung und Totalreflek⸗ tion hervorgebracht iſt. Bei den Einſchlüſſen feſter Körper anderer Mineralien uſw. kommt der relative Brechungsindex zum Ein⸗ ſchlußmineral in Betracht. Die Erſcheinungen ſind dann dieſelben, wie ſie oben beſchrieben wurden. Fünfzehntes Kapitel. Die optiſchen Verhältniſſe in kriſtalliſierten Körpern. I. Gewöhnliches Licht. Das gewöhn⸗ liche Licht beſteht aus Atherſchwingungen, die ſenkrecht zu feiner Fortpflanzungsrichtung OA N, 55 £ 4 0 7 * dA 5 a Abb. 55. FJortpflanzungsrichtung OA und Schwingungsrichtungen a Oa, b Ob, Oc, dO d bei gewöhnlichem Licht. Abb. 56. Fortpflanzungs⸗ richtung OA u. Schwin⸗ gungsrichtung a O a bei linear polariſiertemsLicht. (Abb. 55) erfolgen (transverſale Wellen⸗ bewegung). Dieſe Schwingungen erfolgen beim gewöhnlichen Licht nacheinander in den un⸗ endlich vielen zur Fortpflanzungsrichtung ſenkrechten Richtungen mit unmeßbarer Ge- ſchwindigkeit des Wechſels (a Oa, bOb, cOc, uſw.). 2. Polariſiertes Licht. Wenn die Schwingungen nur in einer und zwar immer in derſelben Richtung ſenkrecht zur Fortpflan⸗ zungsrichtung (a Oa, Abb. 56) erfolgen, ſo nennen wir dieſes Licht linear polariſier⸗ tes Licht (Abb. 56). Wie ein Farbenblinder ohne künſtliche Hilfsmittel die Farben nicht voneinander un⸗ terſcheiden kann, ſo beſitzt das normale menſch⸗ liche Auge auch nicht ohne weiteres die Fähigkeit, das polariſierte von gewöhnlichem Licht zu unterſcheiden. Erſt durch beſondere Vorrichtungen, wie Reflexion unter gewiſſen Winkeln an Spiegeln oder Glasplatten, oder mit Hilfe von doppelbrechenden Kriſtallen ſind wir in der Lage, aus den hierbei ent⸗ ſtehenden Erſcheinungen auf die Anweſenheit und den genaueren Schwingungszuſtand des polariſierten Lichtes zu ſchließen. Hieraus er⸗ gibt ſich umgekehrt die große Bedeutung, die das polariſierte Licht zur ß nung doppelbrechender Kriſtalle und zur genaueren Beſtimmung ihrer Eigenſchaften hat. 3. Doppelbrechung. Eine Eigenſchaft, die beim optiſchen Studium vieler Kriſtalle uns auffällt, iſt ihre Doppelbrechung, d. h. die Fähigkeit, einen eiußß Strahl gewöhnlichen Lichtes im all— gemeinen in zwei Strahlen zu zer⸗ d 4 Abb. 58. Rhomboeder⸗ Spaltungsform des Abb. 57. Brechung eines Lichtſtrahls durch eine plan⸗ parallele Platte eines einfach Kalkſpats. brechenden Körpers. legen. — Fällt auf einen einfach brechen⸗ den Körper, z. B. auf eine Flüſſigkeitsſchicht oder eine Glasplatte, ein Lichtſtrahl ab ſchief auf, ſo wird er von ſeiner Richtung zwar abgelenkt, pflanzt ſich aber innerhalb der Platte noch als einfacher Lichtſtrahl fort (Abb. 57 be). Beim Austritt aus der Platte wird er wieder abgelenkt und zwar um denſelben Winkel wie beim Eintritt, nur nach der anderen Seite. Ganz anders verhalten ſich die doppeltbrechenden Kriſtalle. Läßt man er Abb. 59. Doppelbrechung im Kalkſpat. auf ein Spaltungsrhomboeder von Kalkſpat (Abb. 58) einen Lichtſtrahl fallen, indem man z. B. ein Stück ſchwarzes Papier mit einer feinen Offnung darin auf die eine Seite legt, und beobachtet dieſe Offnung von der anderen Seite her, ſo erſcheint ſie doppelt (Abb. 59). 4. Art der Lichtbewegung in einfach⸗ brechenden Körpern. Durch Beobachtung und Meſſung an einfachbrechenden Körpern kam man zu der Erkenntnis, daß die Ablenkung des Lichtes beim Eintritt von einem in einen anderen Körper ſtets nach einem beſtimmten Geſetz, dem Snelliusſchen Brechungsgeſetz, erfolgt. Dieſes Brechungsgeſetz ſagt aus: die Geſchwindigkeit des Lichtes in Luft, dividiert durch die Geſchwindigkeit des Lichtes in einem anderen Körper iſt gleich einer konſtanten Größe, die für den betr. Körper charakteriſtiſch iſt und als Brechungsindex oder Bre— chungsexponent bezeichnet wird. Wenn alſo der Brechungsexponent des Waſſers gleich 1,33 iſt, ſo bedeutet dies, daß die Geſchwindig— keit des Lichtes in Luft zu der im Waſſer ſich wie 1,33 zu 1 verhält, daß alſo das Licht im Waſſer, wie in den weitaus meiſten Körpern, eine geringere Geſchwindigkeit hat, wie in Luft oder im leeren Raum. 5. Art der Lichtbewegung in doppel- brechenden Körpern. Prüfen wir, wie die Fortpflanzung der beiden Strahlen im Kalk⸗ ſpat erfolgt, ſo ſehen wir, daß der eine Strahl 53 a“ o (Abb. 59) dem Snelliusſchen Brechungsge— ſetz folgt. Wir nennen ihn den ordentlichen Strahl. Dagegen folgt der andere Strahl a“ e dieſem Geſetz nicht mehr; er wird der extra— ordinäre oder außerordentliche Strahl genannt. Es haben ſomit beide Strahlen auch eine verſchiedene Geſchwindigkeit, und zwar iſt im Kalkſpat die Geſchwindigkeit des außerordent— lichen Strahles größer, ſein Brechungsexpo— nent alſo kleiner, als beim ordentlichen Strahl. Analog verhalten ſich alle doppelbrechen— den Körper. In ihnen pflanzen ſich im all— gemeinen in jeder Richtung zwei Lichtbewe— gungen fort, die verſchiedene Geſchwindigkei— ten beſitzen. 6. Polarifation durch Doppelbre⸗ chung. Weitere Unterſuchungen ergaben nun, daß dieſe beiden in doppelbrechenden Körpern aus einem einzigen gewöhnlichen Lichtſtrahl entſtehenden Strahlen kein gewöhnliches Licht mehr ſind, wie es der einfallende Strahl aal war, ſondern daß ſie beide linear polari⸗ tert ind d h nur noch in je einer Die Fortpflanzungsrichtung in ſich enthaltenden Ebene ſchwingen. Die Shwingungsebe- nen des ordentlichen und außeror⸗ Abb. 60. Schwingungsrichtungen des ordentlichen (o) und außerordentlichen (e) Strahles im Kalkſpat. dentlichen Strahles ſtehen ſtets auf- Einander ſenkrecht, wie es Abb. 60 andeutet. 7. Charakteriſierung des linear po⸗ lariſierten Lichtes. Wir beſchrieben linear polariſiertes Licht als nur in einer Ebene ſchwin⸗ gend. Die durch J. C. Maxwell und H. Hertz begründete elektromagnetiſche Lichttheo— rie unterſcheidet bei dem polariſierten Licht meh— rere Vektoren, d. h. Richtungen, in denen ſich ges _ wiſſe phyſikaliſche Zuſtandsgrößen periodiſch ändern. Für die elementare Beſchreibung der Polariſationserſcheinungen, wie ſie hier gege— ben werden ſoll, iſt es unnötig, darauf weiter 54 einzugehen. Für dieſe Ableitung genügt es vielmehr, nur eine Vektorgröße zu berück⸗ ſichtigen, deren Wahl zudem noch gleichgültig iſt. Nach dem Vorgang von Fresnel, dem Begründer der Elaſtizitätstheorie des Lich— tes, wählen wir hierzu den ſogen. Fres⸗ nelſchen Elaſtizitätsvektor, dem nach der elektromagnetiſchen Lichttheorie der elek— triſche Vektor entſpricht. Er wird als die Schwingungsrichtung linear polariſierten Lichtes bezeichnet. Von ihr ſoll fortan allein zur Charakteriſierung des polariſierten Lich— tes die Rede ſein, und zwar ſollen bei einachſi⸗ gen Körpern mit a reſp. e die Schwingungs⸗ richtungen des ſchnelleren reſp. langſameren Strahles, bei zweiachſigen Körpern mit a, b, e die Schwingungsrichtungen des ſchnellſten, mittleren und langſamſten Strahles bezeichnet werden. Nach dieſer Definition können wir nun die Schwingungsrichtungen im Kalkſpat feſt⸗ legen. Es ſchwingt der außerordentliche Strahl e immer in der Ebene, die durch den einfallenden Strahl und die kri⸗ ſtallographiſche Hauptachſe des Kalk- ſpats beſtimmt iſt, in dem ſogenannten Hauptſchnitt, der ordentliche Strahl o ſchwingt ſtets ſenkrecht zum Haupt⸗ ſchnitt. 8. Indexfläche. Um uns ein Bild von den optiſchen Verhältniſſen in einem Kör⸗ per, z. B. in Waſſer oder in Glas oder auch in den verſchiedenen Kriſtallen zu verſchaf⸗ ſen, können wir den oder die Brechungsexpo⸗ nenten in verſchiedenen Richtungen meſſen und uns ihre Größe von einem Punkt aus nach den betr. Richtungen aufgetragen denken. Verbinden wir alle Endpunkte dieſer Strecken, ſo erhalten wir ein körperliches Gebilde, das man als Indexfläche bezeichnet, deren Ra⸗ dien alſo die Brechungsexponenten in der be⸗ treffenden Richtung darſtellen. Je nach der Beſchaffenheit der Indexfläche können wir nun alle Körper, insbeſondere die kriſtalliſierten Körper in drei Gruppen einteilen, nämlich: in I. optiſch iſotrope Korper 2 9 ſtalle mit einer Achſe Der ioo oder einachſige Kriſtalle,, ohne Achſe der Iſotropie oder op⸗ tiſch zweiachſige Kriſtalle. 9. Iſotrope und aniſotrope Körper. Man bezeichnet homogene Körper, in denen jede Richtung jeder anderen phyſikaliſch gleich- berechtigt iſt, als iſotrop. Homogene Kör⸗ per, die in verſchiedenen Richtungen verſchie⸗ denes phyſikaliſches Verhalten zeigen, nennt man aniſotrope Körper. Zu den aniſo⸗ tropen Körpern gehören alle Kriſtalle. Sie verhalten ſich aber in bezug auf verſchiedene phyſikaliſche Energiearten verſchieden, ſodaß z. B. für ſtrahlende Energie ein Kriſtall des regulären Syſtems iſotrop iſt, gegenüber Druck oder Schlag iſt er aber immer aniſotrop (er iſt ſpaltbar). Näheres über das allge— meine phyſikaliſche Verhalten der kriſtalli⸗ ſierten Körper ſ. Th. Liebiſch: Grundriß der phyſikaliſchen Kriſtallographie 1896. 10. Einteilung der kriſtalliſierten Körper nach der Symmetrie ihrer op- tiſchen Eigenſchaften. Die 32 nach der geometriſchen Symmetrie unterſcheidbaren Klaſſen kriſtalliſierter Körper ordnen ſich nach der Symmetrie ihrer optiſchen Eigenſchaften in zehn Klaſſen, wie folgende Überſicht zeigt, die teils dem Grundriß der phyſikaliſchen Kriſtallographie, 1896, von Th. Liebiſch entnommen iſt, teils der Darſtellung von Th. Liebiſch in ſeinem Kolleg. Einteilung der Kriftalle nach optiſchen Eigenſchaften (nach Th. Ciebiſch) A. Optiſch iſotrope Kriſtalle. In jedem homogenen Kriſtall des re— gulären Syſtems ſind alle Richtungen in optiſcher Beziehung gleichberechtigt. I. Ohne Drehungsvermögen. Einfach brechend; für optiſche Vorgänge iſt jede Gerade eine Achſe der Iſotropie und jede Ebene eine Symmetrieebene. [Flußſpat, Steinſalz.] II. Mit Drehungsvermögen. Doppel- brechend; noch iſt jede Gerade eine Achſe der Iſotropie, aber Symmetrie⸗ ebenen ſind nicht vorhanden. [Natriumchlorat.] B. Optiſch aniſotrope Kriſtalle mit einer Achſe der Iſotropie oder optiſch einachſige Kriſtalle. In jedem Kriſtall des hexagona⸗ len, trigonalen und tetragonalen Syſtems ſind die gegen die kriſtallo— graphiſche Vertikalachſe e unter dem— et a e 8 ſelben Winkel geneigten Richtungen op- tiſch gleichberechtigt, jo daß c eine Achſe der Iſotropie iſt. Jede auf c jenf- recht ſtehende Gerade iſt eine zwei— zählige Symmetrieachſe. Eine Tren- nung der 3 Syſteme kann auf optiſchem Wege nicht vorgenommen werden. Wohl aber laſſen ſich in jedem Syſtem wieder zwei Klaſſen unterſcheiden: III. Ohne Drehungsvermögen. Jede durch die Achſe der Iſotropie hindurch⸗ gehende Ebene und die auf dieſer Achſe ſenkrechte Ebene iſt eine Symmetrie⸗ ebene. [Kalkſpat, Turmalin.) IV. Mit Drehungsvermögen. Es iſt keine Symmetrieebene vorhanden. Die Rich⸗ tung der Achſe der Iſotropie iſt durch ein optiſches Drehungsvermögen aus⸗ gezeichnet. [Ouarz, Zinnober.) C. Optiſch aniſotrope Kriſtalle ohne Achſe der Iſotropie oder zweiachſige Kriſtalle. V. Rhombiſche Kriſtalle ohne Dre⸗ hungs vermögen. Es Sind bei op⸗ tiſchen Vorgängen ſtets drei aufein⸗ ander ſenkrechte Symmetrieebenen vor⸗ handen, deren 3 Schnittgeraden zwei— zählige Symmetrieachſen ſind. lo-Schwefel, Aragonit.] VI. Rhombiſche Kriſtalle mit Dre⸗ hungs vermögen. Es iſt keine Sym⸗ metrieebene mehr vorhanden, wohl aber noch die drei aufeinander ſenk⸗ recht ſtehenden zweizähligen Symme⸗ trieachſen. [Bitterſalz.] VII. Monokline Kriftale ohne Dre⸗ hungs vermögen. Es iſt für ſie eine Symmetrieebene und eine zu ihr ſenk⸗ rechte, zweizählige Symmetrieachſe cha⸗ rakteriſtiſch. [Gips, Orthoklas.!] VIII. Monokline Kriſtalle mit Dre⸗ hungs vermögen. Keine Symmetrie⸗ ebene mehr, nur noch die zweizählige Symmetrieachſe. [Rohrzucker, Wein⸗ jäure.] IX. Trikline Krijtalle ohne Drehungs⸗ vermögen. Es exiſtiert weder eine Symmetrieebene noch eine Symmetrie⸗ achſe, nur eine zentriſche Symmetrie iſt noch vorhanden. Kaliumdichromat.] X. Trikline Kriſtalle mit Drehungs⸗ vermögen. Völlig unſymmetriſch. — [Plagioklaſe, Die ungrad bezifferten Klaſſen I, III, V, VII, IX enthalten die Kriſtalle ohne Drehungsvermögen, oder die optiſch inaktiven Körper. Dieſe bilden die weit⸗ aus größte Mehrzahl der kriſtalliſierten Kör⸗ per und herrſchen bei den natürlich vorkom— menden Mineralien, mit Ausnahme von Quarz, Zinnober und Bitterſalz aus⸗ ſchließlich. Deshalb ſollen ſie ausführlich im Zuſammenhang behandelt werden. Daran ſchließt ſich dann ein kurzer Ab- ſchnitt über das Verhalten der anderen Klaſ— ſen, der Kriſtalle mit Drehungsvermögen oder der optiſch aktiven Körper. a) Kriſtalle ohne Drehungsvermögen oder optiſch inaktive Kriſtalle. 11. (A I) Gptiſch iſotrope Körper. In optiſch iſotropen, inaktiven, homogenen Kör- pern ſind alle Richtungen in optiſcher Beziehung gleich berechtigt. Deshalb it das Brechungsvermögen nach allen Rich— tungen auch dasſelbe, jede Richtung iſt eine Achſe der Iſotropie, in jeder Richtung pflanzt ſich nur ein Strahl gewöhnlichen, nicht pola⸗ riſierten Lichtes fort: Die Indexfläche die⸗ ſer Körper iſt alſo eine Kugel. Oßptiſch iſotrop ſind Gaſe, die meiſten Flüſſig⸗ keiten, amorphe feſte Körper (im ſpannungsfreien Zuſtand), z. B. Glas, und die Kriſtalle des regulären Syſtems, z. B. Steinſalz, Flußſpat, Diamant. 12. Optiſch aniſotrope Körper. In optiſch aniſotropen Körpern ſind nur ge— wiſſe Richtungen optiſch einander gleich berech⸗ tigt. Die hierher gehörigen Stoffe zerlegen im allgemeinen einen auf ſie auffallenden Lichtſtrahl in zwei, die ſenkrecht aufeinander polariſiert ſind und die ſich mit verſchiedener Geſchwindigkeit und in verſchiedenen Richtun⸗ gen durch den Körper hindurchbewegen. Op⸗ tiſch aniſotrope Körper ſind die Kriſtalle des hexagonalen, trigonalen, tetragonalen, rhom⸗ biſchen, monoklinen und triklinen Kriſtall⸗ ſyſtems. Unter den optiſch aniſotropen Kriſtallen unterſcheidet man zwei Arten: 13. (B III) Gptiſch aniſotrope Kriſtalle mit einer Achſe der Iſotropie oder ein⸗ achſige Kriſtalle. Sie beſitzen eine Achſe der Iſotropie, d. h. eine optiſche und kriſtallo⸗ graphiſche Symmetrieachſe, die die Schnitt gerade von optiſchen und kriſtallographiſchen Symmetrieebenen iſt, und in deren Richtung ſich nur eine Welle fortpflanzt, alſo keine Dop— 56 pelbrechung ſtattfindet. Unterſucht man die beiden in allen anderen Richtungen durch Doppelbrechung entſtandenen Strahlen, ſo findet man, daß einer von ihnen, der or⸗ dentliche Strahl, alle hierher gehörigen Fri» ſtalle in jeder beliebigen Richtung mit der⸗ ſelben Geſchwindigkeit durchläuft, daß alſo ſein Brechungsindex in jeder Richtung der näm⸗ liche iſt und daß ſomit die Inderfläche des ordentlichen Strahles dieſelbe iſt, wie die Indexfläche der iſotropen Körper, nämlich eine Kugel. Der andere Strahl beſitzt eine von der Richtung geſetzmäßig abhängige, va⸗ riable Geſchwindigkeit und ſomit auch in jeder Richtung einen verſchiedenen Brechungsex⸗ ponenten. Die Brechungsexponenten ſind im allgemeinen größer oder kleiner, wie der eee e eee ei, gen Richtung fällt der Wert des außer⸗ ordentlichen mit dem Wert des vrdent- lichen Brechungsindex zuſammen. Dieſe Rich⸗ 5 Abb. 61. Durchſchnitt durch Abb. 62. Durchſchnitt durch die Indexfläche eines optiſch die Indexfläche eines optiſch negativen einachſigen poſitiven einachſigen Kriſtalls. Kriſtalls. tung heißt optiſche Achſe. Sie fällt mit der Achſe der Iſotropie zuſammen. In ihr findet alſo keine Doppelbrechung ſtatt, jeder Strahl wird in dieſer Richtung nur ein⸗ fach gebrochen. Die optiſche Achſe fällt bei den hierher gehörigen Kriſtallen des hexagonalen, trigonalen und tetragonalen Syſtems zuſam⸗ men mit der in dieſen Syſtemen auf⸗ tretenden kriſtallographiſchen Haupt⸗ achſe. In allen anderen Richtungen, die gegen dieſe Achſe geneigt ſind, treten ans dere Werte der außerordentlichen Bre⸗ chungsindizes auf und zwar haben alle Strahlen, die mit der Achſe gleiche Winkel einſchließen, auch denſelben außerordentlichen Brechungsindex. Je größer der Winkel der Strahlen gegen die Hauptachſe iſt, um ſo größer wird die Differenz des außerordent- lichen Brechungsexponenten gegen den Wert des ordentlichen. Das Maximum wird ſomit erreicht für alle Strahlen in der Ebene jenf- recht zur optiſchen Achſe. Konſtruieren wir alſo nach gemeſſenen Werten die Index- fläche der außerordentlichen Strah— len, jo erhalten wir einen Umdrehungskör⸗ per, deſſen Umdrehungsachſe die optiſche Achſe oder Achſe der Iſotropie iſt, deren nume⸗ riſcher Wert gleich dem Durchmeſſer der als Kugel erkannten Indexfläche der or⸗ dentlichen Strahlen iſt. Da die Werte mit wachſender Neigung gegen die Haupt- achſe kontinuierlich ab- oder zunehmen, iſt die Geſtalt der außerordentlichen Index⸗ fläche die eines Rotationsellipſoids, und die vollſtändige Indexfläche eines einachſigen Kriſtalls beſteht alſo aus zwei Flächen, einer Kugel und einem Rotationsellipſoid, die ſich an zwei Punkten berühren, deren Verbin⸗ dungslinie die Achſe der Iſotropie iſt. Dabei können zwei Fälle eintreten: ſämtliche Bre⸗ chungsexponenten der außerordentlichen Strah- len außerhalb der Achſe ſind kleiner, wie die des ordentlichen Strahles. Dann umſchließt die Kugel der Indexfläche das Ellipſoid (Abb. 61). Kriſtalle dieſer Art werden optiſch negative Kriſtalle oder Krikaller ß negativem Charakter der brechung genannt (z. B. Kalkſpat). Das Um⸗ gekehrte iſt der Fall bei optiſch poſitiven Kriſtallen oder Kriſtallen mit poſi⸗ tivem Charakter der Dppnelbrer chung. Hier haben alle außerordentlichen Strahlen außerhalb der Achſe größere In⸗ dizes, als der ordentliche Strahl, und die Kugel wird von dem Ellipſoid umſchloſſen (Abb. 62). Bezeichnet man den ordentlichen Brechungsindex mit o, den davon am mei⸗ ſten abweichenden Wert des außerordent⸗ lichen Index mit e, jo: gibe dee e— 0 die Doppelbrechung des betref- fenden Kriſtalls an. Dieſer Wert iſt, wie aus den Abb. 61 und 62 hervorgeht, bei nega= tiven Kriſtallen negativ und bei poſitiven poſitiv. 5 14. (C. V, VII, IX) Gptiſch aniſotrope Kriſtalle ohne Achſe der Iſotropie oder zweiachſige KNriſtalle. Die optiſchen Ver⸗ hältniſſe in den zweiachſigen Kriſtallen, d. h. in den Kriſtallen des rhombiſchen, monoklinen und triklinen Syſtems, ſind viel komplizierter. Wie ſchon in der Überjchrift gejagt, exiſtiert in den hierher gehörigen Körpern keine Rich⸗ tung mehr, die die optiſchen und kriſtallo— graphiſchen Symmetrieeigenſchaften der Achſe der Iſotropie einachſiger Körper hat. Da⸗ gegen gibt es zwei Richtungen, die primä— ren optiſchen Achſen, in denen ſich nur r TE eine Welle fortpflanzt, wo alſo keine Doppel— brechung ſtattfindet. In allen anderen Rich— tungen werden alle Strahlen doppelt gebro— chen und dieſe gebrochenen Strahlen ſind außerordentliche Strahlen, d. h. im allgemei— nen folgt keiner mehr dem gewöhnlichen Brechungsgeſetz. Abb, 63. Verteilung der drei Hauptbrechungsindizes in den drei Hauptſchwingungsrichtungen eines zwei⸗ achſigen Kriſtalls. Beide von demſelben Impuls von außen her im Innern des Kriſtalls ſich fortpflan— zenden Lichtwellen ſind ſtets wieder ſenkrecht aufeinander polariſiert. — Es gibt in den zwei⸗ achſigen Kriſtallen drei aufeinander ſenkrecht ſtehende Richtungen, a, b, e, die optiſchen Symmetrieachſen oder Haupftachſen. Von ihnen iſt die Richtung a die Achſe der größten, c die der kleinſten und b die einer mittleren Fortpflanzungsgeſchwindigkeit des Lichtes. Die Brechungsindizes der parallel den optiſchen Symmetrieachſen ſchwingenden Strahlen heißen die Hauptbrechungsindi— zes, a, B, Y- Abb. 64. Perſpektiviſche Anſicht der drei Hauptſchnitte der Indexrfläche eines zweiachſigen Kriſtalls. Parallel jeder Hauptachſe pflanzen ſich zwei Strahlen fort mit den Brechungsexponen⸗ ten a und 8, d und J, und 8 und J, wie es Abb. 63 andeutet. Man nennt die drei auf- einander ſenkrecht ſtehenden Ebenen, die durch je zwei Hauptachſen beſtimmt ſind, Haupt- die Achſenebene eines optiſch [ed -] ſchnitte. Sie ſind optiſche Symmetrieebe— nen. Die Hauptſchnitte ſchneiden die Index- fläche je in einem Kreis und in einer Ellipſe, die folgende Radien, bzw. Halbachſen beſitzen: Halbachſen Hauptſchnitt der Ellipſe | Radius des Kreiſes In dem Hauptſchnitt a b wird der Kreis von der Ellipſe umſchloſſen, in dem Haupt⸗ ſchnitt b c umſchließt die Ellipſe den Kreis, beide Male ohne gegenſeitige Berührung, in dem Hauptſchnitt a c ſchneidet der Kreis die Ellipſe in vier Punkten. In Abb. 64 ſind die Hauptſchnitte der Indexfläche auf der dem Be⸗ ſchauer zugewandten Seite gezeichnet. Man ſieht, wie in der Ebene a c die beiden Ober— flächen, aus denen die ganze Indexfläche be— 4 IL A - In. Abb. 65. Durchſchnitt durch Abb. 66. Durchſchnitt durch die Achſenebene eines optiſch poſitiven zweiachſigen negativen zweiachſigen Kriſtalls. Kriſtalls. ſteht, ſich in je 4 Punkten ſchneiden, die Verbindungslinien je zweier gegenüberliegen— der Punkte A, A, und A, A, werden primäre optiſche Achſen genannt. In ihrer Rich— rung pflanzt ſich nur eine Lichtwelle mit dem mittleren Brechungsindex 8 fort, jo daß dieſe Richtungen der optiſchen Achſe eines einachſi— gen Mediums ähnlich ſind. Doch unterſchei— den ſie ſich von dieſer in optiſcher Beziehung dadurch, daß in ihrer Richtung noch eine eigentümliche Art der Lichtbewegung ſtattfin— det, die ſogen. innere koniſche Refraktion, auf die hier nicht weiter eingegangen werden kann; außerdem find fie keine Achſen der Iſo— tropie, d. h. keine Symmetrieachſen des betreffen- den Kriſtalls und ſtellen überhaupt keine ausge⸗ zeichnete kriſtallographiſche Richtung dar. Wie die Abb. 65 und 66 zeigen, werden die Winkel der primären optiſchen Achſen von den op⸗ tiſchen Symmetrieachſen a, c halbiert. Dieſe werden deshalb auch die Mittellinien oder Biſektrizen genannt, und zwar heißt die Achſe, 58 die den ſpitzen Winkel halbiert, ſpitze oder erſte Mittellinie, die andere heißt analog ſtumpfe oder zweite Mittellinie. Die ganze Ebene, die durch a und c und die bei- den optiſchen Aſen A,, A, gegeben iſt, wird optiſche Achſenebene genannt. Die dritte optiſche Symmetrieachſe, die auf der Achſenebene ſenkrecht ſteht, heißt o p⸗ tiſche Normale; ſie entſpricht ſtets der Richtung der größten Doppelbrechung y—a. Iſt die ſpitze Mittellinie (wie im Fall der Abb. 65), die Richtung kleinſter Fortpflan⸗ zungsgeſchwindigkeit, ſo wird der Kriſtall als poſitiv bezeichnet, iſt ſie die Richtung größter Fortpflanzungsgeſchwindigkeit (wie in Abb. 66), ſo liegt ein negativer Kriſtall vor. Es erübrigt noch die Angabe, welche Lage die drei optiſchen Symmetrieachſen und die beiden primären optiſchen Achſen zu den kri⸗ ſtallographiſchen Achſen a, b, ce zweiachſiger Kriſtalle haben, und welche Rolle ſie für deren allgemeine kriſtallographiſche Charak- teriſtik ſpielen. 15. (V Rhombiſche Kriſtalle. Im rhombiſchen Syſtem ſtimmen die optiſchen Symmetrieachſen für alle Wellenlängen des Lichtes und für alle Temperaturen mit den 3 kriſtallographiſchen Symmetrieachſen über⸗ ein. Sie ſind wirkliche optiſche Symmetrie⸗ achſen. Infolgedeſſen zeigen die Mittellinien und die optiſche Normale keine Diſperſion, d. h. ſie liegen für alle Farben und auch für alle Temperaturen an derſelben Stelle. Dagegen ſind die Lagen der optiſchen Achſe für ver⸗ ſchiedene Farben verſchieden, aber ſo, daß die verſchiedenen Lagen alle in die Hauptſchnitte fallen und ſymmetriſch zu den Mittellinien liegen. | 16. (VII) Monokline Kriftalle. Im mo⸗ noklinen Syſtem iſt nur eine kriſtallogra⸗ phiſche Symmetrieachſe vorhanden, mit der eine der optiſchen Symmetrieachſen für alle Farben und alle Temperaturen zuſammen⸗ fällt. Welche, iſt bei verſchiedenen Kriſtallen verſchieden. Dieſe zeigt alſo nie Diſperſion, da⸗ gegen ſind die beiden anderen Achſen, ebenſo wie die optiſchen Achſen, mehr oder weniger diſpergiert. Über die verſchiedenen Arten die⸗ ſer Diſperſion ſiehe weiterhin. 12. (IX) Trikline Kriſtalle. Im tri⸗ klinen Syſtem exiſtiert keine kriſtallographi⸗ ſche Symmetrieachſe, infolgedeſſen können die drei optiſchen Symmetrieachſen beliebig zu den äußeren Umgrenzungen liegen, ſie ſind alle mehr oder weniger diſpergiert. b) Kriſtalle mit Drehungsvermögen oder optiſch aktive Kriſtalle. ö 18. Allgemeines. Die ſeither betrach⸗ teten Klaſſen von kriſtalliſierten Körpern hat⸗ ten die gemeinſame Eigenſchaft, daß ſich bei ihnen in Richtung der optiſchen Achſen nur eine Welle fortpflanzte. Bei den Körpern der anderen 5 Klaſſen II, IV, VI, VIII, X pflanzen newer Richtungen der optiſchen Achſen zwei Schwin⸗ gungen fort, dieſe Körper zeigen daher auch in den Richtungen der optiſchen Achſen Dop⸗ pelbrechung. Und zwar ſind dieſe Schwin⸗ gungen in Richtung der optiſchen Achſen im Gegenſatz zu der gewöhnlichen Polariſation nicht linear, ſondern kreisförmig, zirkular po⸗ lariſiert. Es bewegen ſich in Richtung einer optiſchen Achſe zwei Wellen in Kreisſchwin⸗ gungen durch den Kriſtall, und zwar in mit⸗ einander entgegengeſetztem Sinne: die eine ſchwingt von rechts nach links, die andere von links nach rechts. Beide Schwingungen haben gleiche Fortpflanzungsrichtung, aber un⸗ gleiche Geſchwindigkeit. dem Kriſtall ſetzen ſich beide zirkularen Schwingungen wieder zu einer linearen zu⸗ ſammen, die genau dieſelbe Schwingungsebene haben müßte, die das auf dem Kriſtall auffal⸗ lende linear polariſierte Licht hatte, wenn die Fortpflanzungsgeſchwindigkeiten beider zirku⸗ laren Schwingungen im Kriſtall genau dieſelben geweſen wären. Da aber die eine Schwingung der anderen vorauseilt, iſt die beim Austritt reſultierende lineare Schwingungsebene nicht mehr die urſprüngliche, ſondern gegen dieſe um einen beſtimmten Winkel gedreht, und zwar nach rechts, wenn die von rechts nach links ſchwingende Welle der anderen voraus⸗ eilt, und nach links, wenn die von links nach rechts ſchwingende Welle die ſchnellere iſt. Dieſe Drehung der Polariſations⸗ ebene des Lichtes durch die optiſch aktiven Körper iſt alſo eine Folge der zirkularen Polariſation des Lichtes und der Doppelbrechung in Richtung einer optiſchen Achſe. 19. (II) Optiſch iſotrope Kriſtalle mit Drehungsvermögen. Jede Richtung iſt eine Achſe der Iſotropie. Infolgedeſſen zeigen die hierher gehörigen regulären Körper in jeder Richtung Doppelbrechung und Drehungsver⸗ mögen. 20. (IV.) Gptiſch einachſige Kriſtalle mit Drehungsvermögen. Es exiſtiert nur Beim Austritt aus eine Achſe der Iſotropie, in deren Richtung Drehungsvermögen herrſcht. 21. (VI. VIII. X.) Optiſch zweiachſige Kriſtalle mit Drehungsvermögen. Dre⸗ hungsvermögen findet ſich in den Richtungen 59 der beiden primären optiſchen Achſen. Nach der Anzahl der Symmetrieelemente gibt es drei Klaſſen, von denen aber nur aus den Klaſſen VI und VIII bis jetzt Vertreter be— kannt ſind. Sechzehntes Kapitel. Die gs methoden kriſtalliſierter Körper mit Hilfe linear polariſierten Lichtes. I. Berftellung linear polariſierten Lichtes. Das Nicolſche Doppelprisma. Wir haben im Kalkſpat ein Mittel, um polari- ſiertes Licht herzuſtellen. Wir brauchen nur den einen der beiden Strahlen irgendwie wegzu⸗ ſchaffen, ſodaß nur der andere austritt. Dies wird bei den Polariſationsprismen erreicht, deren eine ganze Anzahl angegeben worden ſind. Wir wollen nur das älteſte und auch heute noch am meiſten benutzte betrachten, das Nicolſche Doppelprisma. (Siehe Abb. 1, S. 10). Das Nicolſche Doppelprisma, kurz der Nicol genannt, beſteht aus einem Spaltungs⸗ ſtück von Kalkſpat, das ungefähr dreimal län⸗ ger als breit iſt. Es wird ſo in der Richtung der kürzeren Diagonale ss zerſchnitten, daß der Winkel bei s = 90° beträgt. Die beiden Teile I und II werden dann mit Kanadabal⸗ ſam wieder zuſammengekittet. Ein auf J ein⸗ fallender Lichtſtrahl teilt ſich in die beiden ſenkrecht zueinander polariſierten Strahlen. Der außerordentliche Strahl tritt durch den Kanadabalſam in II ein. Für den ordent⸗ lichen iſt aber der Brechungsindex höher als der des Kanadabalſams und ſein Einfallswinkel an der Balſamſchicht größer als der Winkel der Totalreflexion. Er wird deshalb an dieſer Balſamſchicht total reflektiert und an der ſchwarzen Faſſung des Nicols abſorbiert (ſiehe ©. 10). Es tritt alſo aus dem oberen Prisma II nur der außerordentliche Strahl heraus, der voll⸗ ſtändig linear polariſiert iſt. Den eigentlichen Polariſator bildet ſomit das untere Prisma in Verbindung mit der Balſamſchicht. Das obere Prisma II hat nur den Zweck, das un⸗ tere zur planparallelen Platte zu ergänzen, ſo daß keine Ablenkung der Fortpflanzungs⸗ richtung und bei Beleuchtung mit weißem Licht keine Diſperſion (Farbenzerſtreuung) ſtattfinden kann. J. Unterſuchungen mit einem Nicol. 2. Abſorption. Pleochroismus. In jedem Körper wird beim Durchgang des Lichtes ein Teil des Lichtes abſorbiert, bei Verwendung weißen Lichtes werden hierbei die verſchie— denen Lichtarten verſchieden ſtark abſorbiert. Wenn das Auge dieſe ungleiche Abſorption be⸗ merkt, fo redet man von der Farbe des be- treffenden durchſichtigen Körpers. Bei optiſch iſotropen Medien muß in allen Richtungen gleiche Abſorption herrſchen. Das liegt ſchon in der Definition des Wortes iſotrop (ſiehe S. 54). Anders bei den optiſch aniſotropen Kri— ſtallen. Bei ihnen war die Brechbarkeit des Lichtes in verſchiedenen Richtungen verſchieden groß und, wie die Beobachtungen zeigen, iſt dies der Fall auch mit der Abſorption. Nicht nur die quantitative Schwächung des Lichtes iſt in verſchiedenen Richtungen eines Kriſtalls verſchieden groß, ſondern es wird auch oft in einer Richtung mehr die eine Farbe, in der anderen Richtung mehr die andere Farbe abſorbiert. Man bezeichnet die Erſcheinung, daß aniſotrope Körper nach verſchiedenen Rich⸗ tungen verſchiedene Lichtarten verſchieden ſtark abſorbieren, als Pleochroismus. Wie alle phyſikaliſchen, alſo auch die optiſchen Vor- gänge, ſo müſſen auch die Erſcheinungen des Pleochroismus der kriſtallographiſchen Sym⸗ metrie entſprechen. Es find alſo bei den ein- achſigen Mineralien alle Richtungen parallel der Hauptachſe in bezug auf Abſorption ein⸗ ander gleichwertig. Dagegen werden die Lichtſtrahlen, die ſenkrecht zur Hauptachſe ſchwingen, eine andere Abſorption beſitzen, und zwar ſtellt dieſe den Extremwert gegen die Abſorption der achſenparallelen Strahlen dar. In allen Zwiſchenlagen iſt die Farbe eine Zwi⸗ ſchenfarbe, die ſich aus der Kombination der beiden Extremfarben ergibt. Man bezeichnet dieſe Zwiſchenfarbe als Flächenfarbe und die Extremwerte als Achſenfarben. Wir werden gleich ein Mittel kennen lernen, um die Flächenfarben in ihre Achſenfarben zu zerlegen. Da in einachſigen Kriſtallen alſo die Farben zwiſchen zwei Extremwerten 60 ſchwanken, jo Di⸗ chrois mus. Bei der Abſorption in zweiachſigen Kri⸗ ſtallen haben wir drei Richtungen extremer farbiger Abſorption oder drei Farben- achſen, die beim rhombiſchen Syſtem mit den drei optiſchen Symmetrieachſen zuſam⸗ menfallen müſſen, während im monoklinen redet man hier von Abb. 68. Starke Abſorption des ordentlichen Strahles in einer Turmalinplatte. Abb. 67. Geringe Abſorption des außerordentlichen Strah⸗ les in einer Turmalinplatte. Syſtem nur noch eine Farbenachſe mit der optiſchen Symmetrieachſe, die zugleich kriſtallo— graphiſche Symmetrieachſe iſt, zuſammenfallen muß. Im triklinen Syſtem können endlich die Farbenachſen ganz beliebig liegen. Doch iſt hinzuzufügen, daß dieſe ebenſo wie die beiden anderen Achſen im monoklinen Syſtem ge— wöhnlich nur einen kleinen Winkel mit den op⸗ tiſchen Symmetrieachſen bilden. Die Beobachtung des Pleochroismus iſt ſehr einfach. Da die Achſenfarben beſtimmten Schwingungsrichtungen entſprechen, brauchen wir nur mit dem linear polariſierten Lichte zu arbeiten, das uns der Polariſator des Mi- kroſkopes liefert. Durch Drehung des auf dem Objekttiſch angebrachten Kriſtallpräparates ge⸗ lingt es leicht, die Stellungen extremer Ab- ſorption feſtzuſtellen, wie ſie Abb. 67 und 68 an einer Platte eines Turmalins parallel zur Hauptachſe zeigen. Hier wird der ordent⸗ liche Strahl ſtärker abſorbiert wie der außer— ordentliche, was man durch die Abſorptionsfor— mel o>s ausdrückt. Bei anderen Mineralien iſt es umgekehrt, ſodaß die Beſtimmung des Pleo— chroismus ein wichtiges Hilfsmittel zum Be⸗ ſtimmen gefärbter Mineralien abgibt. Da wir im Mikroſkop immer nur Platten unterſuchen können, ſind zur genauen Beſtimmung der Ab- ſorption mehrere in verſchiedener Richtung geſchnittene Platten erforderlich. Verſchiedene Schnitte gefärbter Mineralien zeigen daher, auf die verſchiedenen Syſteme verteilt, fol— gende Anderungen ihrer Farbe: 1. Alle Schnitte zeigen gleiche Farbe, keine Anderung der Abſorption mit der Rich- tung: amorphe Körper oder reguläre Kriſtalle. 2. Wechſel zwiſchen zwei verſchiedenen Farben oder Farbentönen: zwei Abſorptions⸗ achſen: einachſige Mineralien. 3. Wechſel zwiſchen drei verſchiedenen Farben oder Farbentönen: drei Abſorptions⸗ achſen: zweiachſige Mineralien. Es iſt noch zu bemerken, daß der Pleo⸗ chroismus vieler Mineralien in den 2—3 hun⸗ dertſtel mm dicken Dünnſchliffen bis zur Un⸗ merklichkeit verſchwinden kann. In dieſen Fällen tut man gut, dickere Präparate — etwa Spaltblättchen — in Kanadabalſam oder eine der S. 50 angegebenen Immerſions⸗ flüſſigkeiten eingebettet zu unterſuchen. II. Unterſuchungen mit zwei Nicols. 3. Interferenzerſcheinungen in dop- pelbrechenden Kriftallen. Eine große An⸗ zahl von ſehr charakteriſtiſchen Erſcheinungen entſteht, wenn zwei durch Doppelbrechung in aniſotropen Medien entſtandenen Strahlen zur Interferenz gebracht werden. Die Beobachtung dieſer Interferenzerſcheinungen doppelbrechen⸗ der Kriſtalle hat deshalb großen diagnofti- ſchen Wert und nimmt bei der optiſchen Be⸗ ſtimmung den breiteſten Raum ein. Das uni⸗ verſellſte Inſtrument zu dieſen Beobachtungen iſt das Polariſations-Mikroſkop. 4. Polariſationseinrichtungen am Polariſations⸗Mikroſkop; gekreuzte Ki⸗ cols. Wie ſchon im inſtrumentellen Teil (p.) weiter auseinandergeſetzt iſt, be- ſitzen die mineralogiſch-petrogra⸗ phiſchen Mikroſkope zwei pola= riſierende Vorrichtungen oder Po- lariſationsprismen. Der Polari⸗ ſator iſt gewöhnlich ein Prisma nach Glan-Thompſon, der Ana⸗ lyſator ein Nicolſches Doppel- prisma. Der Polariſator erzeugt aus dem gewöhnlichen natür⸗ lichen oder künſtlichen Licht linear-polariſiertes Licht und ſchickt es ins Präparat. In einem doppelbrechenden Mineral wird im allgemeinen dieſes li— nearpolariſierte Licht in zwei f ſenkrecht zueinander ſchwingende Nicols“. Komponenten zerlegt. Dieſe bei— guflg den Komponenten werden durch des 1b den Analyſator wieder auf eine tors K ftehen einzige Schwingungsebene zu— aſenkre rückgeführt, ſie gelangen ſo zur Interferenz. Denn zwei durch Dop- pelbrechung entſtandene, linearpola⸗ riſierte Strahlen können nur dann miteinander interferieren, wenn ſie aus einem linear polariſierten Licht- ſtrahl hervorgegangen ſind, (das iſt hier das durch den Polariſator er- zeugte Licht) und wenn ſie wieder auf eine Schwingungsebene zurüdge- führt werden (das beſorgt der Ana⸗ lyſator). In den meiſten Fällen wird bei gekreuz⸗ ten Nicols beobachtet (Abb. 69), d. h. die Hauptſchnitte der beiden Polariſationspris— men ſtehen ſenkrecht aufeinander, und die vom Polariſator kommenden, linearpolariſierten Strahlen werden an der Balſamſchicht des Analyſators total reflektiert. Das Geſichtsfeld iſt alſo ohne Präparat vollkommen dunkel. 5. Parallelſtrahliges und konvergen⸗ tes polariſiertes Licht; orthoſkopiſche und konoſkopiſche Beobachtungs methode. Man kann die Interferenzerſcheinungen an Kriſtallen nach zwei Methoden beob— achten: im ſogen. parallelſtrahligen Licht: orthoſkopiſche Beobachtung, und im konvergenten Licht: konoſkopiſche Beobachtung. Ihr Unterſchied beſteht ein⸗ mal in der Art der Beleuchtung des Objek— tes und zweitens in der Art der Beobach— tung der Erſcheinung. Bei der Unterſuchung im ſenkrecht einfallenden, parallel ſtrahligen, polariſierten Licht durchſetzt das Licht das Präparat zum großen Teil nur in einer Richtung, eben in der Richtung ſenk⸗ recht zur Kriſtallplatte. Die Interferenzer⸗ ſcheinungen, die dieſes ſenkrecht einfallende Lichtbündel in der Kriſtallplatte hervorbringt, werden orthoſkopiſch beobachtet, d. h. auf die Netzhaut fällt das Bild der Kriſtall⸗ platte und damit der in ihr lokaliſier⸗ ten Interferenzerſcheinung. Hingegen durchlaufen bei Beleuchtung mit konvergentem polariſierten Licht viele Lichtkegel von den verſchiedenſten Neigungen das Präparat, und bei der hier ausgeübten konoſkopiſchen Beob⸗ achtungsweiſe fällt das Bild der in der hin⸗ teren Brennebene des Objektivs ab- gebildeten Interferenzerſcheinung auf die Netzhaut, nicht das Bild des Prä⸗ parates ſelbſt. a) Die Beobachtungen im parallelſtrahligen polariſierten Licht. 6. Iſotrope Medien im parallelſtrah⸗ ligen polariſierten Licht. Gerade jo wenig, wie Luft oder eine iſotrope Flüſſigkeit, die 61 man zwiſchen die beiden Nicols bringt, den Polariſationszuſtand des aus dem Polariſator hervorgegangenen Lichtes ändert, ſo wirkt auch ein Plättchen eines iſotropen Kriſtalls, einer- lei welche Lage zu den Nicols es auch hat, nicht darauf. Sämtliche Lichtſtrahlen erfahren bei dieſen Medien bei ſenkrechtem Eintritt gar keine Veränderung ihrer Richtung und bei ſchiefem Eintritt auch nur eine Barallelver- ſchiebung durch das Plättchen, die Art des aus dem Polariſator hervorgegangenen Lich— tes wird nicht verändert. Dieſes wird alſo bei gekreuztem Nicol am Analyſator ebenſo totalreflektiert, und das Geſichtsfeld iſt des— halb ebenſo dunkel, wie wenn kein Plätt⸗ V Abb. 71. Die Schwingungs⸗ richtungen a und c eines optiſch aniſotropen Kriſtall⸗ plättchens bilden mit den P Schwingungsrichtungen A und P der gekreuzten Nicols den Winkel a. Zerlegung des vom Polariſator durchge⸗ laſſenen parallel P ſchwin⸗ genden Lichtes im Kriſtall in die zwei Komponenten und s, von denen nur die Komponenten p und q vom Analyſator durchgelaſſen werden. Abb. 70. Die Schwingungs⸗ richtungen a und c eines optiſch aniſotropen Kriſtall⸗ plättchens liegen parallel den Schwingungsrichtungen der Nicols A und P. chen zwiſchen den Nicols gelegen hätte. Ein iſotroper Körper bleibt alſo bei gekreuzten Nicols bei jeder Stellung dunkel. 7. Aniſotrope Körper im parallel- ftrahligen polariſierten Licht. Um die Erſcheinungen zu verſtehen, die ein Plättchen eines aniſotropen Körpers bei gekreuzten Nicols darbietet, müſſen wir uns zunächſt der Angaben auf S. 53 erinnern, daß von den. beiden durch Doppelbrechung entſtandenen Strahlen in einem aniſotropen Kriſtall jeder eine ganz beſtimmte Schwingungsrichtung hat, und daß alſo nur Licht dieſer aufeinander ſenkrecht ſtehenden Schwingungsrichtungen den Kriſtall durchſetzen kann. Liegt alſo eine aniſotrope Kriſtallplatte, wie es in Abb. 70 ſchematiſch angedeutet iſt, jo zwiſchen den Nicols, daß die Schwingungs— 62 richtungen a und e mit den Schwingungsrich⸗ tungen A und P der Nicols übereinſtimmen, fo wird das nach P ſchwingende polariſierte Licht, das aus dem Polariſator kommt, in gleicher Richtung nach e ſchwingend durch die Platte gehen und in ſeiner Geſamtheit am Analhſator totalreflektiert werden; genau derſelbe Fall tritt ein, wenn a in die Rich⸗ tung P fällt. Eine ſolche Lage wird bei einer Vollumdrehung des Objekttiſches und damit des Präparates um 360° viermal eintreten. Eine Platte eines aniſotropen Kri⸗ ſtalles erſcheint daher zwiſchen ge— kreuzten Nicols in vier Stellungen dunkel, eben dann, wenn ihre Schwingungs- richtungen parallel den Schwingungsrichtungen der beiden gekreuzten Nicols liegen. Drehen wir die Platte jo, daß ihre Schwingungsrichtun⸗ gen a und e den Winkel a mit P und A bil⸗ den (Abb. 71), ſo treten andere Erſcheinun⸗ Abb. 72. Maximale Inten⸗ ſität des von A durchgelaſ⸗ ſenen Lichtes, wenn a und e mit den Schwingungsrich⸗ tungen des Nicols den Winkel a = 450 bilden. Abb. 73. Sehr geringe In⸗ tenſität des von A durch⸗ gelaſſenen Lichtes, wenn a und c mit den Schwingungs⸗ richtungen des Nicols den ſehr kleinen Winkel a bilden. gen ein. Das vom Polariſator kommende parallel PP ſchwingende Licht muß ſich in der Kriſtallplatte nach dem Geſetz des Parallelo⸗ gramms der Kräfte in die zwei Komponenten r und s zerlegen, die in den in der Platte allein möglichen Schwingungsrichtungen a und e ſchwingen. Von dieſen Strahlen hat der eine eine größere Geſchwindigkeit als der andere, beide ſind alſo beim Austritt aus der Kriſtallplatte eine Strecke von einander ent⸗ fernt, die man, in Millimetern ausgedrückt, als Gangunterſchied bezeichnet. Wie wir gleich ſehen werden, iſt dieſer Gangunterſchied zuſammen mit der Dicke der Platte ein Maß für die Doppelbrechung. Nach Austritt aus der Platte bewegen ſich die beiden Schwingungen r und s unabhängig voneinander durch die Luft und treffen auf den Analyſator, der nur Licht in der Richtung AA durchläßt. Bei aber⸗ maliger Zerlegung in die Komponenten wird von r die Komponente p und von s die Kom- ponente q parallel AA ſchwingen, und dem- nach werden beide vom Analyhſator durchge- laſſen werden. Dieſe beiden Strahlen, die von derſelben Quelle herkommen, nämlich von PP, die einen Gangunterſchied haben und vom Analyſator auf dieſelbe Ebene gebracht werden, kommen nun miteinander zur Inter⸗ ferenz und werden beim Austritt eine In⸗ terferenzfarbe zeigen, deren Höhe von ver⸗ ſchiedenen Umſtänden bedingt wird. Die In⸗ tenſität des austretenden Lichtes iſt in er⸗ ſter Linie abhängig von der Größe der durch AA durchgegangenen Kompenenten p und d. Wie die Abb. 72 und werden dieſe und damit die Intenſitä⸗ ten am größten, wenn die Schwingungs⸗ richtungen a und c des Präparates um 459 zu den Schwingungsrichtungen der Nicols gedreht ſind; die Intenſität nimmt mit kleineren Winkeln immer mehr ab, bis ſchließ⸗ lich, wie wir ſahen, wenn g 0 nee Schwingungsrichtung der Platte mit denen der Nicols zuſammenfällt, gar kein Licht mehr durchgelaſſen wird. Ein Plättchen eines doppelbre⸗ chenden Minerals wird alſo im allge⸗ meinen zwiſchen gekreuzten Nicols bei einer Umdrehung um 360° vier- mal dunkel werden und in den Zwi⸗ ſchenſtellungen aufhellen. Man be⸗ zeichnet die Dunkelſtellungen auch als Aus⸗ löſchungslagen und die Zwiſchenſtellungen als Aufhellungslagen. Die Lagen der Schwingungsrichtungen im Kriſtall und damit die ner Auslöſchungsrichtungen in Präparaten muß ein Abbild der Kriſtallſymmetrie ſein. Des⸗ halb ſtehen die Auslöſchungslagen nun zu den kriſtallographiſchen Richtungen, wie Kri⸗ ſtallflächen, Kanten und Spaltriſſen in ganz beſtimmten Beziehungen, die bei den ver- ſchiedenen Kriſtallſyſtemen verſchieden ſind, und die deshalb ein ſehr wichtiges Hilfsmit⸗ tel abgeben zur genaueren Beſtimmung der Symmetrie der Platte und des Kriſtalls und damit des Kriſtallſyſtems. Es gehört ſomit die genauere Erkennung Der Ve löſchungslage und die Meſſung des Winkels zwiſchen ihr und einer kri⸗ ſtallographiſchen Richtung, die Meſ— ſung der ſogen. Auslöſchungsſchiefe, zu den wichtigſten Beſtimmungen bei der mikroſkopiſchen Mineralunter⸗ ſuchung. n 8. Cage der Schwingungsrichtungen zu kriſtallographiſch beſtimmten Rich⸗ tungen in den verſchiedenen Kriſtallſp⸗ ſtemen. Bei den einachſigen Kriſtallen, alſo den Kriſtallen des hexagonalen, trigonalen und tetragonalen Syſtems fällt eine Schwin- gungsrichtung ſtets mit der kriſtallographi— ſchen Hauptachſe zuſammen, die andere ſteht auf ihr ſenkrecht; ebenſo fallen im rhombi— ſchen Syſtem die Schwingungsrichtungen mit den Kriſtallachſen zuſammen. Bei Körpern dieſer Syſteme werden alſo ſtets die Schwin⸗ gungsrichtungen mit den kriſtallographiſchen Richtungen übereinſtimmen, die parallel oder ſenkrecht zu der kriſtallographiſchen Haupt- achſe bei einachſigen oder parallel den drei Hauptachſen des rhombiſchen Syſtems verlau- fen. Der Durchſchnitt iſt diſymmetriſch. Man redet in dieſem Falle von gerader Aus- löſchung (Abb. 74). Sind nur Flächen an den Kriſtallen ausgebildet, die zwei oder drei Kriſtallachſen ſchneiden, ſo werden infolge der ebenfalls vorhandenen Symmetrie nach zwei aufeinander ſenkrecht ſtehenden Ebenen die Schwingungsrichtungen die Winkel zwiſchen zwei je zuſammengehörigen Flächen halbieren, es tritt ſymmetriſche Auslöſchung ein (Abb. 75). Bei monoklinen Kriſtallen fällt nur noch eine Schwingungsrichtung für alle Farben mit einer Kriſtallachſe, der Quer⸗ achſe b, zuſammen. Es werden alſo auf allen Flächen, welche parallel dieſer Querachſe lau⸗ fen, alſo in der Zone der Querachſe, die Aus⸗ löſchungen ebenfalls gerade ſein in bezug auf die Richtung b. Da in allen dieſen bisher beobachteten Fällen die Schwingungs⸗ richtung für alle Farben die nämliche war, wird die Auslöſchung auch für alle Farben zu gleicher Zeit eintreten. Die Dunkelheit iſt alſo auch bei Beleuchtung mit weißem Licht eine vollkommene. Anders iſt es mit den zwei an⸗ deren Schwingungsrichtungen der monoklinen Kriſtalle und mit allen drei Schwingungsrich⸗ tungen im triklinen Syſtem. Sie ſtimmen nicht mehr überein mit einer kriſtallographiſchen Richtung, die Schnitte ſind aſymmetriſch; es beſteht eine Schiefe der Auslöſchung und hier muß man zur Charakteriſierung der Gub- ſtanz den Winkel angeben, den die Schwin⸗ gungsrichtung mit einer bekannten kriſtallo⸗ graphiſchen Richtung bildet (Abb. 76). Da außerdem die Lage der Schwingungsrichtungen für verſchiedene Farben und bei verſchiede— nen Temperaturen verſchieden iſt, d. h. der Auslöſchungswinkel mit der Farbe und der 63 Temperatur wechſelt, wird man bei wei— ßem Licht im allgemeinen die Einſtellung auf Dunkelheit nicht mehr ſcharf erkennen. Je nach der Größe der Abweichung für ver— ſchiedene Farben iſt dieſe Diſperſion der Schwingungsrichtungen verſchieden. Bei genaueren Beſtimmungen führt man deshalb dieſe Beobachtung im monochromatiſchen Lichte aus (ſ. S. 27— 28) und muß außerdem zur ge— naueren Charakteriſierung, wenn die bei der Beobachtung herrſchende Temperatur ſich von * Abb. 75. Symmetriſche Aus⸗ löſchung zu den gleichberech⸗ tigten Kriſtallkanten a a. Abb. 74. Gerade Auslöſchung parallel der Kriſtallkante c. Abb. 76. Schiefe Auslöſchun eee 0% der gewöhnlichen Zimmertemperatur 15 bis 22° C entfernt, auch dieſe angeben. 9. Praktiſche Beſtimmung der Cage der Schwingungsrichtungen oder der Auslöſchungslagen. Dieſe Beſtimmung iſt theoretiſch ſehr einfach: Da die Fäden des Okularfadenkreuzes den Schwingungsrichtun⸗ gen der Nicols entſprechen, braucht man nur eine Kriſtallkante oder einen Spaltriß bekann⸗ ter Richtung parallel einem Faden zu ſtellen, am Objekttiſch die Stellung abzuleſen und dann bei eingeſchaltetem Analyſator zu ſehen, ob dieſe Stellung mit einer Dunkelſtellung des Präparates übereinſtimmt oder nicht. Im letz⸗ teren Falle dreht man das Objekt ſolange bis Dunkelheit eintritt, lieſt wieder ab und hat in der Differenz den Winkel der Auslöſchung oder die Auslöſchungsſchiefe gegen die betref- fende kriſtallographiſche Richtung. In der Pra⸗ xis iſt aber die exakte Ausführung dieſer Beſtimmung nicht ſo einfach und auch nicht in allen Fällen anzuwenden. Denn einmal iſt der Übergang zur maximalen Dunkelheit ein ſehr allmählicher, und das Auge iſt für die geringen Unterſchiede in der Nähe der Dunkel- 64 lage nicht ſehr empfindlich. Um ohne weitere Hilfsmittel möglichſt genaue Meſſungen anzu⸗ ſtellen, ſorge man für ſehr intenſive Beleuch- tung (Gasglühlicht oder Sonnenlicht durch Mattſcheibe). Die Beleuchtung muß außerdem genau zentral ſein, wovon man ſich überzeugt, wenn man bei abgenommenem Okular in den Tubus hineinſieht. Das Bild der Lichtquelle muß dann genau in der Mitte des Konden— ſors erſcheinen. Sodann arbeite man bei mög⸗ lichſt parallelſtrahligem Lichte, alſo man ziehe die Irisblende ſtark zu oder ſenke den Be⸗ leuchtungsapparat tief herunter. Die aus⸗ klappbare Kondenſorlinſe, die ſtark konver⸗ gentes Licht ins Präparat ſchickt, iſt bei dieſen Beobachtungen natürlich weggeklappt. Unter dieſen Beobachtungsumſtänden wird die Ein⸗ ſtellung auf maximale Dunkelheit recht ge⸗ nau, wenn man mehrere Male die Einſtel⸗ lung immer nur durch Drehen von rechts her, dann ebenſo oft durch Drehen von links her vollzieht. Das Mittel aus den Mittelwerten beider Einſtellungen iſt dann ein recht brauch⸗ barer Wert. Es ſind eine Menge Apparate konſtruiert und empfindliche Methoden angegeben wor— den, bei denen ſchon ganz kleine Unterſchiede in der Lage der Schwingungsrichtungen der zu unterſuchenden Kriſtallplatte von der der Nicols dem Auge bemerkbar werden. Nach einem von F. von Kobell zuerſt angemand- ten Ausdruck werden dieſe Apparate auch als Stauroſkope und die Methoden als ſtauroſkopiſche Methoden bezeichnet. Von den zahlreichen Methoden beſpreche ich hier nur einige wenige, die einfach ſind und zugleich eine größere Genauigkeit verbürgen, wie es die ſoeben beſchriebene ſorgfältige Ein- ſtellung auf Dunkelheit tut. a) Ein Plättchen mit der emp⸗ Hudpkien, Ssarbe hot.) Denen („teinte sensible“). Hierzu wird gewöhnlich ein Spaltplättchen von Gips genommen, das für ſich eine Interferenzfarbe vom Rot I. Ord⸗ nung zeigt (ſ. ſpäter). Es wird zwiſchen zwei Glasplättchen gefaßt den Mikroſkopen beigegeben und in dem Schlitz über dem Ob— jektiv eingeſchoben, derart, daß ſeine beiden Schwingungsrichtungen unter 45 gegen die der Nicols orientiert ſind, das Plättchen alſo die intenſivſte Interferenzfarbe zeigt. Wenn ein Mineral in der Auslöſchungsſtellung ſich befindet und man ſchaltet das Gipsplättchen ein, ſo zeigt das vorher dunkle Geſichtsfeld Rot I. Ordnung, das das Gipsplättchen für ſich allein bei gekreuzten Nicols auch nur zei- gen würde. Es zeigt aber eine andere Farbe, ſobald das Mineral nicht genau in der Aus⸗ löſchungsſtellung iſt, ſobald alſo das Präparat allein noch eine ganz geringe Aufhellung des Geſichtsfeldes bewirkt hätte. Dieſer ohne Gipsplatte als Helligkeitsdifferenz kaum oder ſchwer bemerkbare Fehler in der Einſtellung macht ſich mit Gipsplättchen als Farbenunter⸗ ſchied bemerkbar, weil ſchon eine geringe An⸗ derung des Gangunterſchiedes genügt, um die Farbe von Rot nach Orange oder nach Indigo⸗ blau umſchlagen zu laſſen (ſ. Näheres bei den Interferenzfarben). Dieſe Methode iſt dann beſonders gut zu verwenden, wenn man neben dem zu unterſuchenden Mineral noch das Gipsplättchen für ſich im Geſichtsfeld hat, wenn alſo z. B. ein Loch im Präparat iſt oder die Grenze des Minerals gegen Kanada⸗ balſam vorliegt, ſo daß man jederzeit die eigentliche Farbe der Gipsplatte zum Ver⸗ gleich hat und ſich nicht auf das Gedächtnis zu verlaſſen braucht. Nicht brauchbar iſt die Methode bei irgendwie gefärbten Mineralien. b) Während die Wirkungsweiſe der Gips⸗ platte auf Einſtellung einer beſtimmten Farbe beruht, wird bei den folgenden Me⸗ thoden als Kriterium der richtigen Einſtel⸗ lung die Farbengleichheit verſchiedener Teile des Geſichtsfeldes benutzt, wofür das Auge ſehr empfindlich iſt. Man erreicht dies da⸗ durch, daß ein Plättchen mit einer empfind⸗ lichen Farbe zerſchnitten wird und die Hälften in gekreuzte Stellung gebracht werden, ſodaß bei fehlerhafter Einſtellung die Farbe beider Hälften nach den entgegengeſetzten Seiten ab⸗ weicht. Bei der Bravaisſchen Doppel- platte iſt ein Quarzplättchen vom Rot I. Ordnung auseinandergeſchnitten und ge— kreuzt ſo zuſammengefügt, daß die Fuge genau einem Faden des Fadenkreuzes parallel läuft (. Abb. 77). Die Doppelplatte befindet ſich meiſt in einem eigenen Okular; natürlich muß dann der Analyſator auf das Okular geſetzt werden. BEER Die Bertrandſche Platte (Abb. 78) befindet ſich ebenfalls in einem eigenen Oku⸗ lar. An Stelle des Fadenkreuzes ſind vier gleich dicke, etwa 2,5 mm dicke Quarzplatten, die ſenkrecht zur Achſe geſchnitten und jo zu- ſammengekittet ſind, daß ſie genau in rech⸗ ten Winkeln zuſammenſtoßen. Und zwar ſtößt immer eine rechtsdrehende Quarzplatte r ne- ben eine linksdrehende Quarzplatte 1. (Über die Drehung der Polariſationsebene durch Quarz ſ. S. 73). Die ſenkrecht aufeinander ſtoßenden Trennungsfugen müſſen genau par- allel den Nicol Schwingungsrichtungen verlau- fen. Setzt man den Aufſatz⸗Nicol, der auch hier verwandt werden muß, in gekreuzter Stel— lung zum Polariſator über das Bertrandſche Okular, ſo geben die Quarzplatten alle ein bläulich weißes Geſichtsfeld. Schaltet man ein doppelbrechendes Mineralplättchen ein, ſo ſind, wenn die Einſtellungen nicht ganz genau ſind, je zwei anſtoßende Sektoren verſchieden ge— färbt, und die gegenüberliegenden gleich. Nahe der Dunkelſtellung ſind zwei ge— genüberliegende Sektoren tiefblau, die anderen orangegelb gefärbt, und Farbengleichheit tritt erſt dann ein, wenn die Schwingungs- richtungen des Minerals genau mit denen der Nicols überein⸗ ſtimmen. Es iſt noch zu bemerken, daß nur die Methode der Einſtellung auf größte Dunkelheit im weißen und monochromatiſchen Licht be- nutzt werden kann, dagegen die übrigen auf der empfindlichen In⸗ terferenzfarbe beruhenden Hilfs- mittel nur in weißem Licht an⸗ gewandt werden können. 10. Interferenzfarben. Wie ſchon er⸗ wähnt, bewegen ſich die beiden durch Doppel- brechung in einem optiſch aniſotropen Kriſtall entſtandenen Strahlen mit verſchiedener Ge⸗ ſchwindigkeit fort und laſſen ſo eine Wegdif— ferenz zwiſchen ſich entſtehen. Beim Aus⸗ tritt aus der Platte laufen die beiden Strah⸗ len mit der erhaltenen Wegdifferenz unab⸗ hängig voneinander durch die Luft und in- terferieren erſt miteinander, wenn ſie vom Analyſator auf dieſelbe Polariſationsebene ge⸗ bracht worden find. Es wird die Wegdiffe- renz um jo größer ſein, je größer die Diffe- renz im numeriſchen Wert der Geſchwindigkei⸗ ten der beiden Strahlen iſt, und je länger der von ihnen zurückgelegte Weg iſt. Wenn a und y die Brechungsexponenten, welche ja be⸗ kanntlich die reziproken Werte der Lichtge⸗ ſchwindigkeiten ſind, der beiden Strahlen dar⸗ ſtellen, und wenn d die Strecke iſt, welche die beiden Strahlen zurückgelegt haben, d. h. die Dicke der Platte, dann iſt die Wegdiffe⸗ renz DP = d ( — a). D iſt eine in Milli⸗ metern oder Millionſtel Millimetern (un) aus⸗ zudrückende Größe und wird auch Gang— unterſchied genannt. Für eine gegebene Leiß⸗Schneiderhöhn, Unterſuchung kriſtalliſierter Körper. Abb. 77. 7 Bravaisſche Doppelplatte. 65 Subſtanz, wo der Wert (J — a) in einer be- ſtimmten Richtung konſtant iſt, hängt alſo der Gangunterſchied nur von der Dicke des ſenk— recht zu jener Richtung geſchnittenen Präpa— rates ab. Wenn die Vorausſetzung richtig wäre, daß der Wert (J — a) ſich nicht mit der Wellenlänge des Lichtes ändert, würden die entſtandenen Interferenzerſcheinungen genau den Farben dünner Plättchen oder den Newtonſchen Farben entſprechen. Es tritt dann nämlich folgendes ein: An jeder Stelle, wo der Gangunterſchied gleich einer Abb. 78. Ein Kriſtall nicht ganz in Auslöſchungsſtellung, mit der Ber⸗ trandſchen Platte kombiniert. Die gegenüberliegenden Quadranten zeigen noch verſchiedene Färbung. Wellenlänge — oder einem ganzen Viel⸗ fachen dieſer Wellenlänge iſt, löſchen ſich nach den Geſetzen der Interferenz die bei- den Strahlen, die der Farbe von dieſer Wel- lenlänge entſprechen, aus. Die Strahlen an⸗ derer Wellenlängen werden ſich nur zum Teil ſchwächen, zum Teil aber verſtärken. Am meiſten verſtärken ſich die Strahlen, für die der Gangunterſchied an dieſer Stelle 155 oder ein ungerades Vielfaches von 5 beträgt. In der entſtehenden Miſchfarbe wird alſo die erſte Farbe faſt ganz fehlen und mit beſon⸗ derer Lebhaftigkeit die zweite Farbe vorherr- ſchen. Hieraus läßt ſich das Verhalten der Platte im einfarbigen Licht entnehmen. Iſt die Dicke einer planparallelen Platte im ein- farbigen Licht ſo groß, daß das Pordukt aus ihr und der Doppelbrechung in der betref— fenden Richtung A, 2X, 3X uſw. beträgt, ſo werden bei der Interferenz ſich die beiden Strahlen vollſtändig vernichten und die Platte erſcheint in jeder Stellung dunkel. Haben wir ein keilförmiges Präparat, jo wird dieſe Aus⸗ löſchung nur an dieſen Stellen eintreten, wo der Gangunterſchied Xx, 2X, 3X uſw. beträgt, 5 66 und der Keil ift von dunklen Streifen durch⸗ zogen, zwiſchen denen helle Räume von der Farbe des verwandten Lichtes erſcheinen. Für die Lichtarten, die dem roten Ende des Spek⸗ trums näherſtehen und die die größere Wel— lenlänge beſitzen, wird auf einer beſtimmten Strecke des Keils weniger oft ein ganzes Viel⸗ faches der Wellenlänge erreicht werden, als für kurzwelligeres blaues oder violettes Licht. Im roten Licht liegen deshalb die Streifen weiter auseinander als im blauen Licht. Bei Beleuchtung mit weißem Licht überlagern ſich die verſchiedenen hellen farbigen Streifen, und es treten die Interferenzfarben auf. Die Art der auftretenden Interferenz⸗ farben hängt von der Größe des Gangunter- ſchieds ab. Folgende Tabelle gibt einen Über⸗ blick über die für die verſchiedenen Gang⸗ unterſchiede auftretenden Farben, wie ſie ein Keil bei gekreuzten Nicols zeigt: Gangunterſchted nterferenzfarben bei 5 4 8 Nicols e 0 ſchwarz 100 grau 250 weiß 350 gelb 1 450 orange 550 tiefrot 565 purpur 575 violett (teinte sensible) 590 indigo 660 himmelblau 750 grün II 850 gelblichgrün 900 gelb 1000 orangerot 1100 violettrot 1130 violett 1300 grünlichblau | 1400 gelblichgrün III 1500 roſarot 1650 violettgrau 1750-1900 grünlich IV 2050-2200 rötlich | Um 2400 mattgrünlich v Um 2600 mattrötlich Um 2900 blaßgrünlich vI Um 3200 blaßroſa Um 3500 Kaum merklich grünlich vi Um 3800 Kaum merklich roſa u weiß höherer Ordnung e au So zeigt alſo ein Plättchen eines optiſch aniſotropen Kriſtalles im allgemeinen bei ge⸗ kreuzten Nicols nicht nur Aufhellung in gewiſ— ſen Stellungen, ſondern das urſprünglich ein— fallende weiße Licht wird auch bei der Inter⸗ ferenz modifiziert, es treten Interferenzfar⸗ ben auf, und die ganze Erſcheinung bezeichnet man als chromatiſche Interferenz. Wir ſahen, daß dieſe Interferenzfarben genau den entſprechenden Newtonſchen Farben gleichen würden, wenn der Wert (y— a) für alle Wellenlängen konſtant wäre. Dies trifft nicht ſtreng zu. Die Mineralien zeigen ſtets eine Diſperſion der Doppelbrechung, d. h. der Wert (Y—.«) ändert ſich mit der Wellenlänge des Lichtes. Dieſe Diſperſion der Doppelbrechung iſt allerdings in den meiſten Fällen jo gering, daß weſentliche Ab- weichungen von der Newtonſchen Farbenfolge dadurch nur ſelten hervorgebracht werden. Im Kapitel über Kompenſation werden Mittel angegeben, wie man normale Interferenzfar⸗ ben von anomalen, bei deren Zuſtandekommen mit einem ſtärker veränderlichen (Y— q) ge⸗ rechnet werden muß, unterſcheidet. Die Interferenz farben are charakteriſtiſchſten Erſcheinungen, die ein aniſotroper Körper im Polariſa⸗ tionsmikroſkop darbietet. Es iſt des⸗ halb unbedingt nötig, daß man ſie recht ge⸗ nau kennen lernt. Wie die nebenſtehende Tabelle zeigt, wiederholen ſich gewiſſe Farbenqualitäten nach beſtimmten Intervallen des Gangunterſchieds, wonach man die unterſcheidbaren Farben in Ordnungen eingeteilt hat. Als Grenze der erſten Ordnung gilt das leuchtende, reine Tiefrot, das einem Gangunterſchied von 550 uu (Millionſtel-Millimeter) entſpricht. Man bezeichnet es auch als das Rot J. Ordnung. Zugleich gibt die Zahl 550 auch das Intervall an, das weitere Ord— nungen beſtimmt. In der erſten Ordnung tre⸗ ten zuerſt graue Töne auf, die um ſo heller werden, je größer der Gangunterſchied wird, bis faſt zu einem reinen Weiß, das ſofort in rein gelbe, orange und rote Farben übergeht. Das Tiefrot I. Ordnung geht durch eine geringe Zunahme des Gangunterſchieds in das Purpur II. Ordnung und das Violett II. Ordnung über. Dieſes ſehr charakteriſtiſche Violett iſt die ſogen. „teinte sensible“, die empfindlichſte Farbe der ganzen Skala, weil ſchon eine Verſchiebung um ca. 15 un genügt, um es einerſeits in rot, andererſeits in In⸗ Bunnqag >1ı9 Bunuaıg 112 ca 8 Schwarz ’ 5 8 — : : = CCC n C 99 5 Tridymit Veſuvian F 101 o o0s | test Weiß e 0.005 Nephelin Melilith Klinozoiſit ee 005 (Taba Bebtentt Detbotias Seit 55•» e | mrtamett Serpoicin. Bein | 00 o Kst Scan | I Dos [eat Seat Ei, zit [500 TI ÄRRRQUÄSSSSR N NS oono| Epe Gute Staa 2 nur tt 2 e Do i Klinochlor Andaluſit a I TEN een Himmelblau Ns dig Anorthit [700 | )! Sri RE N ee are Je ee dende Spe Gelbgrün JJ e Gelb 900 n 018 Glautophan ae ee ere Drangerot 100 rc 020 Alantt | JJ) Tour eee sue bunu ga 211146 S ile Grünlichblau Gelblichgrün Roſarot Violettgrau Grünlich N Abb. 79. rr e ieee TC Anthophyllit Augit Turmalin s Roſenbuſchit Wöhlerit 2 8 1400 "Heels Sonn T Ce „„ N 0.081 89 CCC .032 Orthit. Chondrodit p e Non Mejonit Humit —.— — — 0.036 | Olivin Lazulith ancrini SESeo or on A = seasao N = S 28 ou = = | 3 S S S ee S ni En} 2 FC} 8 SS SSS S 28 © es 23828 3@ 8 SSS SE 2 e are S E Ze SS SSS SSS 5 Se 8335223 2 2 5 388 3835 88 29 S S — S — 2 22 = = D „„ . Season S%% U 8 8 1 2 SZPO.DISR 8 SS SSS NSS E 8 R S — — m» ZH 289° m Mo = D Ss {I — — — — SS Hu — ER S SQ e| 8385 Ss 8828 „„ „„ = erstes — 2 e > 8 + 2 838 — 5 0 2 352232 I — © S = & 8 232723 o 2 „„ Zen = „ = DS2 8 > — == < TS 288 S IS S8 8 68 digoblau umſchlagen zu laſſen. Die weiteren Farben der II. Ordnung zeichnen ſich alle durch eine prächtige Tiefe und Leuchtkraft aus, die in der III. Ordnung ſchon nicht mehr vorhanden iſt. Von der IV. Ordnung an ver⸗ ſchwinden allmählich die gelben und blauen Farben und von da kann man bis zur VII. Ordnung nur noch einen Wechſel von Blaßgrün und Roſa wahrnehmen; von der VIII. Ord⸗ nung ab verſchwimmen alle durchgelaſſenen Interferenzfarben zu einem matten perlmut⸗ terartigen Weiß, dem Weiß höherer Ord⸗ nung. Zum Studium der Interferenzfarben eig⸗ nen ſich keilförmig geſchnittene Platten von Quarz und Gips, die ſo auf den Tiſch des Mi⸗ kroſkopes gelegt werden, daß ihre Haupt- ſchwingungsrichtungen mit denen der Nicols um 45° gekreuzt ſind, die Interferenzfarben alſo am intenſivſten erſcheinen. Eine ausge⸗ zeichnete farbige Reproduktion der erſten drei Ordnungen befindet ſich in dem Werk von Roſenbuſch⸗Wülfing. Bd. 1, Teil 1, Tafel 3. 11. Beſtimmung der Höhe der Dop- pelbrechung. Nach Seite 65 iſt der Gang⸗ unterſchied und damit die Höhe der Interferenz⸗ farbe abhängig von der Dicke des Präparates und der Höhe der Doppelbrechung in der betref- fenden Richtung. Dieſe kann ſomit bei bekannter Dicke direkt aus der Interferenzfarbe beſtimmt werden. Man kann bei einiger Übung eine In⸗ terferenzfarbe leicht einer Ordnung zuerkennen und kann dann den numeriſchen Wert des Gangunterſchiedes annähernd beſtimmen. Die Dicke wird annäherungsweiſe ſo ermittelt, wie S. 46 angegeben. Die Beziehungen zwiſchen Gangunterſchied, Dicke und Doppelbrechung ſind graphiſch in Abb. 79 aufgezeichnet, wo auch zugleich die wichtigſten geſteinsbildenden Mineralien entſprechend dem höchſten Wert ihrer Doppelbrechung angeführt ſind (nach Roſenbuſch u. Weinſchenk). Ein Beiſpiel mag den Gang der Unter⸗ ſuchung erläutern. Wir meſſen die Dicke eines waſſerhellen Minerals in einem Dünnſchliff zu 0,025 mm mit Hilfe der Methode des Her⸗ zogs von Chaulnes. Seine Interferenzfarbe iſt ein leuchtendes gelbgrün. Wir gehen dann in Abb. 79 von dem Punkt oben in der Mitte zwiſchen 0,02 und 0,03, der die Dicke 0,025 bezeichnet, in vertikaler Richtung ſo weit herunter, bis wir die Ordinate er⸗ reichen, worin gelblichgrün der II. Ord⸗ nung verzeichnet iſt. Von dieſem Punkt aus zeigt eine diagonale Linie nach rechts unten zur Doppelbrechung 0,029. Wenn andere Beobachtungen noch dafür ſprechen, daß der betr. Durchſchnitt des Minerals die höchſte Doppelbrechung dieſes Minerals über- haupt zeigt, ſo handelt es ſich um Diopſid, deſſen andere charakteriſtiſche Eigenſchaften, wie Form, Spaltbarkeit uſw. eine Kontrolle abgeben müſſen. Bei dieſem Verfahren wird alſo die In⸗ terferenzfarbe des zu unterſuchenden Mine⸗ rals durch Vergleichen mit den Farben eines Keils oder den Farben der Interferenz⸗ Farbenſkala feſtgeſtellt. Es gibt komplizier⸗ tere Apparate hierfür, die Quarzkeilkom⸗ paratoren, die indeſſen kaum weſentlich bej- ſere Dienſte leiſten. Denn wie man nicht ver⸗ geſſen darf, die direkte Vergleichung der In⸗ terferenzfarben zweier verſchiedener Minera⸗ lien iſt ſtets mit gewiſſem Vorbehalt auszufüh⸗ ren. Einmal ſtört ſchon eine geringe Eigen- farbe des Minerals ſehr. Auch die jeweilig verſchiedene Diſperſion der Doppelbrechung modifiziert die Interferenzfarben. Infolgedeſ⸗ ſen begnügt man ſich zweckmäßig mit gerin⸗ gerer Genauigkeit und ſchätzt mit dem Augen⸗ maß die Farbe ab. Da man immer noch andere Beſtimmungen ausführt und ſich nie mit einer allein begnügt, wird man trotz eines größeren Intervalls, innerhalb deſſen die ſo ermittelte Doppelbrechung fallen kann, mit Hilfe anderer Beobachtungen nur ſelten zwi⸗ ſchen zwei verſchiedenen Mineralien ſchwanken. 12. Höhe der Interferenzfarben bei verſchieden orientierten Schliffen. Eine ſehr wichtige Frage bei der Beſtimmung der Doppelbrechung, die wir bis jetzt noch nicht berührt haben, iſt die nach der Lage des betr. Schliffes. Es liege z. B. ein Dünnſchliff eines Aggregats desſelben Minerals vor, wo die Durchſchnitte der einzelnen Individuen zwar überall gleiche Dicke, aber verſchiedene Orien- tierung, d. h. verſchiedene Werte der Doppelbre⸗ chung J— a beſitzen. Daß und wie die Werte der Doppelbrechung mit der Richtung wechſeln, kann direkt aus den Abb. 61 und 62 für einachſige und 63 für zweiachſige Kör⸗ per entnommen werden. Für verſchieden orientierte Platten aus demſelben Mineral gleicher Dicke ergibt ſich: Einachſige Mi- neralien: die Schnitte parallel zur op⸗ tiſchen Achſe zeigen die höchſte Interferenz⸗ farbe. Dieſe wird immer niedriger, je grö— ßer der Winkel des Schnittes zur Achſe wird, bis der Schnitt ſenkrecht zur Achſe, wo die Doppelbrechung = 0 iſt, überhaupt keine In⸗ 4 + Eee She terferenzfarbe bei gekreuzten Nicols mehr zeigt. Zweiachſige Mineralien: Der Schnitt parallel zur optiſchen Achſenebene hat die höchſte Interferenzfarbe, der Schnitt ſenk— recht zur erſten Mittellinie hat geringere In- terferenzfarbe als der ſenkrecht zur zweiten Mittellinie. Eine ſehr merkwürdige Erſchei— nung zeigen die Schnitte ſenkrecht zu einer optiſchen Achſe. Infolge der in dieſen Rich— tungen auftretenden jogen. koniſchen Refrak⸗ tion haben ſie eine niedrige Interferenzfarbe und behalten dieſe bei einer vollen Umdre— hung bei, werden alſo nie dunkel. Man kann die Anderungen der Inter⸗ ferenzfarben in verſchiedenen Richtungen an mehreren verſchieden geſchnittenen Platten ſtu⸗ dieren, oder auch an einer einzigen Platte in den S. 21 erwähnten Univerſaltiſchen. Auch wenn man eine in Diagonalſtellung unter dem gewöhnlichen Polariſationsmikroſkop befindliche Platte nacheinander mit ſchiefen Strahlenbündeln beleuchtet, tritt eine Ande— rung der Interferenzfarbe in Erſcheinung. Schon die ſchiefen Strahlenbündel, die durch die gewöhnliche Kondenſorlinſe ins Präparat geſchickt werden, genügen, um die Anderung der Interferenzfarbe der ſeitlichen Strahlen in bezug auf den Mittelſtrahl zu beobachten. Man ſieht dieſe Anderung beim ſchiefen Durch⸗ ſehen, beſſer durch einen Blendenſchieber, einen kleinen Aufſatz auf das Okular mit einem in 2 Schienen beweglichen Schieber, der ein 2 mm breites Loch trägt. Bei optiſch ein⸗ achſigen Mineralien ändert ſich die Doppel- brechung im Hauptſchnitt ſehr ſtark, ſenkrecht zum Hauptſchnitt nur ſehr ſchwach, und nach beiden Seiten ſymmetriſch. Zweiachſige Mine⸗ ralien ſenkrecht zu einer optiſchen Symmetrie⸗ achſe zeigen die ſymmetriſche Ab- oder Zu⸗ nahme der Doppelbrechung. Die Regel beim Beſtimmen der Doppel- brechung aus der Höhe der Interferenzfarbe iſt alſo, ſtets die in einem oder mehre— ren gleich dicken Schliffen vorkom-⸗ mende höchſte Interferenzfarbe hier- zu zu berückſichtigen, da die Wahrſcheinlich— keit dann am größten iſt, die maximale Dop⸗ pelbrechung vor ſich zu haben. Gute Dienſte bei der Feſtſtellung der Orientierung eines Minerals werden natürlich auch die ſchon er- wähnten Hilfsmittel leiſten, die Beobachtung der Spaltbarkeit, der Kriſtallform, der Aus— löſchung uſw. Auch noch die zu beſprechende Beobachtung der Interferenzbilder im kon— vergenten polariſierten Licht bietet ein gutes 69 Hilfsmittel dar zur genaueren Feſtſtellung der Orientierung. Manchmal wird man im Zweifel ſein, wel— cher Ordnung eine beſtimmte Farbe angehört. Neben der gleich zu behandelnden Methode der Kompenſation der Interferenzfarben gibt in dieſen Fällen, wo es ſich hauptſächlich um höhere Farben von der dritten Ordnung an aufwärts handelt, ein oft vorhandener keilförmiger Rand des Minerals leicht und ſicher Aufſchluß. Dieſer findet ſich außer am Rand des Präparates auch oft in der Mitte, 3. B. wenn eine gute Spaltbarkeit des Mine- rals ſchief zur Schleifebene geht und ein Stückchen beim Schleifen ausgeſprungen iſt, oder wenn das Mineral ſelbſt mit einer Be⸗ grenzungsfläche ſchief zur Oberfläche des Prä- parats liegt. Doch iſt letzterer Fall mit Vor⸗ ſicht zu behandeln, wenn das daranſtoßende a Abb. 80. Addition der Dop⸗ pelbrechung, wenn gleichwer⸗ tige Schwingungsrichtungen in I und II parallel liegen. Ex Be Abb. 81. Subtraktion (Rome penſation) der Doppelbre- chung, wenn gleichwertige Schwingungsrichtungen in I und II zu einander ſenkrecht ſtehen. Mineral ebenfalls doppelbrechend iſt, weil dann Kompenſation der Doppelbrechung ein— tritt. Bei dieſen keilförmigen Rändern zählt man z. B. die roten Streifen und erhält dann ſofort die Ordnung der höchſten auf— tretenden Farbe. 13. Kompenjation der Doppelbre⸗ chung. Der Gangunterſchied und damit die Interferenzfarbe wird größer mit wachſender Dicke. Es iſt nun naturgemäß einerlei, ob man zur Erzielung einer doppelt ſo hohen Interferenzfarbe ein doppelt jo dickes Prä— parat herſtellt, oder ob man zwei Präpa— rate der erſten Art ſo übereinander legt, daß in ihnen dieſelben kriſtallographiſchen Rich— tungen einander parallel ſind. In dieſem Fall wird ſich der ſchnellere Strahl a, in I, der den kleineren Brechungsindex hat, auch in II als ſchnellerer Strahl an fortpflan⸗ zen, und die Doppelbrechung in II addiert ſich zu der in I (Abb. 80). Man bezeichnet die Lage zweier Kriſtall⸗ platten zueinander, in der gleichwertige Schwingungsrichtungen einander parallel lie- gen, und ſich infolgedeſſen die Doppelbrechun⸗ gen und die Gangunterſchiede der beiden Plat- ten addieren, als Additionslage. Legen wir umgekehrt die Platten jo auf⸗ einander (Abb. 81), daß der ſchnellere Strahl af in der einen Platte ſich als der lang— ſamere en in der anderen Platte fort- pflanzt und umgekehrt, daß alſo gleichwertige Schwingungsrichtungen um 90° gekreuzt zu— einander liegen, ſo findet eine Verminderung des Wertes der Doppelbrechung und ſomit auch des Gangunterſchiedes ſtatt: in dieſer Subtraktionslage kompenſieren ſich Dop⸗ pelbrechung und Gangunterſchied. Die Kompenſation in der Subtraktions⸗ lage ergibt den Wert 0 für den ſchließlich reſultierenden Gangunterſchied, d. h. es tritt keine Interferenzfarbe auf, wenn der Gang⸗ unterſchied in J genau denſelben Wert hat, wie in II, wie es in Abb. 81 angedeutet iſt. 14. Kompenſatoren. Dieſe Erſcheinung kann dazu verwandt werden, den Gang— unterſchied und damit die Interferenzfarbe einer Platte um einen bekannten beliebigen Grad zu erhöhen oder zu erniedrigen. Man verwendet dazu ſogen. Kompenſatoren, d. h. planparallele oder keilförmige Präpa⸗ rate aus Glimmer, Gips, Quarz oder Kalk- ſpat, die teils einen bekannten unveränder⸗ lichen Gangunterſchied haben, teils dieſen um bekannte Werte zu variieren geſtatten. Sie dienen als wichtige Hilfsinſtrumente bei der mineralogiſchen mikroſkopiſchen Technik, zur Erkennung ſchwacher Doppelbrechung, zur ge naueren Beſtimmung und Meſſung der In⸗ terferenzfarben und zur Beſtimmung des Cha⸗ rakters der Doppelbrechung. 15. Die Erkennung ſchwacher 11885 pelbrechung. Sie beruht auf der ſchon S 66 erwähnten Erſcheinung, daß eine ſchwache — um ca. 15 un — Anderung des Gang⸗ unterſchieds ſchon genügt, um das Rot I. Ord⸗ nung oder Violett II. Ordnung in gelbliche und bläuliche Farben umſchlagen zu laſſen. Betrachtet man ein Präparat, das dieſen ſchwachen Gangunterſchied zeigt, für ſich all— ein, ſo wirkt der geringe Unterſchied von der ſchwarzgrauen Interferenzfarbe in den Dia⸗ gonalſtellungen gegenüber der völligen Dun— kelheit in den Auslöſchungsſtellungen faſt gar— nicht aufs Auge. Durch das Einſchieben des Gipsplättchens wird der Unterſchied mar— kanter gemacht, und man kann ſo ſchwach dop— pelbrechende Subſtanzen mit größerer Gicher- heit von iſotropen Subſtanzen unterſcheiden. Hierher gehört auch die ſchon S. 64 erwähnte Verwendung des Gipsplättchens zur genaueren Beſtimmung der Auslöſchungslage. 16. Genauere Beſtimmung und Meſ⸗ ſung von Interferenzfarben und Dop⸗ pelbrechungen mit Bilfe von Kompen- ſatoren. Eine genauere Beſtimmung der Höhe der Interferenzfarben, als es die auf S. 68 beſchriebene bloße Vergleichung zuläßt, kann mittels Kompenſation erreicht werden. Man benutzt als für die meiſten Fälle aus⸗ reichend ein Gipsplättchen vom Rot I. Ord⸗ nung, das alſo für ſich allein 550 un Gang⸗ unterſchied hervorbringt. Es wird in den Schlitz über dem Objektiv ſo eingeführt, daß ſeine Schwingungsrichtungen mit denen der Nicols einen Winkel von 45° bilden. Das zu unter⸗ ſuchende Mineral liegt eben falls in der Diago⸗ nalſtellung auf dem Objekttiſch und wird einen um 550 uu erhöhten oder verminderten Öang- unterſchied zeigen, je nachdem ſeine Schwin⸗ gungsrichtungen mit denen des Gipsplättchens gleichwertig oder gekreuzt liegen. Der zu un⸗ terſuchende Kriſtall zeigt z. B. ein Rot, von dem man nicht weiß, ob es das Rot J. oder II. Ordnung iſt. Im erſteren Falle muß die Kompenſationslage mit dem Gipsplättchen den Gangunterſchied 0, alſo gar keine Inter⸗ ferenzfarbe erzeugen. Die Additionslage muß ein bläſſeres Rot II. Ordnung ergeben; wäh⸗ rend, wenn es ſich urſprünglich ſchon um das Rot II. Ordnung gehandelt hätte, dann die Kompenſation ein Rot I. Ordnung, die Addition aber ein Rot III. Ordnung ergeben hätte. Ebenſo iſt der Gang der überlegung für andere Farben, wobei man die Far⸗ bentafel auf S. 66 und 67 zu Hilfe zieht, und zuſieht, welcher Farbe jeweilig die Addition oder Subtraktion von 550 un Gangunterſchied ent— ſprechen müßte. Ahnliche Effekte bietet das Yı Undula⸗ tions-Glimmerplättchen dar, deſſen An⸗ wendungsbereich nicht ſo groß iſt, weil es nur einen Gangunterſchied von ca. 150 uu hat, entſprechend dem vierten Teil der Wellenlänge des Natriumlichtes. Es zeigt für ſich das Graublau I. Ordnung. Handelt es ſich um die Kompenſation größerer Gangunterſchiede, ſo könnte man dickere Plättchen benutzen, meiſt bedient man ſich dann aber eines Quarzkeiles, der ge— * . nnn 5 — Ar wöhnlich bis zur VI. Ordnung geht. Mit ihm kann dann auch eine genauere Meſſung des Gangunterſchiedes erfolgen, da man die Stelle einſtellen kann, wo bei Subtraktions- lage gerade Kompenſation zu Schwarz oder zu dem empfindlichen Rot I. Ordnung eintritt. Er wird mit einer Teilung verſehen, die an jeder Stelle die Dicke ableſen läßt, woraus dann leicht der Gangunterſchied berechnet wer— den kann. Auf demſelben Prinzip beruht das ometer Hier iſt der mit Schraube und Trieb verſchiebbare Quarzkeil in einem Okular untergebracht. — Sehr ori⸗ ginell iſt die Fedorowſche Glimmer— treppe, ein Glimmerkeil, bei dem 16 ½ Und. Glimmerplättchen treppenförmig im Abſtand von 2 mm übereinandergeſchichtet ſind. Man braucht keine Skala, ſondern zählt die An⸗ zahl der „Treppenſtufen“, um den Gangunter⸗ ſchied zu ermitteln. — Das genaueſte Inſtrument zur Meſſung von Gangunterſchieden iſt der Babinetſche Kompenſator. Er beſteht aus zwei über⸗ einanderliegenden Quarzkeilen mit gleichen, ſehr ſpitzen Winkeln, die ſich zur planparalle⸗ len Platte ergänzen. Die Hauptachſen c, und en der beiden Quarze liegen gekreuzt zu⸗ einander, wie es in Abb. 82 angedeutet iſt. Die des oberen Keiles verläuft ſenkrecht zur brechenden Kante des Keiles, bei dem unteren Keile parallel dazu. Die ganze Vorrichtung wird in ein eigenes Okular eingeſetzt und mit Aufſatznicol benutzt, die Hauptachſen der Quarzkeile bilden je 45° mit den Nicolhaupt- ſchnitten, damit bei den eintretenden Inter⸗ ferenzen die maximale Helligkeit erreicht wird. An einer Stelle, die in Abb. 82 mit Pfeilen bezeichnet iſt, haben beide Keile gleiche Dicke. Die Doppelbrechung, die ein von unten eintre- tender Strahl im erſten Keil erleidet, wird alſo an dieſer Stelle im zweiten Keil wieder genau kompenſiert, ſodaß bei Beleuchtung mit weißem oder homogenem farbigem Licht an dieſer Stelle ein ſchwarzer Streifen im Ge⸗ ſichtsfeld erſcheint, der parallel den brechen- den Kanten der Keile verläuft. Alle Strah- len rechts und links dieſer Linie erleiden in beiden Keilen Gangunterſchiede, zwar auch vom umgekehrten Sinne, aber von verſchie⸗ dener Größe, ſodaß nach dem Durchlaufen bei- der Keile noch ein Gangunterſchied übrig bleibt, der nach den Enden der beiden Keile immer größer wird. Im homogenen Lichte erſcheinen daher rechts und links von dem mittleren Streifen im gleichen Abſtand weitere 21 dunkle Streifen, die den Gangunterſchieden X, 2X, 3X uſw. entſprechen. Im weißen Licht treten von dem mittleren dunklen Gtrei- fen aus nach beiden Seiten die Farben auf, die einfache Keile für ſich zeigen würden. Der Kompenſator iſt nun ſo eingerichtet, daß der eine Keil mit einer genauen Mikrometerſchraube gegen den feſtſtehenden anderen Keil verſcho— ben werden kann. Der obere Keil trägt ein ſchiefliegendes eingraviertes Kreuz, mit deſ— ſen Mittelpunkt in der Null-Lage der mittlere ſchwarze Streifen zuſammenfällt. Beim Dre- hen des unteren Keiles aus der Null-Lage verſchiebt ſich auch der ſchwarze Streifen und mit ihm natürlich alle anderen Streifen; eben⸗ ſo tritt eine Verſchiebung auch ein, wenn eine doppelbrechende Platte in den Strahlengang LE Cr Babinetſcher Kompenſator. Abb. 82. zwiſchen die beiden Nicols eingeſchoben wird. Die Meſſung des Gangunterſchiedes dieſer doppelbrechenden Platte geſchieht folgender— maßen: Erſt beſtimmt man im homogenen, z. B. in Natriumlicht, die Verſchiebung g des Keiles, die bewirkt, daß an Stelle des mitt- leren ſchwarzen Streifens der nächſtfolgende ſchwarze Streifen tritt. War die Mikrometer⸗ ſchraube in Millimetern eingeteilt, ſo bedeutet alſo g die Verſchiebung, die einer Anderung des Gangunterſchiedes in der Mitte um A entſpricht. Nun fügt man im weißen Licht die Kriſtallplatte zu dem wieder auf die Null- ſtellung gebrachten Kompenſator, merkt ſich die Stellung des mittleren ſchwarzen Strei- fens und verſchiebt den Keil bei der erit- benutzten einfarbigen Lichtart ſolange, bis der mittlere Streifen wieder mit dem Fadenkreuz zuſammenfällt. Dieſe Verſchiebung iſt der Wert G. Es iſt dann — gleic dem in Wellen⸗ längen ausgedrückten Gangunterſchied D, oder D=4. 1 der in Millimetern ausgedrückte 72 Gangunterſchied. War d die ebenfalls in Millimetern angegebene Plattendicke, ſo iſt alſo (nach S. 65) die Doppelbrechung G — d 2 A. d. 85 Die Nachteile des Babinetſchen Kom— penſators ſind die Unbequemlichkeiten, die mit der Benutzung eines beſonderen Okulars und eines Aufſatznicols verknüpft ſind, ſowie Un⸗ empfindlichkeit zur Erkennung und Meſſung geringer Gangunterſchiede. Dieſe Nachteile ſind vermieden in dem neuen drehbaren Kalk⸗ ſpatkompenſator von M. Berek!9). Er befindet ſich in einer Faſſung zum Einſchie⸗ ben in den Schlitz über dem Objektiv, der auch Gips- und Glimmerplättchen aufnimmt. Die Variierung des durch ihn hervorzubringen— den Gangunterſchieds geſchieht durch Neigen der Kalkſpatplatte, die ſenkrecht zur Achſe ge= ſchnitten iſt, wobei die Lichtſtrahlen mit wach— ſender Neigung immer größere Gangunter⸗ ſchiede erlangen, die bis zur vierten Ord— nung gehen. Seine Empfindlichkeit erreicht bei mittleren Gangunterſchieden die des Babi— netſchen Kompenſators, und übertrifft ſie bei kleinen Gangunterſchieden. Er iſt auch zur Be⸗ ſtimmung des optiſchen Charakters im par- allelen und konvergenten Licht geeignet. Die billige Konſtruktion und leichte, dabei ſehr ge= naue Handhabung dürfte ihm eine meiter- gehende Anwendung ſichern. 17. Die Beſtimmung des optiſchen Charakters der Schwingungsrichtungen (der Bauptzone). Die in einem doppelbre⸗ chenden Mineralplättchen entſtehenden beiden Strahlen haben verſchiedene Geſchwindigkeit. Kombiniert man einen Mineraldurchſchnitt mit einem der vorhin erwähnten Kompenſatoren, in dem die Schwingungsrichtungen der jchnel- leren und der langſameren Lichtbewegung be— kannt ſind, jo ergibt ſich daraus, welche Rich- tung auch im Präparat der Schwingungsrich— tung des ſchnelleren oder des langſameren Strahles entſpricht. Dieſe Beſtimmung der Verteilung der Schwingungsrichtungen im Prä— parat kann immer ausgeführt werden. Sit in dem zu unterſuchenden Präparat eine Hauptzone, d. h. eine Richtung ausgebildet, nach der der Kriſtall verlängert iſt, ſo iſt damit der Charakter der Hauptzone beſtimmt. Iſt dieſe Hauptzone zugleich auch ihrer kriſtallographiſchen Orientierung nach be— i M Bevek; Centralbl. 1 NMuteralvgte, 1913, S. 388 ff. kannt, jo ergibt ſich daraus der wahre Cha— rakter des Minerals. | Als Kompenſatoren werden faſt nur das Gipsplättchen von Rot J. Ordnung und der Quarzkeil benutzt. Beide ſind meiſt (nicht im⸗ mer!) ſo orientiert, daß die ſchnellere Welle a parallel der längeren Kante des Plättchens oder des Keiles ſchwingt. Man ſtellt das zu unterſuchende Mineralplättchen in die Dia⸗ gonalſtellung zu den Nicolhauptſchnitten, ſchiebt den Kompenſator in den über dem Ob⸗ jektiv angebrachten Schlitz und ſieht zu, ob ſich die Interferenzfarbe des Minerals er- höht oder erniedrigt. Im erſten Falle liegen gleichwertige Schwingungsrichtungen in Prä⸗ parat und Gipsplatte übereinander, im letz⸗ teren Fall gegeneinander um 90° gekreuzt. Zweckmäßig dreht man nach jeder Beobach— tung das Objekt um 90° herum, wobei die Interferenzfarbe ſinken muß, wenn ſie zuerſt ſtieg, und umgekehrt. Iſt die Richtung größter Geſchwindigkeit a der Haupt⸗ zone parallel, ſo iſt Der hh ie der Hauptzone negativ und umge- Hehe Wenn bei einem optiſch einachſigen Kri⸗ ſtall die Hauptachſe e der Hauptzone ent⸗ ſpricht, jo ſtellt der Charakter der Haupt⸗ zone den wahren Charakter dar. In dieſem Falle iſt die Richtung der op⸗ tiſchen Hauptachſe o e beim poſitiven, und oa beim negativen Charakter. Der Cha⸗ rakter des Minerals iſt entgegengeſetzt dem der Hauptzone, wenn das Mineral vorherr- ſchend in einer Richtung ſenkrecht zur Haupt- achſe ausgebildet iſt. Somit ſtellt ſich das Schema für die Ver⸗ teilung des Charakters der Hauptzone und des Minerals bei einachſigen Kriſtallen wie nebenſtehend dar. Bei zweiachſigen Mineralien kann man im allgemeinen von einem eindeutigen Charakter der Hauptzone nicht mehr reden, da dieſe in den meiſten Fällen in verſchie— denen Durchſchnitten desſelben Kriſtalls ver— ſchieden iſt. Bei unregelmäßig begrenzten Körnern, oder iſometriſch ausgebildeten Kriſtalldurch- ſchnitten kann von einer Hauptzone keine Rede ſein. In dieſen Fällen kann man bei einachſigen Mineralien die Richtung der Hauptachſe c oft mittels der ſtarken Ande— rung der Interferenzfarben ſchiefer Strahlen in ihrer Richtung erkennen (ſ. S. 69). 18. Interferenzerſcheinungen optiſch aktiver Kriſtalle im parallelſtrahligen polariſierten Licht. Linearpolariſiertes ein⸗ farbiges Licht wird in einer Platte eines ak— tiven Kriſtalls, die ſenkrecht zur optiſchen Achſe geſchnitten iſt, in zwei zirkular pola— riſierte Schwingungen zerlegt, die ſich mit ver— ſchiedener Geſchwindigkeit fortbewegen, und ſich beim Austritt aus der Platte zu einer linear polariſierten Schwingung wieder ver— Charakter der Dann Charakter des Minerals Hauptzone positiv |positiv bei nadeliger Ausbildung. 4 NEL Al AL negativ bei fafeliger Ausbildung a AV RE . , Dann Charakter des Minerals negativ beinadeliger Ausbildg. MC, Charakter der Hauptzone negativ positiv bei tafeliger Ausbildung S AV einen, deren Schwingungsebene nun aber ge— genüber der des eintretenden Lichtes um einen beſtimmten Winkelbetrag gedreht iſt. Dieſer Winkel iſt bei derſelben Subſtanz umſo größer, je dicker die Platte und je kleiner die Wel- lenlänge des verwandten Lichtes iſt. Im ein⸗ farbigen parallelſtrahligen Licht iſt eine ſolche Platte daher bei gekreuzten Nicols in jeder Stellung hell. Erſt eine Drehung eines NWi- cols aus der gekreuzten Lage um einen be- ſtimmten Winkel — den Drehungswin— kel — verurſacht Dunkelheit der Platte, die dann in jeder Stellung der Platte vorhanden 73 iſt. — Da der Drehungswinkel mit abneh— mender Wellenlänge ſehr ſtark wächſt, ſo tritt im weißen Licht bei keiner Stellung des Nicols völlige Dunkelheit ein. So beträgt für eine Quarz⸗Platte von 1 mm Dicke der Drehungs— winkel a für Licht von der Wellenlänge X 5 60 687 656 589 527 486 uu D 11,322 278 27580 32,77° 4 = 10 E — 42,60% 537.298 Wenn im weißen Licht der obere Nicol gedreht wird, ſo bleibt die Platte ſtets farbig erhellt. Da bei einer beſtimmten Stellung der Nicols zueinander ſtets nur eine Farbe ausgelöſcht wird, zeigt die Platte dann die nunmehr verbleibende Miſchfarbe. Die Kri—⸗ ſtalle, die die Polariſationsebene des Lichtes nach rechts drehen (vgl. S. 58), zeigen dann bei Rechtsdrehung des Analyſators eine Far— benfolge von Rot, Gelb, Grün, Blau, Vio— lett. Die linken Kriſtalle zeigen dieſe Farben⸗ folge bei einer Linksdrehung des Analyjators. Dieſe Farbenerſcheinungen werden immer undeutlicher, je dünner die Platte wird, und bei der normalen Dünnſchliffdicke von etwa 0,03 mm iſt faſt gar nichts mehr davon zu ſehen, d. h. eine Quarzplatte, ſenkrecht zur Achſe, von dieſer Dicke iſt bei gekreuzten Nicols faſt ganz dunkel. Indeſſen kann man ſelbſt bei dieſen dünnen Quarzplatten, durch Drehung des Analyſators aus der 90 Stel— lung noch den Drehungsſinn des Quarzes feſtſtellen 2°). Bei ſehr intenſiver Beleuchtung mit weißem Licht werden ſie bei gekreuzten Nicols nicht ganz dunkel, ſondern Rechtsquarz hat einen rötlichgrauen Farbenton, Links- quarz einen bläulichgrauen. Erſterer zeigt bei Rechtsdrehung des Analyſators um wenige Grad einen raſchen Übergang von dunkel— ſtahlblau über ein Maximum der Dunkelheit nach bläulichgrau. Letztere zeigen bei Links- drehung des Analyſators um 2—3° raſch eine dunkelſtahlblaue Farbe, dann das Maxi- mum an Dunkelheit, und dann ein dunkles Rötlichgrau. Auf dieſe Art kann noch im Dünnſchliff an kleinen Quarzkörnchen, die nahe genug ſenkrecht zur Achſe geſchnitten ſind, der Sinn der Drehung und eventuelle Zwillingsverwachſungen rechter und linker Quarze, die ſonſt optiſch keine Unterſchiede zeigen, feſtgeſtellt werden. 20) H. Schneiderhöhn, Neues Jahrb. f. Mineralogie 1912, II. 1 ff. 74 b) Die Beobachtungen im konvergenten polariſierten Licht. 19. Allgemeines. Die konoſkopiſche Be⸗ obachtungsmethode im konvergenten polari- ſierten Licht hat den Zweck, nebeneinander und gleichzeitig die Interferenzerſcheinungen zu ſtudieren, die ein optiſch aniſotropes Objekt in allen Richtungen zeigt, in denen es von den verſchiedenen Teilen eines konvergenten Licht— bündels durchſetzt wird. Man bezeichnet dieſe Interferenzerſcheinungen als Interferenz⸗ bilder oder Achſenbilder. In ihnen ent⸗ ſpricht ein beſtimmter Teil nicht einer lokali— ſierten Stelle des Präparats, ſondern einer beſtimmten Richtung im Kriſtall. Deshalb ändert an der Natur des Interferenzbildes eine Parallelverſchiebung des Präparates, ſo— fern es homogen iſt, nichts, wohl aber eine Drehung des Präparates aus ſeiner Ebene. 20. Strahlengang im konvergenten Licht. Der Strahlengang im konvergenten Licht iſt in Abb. 83 ſchematiſch A dargeſtellt. Zwiſchen dem Pola— riſator P und dem Analyhſator A, die auch hier ſtets in ge⸗ 5 kreuzter Stellung angewendet wer⸗ „den, befinden ſich zwei Syſteme von Linſen, das Kondenſorſhſtem L., Li und das Objektivſyſtem L;. Li wird von einer entfernten K Lichtquelle ſo beleuchtet, daß L, das Bild der Lichtquelle ins Präparat K fällt. Jeder Punkt der hinteren Brennebene Bi von 61 Li bildet dann die Spitze eines divergierenden Beleuchtungske⸗ gels, der durch I, um eur e 7 alleles Strahlenbündel umgewan— Abb. 83. Schema delt wird. Dieſe parallelen Bün⸗ des Strahlen- del durchſetzen das Präparat K dergentem Lich. in den verſchiedenſten Richtun⸗ gen. Jedes Bündel paralleler Strahlen wird durch L in deſſen oberer Brennebene B: wieder konvergent gemacht. Dieſe konvergenten Strahlenbündel gehen durch den Analyſator und gelangen in das Auge des Beobachters, der alſo die in B? ab— gebildete Interferenzerſcheinung ſieht. 21. Herrichtung des Polariſations⸗ Mikroſkops zur Beobachtung im konver⸗ genten polariſierten Licht. Damit man die Interferenzerſcheinungen in möglichſt vielen Richtungen auf einmal überſehen kann, mül- ſen die Offnungswinkel des Kondenſors und Objektivſyſtems möglichſt groß ſein. Des— halb ſchaltet man zu dieſem Zweck die Kon- denſorlinſe ein oder bei Mikroſkopen mit Abbeſchem Kondenſor bringt man dieſen möglichſt nahe an das Objekt. Da die mikro⸗ ſkopiſchen Objektive mit wachſender Stärke im allgemeinen größere Offnungswinkel beſitzen, wird man zu dieſen Beobachtungen ein mög⸗ lichſt ſtarkes Objektiv benutzen. Doch iſt zu beachten, daß der Offnungswinkel des Objektivs nur dann voll ausgenutzt werden kann, wenn der des Kondenſors gerade ſo groß iſt, und umgekehrt, oder allgemeiner ausgedrückt, beide Syſteme müſſen dieſelbe numeriſche Apertur haben. Die Ver⸗ wendung ſtarker Objektive hat auch noch den Vorteil, daß man die Achſenbilder ſehr kleiner Objekte ſtudieren kann, da dieſe bei ſtarker Vergrößerung das Geſichtsfeld voll ausfüllen. 22. Methoden der Beobachtung im fonvergenten polarifierten Licht. Die ge⸗ wöhnliche Anordnung des Mikroſkops, Ob⸗ jektiv mit Okular, läßt das Bild des Ob- jektes K auf die Netzhaut fallen. Wir wol⸗ len aber die in B: entſtandene Interfe⸗ renzerſcheinung ſehen. Zu dieſem Zweck können drei Beobach⸗ tungsmethoden angewandt werden. 1. Beobachtung von B, mit bloßem Auge nach Entfernung des Okulars. Man zieht das Okular aus dem Tubus und ſieht in dieſen hinein. Dabei wird man unten in dem Tubus das ſehr kleine aber helle und ſcharfe Achſenbild ſehen, das dieſelbe Lage, wie das Objekt hat, alſo die umgekehrte wie das durch das Okular vermittelte Bild des Objektes (Laſaulxſche Methode). 2. Beobahtung von Bz in een Hilfsmikroſkop, beſtehend aus dem Okular und der Amier 9 ſchen Linſe. Dieſe Linſe wird unter das Okular in den Tubus eingeſchaltet (ſ. ©. 11). Das jo entſtandene Hilfsmikroſkop ver⸗ größert das Achſenbild, macht es freilich auch unſchärfer. Zur möglichſt ſcharfen Einſtellung iſt der obere Teil des Tubus zum Heraus⸗ ziehen eingerichtet. 3. Beobachtung des von Bz und vom Okular entworfenen Bildes mit bloßem Auge oder mit einer auf das Okular zu ſetzenden Lupe (Kleinſche Lupe). Das durch das Okular von B; ent- worfene Bild befindet ſich im ſogen. Dfular- kreiſe über dem Okular und kann geſehen werden, wenn man das Auge in eine Entfer- nung von ca. 25 em über das Okular bringt, oder wenn man eine Lupe über das Okular hält, die dieſes Bild noch ſchwach vergrößert. Bei den Methoden 2. und 3. ſind die Achſenbilder gegen das Objekt verwendet, alſo in derſelben Lage, wie das mikroſkopiſche Bild des Objektes ſelbſt. Die einfachſte und in den Fällen, wo es ſich nicht um eine Ausmeſſung des Achſen— bildes handelt, immer ausreichende Methode iſt die direkte Methode 1. (Über Modifikatio— nen der Methoden 2 und 3 zur Ausmeſſung der Achſenbilder ſ. S. 83 ff. über Meſſung der Achſenwinkel.) 23. Iſotrope Körper im konvergenten polariſierten Licht. Auch im konvergenten polariſierten Licht ſind Platten aus iſotro— pen Körpern in jeder Stellung dunkel und unterſcheiden ſich dadurch von Platten ein- achſiger Kriſtalle ſenkrecht zur optiſchen Achſe, die im parallelen polariſierten Licht ebenfalls in jeder Stellung dunkel ſind, im konvergenten Licht aber das Achſenbild einachſiger Kriſtalle zeigen. | 24. Interferenzerſcheinungen einach⸗ ſiger inaktiver ſenkrecht zur optiſchen Achſe geſchnittener Platten im konver⸗ genten polariſierten Licht. Abb. 84 zeigt einen Durchſchnitt durch eine Platte eines ein⸗ achſigen Kriſtalls, die ſenkrecht zur optiſchen Achſe 00 geſchnitten iſt. 01 bis 04 ſind ſchief auffallende Strahlen des konvergenten Licht- bündels. Wie auf Seite 55 auseinandergeſetzt, erleiden die Strahlen, die in Richtung der optiſchen Achſe eines einachſigen Kriſtalls das Präparat durchſetzen, keine Doppelbrechung. Eine ſolche Platte bleibt daher auch im fenf- 1 3 2 4 00 a . bb. 84. Platte eines einachſigen Kriſtalls ſenkrecht zur opfiſchen Achſe 0 0 in monochromatiſchem Licht. 1, 02, 03, 04 ſind ſchief auffallende Strahlen des konver⸗ genten Strahlenbündels, wo der Gangunterſchied 1, 2, 3, 4% beträgt. recht einfallenden parallelſtrahligen Licht bei gekreuzten Nicols in jeder Stellung dunkel. Genau jo verhält ſich die Platte im fon- vergenten Licht an der Stelle, wo das Licht ſie in Richtung der Hauptachſe durchſetzt, alſo in 00. Hier findet keine Doppelbrechung ſtatt. Das dieſer Richtung entſprechende Zentrum des Interferenzbildes iſt in jeder Stellung des Präparates dunkel. =] os Nehmen wir zunächſt Beleuchtung der Platte mit einfarbigem Licht au. Nach S. 56 wächſt die Doppelbrechung eines einachſigen Minerals mit zunehmendem Winkel der Strah— len gegen die optiſche Achſe. Es werden alſo die ſchiefen Strahlen des konvergenten Lichtbündels doppelt gebrochen und verlaſſen die Platte mit einem Gangunterſchied. Bei einer beſtimmten Neigung wird das Pro— Abb. 85. Schwingungsrichtungen der ordentlichen (o) und außerordentlichen (e) Strahlen in dem Achſenbild eines einachſigen Kriſtalls. dukt aus Doppelbrechung in dieſer Richtung und durchlaufenem Weg gerade einer gan— zen Wellenlänge X des benutzten einfarbigen Lichtes entſprechen. (01 Abb. 84). Eine Strecke weiter wird der Gangunterſchied 2X, dann 3X, 4X fein (02, 03, 04 Abb. 84). An all dieſen Stellen werden ſich die bei— den Strahlen bei der Interferenz aus⸗ löſchen, ſodaß die Platte an dieſen Stellen dunkel erſcheint. Da alle gegen die Achſe 00 gleich geneigten Strahlen auch dieſelbe Dop- pelbrechung und denſelben Gangunterſchied haben, und da der einfallende Lichtkegel zen— triſch ſymmetriſch zur Achſe liegt, ſo werden den Richtungen A, 2X, 3X, 4X uſw. kon⸗ zentriſche dunkle Ringe des Interfe⸗ renzbildes entſprechen. Zwiſchen den Ringen verſtärken ſich die austretenden Strahlen bei der Interferenz und die Zwiſchenräume er- ſcheinen hell, am hellſten in der Mitte zivi- ſchen zwei ſchwarzen Ringen. Die Abſtände der dunklen Ringe werden um ſo größer, je größer die Wellenlänge des angewandten Lichtes iſt, — bei rotem Licht treten alſo die Ringe weiter auseinander als bei violettem Licht —, je geringer die Doppelbrechung des betr. Minerals iſt, und je dünner die Kri⸗ ſtallplatte iſt. Bei dicken Kriſtallplatten mit hoher Doppelbrechung wird alſo eine ganze Schar von engen Ringen eng aneinander liegen. 76 Nach der früher angeführten Definition liegen die Schwingungsebenen der beiden durch Doppelbrechung entſtandenen Strahlen immer ſenkrecht und parallel zum Hauptſchnitt des betr. Kriſtalls, d. h. zu der Ebene, die durch den einfallenden Strahl und die optiſche Achſe beſtimmt iſt. Und zwar ſchwingt der außerordentliche Strahl ſtets im Hauptſchnitt, der ordentliche Strahl ſenkrecht dazu, ſodaß Abb. 86. Schema des Achſenbildes eines 10 aalaen. Kriſtalls im monochromatiſchen Licht. alſo bei Verwendung des konvergenten Strah- lenbündels ſich die Schwingungsverhältniſſe einer Platte ſenkrecht zur optiſchen Achſe 0 für Lichtkegel mit gleicher Neigung zur Achſe ſo darſtellen werden, wie es Abb. 85 zeigt. Die ordentlichen Strahlen ſchwingen ſtets tangential, die außerordentlichen ra⸗ dial. Aus dieſer Figur iſt auch erſichtlich, wie die Lichtintenſität in den verſchiedenen Durchmeſſern der Kreiſe ſich verteilen muß, je nach deren Lage zu den Nicolhauptſchnit— ten A und P. Aus dem Polariſator wird nur Licht parallel P ins Präparat geſchickt und in Richtung PP des Interferenzbildes un⸗ zerlegt durchgelaſſen, alſo am Analyſator A total reflektiert, weshalb parallel dem Haupt- ſchnitt des unteren Nicols ein ſchwarzer Bal— ken in der Interferenzfigur erſcheint. Auch parallel A erſcheint ein ſchwarzer Balken, weil dieſe Komponente zwar von A durch— gelajjen werden würde, durch P aber über— haupt nicht ins Präparat kommt. Dagegen zerlegt ſich die Schwingungsrichtung P in den anderen Richtungen in zwei Kompo— nenten, die beide z. T. vom Analyhſator durchgelaſſen werden. Die anderen Teile der Interferenzfigur zeigen daher Aufhellung und zwar haben die aufgehellten Zwiſchenräume der Ringe die größte Intenſität in den Durchmeſſern, die um 45 gegen die Ni— colhauptſchnitte geneigt ſind, weil da das ein— tretende polariſierte Licht ſich in zwei Kom— ponenten zerlegt, die um 450 gegen A ge⸗ neigt ſind und deshalb vom Analyjator mit der größten Intenſität durchgelaſſen werden. Die ganze Interferenzfigur oder das Ad) ſenbild einachſiger Kriſtalle jenf- recht zur optiſchen Achſe im einfar⸗ bigen polariſierten Licht beſteht dem⸗ nach aus einem ſchwarzen Kreuz, deſſen Arme den Schwingungsrichtungen der beiden Ni⸗ cols parallel ſind und einer Schar zu dem Mittelpunkt des Kreuzes konzentriſcher dunk⸗ ler Ringe in einem hellen Feld, deſſen Farbe gleich der des verwandten Lichtes iſt und deſſen Intenſität in den diagonalen Durch— meſſern am größten iſt und nach beiden Sei⸗ ten nach den Richtungen der Nicolhauptſchnitte hin abnimmt. Abb. 86 zeigt das Achſenbild ſchematiſch; Abb. 87 gibt ein e nach einer Photographie. Bei Verwendung weißen Lichtes bleibt das dunkle Kreuz noch beſtehen, weil die Ni⸗ colhauptſchnitte ja für alle Farben dieſelben ſind. Dagegen geht da, wo z. B. für rotes Licht ein dunkler Ring war, Licht von anderen Wellenlängen durch. Allgemein ſind alle die Stellen, wo für eine gewiſſe Lichtart Dunkel- heit herrſcht, für andere Lichtarten hell. Es entſteht ein Syſtem farbiger Ringe, das vom Mittelpunkt an in radialer Richtung in der Reihenfolge der Farben und der Ord— nungen den Newtonſchen Farben entſpricht, wie ſie ein Keil im parallelen polariſierten Abb. 87. Achſenbild eines inaktiven einachſigen Kriſtalls (Kalkſpat) ſenkrecht zur optiſchen Achſe im Natriumlicht. Lichte zeigt. Dieſe farbigen Ringe werden auch iſochromatiſche Kurven genannt. Wenn die unterſuchte Platte ſo geſchnitten iſt, daß ihre optiſche Achſe genau mit der Achſe des Mikroſkopes zuſammenfällt, ſo bleibt das Achſenbild unverändert bei einer Um⸗ drehung des Tiſches und das Zentrum liegt immer im Schnittpunkt der Fäden des Faden— 4 r e | N 7 | kreuzes. Steht die optiſche Achſe ſchief zur Mikroſkopachſe, ſo liegt auch das Achſenbild exzentriſch im Geſichtsfeld und die Spur der optiſchen Achſe beſchreibt bei einer Umdre— hung des Präparates auf dem Objekttiſch einen Kreis um den Mittelpunkt des Faden— kreuzes. Dabei bleiben aber die ſchwarzen Abb. 88. Poſitiver Charakter der Doppelbrechung eines ein⸗ achſigen Minerals, beſtimmt im konvergenten polariſierten Licht mit Gips vom Rot I. Ordnung. Balken ſtets parallel den Fäden des Faden— kreuzes, d. h. den Schwingungsrichtungen der Nicols, was eine wichtige Unterſchei— dung ſchiefer Schnitte einachſiger gegenüber den ſchiefen Schnitten zweiachſiger Minera- lien iſt. Bei dünnen Schnitten ſchwach doppel- brechender Mineralien kommen die iſochroma— tiſchen Ringe mit den lebhaften Interferenz⸗ farben nicht mehr in's Geſichtsfeld, ſondern Abb. 90. Poſitiver Charakter der Doppelbrechung eines ein⸗ achſigen Minerals, beſtimmt im konvergenten polariſierten Licht mit ¼ Undulations⸗Glimmerplättchen. dieſes wird nur noch von einem breiten ſchwarzen Kreuz mit verwaſchenen Rändern eingenommen, deren diagonale Räume die grauen Farben der erſten Ordnung zeigen. 25. Beſtimmung des optiſchen Cha⸗ rakters einachſiger Kriſtalle im konver⸗ genten polarijierten Licht. Infolge des Umſtandes, daß die radialen Richtungen der —1 —1 Interferenzfigur Schwingungsrichtungen des außerordentlichen Strahles, die tangentialen Richtungen dagegen Schwingungsrichtungen des ordentlichen Strahles ſind, kann der op— tiſche Charakter der betr. Subſtanz beſtimmt werden durch Kombination mit einem der früher beſprochenen Kompenſatoren. Abb. 89. Negativer Charakter der Doppelbrechung eines einachſigen Minerals, beſtimmt im konvergenten polariſier⸗ ten Licht mit Gips vom Rot I. Ordnung. Mit dem Gipsplatt vom Rot J. Ordnung. Das Gipsplatt iſt, wie S. 72 angegeben, meiſt jo orientiert, daß ſeine län- gere Kante parallel zu Schwingungsrichtung a der ſchnelleren Welle liegt (Abb. 88 und 89). Nach der Definition S. 56 haben in pojiti= ven einachſigen Kriſtallen die außerordent- lichen Strahlen größere Brechungsindizes, alſo geringere Geſchwindigkeit, als die ordentlichen Strahlen. Alſo fallen beim poſitiven Kri— Abb. 91. Negativer Charakter der Doppelbrechung eines einachſigen Minerals, beſtimmt im konvergenten polariſier⸗ ten Licht mit / Undulations⸗Glimmerplättchen. ſtall (Abb. 88) 21) in den beiden Südweſt—⸗ Nordoſt⸗-Quadranten des Achſenbildes die lang— ſamer ſchwingenden, außerordentlichen Strah- 21) In Abb. 88 wie in den weitern analogen Abbildungen ſind die auftretenden Farben mit der heraldiſchen Signatur angedeutet, alſo rot: ſenk⸗ recht geſtrichelt, blau: wagrecht geſtrichelt und gelb: punktiert. len des Kriſtalles in dieſelbe Richtung, wie die ſchneller ſchwingenden Strahlen des Gips⸗ plattes, und es findet in dieſen Quadran⸗ ten eine Kompenſation der Doppel- brechung ſtatt. Die grauen Interferenz⸗ farben nahe den Balken des Achſenkreu— zes ſubtrahieren ſich hier von dem Rot des Gipsplattes, jo daß ein Orangegelb I. Ord— nung entſteht. In den beiden anderen Qua⸗ dranten iſt es genau umgekehrt. Dort ſchwin— die ſchnelleren ordentlichen Strahlen tan⸗ gential, alſo parallel den ſchnelleren Strah- len des Gipsplattes, und es findet Addition des Grau zu Rot J. Ordnung ſtatt, die Inter⸗ ferenzfarbe ſteigt hier auf Blau II. Ordnung. Die umgekehrte Erſcheinung trifft bei einem Negativen Kristall ein (Fig 89). Hier iſt der ordentliche Strahl langſamer als der außerordentliche. Man merke ſich folgende Gedächtnis- regel bei der Beſtimmung des Charakters: Die DSerbinpungslinie der blauen Stellen am Interferenzkreuz gibt mit der Schwingungs richtung a der Lichtbewegung von größter Geſchwin— digkeit im Gipsplatt das Vorzeichen der Doppelbrechung an. Bei optiſch Mega hen Seciitollen Tallen Dre Diawen Stellen in dieſelbe Richtung (— —), bei optiſch poſitiven Kriſtal— L e, te anjemanper jent- recht (4). Das ſchwarze Kreuz zeigt nach Einſchie— bung des Gipsplattes natürlich die Inter⸗ ferenzfarbe, die dieſes allein zeigt, iſt alſo rot. Die Anwendung des Gipsplättchens iſt in allen Fällen geboten, wo es ſich um dünne Präparate ſchwach doppelbrechender Subſtan— zen handelt, wo alſo die ohne Gipsplatt grauen Stellen nahe den Balken des Kreu⸗ zes, die mit dem Gipsplatt den charakteriſti⸗ ſchen Farbenumſchlag zeigen, eine größere Aus⸗ dehnung haben. Wenn dagegen die Doppel- brechung eines Minerals hoch iſt, oder wenn dickere Präparate vorliegen, wo alſo die iſo⸗ chromatiſchen Ringe ſehr nahe aneinander- liegen, dann iſt die Farbenänderung nahe den Balken des Kreuzes mit dem Gipsplatt nicht gut zu ſehen und man bedient ſich zur Beſtimmung des Charakters zweckmäßiger des ½% Und. Glimmerplättchens. Auch hier werden ſich die anliegenden Quadranten ver- ſchieden verhalten. In den beiden Qua⸗ dranten, wo gleichartige Schwingungsrichtun— gen des Interferenzbildes und des Glim— merplättchens zuſammenfallen, tritt Addi— tion des Gangunterſchiedes ein und zwar um eine Viertelwellenlänge (Abb. 90 und 91). Eine beſtimmte Interferenzfarbe der iſo⸗ chromatiſchen Ringe wird ſchon eine Strecke vorher erreicht ſein, es ſieht ſo aus, als ob gegenüber dem urſprünglichen Achſenbild die Ringe eine Verengerung erfahren hät⸗ ten. In den beiden anderen Quadranten wird der Gangunterſchied kompenſiert. Hier wird eine beſtimmte Interferenzfarbe erſt um eine Strecke weiter nach außen erreicht, es ſieht jo aus, als ob die Ringe erweitert wor⸗ den wären. Wo in dieſen Quadranten zwi⸗ ſchen den Balken der urſprüngliche Gangunter⸗ ſchied Y Wellenlänge war, muß er hier auf 0 kompenſiert werden und an dieſen Stellen er⸗ ſcheint dann je ein dunkler Punkt. Das ſchwarze Kreuz und ſomit auch die Mitte des Interferenzbildes erſcheint in derſelben Farbe, wie das Glimmerplättchen, alſo Graublau I. Ordnung. Die Glimmerplättchen ſind wie⸗ der zweckmäßig ſo orientiert, daß die längere Kante der Richtung größter Lichtgeſchwindig⸗ keit a entſpricht. Die Lage der ſchwar⸗ zen Punkte iſt bei negativen Kriſtal⸗ len gekreuzt zu a, bei pof ii ſtallen parallel a des Glimmerplätt⸗ chens. 26. Interferenzerſcheinungen einach⸗ ſiger aktiver ſenkrecht zur optiſchen Achſe geſchnittener Platten im konvergenten polarifierten Licht. Im einfarbigen Licht iſt der Mittelpunkt des Interferenzbildes hell, erſt vom erſten Ring an beginnen die ſchwar⸗ zen Balken. Im weißen Licht zeigt das helle Mittelfeld dieſelbe Farbe, die die ganze Platte im parallelen polariſierten Licht hatte (Abb. 92). Bei Drehung des Analhſators zerfällt im einfarbigen Licht jeder dunkle Ring oder im weißen Licht jeder iſochromatiſche Ring in vier Bogenſtücke, die ſich erweitern, wenn der Sinn der Analyſatordrehung und des Dre— hungsvermögens der Platte derſelbe iſt. Bei entgegengeſetztem Drehungsſinn verengern ſich dieſe Bogenſtücke. — Das helle Mittelfeld gibt im weißen Licht bei Drehung des Ana⸗ lyſators dieſelbe Farbenfolge, die die ganze Platte im parallelen polariſierten Licht bei der entſprechenden Analyſatordrehung zeigt. Dies ſowie die Erweiterung reſp. Verengerung der Ringe kann benutzt werden, um auch im konvergenten Licht den Sinn des Drehungs⸗ vermögens der Platte zu ermitteln. 27. Interferenzerſcheinungen zweiach⸗ ſiger inaktiver Kriſtalle im konvergenten polariſierten Licht. Die Erſcheinungen ſind bei zweiachſigen Kriſtallen weſentlich kompli— zierter, ſo daß ihre Ableitung ſelbſt in der Art wie ſie hier für einachſige Kriſtalle ge— geben wurde, viel zu weit führen würde. Es ſeien deshalb nur die auftretenden Er— ſcheinungen beſchrieben und im übrigen auf ihre Ableitung in den Lehrbüchern von Th. Liebiſch, E. A. Wülfing u. a. verwieſen. Platten ſenkrecht zu einer opti⸗ ſchen Achſe. Die immer vorhandene Diſper— ſion der optiſchen Achſe für verſchiedene Far- ben, die auf der Diſperſion der Brechungs— Abb. 92. Achſenbild eines aktiven einachſigen Kriſtalls (Quarz) ſenkrecht zur optiſchen Achſe im Natriumlicht. (Nach H. Hauswaldt.) indizes beruht, ſei zunächſt außer Acht ge= laſſen (ſ. S. 66). Das Interferenzbild ähnelt dem eines einachſigen Kriſtalls (Abb. 93). Es tritt aber nur ein ſchwarzer Balken auf und die iſochromatiſchen Kurven ſind nicht mehr Kreiſe, ſondern Ovale. Beim Drehen des Präparates in der Ebene des Objekttiſches drehen ſich im Gegenſatz zu einachſigen Ach- ſenbildern der ſchwarze Balken und die Ringe mit, aber in entgegengeſetzter Richtung, wie das Präparat gedreht wird. Platten ſenkrecht zur ſpitzen Mit⸗ tellinie. Hierbei ſind zwei Stellungen der Platte zu unterſcheiden: Die Normalſtellung, d. h. die Stel⸗ lung der Platte, wo die Ebene der optiſchen Achſe mit dem Hauptſchnitt eines der beiden Nicols zuſammenfällt. In dieſem Falle liegt ein ſcharf begrenzter, ſchmälerer, ſchwarzer Balken parallel der Achſenebene, alſo auch parallel dem einen Nicolhauptſchnitt, jenf- recht dazu liegt ein breiter, verwaſchener, 79 ſchwarzer Balken. Symmetriſch zu dieſen bei— den Balken liegen die iſochromatiſchen Kurven, die ſich um die Achſenaustrittspunkte grup— pieren, derart, daß die Innenkurven ge— ſchloſſene Ovale um jede Achſe bilden, dann kommt eine Achterfigur, während die äuße— ren Ringe lemniskatenähnliche Formen be— ſitzen. Abb. 94 gibt das Schema dieſer iſo— chromatiſchen Kurve oder Kurven gleichen Gangunterſchieds. Die ganze Erſcheinung ſtellt die Photographie Abb. 95 dar. Dreht man die Platte aus der Normal- ſtellung heraus bis die Achſenebene mit den Hauptſchnitten der Nicols einen Winkel von 45° bildet, jo erhält man die ſogen. Dia— Abb. 93. Achſenbild eines zweiachſigen Kriſtalls (Andaluſit) ſenkrecht zu einer optiſchen Achſe im Natriumlicht. (Nach H. Hauswaldt.) gonalſtellung. Hierbei bleiben die Kur— ven gleichen Gangunterſchieds in ihrer Geſtalt beſtehen, drehen ſich aber mit der Platte, das ſchwarze Kreuz öffnet ſich in der Mitte und je zwei aneinanderliegende Balken vereinigen Abb. 94. Kurven gleichen Gangunterſchieds eines zwei⸗ achſigen Kriſtalls im Achſenbild. ſich und bilden in der Diagonalſtellung eine Hyperbel, deren Scheitelpunkt der Achſen— austrittspunkt iſt (ſ. Abb. 96). Platten ſenkrecht zur ſtumpfen Mittellinie laſſen die Achſenaustritts⸗ punkte nicht mehr erkennen. Die Mitte des 80 Geſichtsfelds iſt wieder von lemniskatenähn⸗ lichen iſochromatiſchen Kurven eingenommen. Wenn der wahre Winkel der optiſchen Achſen 2V nahe 90° iſt, kann eine Unter⸗ ſcheidung, ob die ſpitze oder die ſtumpfe Bi⸗ ſektrix vorliegt, unter dem Mikroſkop ſehr ſchwierig werden. In dieſen Fällen hilft nur genaue Meſſung des Achſenwinkels, am beſten mit einem Achſenwinkelapparat. 28. Interferenzerſcheinungen zwei- achſiger aktiver Kriſtalle im konvergen⸗ ten polariſierten Licht. Aktive zweiachſige Kriſtalle kommen ſehr ſelten vor, und ſind bis jetzt nur von künſtlichen Produkten be— kannt (Bitterſalz, Weinſäure uſw.). Noch ſel— tener gelingt es, die Drehung der Polariſa— keit des Winkels der optiſchen Achſen mit der Farbe ſich ergibt. Ob die optiſchen Symmetrieachſen, — die beiden Mittellinien und die optiſche Nor- male —, diſpergiert ſind, hängt von den allgemeinen Symmetrieeigenſchaften der betr. Kriſtallklaſſe und von der Lage der opti- ſchen Achſenebene innerhalb des Kriſtal— les ab. Im rhombiſchen Syſtem ſind die drei optiſchen Symmetrieachſen wirkliche kri⸗ ſtallographiſche Symmetrieachſen, ſie liegen daher für alle Farben an derſelben Stelle und ſind nie diſpergiert. Ein rhombiſcher Kriſtall zeigt infolge der allein möglichen Diſperſion der Brechungsexponenten nur die Abb. 95. Achſenbild eines optiſch zweiachſigen Kriſtalls (Ara⸗ gonit) ſenkrecht zur erſten Mittellinie im Natriumlicht. Normalſtellung. (Nach H. Hauswaldt.) tionsebene wirklich optiſch nachweiſen zu kön— nen. Die Interferenzerſcheinungen im kon⸗ vergenten polariſierten Licht ſeien daher nur der Vollſtändigkeit halber erwähnt. — Die Drehung der Polariſationsebene iſt in Schnit- ten ſenkrecht zu einer Achſe zu bemerken, und äußert ſich hier analog den einachſigen Kri— ſtallen darin, daß der eine ſchwarze Balken in der Mitte des Achſenbildes ausfällt, und dort eine Interferenzfarbe auftritt. Drehung des Analyſators erzeugt analoge Erſcheinun— gen wie bei einachſigen aktiven Kriſtallen. 29. Diſperſion der Brechungsexpo⸗ nenten und der optiſchen Symmetrieach⸗ ſen. Bei den einachſigen Kriſtallen iſt ſtets die optiſche Achſe Symmetrieachſe, d. h. ſie liegt für alle Farben an derſelben Stelle. Anders die optiſchen Achſen zweiachſiger Me⸗ dien. Sie ſind nie Symmetrieachſen und ſtets iſt die Lage der optiſchen Achſen zwei⸗ achſiger Kriſtalle abhängig von der Farbe, woraus dann auch die Veränderlich— Abb. 96. Achſenbild eines optiſch zweiachſigen Kriſtalls (Ara⸗ gonit) ſenkrecht zur erſten Mittellinie im Natriumlicht. Diagonalſtellung. (Nach H. Hauswaldt.) ſogen. Diſperſion der optiſchen Ad- ſen oder die rhombiſche Diſperſion. Im monoklinen Syſtem iſt nur noch eine wirkliche kriſtallographiſche Symmetrie⸗ achſe vorhanden, mit der eine der Mittel- linien oder die optiſche Normale zuſammen⸗ fällt. Dieſe iſt dann nie diſpergiert, wohl aber die beiden anderen optiſchen Symmetrieach⸗ ſen. Es müſſen je nach der Orientierung der erſten Mittellinie und der Lage der Achſenebene drei Fälle unterſchieden werden: Geneigte, horizontale und gekreuzte Diſperſion. Im triklinen Syſtem iſt keine Rich⸗ tung mehr kriſtallographiſche Symmetrieachſe, die optiſchen Symmetrieachſen und die op— tiſchen Achſen haben ſtets von der Farbe abhängige, verſchiedene Lagen. 30. Diſperſion der optiſchen Achſen bei rhombiſchen Kriſtallen oder rhom⸗ biſche Diſperſion. Die optiſche Achſenebene, ſowie die zwei auf ihr ſenkrecht ſtehenden Ebenen, welche die drei Symmetrieachſen in ſich enthalten, ſind kriſtallographiſche Sym— metrieebenen. Deshalb find die Interferenz— bilder ſenkrecht zu den beiden Mittellinien (wie auch das zur Normalen) im einfarbigen wie im weißen Licht nach zwei aufeinander ſenkrecht ſtehenden Ebenen ſymmetriſch. Die optiſchen Achſen zeigen Diſperſion, die Ach— Abb. 97. Diſperſion der op⸗ tiſchen Achſen in einem rhom⸗ biſchen Kriſtall RV. Abb. 99. Diſperſion der op⸗ tiſchen Achſen in einem rhom⸗ biſchen Kriſtall R= V. ſenaustrittspunkte für verſchiedene Farben lie⸗ gen in derſelben Symmetrieebene 8181 und in ihrer Geſamtheit ſymmetriſch zu der dar— auf ſenkrechten Symmetrieebene 82 S8? (Abb. 97-100). Es find zwei Arten der Achſen— diſperſion zu unterſcheiden: Es kann der ſpitze Winkel der optiſchen Achſen für rotes Licht kleiner oder größer ſein, als für violettes Licht. Die Diſperſion der betreffenden Gub- ſtanzen wird im erſten Falle als R < V (Abb. 97) im letzteren Falle als R V (Abb. 99) bezeichnet. In Abb. 98 und 100 ſind auch die Erſcheinungen ſchematiſch für die Diagonalſtellung der Interferenzbilder ge— zeichnet. Bei R u iſt im Interferenzbild die ſchwarze Hyperbel für rotes Licht, bei V die für violettes Licht, dazwiſchen liegen die für die anderen Farben. An der Stelle, wo bei der Beleuchtung mit einer beſtimmten farbigen Lichtart eine dunkle Hyperbel liegt, tritt im weißen Licht eine Interferenzfarbe auf, in der jene Lichtart vollkommen fehlt. Es tritt alſo bei R, wo kein rotes Licht austritt, ein bläu⸗ licher Farbenton auf, während bei V, wo kein violettes Licht austritt, ein rötlicher Ton herrſcht. Es ſind ſomit für den Fall der Diſperſion R | Noch Bo 5 Nophg . 8. | none 1 8 8.88 Ba S; wıroßorad gane S S eg I. SZ 1 G = & -s(pa| RENT Ba 5 8 10 N 2 1 Am. u mulsas 58 Obe asc! ES = FE De | PS) eee Yang "Binpoagpddog; egung Bungaaquup uoyjoa gel & vile ER 3 8 ebe e en eee ehe eee; au pg eee u] ehe Bunply I|SE| 8 NM ISA HE ndaoy aadılpvınd ayıgualgıg sg phıapumuG| ago aavaad era ml | jpuoßvapg Friyaıgoa | Tag 2 \ 0 Dan en ia 5 1 0 En 2 1390 ela Sc 3 „ . Sog ag Meeder 7799 een eee, = ec ene ag gun nee waquagiwjgpgung [ara] 21% ung aaa Alypo [aut] way 21% 8 woandıldg 9 apinbong anno obe (ungen eng 9 eee neee; e 1a] eee enen ungen . Ei & nod | anna och Hune pe ehem ce and marguugıg) 58 85 ohdraung ehen Bnmpavaod eue ppyung Bungaaguuy nojaa aa 199 uaglajg ne ene 311% 8 11 D U91U1JAaNJINAJO N uoyaaılıavjad nayuaßasauay uf IN wayaaılıavjgad najajjvand ug = — — nen — Sone seng 199 eee eee eee um hee aauagaıplara ea; an eee eee ee enen ant plnps ehe er 88 legt 23). Beide ſind ihrer Phaſe nach verſchie— den, d. h. ſie zeigen einen Gangunterſchied, der aber von der Dicke der darunter lie⸗ genden Schicht unabhängig iſt, und von ſehr viel kleinerer Größenordnung als bei durch— ſichtigen aniſotropen Körpern. Daneben tritt aber auch noch eine Verſchiedenheit der bei⸗ den reflektierten Komponenten in bezug auf ihre Amplitude, alſo auch auf die Intenſität auf. 2. Vertikalilluminator zur Unter- ſuchung undurchſichtiger Körper. (Siehe auch S. 32— 34.) Über den Linſen des Objek⸗ tivs befindet ſich ein totalreflektierendes Prisma P (Abb. 115), das durch einen ſeitlichen Aus⸗ ſchnitt beleuchtet wird und Licht durch das Ob— jektiv, das zugleich für das Präparat auch als Kondenſor wirkt, auf das Präparat wirft. Da Abb. 115. Vorrichtung zur Erkennung optiſcher Aniſotropie. das Prisma exzentriſch im Tubus ſitzt, kann das vom Präparat nach oben reflektierte Licht zum Teil ins Mikroſkop gelangen und ſo ein Bild von der Oberfläche des undurchſichtigen Körpers vermitteln. 3. Erkennung der optiſchen Aniſo⸗ tropie undurchſichtiger Körper. Die Vor⸗ richtung nach J. Koenigsberger zeigt Abb. 115. Vor dem totalreflektierenden Prisma iſt ein Nicol N mit horizontaler Schwingungsrichtung. Im Tubus des Mikro- ſkops iſt eine Quarzplatte K von 3,75 mm Dicke, die ſenkrecht zur Achſe geſchnitten iſt, ſowie der Analyſator. Der Analyjator wird jo gedreht, daß das Geſichtsfeld bei der Re- flexion des Lichtes an einer iſotropen Fläche (Glasplatte, Silberſpiegel) violett gefärbt iſt (infolge der Zirkularpolariſation des Quarzes, vergl. S. 58). Wird das Licht an einer an⸗ 23) Bezüglich der bei monoklinen und triklinen Körpern dabei eintretenden geringen elliptiſchen Polariſation vgl. F. Pockels, Lehrbuch der Kri⸗ ſtalloptik, 1906. iſotropen Fläche reflektiert, jo zeigt das Ge⸗ ſichtsfeld an dieſen Stellen eine rote oder blaue, bei ſtärkerer Aniſotropie hellgelbe oder grüne Färbung, die in den 45 Stellungen des Präparats am größten iſt, in den Nor- malſtellungen aber verſchwindet. 4. Meſſung der optiſchen Aniſo⸗ tropie undurchſichtiger Körper. Dieſe eben beſchriebene Vorrichtung läßt ſich nicht zur Meſſung verwenden, da ſowohl der Gang⸗ unterſchied als auch der Intenſitätsunterſchied beider reflektierten Strahlen wirken. J. Koenigsberger?) hat dazu eine Vorrichtung konſtruiert, die vermittels einer Doppelkalkſpatplatte, der ſogen. Savartſchen Platte, die Verſchiedenheit der Amplitude oder Intenſität der beiden reflektierten Strahlen zu meſſen geſtattet. Über die nähere Ein⸗ richtung, Wirkungsweiſe und die Vorſichtsmaß⸗ regeln vergleiche die unten zitierten Abhand⸗ lungen. Mineralien ſind die gediegenen Metalle und die Erze ſchon in ſehr dünnen Schich⸗ ten undurchſichtig. Auch die Meteoriten enthalten viele undurchſichtige Komponenten. Dieſe Objekte der Mineralogie ſind daher, wenn es ſich um genauere Beobachtung der Verbandsverhältniſſe, und der Zuſammen⸗ ſetzung handelt, im auffallenden Licht zu un⸗ terſuchen. Einen großen Aufſchwung in neue⸗ rer Zeit nahm dieſe Methodik in der Me- tallogrophie. Es ſei hier auf die dies⸗ bezüglichen Lehrbücher verwieſen, beſonders W. Guertler: Metallographie. Berlin 1909. (Mehrere Bände, noch im Erſcheinen.) Ebenſo kann auf die ziemlich komplizier⸗ ten Herſtellungsweiſen der Präparate, die neben der Anfertigung von planen Flächen, von Polituren verſchiedener Art auch noch Atzmethoden umfaſſen, hier nicht weiter ein⸗ gegangen werden. Winke hierzu ſind ebenfalls in dem angeführten Werk von Guertler ent⸗ halten. Es ſei noch darauf hingewieſen, daß außer dieſen Objekten ſich auch oft eine Be⸗ trachtung der Atzfiguren an durchſichtigen wie undurchſichtigen Kriſtallen im auffallenden Lichte lohnt. Sie entſtehen durch Einwirkung von Löſungsmitteln auf kriſtalliſierte Stoffe, und geben ein genaues Abbild ihrer kri— ſtallographiſchen Symmetrie und Struktur. 24) J. Koenigsberger, Centralbl. f. Mi⸗ neralogie 1908, S. 565 und 1909, S. 245. gleichzeitig 5. Objekte und Präparate. Unter den * N FFF ̃⁰ . A 89 Siebzehntes Kapitel. Anwendungsbereich der Beſtimmungsmethoden mit Hilfe des Polariſationsmikroſkops auf die verſchiedenen Objekte. Nachdem im Vorhergehenden die Me— thoden beſchrieben worden ſind, nach denen mit Hilfe des Polariſationsmikroſkops phyſi— kaliſche Konſtanten kriſtalliſierter Körper be— ſtimmt werden können, erübrigen nun noch einige Angaben darüber, wie weit ſich die verſchiedenen kriſtalliſierten Stoffe zu dieſen Beſtimmungen eignen, und welche Methoden in einzelnen Fällen zur Anwendung gelangen können. Da iſt zunächſt der doppelte Charakter des Polariſationsmikroſkops hervorzuheben, der ſich auch in der geſchichtlichen Entwicklung ſeiner Anwendung ausprägt: einmal der eines Hilfsinſtrumentes zur qualitativen Diagnoſti⸗ zierung und Identifizierung ſchon bekannter Stoffe, andererſeits der eines univerſellen exakten Meßapparates, der phyſikaliſche Kon- ſtanten der verſchiedenſten Art mit einer im⸗ merhin recht erheblichen Genauigkeit quanti⸗ tativ zu beſtimmen geſtattet. Die mineralogiſche Zuſammenſet⸗ zung der Geſteine und Mineralaggre⸗ gate, ſowie die gegenſeitigen Verbandsver— hältniſſe der Komponenten — Struktur und Textur — können mit wünſchenswerter Ge⸗ nauigkeit nur mikroſkopiſch erkannt werden. — Bietet die Feſtſtellung von Struktur und Tex⸗ tur Anlaß zu rein qualitativen Beobachtungen, ſo erfordert die Erkennung der die Geſteine zuſammenſetzenden Komponenten, die Mine⸗ ralbeſtimmung, ſowohl qualitative Beobachtungen als auch quantitative Meſſungen. Zu den hierhergehörigen qualitativen Beobachtungen gehören: Form, Habitus, Spaltbarkeit, Einſchlüſſe, Farbe, Pleochroismus, Einfachbrechend oder doppelbrechend, Einachſig oder zweiachſig, Charakter der Doppelbrechung, Diſperſion. Im allgemeinen wird man bei dem Gang der Unterſuchung zuerſt dieſe qualitativen Be⸗ obachtungen vornehmen, um dann erſt zu quantitativen Meſſungen überzugehen, zu denen zu rechnen ſind: Längen⸗, Dicken⸗, Winkelmeſſungen, Meſſung der Brechungsindizes, Meſſung der Höhe der Doppelbrechung, Meſſung des Auslöſchungswinkels, Meſſung des Winkels der optiſchen Achſen. + Es liegen mehrere Tabellen vor, in denen die mikroſkopiſchen Eigenſchaften und phyſikaliſchen Konſtanten geſteinsbildender Mi- neralien verzeichnet ſind, jo in den im Litera⸗ raturverzeichnis genannten Werken von H. Roſenbuſch, E. Weinſchenk, J. P. Id⸗ dings. Für die Mineralien der deutſchen Kali⸗ ſalzlager hat H. E. Boeke ähnliche Tabellen zuſammengeſtellt. Die Eigentümlichkeit der petrographi- ſchen Unterſuchungen beſteht in der Art der zu unterſuchenden Präparate, der Dünn⸗ ſchliffe, die ganz regelloſe Durchſchnitte durch die verſchiedenen Mineralien geben. — Man kann zwei Wege der Diagnoſe ein- ſchlagen: Einmal ſtellt man die Orientierung eines beliebigen Schnittes zu kriſtallographiſch be— ſtimmten Richtungen annähernd feſt — mit Hilfe von Spaltriſſen, Winkelmeſſungen, Wech- ſel der Interferenzfarbe bei ſchiefer Beleuch⸗ tung, Achſenbildern — und extrapoliert die gemeſſenen Werte der Auslöſchungsſchiefe, Doppelbrechung auf die in den Tabellen ver- zeichneten Werte in Richtung der optiſchen Symmetrieachſen. Dieſer Weg iſt oft mit praf- tiſchen Schwierigkeiten verknüpft und ſetzt ein hohes Maß von kriſtalloptiſchen Kenntniſſen voraus, insbeſondere läßt er ſich ohne Ver⸗ wendung der ſtereographiſchen Projektion kaum durchführen. Es wurde deshalb dieſe Methode in vorliegender Schrift nicht weiter berückſichtigt. Der zweite Weg beſteht darin, aus einer größeren Anzahl von Durchſchnitten mit Hilfe von Spaltriſſen, Winkelmeſſungen, Wechſel der Interferenzfarbe bei ſchiefer Beleuchtung, Ach- ſenbildern, — die Schnitte herauszuſuchen, 90 die ſenkrecht zu einer optiſchen Symmetrieachſe liegen, und dieſe allein zu berückſichtigen. Dieſer Weg iſt der leichtere, auch für weni⸗ ger Geübte ſicherer ans Ziel führende. Er ſetzt eine größere Anzahl von Durchſchnitten desſelben Minerals voraus, was meiſt wohl auch der Fall iſt. Die Objekte dieſer — wie ſie genannt werden mag — petrographiſchen Unter⸗ ſuchungsmethode liefert keinesfalls allein die Petrographie, und ihre benachbarten Wiſ—⸗ ſenszweige, wie Mineralogie, Geologie, Erz- lagerſtättenkunde. Mit großem Erfolg wurde ſie z. B. in den letzten Jahren zur Unter⸗ ſuchung von Salzlagerſtätten, insbeſondere der deutſchen Kaliſalze, angewandt, etwas älter iſt ihre Verwendung bei bautechniſchen Ge— ſteinsunterſuchungen. Aber auch im Laborato- rium, bei der Unterſuchung der Produkte der Mineral- und Geſteinsſyntheſe, wo man häufig Aggregate verſchiedener Stoffe erhält, hat ſie bereits beſte Erfolge ergeben, und zwar nicht nur bei der Unterſuchung von Sili⸗ katen und Karbonaten, ſondern auch von waſſerlöslichen Salzen, wie Haloiden, Sul— faten uff. (vgl. die Herſtellung von Dünn⸗ ſchliffen waſſerlöslicher Salze S. 38). Eine z. T. andere Methodik verlangt die mikroſkopiſche Unterſuchung von einzelnen Mineralien, und ſynthetiſch dargeſtellter kri— ſtalliſierter Stoffe. Hier iſt zwar die „petro— graphiſche Methode“ nicht ganz auszuſchließen. So hat man oft z. B. Sande in Kanadabal⸗ ſam eingekocht, und ſie dann dünngeſchliffen, worauf ſie analog den Dünnſchliffen feſter Geſteine ſich unterſuchen ließen. Aber ſolche loſe Maſſen von Einzelindividuen laſſen noch andere Methoden zu, die bei Aggegraten ohne weiteres nicht möglich ſind. So iſt die Be⸗ ſtimmung der Lichtbrechung nach der Einbet- tungsmethode nur an loſen Körnchen aus⸗ zuführen; die zur Beſtimmung der Doppel⸗ brechung nötige Dickenbeſtimmung läßt ſich an ihnen viel genauer vornehmen. Vor allem aber beſteht die Möglichkeit, ſich orientierte Präparate herzuſtellen, teils durch Dünn— ſchleifen parallel eventuell vorhandener Kri— ſtallflächen teils durch Herſtellung von Spalt— plättchen. Dieſe orientierten Präparate wer⸗ den ebenfalls zu den weiteren Unterſuchungen in Kanadabalſam, oder wenn es ſich nicht um Dauerpräparate handelt, in Nelkenöl einge— bettet, das denſelben Brechungsindex wie Ka— nadabalſam hat, und auch ſonſt in der PVer- wendung ſehr angenehm iſt (ſehr unverän⸗ derlich an Licht und Luft, geringe Dampf- ſpannung, billiger Preis). Man wird auf dieſe Weiſe oft dickere Präparate erhalten, als die Dünnſchliffe es ſind, was aber bei vielen Beſtimmungen durch⸗ aus kein Nachteil iſt (Pleochroismus, Achſen⸗ winkel). Für andere Beobachtungen (Doppel⸗ brechung, innere Beſchaffenheit) ſind freilich dünnere Präparate oft erwünſchter. Der Anwendungsbereich dieſer Methodik iſt ein noch größerer als der der petrographi⸗ ſchen Dünnſchliffunterſuchung. Denn nicht nur können die meiſten Objekte der Petrographie und der oben angeführten verwandten Wij- ſenſchaften durch Zerkleinern und Separieren nach den mannigfachſten mechaniſchen, mag⸗ netiſchen und chemiſchen Methoden in ihre Einzelkomponenten zerlegt werden, ſondern auch alle künſtlichen wie natürlichen Studien⸗ objekte des Mineralogen, Kriſtallographen und Chemikers ſind hierzu geeignet. Seitdem in P. Groth's „Chemiſcher Kriſtallogra⸗ phie“ ein Werk vorliegt, das ſyſtematiſch außer den kriſtallographiſchen auch alle op⸗ tiſchen Daten anorganiſcher und organiſcher Salze ſammelt, iſt die Identifizierung dieſer Stoffe mit Hilfe von kriſtalloptiſch-mikro⸗ ſkopiſchen Methoden ſehr erleichtert. Handelte es ſich bis jetzt nur um die Identifizierung von Stoffen mit Hilfe ihrer bereits bekannten kriſtalloptiſchen Konſtanten, ſo kann aber auch oft der Fall eintreten, daß man in ihren Eigenſchaften noch un⸗ bekannte Körper vor ſich hat, die aber in derartiger Form vorliegen, daß ſie nur mikroſkopiſch unterſucht werden können. Man denke z. B. an die Produkte der Mine⸗ ralſyntheſe. Gut ausgebildete, größere Kriſtalle, die goniometriſch ſich ausmeſſen laſſen, deren optiſche Konſtanten mit Hilfe von Refraktometer und Achſenwinkelapparat zu beſtimmen ſind, werden in den ſelten⸗ ſten Fällen erhalten. Dagegen kann im⸗ mer die allgemeine optiſche und kriſtallo⸗ graphiſche Charakteriſtik mit Hilfe des Po⸗ lariſationsmikroſkops angegeben werden, und in den meiſten Fällen geſtatten die in ihren mechaniſchen Teilen jo außerordent- lich verfeinerten großen modernen Mikro- ifoptypen — beſonders wenn man im monochromatiſchen Licht arbeitet — eine aus⸗ reichende Zahl optiſcher Konſtanten, wenn nicht gar alle — zu beſtimmen. Man wird ſich, wenn irgend möglich, hierzu orientierter Schliffe oder Spaltplättchen bedienen, aber auch die Dünnſchliffmethode führt zum Ziel. Somit kann die kriſtalloptiſche Charafte- riſierung auch aller im Laboratorium erhal— tenen Subſtanzen mit Hilfe des Polariſations⸗ mikroſkops nicht warm genug empfohlen wer— den. Abgeſehen davon, daß die hierdurch erlangten Konſtanten für die Kennzeichnung I. eines Stoffes notwendig ſind, iſt auch ſeine ſpätere Wiedererkennung mit ihrer Hilfe oft ſo raſch und einfach durchgeführt, wie es eine analytiſche Methode nur ſelten vermag. Auch in der Hand des Chemikers müßte das Polariſationsmikroſkop das täglich ge— brauchte, arbeitserleichternde und zeitſparende Inſtrument werden, das es für den Minera— logen und Petrographen ſchon lange iſt. Citeraturverzeichnis. L. Dupare et F. Pearce: Traité de technique minéralogique et petrographique I. Partie: Les méthodes optiques. Leipzig 1907. 483 8. 516 Abb. P. a: er Kriſtallographie. 4. Aufl. S, 7 F. M. b Eine e zur Ausführung exakter phyſiko⸗chemiſcher Meſſungen bei höhe- ren Temperaturen. Groningen 1913. 152 Seiten, 35 Abb. I. P. Iddings: Rock Minerals, their chemical and physical characters and their determinations in their sections. Sec. Ed. New York 1911. 617 S. E. Kaiſer: Mineralogiſch⸗petrographiſche Metho- den. 173 S., 77 Abb. Aus: K. Keilhack: Lehrbuch der praktiſchen Geologie. 2. Auf⸗ lage. 1908. F. Klockmann: Lehrbuch der Mineralogie. 5. ir 1912. 628 S., 562 Abb. Th. Liebiſch: Phyſikaliſche Kriſtallographie. Leipzig. 1891. 614 S., 298 Abb., 9 Taf. Th. Liebiſch: Grundriß der phyſikaliſchen Kri- e e Leipzig 1896. 506 Seiten, 898 Abb . Lind: ee: der Kriſtallographie. 2. Auf⸗ lage. Jena 1908. 255 S., 604 Abb. W. W. Nikitin: La methode univers. de Fedoroff. Descript. system. de la marche des operations a effectuer pour la determinat. d. constantes optiques d. mineraux. Traduct. franc. p. L. Duparc et V. de Dervies. Tomes I et II avec atlas. Geneve 1913. Pockels: 18 5 585 pur Leipzig. 516 S., 168 Abb una en Anleitung zu kriſtallo⸗ graphiſch-optiſchen Unterſuchungen vornehm⸗ lich mit Hilfe des Polariſationsmikroſkops. Leipzig 1912. 161 S., 368 Abb. „Sommerfeld: Praktikum der experimentel⸗ len Mineralogie. Berlin 1911. 192 Seiten, 61 Abb. Weinſchenk: Anleitung zum Gebrauch des Polariſationsmikroſkops. 3. Aufl. Freiburg Be 19107. 164.6, 167 Abb E. Wright: The methods of petrographic- microscopic research, their relative accuracy and range of application. Washington 1911. 204 S. 118 Abb. E. A. Wülfing: Allgemeiner Teil. Aus: H. E. A. Wülfing: Mikro⸗ Roſen bu ſkopiſche Phyſiographie der petrographiſch wichtigen Mineralien. 4. Aufl. Stuttgart 1904. Erſte Hälfte. 467 S., 286 Abb., Ir Tan: 1906. Ge 5 Sach: und Autorenverzeichnis. Abbe, E. Abſorption . Addition der Doppelbrechung Anderung der Achſenwinkel bei verſchiedenen Temperaturen . Atzfiguren Sees Außere Kennzeichen r Aktive einachſige Kriſtalle, Inter- ferenzerſcheinungen der — im konvergenten pol. Licht . Aktive einachſige Kriſtalle, Inter⸗ ferenzerſcheinungen der — im parallelen pol. Licht Aktive Kriſtalle 86195 58 Aktive zweiachſige Kriſtalle, Inter- ferenzerſcheinungen der — im konvergenten pol. Licht . Amici⸗Bertrandſche Linſe Amici, Hilfslinſe zur Beob— achtung von a Andaluſit. 5 Aniſotrope Körper. Aniſotropie . Aragonit Aufhellungslage Auslöſchungslage . —, praktiſche Beſtimmung De Auslöſchungsſchiefe 5 Ausſchaltung des Kondenſors 3 Außerordentlicher Strahl Achſe der Iſotropie Achſenbilder . Achſenebene . Achſenfarbe . Achſenwinkelapparat Achſenwinkelſkala Babinetſcher Kompenſator Bautechn. Geſteinsunterſuchungen Becke, F. Beobachtungen im konvergenten polariſierten Licht . Beobachtungen im parallelen polariſierten Licht Were, Berger. Bertrand, Bertrandſche Linſe Bertrandſche Quarzplatte Bertrandſches Okular. . Beſtimmung der Auslöſchungs⸗ lagen 8 Beſtimmung der Brechungs⸗ indizes. Beſtimmung der Höhe der Doppelbrechung. 10 dd, 41 59 69 40 88 46 1 Boe fe, H. E. Bra v ais ſche Doppelpfatte =] OO 73 73 79 74 25 79 Beſtimmung der Sehfeldgröße . Beſtimmung der Vergrößerung Beſtimmung geringer Doppel- brechung nach G. e Birefraktometer. 5 Biſektrix . Bitterſalz. Blendenjchieber . Brechungsexponent. Brechungsgeſetz. Bed ea, A Brookit Calderon, L. Calderonſche Kalkſpat⸗ Doppel late g Calderonſches Okular * Calkins, F. 1 55 Chagrin Charakter, Beſtimmung des — einachſiger Min. Kriſtalle im konvergenten polariſierten Licht Charakter, Beſtimmung des — zweiachſiger Kriſtalle im kon⸗ vergenten polariſierten Licht Charakter der Doppelbrechung bei einachſigen Kriſtallen . Charakter der Doppelbrechung bei zweiachſigen Kriſtallen Charakter der Hauptzone Charakter der Schwingungs- richtungen . 5 Charakter eines Minerals Chaulnes, Duc de, Dicken⸗ mieſſung 20, 46, Chromatiſche Interferenz Dünnſchliffe aus fatalen Stoffen 26 26 22 71 57 55 69 89 64 53 53 28 sg 24 24 24 48 51 77 85 56 58 72 72 72 68 66 Deleſſe 48 Diamant 55 Diagonalſtellung 29 Dichroismus. 60 Dickenmeſſung 46 Diopſid 8 Diſperſion 0% De — der Brechungsexponenten 80 — der Doppelbrechung 0 66 — der optiſch. Symmetrieachſen 80 — der e 63 Doppelbrechung. g . 52, 56 Drehapparat. 69 Drehung der Polariſationsebene 58 Drehungsvermögen 38 Drehungswinkel 3 2 38 Dünnſchliffe aus Sanden. Dünnſchliffe, Herſtellung 9 955 Dunkelſtellung 5 Duaparc, L. Fu Kriſtalle „Interferenzerſcheinungen im konvergenten polariſiert. Licht — mit Drehungsvermögen . Einbettungsmethode Einfaches Mikroſkop . Einſchlüſſe 48, Einteilung der kriſtalliſierten Körper nach der Symmetrie ihrer optiſchen Eigenſchaften Ein⸗ und Ausſchaltung des Kondenſors . Elaſtizitätstheorie des Lichtes Elektromagnetiſche Lichttheorie. Enden ñ 8 Erhitzungsvorrichtungen für Achſenwinkelapparate . & Erkennung der Zirkularpolari⸗ ſation im Dünnſchliff . Erkennung eee Doppel brechung f Erwärmungsofen Expoſitionszeiten Farbenachſe . Farben dünner Plättchen Fedorow, E. v f Fedorowſche Slimmertreppe Flächenfarbe. Flußſpat 21, Form Foucault. 5 Fraunhofer, J. Fresnel, Friedel, G. Fueß, R Gangunterſchied Gekreuzte Diſperſion . Gekreuzte Nicols Geneigte Diſperſion Gerade Auslöſchung 5 Geſteine, mineralogiſche Zuſam menſetzung der . . Geſteine, Struktur u. Textur der Gewöhnliches Licht Gips Gipsplatt vom Rot J. Ordnung . 64, 70, 72, 77, Glan, P. 15 62, Glan⸗ Thom pfen-Prisma 1 10, Glas Größere Mikroſtope 53 48 40 73 Groth, P. Guertler, W. Habitus Dartnad-Prasmowsti- Prisma : N Hauptachſen Hauptbrechungsindizes zwei⸗ achſiger Kriſtalle 3 Hauptſchnitt. . paldt, 9. . 76, 79, Herſtellung linear polariſierten Lichtes 5 Herſtellung von Dünnſchliffen » Hertz, H. Hexagonales Kriſtauſpſtem 5 36, ſchwald, J. Homogene Lichtquellen Horizontale Diſperſion Huygens ſches Okular. Hyperbeln 2 % Ignatowsky, W. v. Immerſionsflüſſigkeiten. Immerſionsmethode zur Beſtim⸗ Dicke Inaktive Kriſtalle 5 Indexfläche. x Indicatrix, geometrifche . Sunsmogenitäten ... - . - - Intenſität des austretenden P Interferenzbilder Interferenzerſcheinungen Interferenzfarben . — ſchiefer Strahlenbündel Irisblende 8 Iſochromatiſche Kurven . . 76 Siotrope Körper Iſotrope Kriſtalle mit Drehungs⸗ vermögen r „„ „„ 8 ier, ©... Kaliſalzlagerſtätten, Dineralien J g Kaliumdichromat 1 Nai 52, — ⸗Kompenſator, drehbarer. Kanadabalſam, Brechungsindex e ehe, %% „ Kitte Kittkanne Kleines Mikroſtop. Klein ſche Lupe Rn d me . F Kombinations⸗ ⸗Quarzkeil F. E. Wright Kombinierte Schneide- u. Schleif- T Kompenſation d. Doppelbrechung Kompenſatoren Kondenſorlinſe Kondenſorſyſtem Koniſche Refraktion . Konoſkopiſche Anordnung . .. e o 90 Konoſkopiſche Beobachtungsme— 88 FC 13, 61 Konvergentes polariſiertes Eee ER 13,61: Korrektionslinſe. TER Korreng, E. Krauß, Edward 9 3 Kreuzſchlittentiſche „ Kriſtallrefraktometer . . BR Kurven gleichen Gangunter- ſchieds .. 55 Kurven gleicher dislöſchung. Kriſtalldurchſchnitt. .. Kriſtallſkelette Längenmeſſunng 29. Lampe für homogenes Licht nach , Laſanlx, F LE, Laſaulxſche Methode .. 11, Leiß, Lemniskaten Lichtbrechung, relative gegenüber E [0 To ee e e . 48 Lichtlinie a e Liebiſch, Th.. . . 41, 45, 54 SIE ON se 86 Linear polariſiertes Vicht 52 , ee. a 64 Lippich, F. 10 NMallauor eo. . 2. 84 Malte, .. 49 Maxwell, J. C. 53 Mengenverhältniſſe 48 Werren d e 51 Meſſung des Achſenwinkels 83 Metallographie 88 Meteoriten 88 eee, u... 15 46 Mikrometerokula . . 29 Mikrophotographiſcher Apparat Sl Mikroſkop für die Univerſal- oder Theodolitmethode 21 Mikroſkope mit gleichzeitig drehe baren Niedls?s 21 Mikroſkop mittlerer Größe . 16 Mineralſyntheſe, Produkte er 90 Miktellimme 37 Monochromatiſche Filter 27 Monochromatoren 27 Monoklines Kriſtallſyſtem . 55, 58 eatrtunmchlorat ae 54 Newton ſche Farben. 65 er ae 9 Nicolſches Doppelprisma . . 9, 59 FF 21, 86 Porn alſtel ung 73 Numeriſche Apertur 74 Objeftivabftand . . 26 Dbfeliibe ven u... 26 Objektivklammer 15 Objektivzentrierung wa, Objektmikrometer 26 a,, e Okular nach E. Bertrand. 24 Okular nach L. Calderon. 24 [Okularmikromete ee 29, 46 Optiſche Normale Orthoklas Orthoſkopiſche Anordnung.. Orthoſkopiſche Beobachtungs- Rhomboeder Okularſchraubenmikrometer 29, Okular zur Meſſung der AS verhältnifie . Optiſch aniſotrope Kriſtalle Optiſch iſotrope Kriſtalle Optiſcher Schlüſſel Optiſche Symmetrieachſen Ordentlicher Strahl Ordnungen der Interferenzfarben Feind, 11, Parallelſtrahliges polariſiertes Ah! 12, Pellin, Ph. Petrograbhiſche Unterfuchungen Plagisflaſe Pleochroismus Pockels, F. | Polariſation durch Doppelbrechung Polariſationsprismen 9, 10, 59, 9, Polariſiertes Licht Präparieren der Schneideſcheiben Präparierofen Primäre optiſche Achſen .. 56, Prisma mit konſtanter Ablenkung Prüfung der Bertrand ſchen Linſe Prüfung der Lage der Nicol⸗ ſchen Prismen Prüfung des Kondenſors . F sa an Prüfung und Juſtierung des Mikroſkopes Prüfung und Richten der Oku⸗ larfasentreß Qualitative Beobachtungen Quantitative Meſſungen Quarz N —, Drehung der a ebene 0: . — Kkeil , nenrte PN, Nie ule — »feilfomparator Namsden-Dfular. . Rechtsquarz Refraktometer Reguläres Kriſtallſyſtem iii 8 Rhombiſche Diſperſion - Rhombiſches Kriſtallſyſtem . 55, 5 Rinne, F. i i i e Rohrzucker a H. Roſenbuſch, H. u. Wülfing Roſiwal Rotationsellipſoid | Salz⸗Dünnſchliffe Sande, Unterſuchungen der Savartſche Platte 8 Schaller, ER 8 Scheffer, W. Scheinbarer Achſenwinkel 94 Schiefe Beleuchtung. Schiefe Auslöſchung . Schleifmaſchine a Schlemmen des Schmirgels . Schloßmacher, K. Schneidemaſchine 5 Schneiderhöhn, H. Schraubenmikrometerokular Schröder van der Kolk, . 4 Schwarzmann, m . Schwefel Schwingungsrichtungen Sehfeld Snellius ſches eg Socolow, W. Sommerfeld, Ge Spaltbarkeit 5 e Ea „Beſtimmung der Dicke der. 1 a Steinſalz o Ne Subtraktion der ie brechung EN aa Symmetrie — einer Kriſtallplatte Symmetriſche Auslöſchung Teinte sensible Tetragonales Kriſtallſyſtem Theodolit⸗Mikroſkop Theodolit⸗Methode von Fedo row, E v. Totalreflektion Trigonales Kriſtallſyſtem . Trikline Diſperſion Triklines Kriſtallſyſtem Turmalin er eee je e Nei-iF este ai, ‚He en: Na Ar % Undulations - Ölimmer- plättchen 0, 78, Undurchſichtige Körper . . Univerſalmethode eee im e Vicht Wilde Vergrößerungen .. Vertikalilluminator Verzerrte Kriſtalle .. Voigt, W Wachstums formen Wahrer Achſenwinkel .. Waſſerlösliche Salze Wegdifferenz Weinſau rr: Wein ſche nk, E Weiß höherer Ordnung Winkelmeſſung Wright, F. E. Wü lf, e Zeichenapparat V 1 die Ob⸗ jeftive . 5 Zinnober Zirkularpolariſatin n Zweiachſige inaktive Kriſtalle, Interferenzerſcheinungen der — im fonvergenten polarijier- ten Licht Zweiachſige Kriftalle . Zweiachſige Kriſtalle mit Drehungsvermögen „ 20 27, 40, e e Seltene F . ô FFC - 5 Bezugsquellen-Liste: Polarisations-Mikroskope zur Untersuchung von Kristallen und Gesteinen fertigen in deutsch-sprachigen Ländern fabrikationsmässig an: R. Fuess in Berlin-Steglitz Franz Hugershoff in Leipzig E. Leitz in Wetzlar C. Reichert in Wien W. Q H. Seibert in Wetzlar Dr. Steeg Q Reuter in Homburg v. d. H. R. Winkel in Göttingen C. Zeiss in Jena Sonstige Apparate und Utensilien für die Untersuchung kristallisierter Körper und Mineralien sind zu beziehen durch: R. Fuess in Berlin-Steglitz Heidelberger Mineralien-Comptoir in Heidelberg Dr. Fr. Krantz, Rheinisches Mineralien-Kontor in Bonn a. Rh. Heinrich Menn, Mineralien-Handlung in Idar/Nahe Dr. Paul Michaelis, Sächs. Mineralien- und Lehrmittel-Handlung in Dresden-Blasewitz Dr. Steeg Q Reuter in Homburg v. d. H. Voigt Q Hochgesang, Fabrik für Dünnschliffe von Gesteinen in Göttingen R. FUESS mech.-optische Werkstätten ——. Abt. = BERLIN-STEGLITZ Düntherstrasse 8. Mikroskope und sonstige Apparate für die Untersuchung kristallisierter Körper. Die Herstellung von Polarisations-Mikroskopen, speziell solchen für die Untersuchung der Gesteine und Mineralien ist eine alte Spezialität meiner Firma. Meine Firma kann wohl als diejenige be- trachtet werden, die sich zuerst in Deutschland mit der fabrikationsmässigen Herstellung ınineralogischer Mikroskope beschäftigt hat und blickt in dieser Hinsicht auf eine nahezu 50jährige Praxis und damit auf eine reiche Erfah- rung auf diesem Gebiet zurück. Eine grosse Zahl der von mir herausge- gebenen Konstruktionen an mineralogischen Mikroskopen und deren Neben- apparate sind vorbildlich für viele Nachbildungen geworden. Der beste Beweis dafür, dass meine Firma in der systematischen Durchbildung des mineralogi- schen Mikroskopes und seiner Nebenapparate stets auf dem richtigen Wege war. Das vorstehend abgebildete Mikroskop (neues Modell IV) stellt ein für alle petro- graphischen Arbeiten ausserordentlich handliches, bequem eingerichtetes und sehr preis- wertes Instrument dar. Der Polarisator kann in Gemeinschaft mit dem Kondensorsystem durch die sehr rasch wirkende und sehr bequem zu handhabende Schraubvorrichtung h gehoben und ge- senkt werden; hierdurch kann jede beliebige Abstufung in der Beleuchtung erzielt werden. Ausserdem kann die Linse für konvergentes Licht im Augenblick und in jeder Stel- lung des Polarisators aus- und eingeschaltet (Griff K) und damit der Uebergang vom parallelen zum konvergenten Licht und umgekehrt momentan vollzogen werden. Ueber dem Polarisator befindet sich eine durch den Hebel i sehr bequem zu betätigende Irisblende. Der Tisch ist ca. 10 cm gross und mit 1/1°-Teilung auf abgeschrägter Fläche versehen. Der Tubus besitzt grobe Einstellung durch Zahn und Trieb, ausserdem Feineinstellung mit Hilfe der modernen Feinstell-Einrichtung. Tubus-Analysator aus- und einschaltbar, ferner aus- und einschaltbare Bertrand'sche Hilfslinse. Stativ mit Gelenkeinrichtung versehen. No. 614 Preis ohne Objektive u. ohne Okulare, jed. m. Objektiv-Zangenwechsler u. 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Das Pflanzenleben Deutſchlands und ſeiner Nachbarländer. Don R. H. Francé Bände 3 u. 4. Floriſtiſche Lebensbilder. 1./2. Abtlg. Don R. H. Francé Band 5. Floriſtiſche Tebensbilder. 3. Abteilung. Don Dr. Adolf Koelſch Band 6. Entwicklungs⸗Geſchichte der Pflanzenwelt. Von Dr. W. Gothan. Pflanzengeographie. Don Dr. R. Pilger. Die Pflanzenwelt der Tropen. Von Prof. Dr. B. Winkler Bände 7u 8. Die Pflanzen und der Menſch 1. Nutzpflanzen (Garten, Feld, Obſt und Wald) von W. Lange Prof, Pr D. Srumertih, Prof. Hh. Schulz und Prof. Dr. H.hausrath 2. Derwertung der pflanzlichen Produkte von Dr. V. Grafe, Prof. Hh. Brüggemann, S. Serenczi U. d. 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